Abstract

We present an air-cladding apodized focusing subwavelength grating that can effectively couple two polarizations into a single waveguide. For the transverse magnetic mode, 3.2dB maximum coupling efficiency with 28nm 1 dB bandwidth is achieved. With the same grating, 4.3dB maximum coupling efficiency with 58nm 1 dB bandwidth is achieved for the transverse electric mode. The minimum difference between two polarizations’ coupling peaks is demonstrated to be 32nm. At the 1525 nm wavelength range, the polarization-insensitive grating is demonstrated with 6.5dB coupling efficiency. The polarization-insensitive coupling wavelength can be controlled experimentally.

© 2014 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. D. Taillaert, W. Bogaerts, P. Bienstman, T. F. Krauss, P. Van Daele, I. Moerman, S. Verstuyft, K. De Mesel, and R. Baets, IEEE J. Quantum Electron. 38, 949 (2002).
    [CrossRef]
  2. R. Halir, A. Ortega-Moñux, J. H. Schmid, C. Alonso-Ramos, J. Lapointe, D. X. Xu, J. G. Wangüemert-Pérez, Í. Molina-Fernández, and S. Janz, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 20, 8201313 (2014).
    [CrossRef]
  3. G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, Opt. Lett. 32, 1495 (2007).
    [CrossRef]
  4. Y. Tang, Z. Wang, L. Wosinski, U. Westergren, and S. He, Opt. Lett. 35, 1290 (2010).
    [CrossRef]
  5. R. Halir, P. Cheben, J. H. Schmid, R. Ma, D. Bedard, S. Janz, D.-X. Xu, A. Densmore, J. Lapointe, and I. Molina-Fernandez, Opt. Lett. 35, 3243 (2010).
    [CrossRef]
  6. L. Liu, M. Pu, K. Yvind, and J. M. Hvam, Appl. Phys. Lett. 96, 051126 (2010).
    [CrossRef]
  7. G. Roelkens, D. Vermeulen, D. V. Thourhout, R. Baets, S. Brision, P. Lyan, P. Gautier, and J.-M. Fédéli, Appl. Phys. Lett. 92, 131101 (2008).
    [CrossRef]
  8. S. Scheerlinck, D. Taillaert, D. V. Thourhout, and R. Baets, Appl. Phys. Lett. 92, 031104 (2008).
    [CrossRef]
  9. N. Hattasan, B. Kuyken, F. Leo, E. M. P. Ryckeboer, D. Vermeulen, and G. Roelkens, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 1536 (2012).
    [CrossRef]
  10. Z. Xiao, F. Luan, T.-Y. Liow, J. Zhang, and P. Shum, Opt. Lett. 37, 530 (2012).
    [CrossRef]
  11. N. Na, H. Frish, I. Hsieh, O. Harel, R. George, A. Barkai, and H. Rong, Opt. Lett. 36, 2101 (2011).
    [CrossRef]
  12. D. Taillaert, H. Chong, P. I. Borel, L. H. Frandsen, R. M. D. L. Rue, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1249 (2003).
    [CrossRef]
  13. Y. Tang, D. Dai, and S. He, IEEE Photon. Technol. Lett. 21, 242 (2009).
    [CrossRef]
  14. X. Chen and H. K. Tsang, Opt. Lett. 36, 796 (2011).
    [CrossRef]
  15. S. Shao and Y. Wang, Opt. Lett. 35, 1834 (2010).
    [CrossRef]
  16. C. Alonso-Ramos, L. Zavargo-Peche, A. Ortega-Moñux, R. Halir, I. Molina-Fernández, and P. Cheben, Opt. Lett. 37, 3663 (2012).
    [CrossRef]
  17. P. Y. Yang, G. Z. Mashanovich, I. Gomez-Morilla, W. R. Headley, G. T. Reed, E. J. Teo, D. J. Blackwood, M. B. H. Breese, and A. A. Bettiol, Appl. Phys. Lett. 90, 241109 (2007).
    [CrossRef]
  18. C. Reimer, M. Nedeljkovic, D. J. M. Stothard, M. O. S. Esnault, C. Reardon, L. O’Faolain, M. Dunn, G. Z. Mashanovich, and T. F. Krauss, Opt. Express 20, 29361 (2012).
    [CrossRef]
  19. D. V. Thourhout and J. Roels, Nat. Photonics 4, 211 (2010).
    [CrossRef]
  20. D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.
  21. L. He, Y. He, A. Pomerene, C. Hill, S. Ocheltree, T. Baehr-Jones, and M. Hochberg, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 2247 (2012).
    [CrossRef]
  22. Z. Cheng, X. Chen, C. Y. Wong, K. Xu, and H. K. Tsang, IEEE Photon. J. 4, 1510 (2012).
    [CrossRef]
  23. P. Cheben, P. J. Bock, J. H. Schmid, J. Lapointe, S. Janz, D.-X. Xu, A. Densmore, A. Delâge, B. Lamontagne, and T. J. Hall, Opt. Lett. 35, 2526 (2010).
    [CrossRef]
  24. X. Xu, H. Subbaraman, J. Covey, D. Kwong, A. Hosseini, and R. T. Chen, Appl. Phys. Lett. 101, 031109 (2012).
    [CrossRef]
  25. F. V. Laere, T. Claes, J. Schrauwen, S. Scheerlinck, W. Bogaerts, D. Taillaert, L. O’Faolain, D. V. Thourhout, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 19, 1919 (2007).
    [CrossRef]
  26. J. Yang, Z. Zhou, H. Jia, X. Zhang, and S. Qin, Opt. Lett. 36, 2614 (2011).
    [CrossRef]
  27. X. Chen, C. Li, C. K. Y. Fung, S. M. G. Lo, and H. K. Tsang, IEEE Photon. Technol. Lett. 22, 1156 (2010).
    [CrossRef]
  28. R. Halir, P. Cheben, S. Janz, D.-X. Xu, Í. Molina-Fernández, and J. G. Wangüemert-Pérez, Opt. Lett. 34, 1408 (2009).
    [CrossRef]

2014

R. Halir, A. Ortega-Moñux, J. H. Schmid, C. Alonso-Ramos, J. Lapointe, D. X. Xu, J. G. Wangüemert-Pérez, Í. Molina-Fernández, and S. Janz, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 20, 8201313 (2014).
[CrossRef]

2012

N. Hattasan, B. Kuyken, F. Leo, E. M. P. Ryckeboer, D. Vermeulen, and G. Roelkens, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 1536 (2012).
[CrossRef]

L. He, Y. He, A. Pomerene, C. Hill, S. Ocheltree, T. Baehr-Jones, and M. Hochberg, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 2247 (2012).
[CrossRef]

Z. Cheng, X. Chen, C. Y. Wong, K. Xu, and H. K. Tsang, IEEE Photon. J. 4, 1510 (2012).
[CrossRef]

X. Xu, H. Subbaraman, J. Covey, D. Kwong, A. Hosseini, and R. T. Chen, Appl. Phys. Lett. 101, 031109 (2012).
[CrossRef]

Z. Xiao, F. Luan, T.-Y. Liow, J. Zhang, and P. Shum, Opt. Lett. 37, 530 (2012).
[CrossRef]

C. Alonso-Ramos, L. Zavargo-Peche, A. Ortega-Moñux, R. Halir, I. Molina-Fernández, and P. Cheben, Opt. Lett. 37, 3663 (2012).
[CrossRef]

C. Reimer, M. Nedeljkovic, D. J. M. Stothard, M. O. S. Esnault, C. Reardon, L. O’Faolain, M. Dunn, G. Z. Mashanovich, and T. F. Krauss, Opt. Express 20, 29361 (2012).
[CrossRef]

2011

2010

2009

2008

G. Roelkens, D. Vermeulen, D. V. Thourhout, R. Baets, S. Brision, P. Lyan, P. Gautier, and J.-M. Fédéli, Appl. Phys. Lett. 92, 131101 (2008).
[CrossRef]

S. Scheerlinck, D. Taillaert, D. V. Thourhout, and R. Baets, Appl. Phys. Lett. 92, 031104 (2008).
[CrossRef]

2007

G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, Opt. Lett. 32, 1495 (2007).
[CrossRef]

F. V. Laere, T. Claes, J. Schrauwen, S. Scheerlinck, W. Bogaerts, D. Taillaert, L. O’Faolain, D. V. Thourhout, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 19, 1919 (2007).
[CrossRef]

P. Y. Yang, G. Z. Mashanovich, I. Gomez-Morilla, W. R. Headley, G. T. Reed, E. J. Teo, D. J. Blackwood, M. B. H. Breese, and A. A. Bettiol, Appl. Phys. Lett. 90, 241109 (2007).
[CrossRef]

2003

D. Taillaert, H. Chong, P. I. Borel, L. H. Frandsen, R. M. D. L. Rue, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1249 (2003).
[CrossRef]

2002

D. Taillaert, W. Bogaerts, P. Bienstman, T. F. Krauss, P. Van Daele, I. Moerman, S. Verstuyft, K. De Mesel, and R. Baets, IEEE J. Quantum Electron. 38, 949 (2002).
[CrossRef]

Acoleyen, K. V.

D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.

Alonso-Ramos, C.

R. Halir, A. Ortega-Moñux, J. H. Schmid, C. Alonso-Ramos, J. Lapointe, D. X. Xu, J. G. Wangüemert-Pérez, Í. Molina-Fernández, and S. Janz, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 20, 8201313 (2014).
[CrossRef]

C. Alonso-Ramos, L. Zavargo-Peche, A. Ortega-Moñux, R. Halir, I. Molina-Fernández, and P. Cheben, Opt. Lett. 37, 3663 (2012).
[CrossRef]

Baehr-Jones, T.

L. He, Y. He, A. Pomerene, C. Hill, S. Ocheltree, T. Baehr-Jones, and M. Hochberg, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 2247 (2012).
[CrossRef]

Baets, R.

G. Roelkens, D. Vermeulen, D. V. Thourhout, R. Baets, S. Brision, P. Lyan, P. Gautier, and J.-M. Fédéli, Appl. Phys. Lett. 92, 131101 (2008).
[CrossRef]

S. Scheerlinck, D. Taillaert, D. V. Thourhout, and R. Baets, Appl. Phys. Lett. 92, 031104 (2008).
[CrossRef]

F. V. Laere, T. Claes, J. Schrauwen, S. Scheerlinck, W. Bogaerts, D. Taillaert, L. O’Faolain, D. V. Thourhout, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 19, 1919 (2007).
[CrossRef]

G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, Opt. Lett. 32, 1495 (2007).
[CrossRef]

D. Taillaert, H. Chong, P. I. Borel, L. H. Frandsen, R. M. D. L. Rue, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1249 (2003).
[CrossRef]

D. Taillaert, W. Bogaerts, P. Bienstman, T. F. Krauss, P. Van Daele, I. Moerman, S. Verstuyft, K. De Mesel, and R. Baets, IEEE J. Quantum Electron. 38, 949 (2002).
[CrossRef]

D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.

Barkai, A.

Bedard, D.

Bettiol, A. A.

P. Y. Yang, G. Z. Mashanovich, I. Gomez-Morilla, W. R. Headley, G. T. Reed, E. J. Teo, D. J. Blackwood, M. B. H. Breese, and A. A. Bettiol, Appl. Phys. Lett. 90, 241109 (2007).
[CrossRef]

Bienstman, P.

D. Taillaert, W. Bogaerts, P. Bienstman, T. F. Krauss, P. Van Daele, I. Moerman, S. Verstuyft, K. De Mesel, and R. Baets, IEEE J. Quantum Electron. 38, 949 (2002).
[CrossRef]

Blackwood, D. J.

P. Y. Yang, G. Z. Mashanovich, I. Gomez-Morilla, W. R. Headley, G. T. Reed, E. J. Teo, D. J. Blackwood, M. B. H. Breese, and A. A. Bettiol, Appl. Phys. Lett. 90, 241109 (2007).
[CrossRef]

Bock, P. J.

Bogaerts, W.

F. V. Laere, T. Claes, J. Schrauwen, S. Scheerlinck, W. Bogaerts, D. Taillaert, L. O’Faolain, D. V. Thourhout, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 19, 1919 (2007).
[CrossRef]

D. Taillaert, W. Bogaerts, P. Bienstman, T. F. Krauss, P. Van Daele, I. Moerman, S. Verstuyft, K. De Mesel, and R. Baets, IEEE J. Quantum Electron. 38, 949 (2002).
[CrossRef]

D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.

Borel, P. I.

D. Taillaert, H. Chong, P. I. Borel, L. H. Frandsen, R. M. D. L. Rue, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1249 (2003).
[CrossRef]

Breese, M. B. H.

P. Y. Yang, G. Z. Mashanovich, I. Gomez-Morilla, W. R. Headley, G. T. Reed, E. J. Teo, D. J. Blackwood, M. B. H. Breese, and A. A. Bettiol, Appl. Phys. Lett. 90, 241109 (2007).
[CrossRef]

Brision, S.

G. Roelkens, D. Vermeulen, D. V. Thourhout, R. Baets, S. Brision, P. Lyan, P. Gautier, and J.-M. Fédéli, Appl. Phys. Lett. 92, 131101 (2008).
[CrossRef]

Cheben, P.

Chen, R. T.

X. Xu, H. Subbaraman, J. Covey, D. Kwong, A. Hosseini, and R. T. Chen, Appl. Phys. Lett. 101, 031109 (2012).
[CrossRef]

Chen, X.

Z. Cheng, X. Chen, C. Y. Wong, K. Xu, and H. K. Tsang, IEEE Photon. J. 4, 1510 (2012).
[CrossRef]

X. Chen and H. K. Tsang, Opt. Lett. 36, 796 (2011).
[CrossRef]

X. Chen, C. Li, C. K. Y. Fung, S. M. G. Lo, and H. K. Tsang, IEEE Photon. Technol. Lett. 22, 1156 (2010).
[CrossRef]

Cheng, Z.

Z. Cheng, X. Chen, C. Y. Wong, K. Xu, and H. K. Tsang, IEEE Photon. J. 4, 1510 (2012).
[CrossRef]

Chong, H.

D. Taillaert, H. Chong, P. I. Borel, L. H. Frandsen, R. M. D. L. Rue, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1249 (2003).
[CrossRef]

Claes, T.

F. V. Laere, T. Claes, J. Schrauwen, S. Scheerlinck, W. Bogaerts, D. Taillaert, L. O’Faolain, D. V. Thourhout, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 19, 1919 (2007).
[CrossRef]

Cort, W. A. D. D.

D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.

Covey, J.

X. Xu, H. Subbaraman, J. Covey, D. Kwong, A. Hosseini, and R. T. Chen, Appl. Phys. Lett. 101, 031109 (2012).
[CrossRef]

Dai, D.

Y. Tang, D. Dai, and S. He, IEEE Photon. Technol. Lett. 21, 242 (2009).
[CrossRef]

De Mesel, K.

D. Taillaert, W. Bogaerts, P. Bienstman, T. F. Krauss, P. Van Daele, I. Moerman, S. Verstuyft, K. De Mesel, and R. Baets, IEEE J. Quantum Electron. 38, 949 (2002).
[CrossRef]

Debackere, P. P. P.

D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.

Delâge, A.

Densmore, A.

Dumon, P.

D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.

Dunn, M.

Esnault, M. O. S.

Fédéli, J.-M.

G. Roelkens, D. Vermeulen, D. V. Thourhout, R. Baets, S. Brision, P. Lyan, P. Gautier, and J.-M. Fédéli, Appl. Phys. Lett. 92, 131101 (2008).
[CrossRef]

Frandsen, L. H.

D. Taillaert, H. Chong, P. I. Borel, L. H. Frandsen, R. M. D. L. Rue, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1249 (2003).
[CrossRef]

Frish, H.

Fung, C. K. Y.

X. Chen, C. Li, C. K. Y. Fung, S. M. G. Lo, and H. K. Tsang, IEEE Photon. Technol. Lett. 22, 1156 (2010).
[CrossRef]

Gautier, P.

G. Roelkens, D. Vermeulen, D. V. Thourhout, R. Baets, S. Brision, P. Lyan, P. Gautier, and J.-M. Fédéli, Appl. Phys. Lett. 92, 131101 (2008).
[CrossRef]

George, R.

Ghosh, S.

D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.

Gomez-Morilla, I.

P. Y. Yang, G. Z. Mashanovich, I. Gomez-Morilla, W. R. Headley, G. T. Reed, E. J. Teo, D. J. Blackwood, M. B. H. Breese, and A. A. Bettiol, Appl. Phys. Lett. 90, 241109 (2007).
[CrossRef]

Halir, R.

Hall, T. J.

Hallynck, E.

D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.

Harel, O.

Hattasan, N.

N. Hattasan, B. Kuyken, F. Leo, E. M. P. Ryckeboer, D. Vermeulen, and G. Roelkens, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 1536 (2012).
[CrossRef]

He, L.

L. He, Y. He, A. Pomerene, C. Hill, S. Ocheltree, T. Baehr-Jones, and M. Hochberg, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 2247 (2012).
[CrossRef]

He, S.

Y. Tang, Z. Wang, L. Wosinski, U. Westergren, and S. He, Opt. Lett. 35, 1290 (2010).
[CrossRef]

Y. Tang, D. Dai, and S. He, IEEE Photon. Technol. Lett. 21, 242 (2009).
[CrossRef]

He, Y.

L. He, Y. He, A. Pomerene, C. Hill, S. Ocheltree, T. Baehr-Jones, and M. Hochberg, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 2247 (2012).
[CrossRef]

Headley, W. R.

P. Y. Yang, G. Z. Mashanovich, I. Gomez-Morilla, W. R. Headley, G. T. Reed, E. J. Teo, D. J. Blackwood, M. B. H. Breese, and A. A. Bettiol, Appl. Phys. Lett. 90, 241109 (2007).
[CrossRef]

Hill, C.

L. He, Y. He, A. Pomerene, C. Hill, S. Ocheltree, T. Baehr-Jones, and M. Hochberg, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 2247 (2012).
[CrossRef]

Hochberg, M.

L. He, Y. He, A. Pomerene, C. Hill, S. Ocheltree, T. Baehr-Jones, and M. Hochberg, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 2247 (2012).
[CrossRef]

Hosseini, A.

X. Xu, H. Subbaraman, J. Covey, D. Kwong, A. Hosseini, and R. T. Chen, Appl. Phys. Lett. 101, 031109 (2012).
[CrossRef]

Hsieh, I.

Hvam, J. M.

L. Liu, M. Pu, K. Yvind, and J. M. Hvam, Appl. Phys. Lett. 96, 051126 (2010).
[CrossRef]

Janz, S.

Jia, H.

Krauss, T. F.

C. Reimer, M. Nedeljkovic, D. J. M. Stothard, M. O. S. Esnault, C. Reardon, L. O’Faolain, M. Dunn, G. Z. Mashanovich, and T. F. Krauss, Opt. Express 20, 29361 (2012).
[CrossRef]

D. Taillaert, W. Bogaerts, P. Bienstman, T. F. Krauss, P. Van Daele, I. Moerman, S. Verstuyft, K. De Mesel, and R. Baets, IEEE J. Quantum Electron. 38, 949 (2002).
[CrossRef]

Kuyken, B.

N. Hattasan, B. Kuyken, F. Leo, E. M. P. Ryckeboer, D. Vermeulen, and G. Roelkens, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 1536 (2012).
[CrossRef]

Kwong, D.

X. Xu, H. Subbaraman, J. Covey, D. Kwong, A. Hosseini, and R. T. Chen, Appl. Phys. Lett. 101, 031109 (2012).
[CrossRef]

Laere, F. V.

F. V. Laere, T. Claes, J. Schrauwen, S. Scheerlinck, W. Bogaerts, D. Taillaert, L. O’Faolain, D. V. Thourhout, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 19, 1919 (2007).
[CrossRef]

Lamontagne, B.

Lapointe, J.

Leo, F.

N. Hattasan, B. Kuyken, F. Leo, E. M. P. Ryckeboer, D. Vermeulen, and G. Roelkens, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 1536 (2012).
[CrossRef]

Li, C.

X. Chen, C. Li, C. K. Y. Fung, S. M. G. Lo, and H. K. Tsang, IEEE Photon. Technol. Lett. 22, 1156 (2010).
[CrossRef]

Liow, T.-Y.

Liu, L.

L. Liu, M. Pu, K. Yvind, and J. M. Hvam, Appl. Phys. Lett. 96, 051126 (2010).
[CrossRef]

Lo, S. M. G.

X. Chen, C. Li, C. K. Y. Fung, S. M. G. Lo, and H. K. Tsang, IEEE Photon. Technol. Lett. 22, 1156 (2010).
[CrossRef]

Luan, F.

Lyan, P.

G. Roelkens, D. Vermeulen, D. V. Thourhout, R. Baets, S. Brision, P. Lyan, P. Gautier, and J.-M. Fédéli, Appl. Phys. Lett. 92, 131101 (2008).
[CrossRef]

Ma, R.

Mashanovich, G. Z.

C. Reimer, M. Nedeljkovic, D. J. M. Stothard, M. O. S. Esnault, C. Reardon, L. O’Faolain, M. Dunn, G. Z. Mashanovich, and T. F. Krauss, Opt. Express 20, 29361 (2012).
[CrossRef]

P. Y. Yang, G. Z. Mashanovich, I. Gomez-Morilla, W. R. Headley, G. T. Reed, E. J. Teo, D. J. Blackwood, M. B. H. Breese, and A. A. Bettiol, Appl. Phys. Lett. 90, 241109 (2007).
[CrossRef]

Moerman, I.

D. Taillaert, W. Bogaerts, P. Bienstman, T. F. Krauss, P. Van Daele, I. Moerman, S. Verstuyft, K. De Mesel, and R. Baets, IEEE J. Quantum Electron. 38, 949 (2002).
[CrossRef]

Molina-Fernandez, I.

Molina-Fernández, I.

Molina-Fernández, Í.

R. Halir, A. Ortega-Moñux, J. H. Schmid, C. Alonso-Ramos, J. Lapointe, D. X. Xu, J. G. Wangüemert-Pérez, Í. Molina-Fernández, and S. Janz, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 20, 8201313 (2014).
[CrossRef]

R. Halir, P. Cheben, S. Janz, D.-X. Xu, Í. Molina-Fernández, and J. G. Wangüemert-Pérez, Opt. Lett. 34, 1408 (2009).
[CrossRef]

Na, N.

Nedeljkovic, M.

O’Faolain, L.

C. Reimer, M. Nedeljkovic, D. J. M. Stothard, M. O. S. Esnault, C. Reardon, L. O’Faolain, M. Dunn, G. Z. Mashanovich, and T. F. Krauss, Opt. Express 20, 29361 (2012).
[CrossRef]

F. V. Laere, T. Claes, J. Schrauwen, S. Scheerlinck, W. Bogaerts, D. Taillaert, L. O’Faolain, D. V. Thourhout, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 19, 1919 (2007).
[CrossRef]

Ocheltree, S.

L. He, Y. He, A. Pomerene, C. Hill, S. Ocheltree, T. Baehr-Jones, and M. Hochberg, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 2247 (2012).
[CrossRef]

Ortega-Moñux, A.

R. Halir, A. Ortega-Moñux, J. H. Schmid, C. Alonso-Ramos, J. Lapointe, D. X. Xu, J. G. Wangüemert-Pérez, Í. Molina-Fernández, and S. Janz, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 20, 8201313 (2014).
[CrossRef]

C. Alonso-Ramos, L. Zavargo-Peche, A. Ortega-Moñux, R. Halir, I. Molina-Fernández, and P. Cheben, Opt. Lett. 37, 3663 (2012).
[CrossRef]

Pomerene, A.

L. He, Y. He, A. Pomerene, C. Hill, S. Ocheltree, T. Baehr-Jones, and M. Hochberg, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 2247 (2012).
[CrossRef]

Pu, M.

L. Liu, M. Pu, K. Yvind, and J. M. Hvam, Appl. Phys. Lett. 96, 051126 (2010).
[CrossRef]

Qin, S.

Reardon, C.

Reed, G. T.

P. Y. Yang, G. Z. Mashanovich, I. Gomez-Morilla, W. R. Headley, G. T. Reed, E. J. Teo, D. J. Blackwood, M. B. H. Breese, and A. A. Bettiol, Appl. Phys. Lett. 90, 241109 (2007).
[CrossRef]

Reimer, C.

Roelkens, G.

N. Hattasan, B. Kuyken, F. Leo, E. M. P. Ryckeboer, D. Vermeulen, and G. Roelkens, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 1536 (2012).
[CrossRef]

G. Roelkens, D. Vermeulen, D. V. Thourhout, R. Baets, S. Brision, P. Lyan, P. Gautier, and J.-M. Fédéli, Appl. Phys. Lett. 92, 131101 (2008).
[CrossRef]

G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, Opt. Lett. 32, 1495 (2007).
[CrossRef]

D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.

Roels, J.

D. V. Thourhout and J. Roels, Nat. Photonics 4, 211 (2010).
[CrossRef]

Rong, H.

Rue, R. M. D. L.

D. Taillaert, H. Chong, P. I. Borel, L. H. Frandsen, R. M. D. L. Rue, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1249 (2003).
[CrossRef]

Ryckeboer, E. M. P.

N. Hattasan, B. Kuyken, F. Leo, E. M. P. Ryckeboer, D. Vermeulen, and G. Roelkens, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 1536 (2012).
[CrossRef]

Scheerlinck, S.

S. Scheerlinck, D. Taillaert, D. V. Thourhout, and R. Baets, Appl. Phys. Lett. 92, 031104 (2008).
[CrossRef]

F. V. Laere, T. Claes, J. Schrauwen, S. Scheerlinck, W. Bogaerts, D. Taillaert, L. O’Faolain, D. V. Thourhout, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 19, 1919 (2007).
[CrossRef]

Schmid, J. H.

Schrauwen, J.

F. V. Laere, T. Claes, J. Schrauwen, S. Scheerlinck, W. Bogaerts, D. Taillaert, L. O’Faolain, D. V. Thourhout, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 19, 1919 (2007).
[CrossRef]

Selvaraja, S.

D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.

Shao, S.

Shum, P.

Stothard, D. J. M.

Subbaraman, H.

X. Xu, H. Subbaraman, J. Covey, D. Kwong, A. Hosseini, and R. T. Chen, Appl. Phys. Lett. 101, 031109 (2012).
[CrossRef]

Taillaert, D.

S. Scheerlinck, D. Taillaert, D. V. Thourhout, and R. Baets, Appl. Phys. Lett. 92, 031104 (2008).
[CrossRef]

F. V. Laere, T. Claes, J. Schrauwen, S. Scheerlinck, W. Bogaerts, D. Taillaert, L. O’Faolain, D. V. Thourhout, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 19, 1919 (2007).
[CrossRef]

D. Taillaert, H. Chong, P. I. Borel, L. H. Frandsen, R. M. D. L. Rue, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1249 (2003).
[CrossRef]

D. Taillaert, W. Bogaerts, P. Bienstman, T. F. Krauss, P. Van Daele, I. Moerman, S. Verstuyft, K. De Mesel, and R. Baets, IEEE J. Quantum Electron. 38, 949 (2002).
[CrossRef]

Tang, Y.

Y. Tang, Z. Wang, L. Wosinski, U. Westergren, and S. He, Opt. Lett. 35, 1290 (2010).
[CrossRef]

Y. Tang, D. Dai, and S. He, IEEE Photon. Technol. Lett. 21, 242 (2009).
[CrossRef]

Teo, E. J.

P. Y. Yang, G. Z. Mashanovich, I. Gomez-Morilla, W. R. Headley, G. T. Reed, E. J. Teo, D. J. Blackwood, M. B. H. Breese, and A. A. Bettiol, Appl. Phys. Lett. 90, 241109 (2007).
[CrossRef]

Thourhout, D. V.

D. V. Thourhout and J. Roels, Nat. Photonics 4, 211 (2010).
[CrossRef]

S. Scheerlinck, D. Taillaert, D. V. Thourhout, and R. Baets, Appl. Phys. Lett. 92, 031104 (2008).
[CrossRef]

G. Roelkens, D. Vermeulen, D. V. Thourhout, R. Baets, S. Brision, P. Lyan, P. Gautier, and J.-M. Fédéli, Appl. Phys. Lett. 92, 131101 (2008).
[CrossRef]

F. V. Laere, T. Claes, J. Schrauwen, S. Scheerlinck, W. Bogaerts, D. Taillaert, L. O’Faolain, D. V. Thourhout, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 19, 1919 (2007).
[CrossRef]

G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, Opt. Lett. 32, 1495 (2007).
[CrossRef]

D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.

Tsang, H. K.

Z. Cheng, X. Chen, C. Y. Wong, K. Xu, and H. K. Tsang, IEEE Photon. J. 4, 1510 (2012).
[CrossRef]

X. Chen and H. K. Tsang, Opt. Lett. 36, 796 (2011).
[CrossRef]

X. Chen, C. Li, C. K. Y. Fung, S. M. G. Lo, and H. K. Tsang, IEEE Photon. Technol. Lett. 22, 1156 (2010).
[CrossRef]

Van Daele, P.

D. Taillaert, W. Bogaerts, P. Bienstman, T. F. Krauss, P. Van Daele, I. Moerman, S. Verstuyft, K. De Mesel, and R. Baets, IEEE J. Quantum Electron. 38, 949 (2002).
[CrossRef]

Vermeulen, D.

N. Hattasan, B. Kuyken, F. Leo, E. M. P. Ryckeboer, D. Vermeulen, and G. Roelkens, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 1536 (2012).
[CrossRef]

G. Roelkens, D. Vermeulen, D. V. Thourhout, R. Baets, S. Brision, P. Lyan, P. Gautier, and J.-M. Fédéli, Appl. Phys. Lett. 92, 131101 (2008).
[CrossRef]

D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.

Verstuyft, S.

D. Taillaert, W. Bogaerts, P. Bienstman, T. F. Krauss, P. Van Daele, I. Moerman, S. Verstuyft, K. De Mesel, and R. Baets, IEEE J. Quantum Electron. 38, 949 (2002).
[CrossRef]

Vos, K. D.

D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.

Wang, Y.

Wang, Z.

Wangüemert-Pérez, J. G.

R. Halir, A. Ortega-Moñux, J. H. Schmid, C. Alonso-Ramos, J. Lapointe, D. X. Xu, J. G. Wangüemert-Pérez, Í. Molina-Fernández, and S. Janz, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 20, 8201313 (2014).
[CrossRef]

R. Halir, P. Cheben, S. Janz, D.-X. Xu, Í. Molina-Fernández, and J. G. Wangüemert-Pérez, Opt. Lett. 34, 1408 (2009).
[CrossRef]

Westergren, U.

Wong, C. Y.

Z. Cheng, X. Chen, C. Y. Wong, K. Xu, and H. K. Tsang, IEEE Photon. J. 4, 1510 (2012).
[CrossRef]

Wosinski, L.

Xiao, Z.

Xu, D. X.

R. Halir, A. Ortega-Moñux, J. H. Schmid, C. Alonso-Ramos, J. Lapointe, D. X. Xu, J. G. Wangüemert-Pérez, Í. Molina-Fernández, and S. Janz, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 20, 8201313 (2014).
[CrossRef]

Xu, D.-X.

Xu, K.

Z. Cheng, X. Chen, C. Y. Wong, K. Xu, and H. K. Tsang, IEEE Photon. J. 4, 1510 (2012).
[CrossRef]

Xu, X.

X. Xu, H. Subbaraman, J. Covey, D. Kwong, A. Hosseini, and R. T. Chen, Appl. Phys. Lett. 101, 031109 (2012).
[CrossRef]

Yang, J.

Yang, P. Y.

P. Y. Yang, G. Z. Mashanovich, I. Gomez-Morilla, W. R. Headley, G. T. Reed, E. J. Teo, D. J. Blackwood, M. B. H. Breese, and A. A. Bettiol, Appl. Phys. Lett. 90, 241109 (2007).
[CrossRef]

Yebo, N. A.

D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.

Yvind, K.

L. Liu, M. Pu, K. Yvind, and J. M. Hvam, Appl. Phys. Lett. 96, 051126 (2010).
[CrossRef]

Zavargo-Peche, L.

Zhang, J.

Zhang, X.

Zhou, Z.

Appl. Phys. Lett.

L. Liu, M. Pu, K. Yvind, and J. M. Hvam, Appl. Phys. Lett. 96, 051126 (2010).
[CrossRef]

G. Roelkens, D. Vermeulen, D. V. Thourhout, R. Baets, S. Brision, P. Lyan, P. Gautier, and J.-M. Fédéli, Appl. Phys. Lett. 92, 131101 (2008).
[CrossRef]

S. Scheerlinck, D. Taillaert, D. V. Thourhout, and R. Baets, Appl. Phys. Lett. 92, 031104 (2008).
[CrossRef]

P. Y. Yang, G. Z. Mashanovich, I. Gomez-Morilla, W. R. Headley, G. T. Reed, E. J. Teo, D. J. Blackwood, M. B. H. Breese, and A. A. Bettiol, Appl. Phys. Lett. 90, 241109 (2007).
[CrossRef]

X. Xu, H. Subbaraman, J. Covey, D. Kwong, A. Hosseini, and R. T. Chen, Appl. Phys. Lett. 101, 031109 (2012).
[CrossRef]

IEEE J. Quantum Electron.

D. Taillaert, W. Bogaerts, P. Bienstman, T. F. Krauss, P. Van Daele, I. Moerman, S. Verstuyft, K. De Mesel, and R. Baets, IEEE J. Quantum Electron. 38, 949 (2002).
[CrossRef]

IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron.

R. Halir, A. Ortega-Moñux, J. H. Schmid, C. Alonso-Ramos, J. Lapointe, D. X. Xu, J. G. Wangüemert-Pérez, Í. Molina-Fernández, and S. Janz, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 20, 8201313 (2014).
[CrossRef]

IEEE Photon. J.

Z. Cheng, X. Chen, C. Y. Wong, K. Xu, and H. K. Tsang, IEEE Photon. J. 4, 1510 (2012).
[CrossRef]

IEEE Photon. Technol. Lett.

L. He, Y. He, A. Pomerene, C. Hill, S. Ocheltree, T. Baehr-Jones, and M. Hochberg, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 2247 (2012).
[CrossRef]

F. V. Laere, T. Claes, J. Schrauwen, S. Scheerlinck, W. Bogaerts, D. Taillaert, L. O’Faolain, D. V. Thourhout, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 19, 1919 (2007).
[CrossRef]

X. Chen, C. Li, C. K. Y. Fung, S. M. G. Lo, and H. K. Tsang, IEEE Photon. Technol. Lett. 22, 1156 (2010).
[CrossRef]

N. Hattasan, B. Kuyken, F. Leo, E. M. P. Ryckeboer, D. Vermeulen, and G. Roelkens, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 1536 (2012).
[CrossRef]

D. Taillaert, H. Chong, P. I. Borel, L. H. Frandsen, R. M. D. L. Rue, and R. Baets, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1249 (2003).
[CrossRef]

Y. Tang, D. Dai, and S. He, IEEE Photon. Technol. Lett. 21, 242 (2009).
[CrossRef]

Nat. Photonics

D. V. Thourhout and J. Roels, Nat. Photonics 4, 211 (2010).
[CrossRef]

Opt. Express

Opt. Lett.

Other

D. Vermeulen, K. V. Acoleyen, S. Ghosh, S. Selvaraja, W. A. D. D. Cort, N. A. Yebo, E. Hallynck, K. D. Vos, P. P. P. Debackere, P. Dumon, W. Bogaerts, G. Roelkens, D. V. Thourhout, and R. Baets, in European Conference on Integrated Optics, Florence, Italy, 2010.

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (6)

Fig. 1.
Fig. 1.

(a) Schematic of an apodized focusing SWG for coupling two polarizations into a single SMW. (b) Top-view picture of an apodized SWG. (c) Cross-section picture of the apodized SWG. (d) Top-view picture of the apodized focusing SWG.

Fig. 2.
Fig. 2.

(a) Calculated indexes of subwavelength medium using the second-order EMT. (b) Directionality and coupling strength of TM mode SWGs. (c) Directionality and coupling strength of TE mode SWGs. (d) Calculated Gaussian-shaped mode profiles (solid lines), coupling strengths (dashed lines) according to [7], and coupling strengths simulated from a two-dimensional (2D) FDTD simulator (scatter dots) with three different diffracted mode profile locations. (e) Coupling efficiency of the different apodized SWG designs using 2D FDTD simulations.

Fig. 3.
Fig. 3.

(a) 3D FDTD simulations of apodized focusing SWGs for different lateral fill factors. (b) 3D FDTD simulations of apodized focusing SWGs with silicon slab height variations.

Fig. 4.
Fig. 4.

(a) Scanning electron microscope (SEM) image of apodized focusing SWGs. (b) SEM image of the cross-section of a SMW.

Fig. 5.
Fig. 5.

Measurements of apodized focusing SWGs with different fill factors of the subwavelength structure.

Fig. 6.
Fig. 6.

Coupling efficiency for different input polarizations.

Tables (3)

Tables Icon

Table 1. Grating Period Λy (nm) and Fill Factor fx (Design 1)

Tables Icon

Table 2. Grating Period Λy (nm) and Fill Factor fx (Design 2)

Tables Icon

Table 3. Grating Period Λy (nm) and Fill Factor fx (Design 3)

Metrics