Abstract

Double-tapered laser diodes with 23rd order laterally coupled surface gratings are fabricated at 913 nm. A narrow ridge waveguide restricts the lateral mode number, and tapered waveguides are utilized to enhance the output power. The gratings defined on the sides of ridge waveguide filter not only the longitudinal modes but also the high-order lateral modes. Experimentally, continuous wave power of over 560mW/facet is achieved. The lateral far-field pattern exhibits a single-lobe profile and narrow divergence, and the lowest divergence angle is only twice the diffraction-limited one. The measured side-mode suppression ratio is about 27 dB. This device has great potential for high-power single-mode near-diffraction-limited laser emission with easy fabrication.

© 2014 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
    [CrossRef]
  2. J. L. Jin, L. Wang, T. T. Yu, Y. Wang, and J. J. He, Opt. Lett. 36, 4230 (2011).
    [CrossRef]
  3. P. Q. Liu, K. Sladek, X. J. Wang, J. Y. Fan, and C. F. Gmachl, Appl. Phys. Lett. 99, 241112 (2011).
    [CrossRef]
  4. C. M. Schultz, P. Crump, H. Wenzel, O. Brox, A. Maaßdorf, G. Erbert, and G. Tränkle, Electron. Lett. 46, 580 (2010).
    [CrossRef]
  5. U. Reddy, N. L. Dias, A. Garg, and J. J. Coleman, Appl. Phys. Lett. 99, 171109 (2011).
    [CrossRef]
  6. L. P. Hou, M. Haji, J. Akbar, and J. H. Marsh, Opt. Lett. 37, 4525 (2012).
    [CrossRef]
  7. D. Feise, W. John, F. Bugge, C. Fiebig, G. Blume, and K. Paschke, Opt. Express 20, 23374 (2012).
    [CrossRef]
  8. D. Feise, W. John, F. Bugge, G. Blume, T. Hassoun, J. Fricke, K. Paschke, and G. Erbert, Opt. Lett. 37, 1532 (2012).
    [CrossRef]
  9. Q. Y. Lu, W. H. Guo, M. Nawrocka, A. Abdullaev, C. Daunt, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, F. Peters, and J. F. Donegan, Opt. Express 19, B140 (2011).
    [CrossRef]
  10. W. H. Guo, Q. Y. Lu, M. Nawrocka, A. Abdullaev, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, and J. F. Donegan, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 634 (2012).
    [CrossRef]
  11. H. Yang, L. J. Mawst, and D. Botez, Appl. Phys. Lett. 76, 1219 (2000).
    [CrossRef]
  12. K. C. Kim, I. K. Han, J. I. Lee, and T. G. Kim, Appl. Phys. Lett. 96, 261106 (2010).
    [CrossRef]
  13. L. Liu, J. X. Zhang, S. D. Ma, A. Y. Qi, H. W. Qu, Y. J. Zhang, and W. H. Zheng, Opt. Lett. 38, 2770 (2013).
    [CrossRef]
  14. B. Gökden, T. S. Mansuripur, R. Blanchard, C. Wang, A. Goyal, A. Sanchez-Rubio, G. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 102, 053503 (2013).
    [CrossRef]
  15. S. Menzel, L. Diehl, C. Pflügl, A. Goyal, C. Wang, A. Sanchez, G. Turner, and F. Capasso, Opt. Express 19, 16229 (2011).
    [CrossRef]
  16. P. Rauter, S. Menzel, A. K. Goyal, B. Gökden, C. A. Wang, A. Sanchez, G. W. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 101, 261117 (2012).
    [CrossRef]
  17. C. S. Kim, M. Kim, W. W. Bewley, J. R. Lindle, C. L. Canedy, J. Abell, I. Vurgaftman, and J. R. Meyer, Appl. Phys. Lett. 95, 231103 (2009).
    [CrossRef]
  18. Y. Yamamoto, T. Kamiya, and H. Yanai, IEEE J. Quantum Electron. 14, 245 (1978).
    [CrossRef]
  19. P. Crump, O. Brox, F. Bugge, J. Fricke, C. Schultz, M. Spreemann, B. Sumpf, H. Wenzel, and G. Erbert, in Advances in Semiconductor Lasers, J. J. Coleman, A. C. Bryce, and C. Jagadish, eds. (Academic, 2012), pp. 50–87.
  20. B. Sumpf, K. H. Hasler, P. Adamiec, F. Bugge, F. Dittmar, J. Fricke, H. Wenzel, M. Zorn, G. Erbert, and G. Tränkle, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 15, 1009 (2009).
    [CrossRef]
  21. I. Esquivias, H. Odriozola, J. M. G. Tijero, L. Borruel, A. M. Mínguez, N. Michel, M. Calligaro, M. Lecomte, O. Parillaud, and M. Krakowski, Proc. SPIE 7616, 76161E (2010).
    [CrossRef]
  22. W. H. Zheng, W. J. Zhou, Y. F. Wang, A. J. Liu, W. Chen, H. L. Wang, F. Y. Fu, and A. Y. Qi, Opt. Lett. 36, 4140 (2011).
    [CrossRef]

2013

B. Gökden, T. S. Mansuripur, R. Blanchard, C. Wang, A. Goyal, A. Sanchez-Rubio, G. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 102, 053503 (2013).
[CrossRef]

L. Liu, J. X. Zhang, S. D. Ma, A. Y. Qi, H. W. Qu, Y. J. Zhang, and W. H. Zheng, Opt. Lett. 38, 2770 (2013).
[CrossRef]

2012

D. Feise, W. John, F. Bugge, G. Blume, T. Hassoun, J. Fricke, K. Paschke, and G. Erbert, Opt. Lett. 37, 1532 (2012).
[CrossRef]

D. Feise, W. John, F. Bugge, C. Fiebig, G. Blume, and K. Paschke, Opt. Express 20, 23374 (2012).
[CrossRef]

L. P. Hou, M. Haji, J. Akbar, and J. H. Marsh, Opt. Lett. 37, 4525 (2012).
[CrossRef]

W. H. Guo, Q. Y. Lu, M. Nawrocka, A. Abdullaev, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, and J. F. Donegan, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 634 (2012).
[CrossRef]

P. Rauter, S. Menzel, A. K. Goyal, B. Gökden, C. A. Wang, A. Sanchez, G. W. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 101, 261117 (2012).
[CrossRef]

2011

2010

K. C. Kim, I. K. Han, J. I. Lee, and T. G. Kim, Appl. Phys. Lett. 96, 261106 (2010).
[CrossRef]

C. M. Schultz, P. Crump, H. Wenzel, O. Brox, A. Maaßdorf, G. Erbert, and G. Tränkle, Electron. Lett. 46, 580 (2010).
[CrossRef]

I. Esquivias, H. Odriozola, J. M. G. Tijero, L. Borruel, A. M. Mínguez, N. Michel, M. Calligaro, M. Lecomte, O. Parillaud, and M. Krakowski, Proc. SPIE 7616, 76161E (2010).
[CrossRef]

2009

C. S. Kim, M. Kim, W. W. Bewley, J. R. Lindle, C. L. Canedy, J. Abell, I. Vurgaftman, and J. R. Meyer, Appl. Phys. Lett. 95, 231103 (2009).
[CrossRef]

B. Sumpf, K. H. Hasler, P. Adamiec, F. Bugge, F. Dittmar, J. Fricke, H. Wenzel, M. Zorn, G. Erbert, and G. Tränkle, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 15, 1009 (2009).
[CrossRef]

2007

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

2000

H. Yang, L. J. Mawst, and D. Botez, Appl. Phys. Lett. 76, 1219 (2000).
[CrossRef]

1978

Y. Yamamoto, T. Kamiya, and H. Yanai, IEEE J. Quantum Electron. 14, 245 (1978).
[CrossRef]

Abdullaev, A.

W. H. Guo, Q. Y. Lu, M. Nawrocka, A. Abdullaev, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, and J. F. Donegan, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 634 (2012).
[CrossRef]

Q. Y. Lu, W. H. Guo, M. Nawrocka, A. Abdullaev, C. Daunt, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, F. Peters, and J. F. Donegan, Opt. Express 19, B140 (2011).
[CrossRef]

Abell, J.

C. S. Kim, M. Kim, W. W. Bewley, J. R. Lindle, C. L. Canedy, J. Abell, I. Vurgaftman, and J. R. Meyer, Appl. Phys. Lett. 95, 231103 (2009).
[CrossRef]

Adamiec, P.

B. Sumpf, K. H. Hasler, P. Adamiec, F. Bugge, F. Dittmar, J. Fricke, H. Wenzel, M. Zorn, G. Erbert, and G. Tränkle, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 15, 1009 (2009).
[CrossRef]

Akbar, J.

Bell, J.

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

Bewley, W. W.

C. S. Kim, M. Kim, W. W. Bewley, J. R. Lindle, C. L. Canedy, J. Abell, I. Vurgaftman, and J. R. Meyer, Appl. Phys. Lett. 95, 231103 (2009).
[CrossRef]

Blanchard, R.

B. Gökden, T. S. Mansuripur, R. Blanchard, C. Wang, A. Goyal, A. Sanchez-Rubio, G. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 102, 053503 (2013).
[CrossRef]

Blume, G.

Borruel, L.

I. Esquivias, H. Odriozola, J. M. G. Tijero, L. Borruel, A. M. Mínguez, N. Michel, M. Calligaro, M. Lecomte, O. Parillaud, and M. Krakowski, Proc. SPIE 7616, 76161E (2010).
[CrossRef]

Botez, D.

H. Yang, L. J. Mawst, and D. Botez, Appl. Phys. Lett. 76, 1219 (2000).
[CrossRef]

Bougher, M.

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

Brox, O.

C. M. Schultz, P. Crump, H. Wenzel, O. Brox, A. Maaßdorf, G. Erbert, and G. Tränkle, Electron. Lett. 46, 580 (2010).
[CrossRef]

P. Crump, O. Brox, F. Bugge, J. Fricke, C. Schultz, M. Spreemann, B. Sumpf, H. Wenzel, and G. Erbert, in Advances in Semiconductor Lasers, J. J. Coleman, A. C. Bryce, and C. Jagadish, eds. (Academic, 2012), pp. 50–87.

Bugge, F.

D. Feise, W. John, F. Bugge, G. Blume, T. Hassoun, J. Fricke, K. Paschke, and G. Erbert, Opt. Lett. 37, 1532 (2012).
[CrossRef]

D. Feise, W. John, F. Bugge, C. Fiebig, G. Blume, and K. Paschke, Opt. Express 20, 23374 (2012).
[CrossRef]

B. Sumpf, K. H. Hasler, P. Adamiec, F. Bugge, F. Dittmar, J. Fricke, H. Wenzel, M. Zorn, G. Erbert, and G. Tränkle, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 15, 1009 (2009).
[CrossRef]

P. Crump, O. Brox, F. Bugge, J. Fricke, C. Schultz, M. Spreemann, B. Sumpf, H. Wenzel, and G. Erbert, in Advances in Semiconductor Lasers, J. J. Coleman, A. C. Bryce, and C. Jagadish, eds. (Academic, 2012), pp. 50–87.

Calligaro, M.

I. Esquivias, H. Odriozola, J. M. G. Tijero, L. Borruel, A. M. Mínguez, N. Michel, M. Calligaro, M. Lecomte, O. Parillaud, and M. Krakowski, Proc. SPIE 7616, 76161E (2010).
[CrossRef]

Canedy, C. L.

C. S. Kim, M. Kim, W. W. Bewley, J. R. Lindle, C. L. Canedy, J. Abell, I. Vurgaftman, and J. R. Meyer, Appl. Phys. Lett. 95, 231103 (2009).
[CrossRef]

Capasso, F.

B. Gökden, T. S. Mansuripur, R. Blanchard, C. Wang, A. Goyal, A. Sanchez-Rubio, G. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 102, 053503 (2013).
[CrossRef]

P. Rauter, S. Menzel, A. K. Goyal, B. Gökden, C. A. Wang, A. Sanchez, G. W. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 101, 261117 (2012).
[CrossRef]

S. Menzel, L. Diehl, C. Pflügl, A. Goyal, C. Wang, A. Sanchez, G. Turner, and F. Capasso, Opt. Express 19, 16229 (2011).
[CrossRef]

Chen, W.

Coleman, J. J.

U. Reddy, N. L. Dias, A. Garg, and J. J. Coleman, Appl. Phys. Lett. 99, 171109 (2011).
[CrossRef]

Crump, P.

C. M. Schultz, P. Crump, H. Wenzel, O. Brox, A. Maaßdorf, G. Erbert, and G. Tränkle, Electron. Lett. 46, 580 (2010).
[CrossRef]

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

P. Crump, O. Brox, F. Bugge, J. Fricke, C. Schultz, M. Spreemann, B. Sumpf, H. Wenzel, and G. Erbert, in Advances in Semiconductor Lasers, J. J. Coleman, A. C. Bryce, and C. Jagadish, eds. (Academic, 2012), pp. 50–87.

Das, S.

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

Daunt, C.

DeFranza, M.

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

DeVito, M.

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

Dias, N. L.

U. Reddy, N. L. Dias, A. Garg, and J. J. Coleman, Appl. Phys. Lett. 99, 171109 (2011).
[CrossRef]

Diehl, L.

Dittmar, F.

B. Sumpf, K. H. Hasler, P. Adamiec, F. Bugge, F. Dittmar, J. Fricke, H. Wenzel, M. Zorn, G. Erbert, and G. Tränkle, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 15, 1009 (2009).
[CrossRef]

Donegan, J. F.

W. H. Guo, Q. Y. Lu, M. Nawrocka, A. Abdullaev, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, and J. F. Donegan, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 634 (2012).
[CrossRef]

Q. Y. Lu, W. H. Guo, M. Nawrocka, A. Abdullaev, C. Daunt, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, F. Peters, and J. F. Donegan, Opt. Express 19, B140 (2011).
[CrossRef]

Dong, W.

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

Elim, S.

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

Erbert, G.

D. Feise, W. John, F. Bugge, G. Blume, T. Hassoun, J. Fricke, K. Paschke, and G. Erbert, Opt. Lett. 37, 1532 (2012).
[CrossRef]

C. M. Schultz, P. Crump, H. Wenzel, O. Brox, A. Maaßdorf, G. Erbert, and G. Tränkle, Electron. Lett. 46, 580 (2010).
[CrossRef]

B. Sumpf, K. H. Hasler, P. Adamiec, F. Bugge, F. Dittmar, J. Fricke, H. Wenzel, M. Zorn, G. Erbert, and G. Tränkle, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 15, 1009 (2009).
[CrossRef]

P. Crump, O. Brox, F. Bugge, J. Fricke, C. Schultz, M. Spreemann, B. Sumpf, H. Wenzel, and G. Erbert, in Advances in Semiconductor Lasers, J. J. Coleman, A. C. Bryce, and C. Jagadish, eds. (Academic, 2012), pp. 50–87.

Esquivias, I.

I. Esquivias, H. Odriozola, J. M. G. Tijero, L. Borruel, A. M. Mínguez, N. Michel, M. Calligaro, M. Lecomte, O. Parillaud, and M. Krakowski, Proc. SPIE 7616, 76161E (2010).
[CrossRef]

Fan, J. Y.

P. Q. Liu, K. Sladek, X. J. Wang, J. Y. Fan, and C. F. Gmachl, Appl. Phys. Lett. 99, 241112 (2011).
[CrossRef]

Farmer, J.

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

Feise, D.

Fiebig, C.

Fricke, J.

D. Feise, W. John, F. Bugge, G. Blume, T. Hassoun, J. Fricke, K. Paschke, and G. Erbert, Opt. Lett. 37, 1532 (2012).
[CrossRef]

B. Sumpf, K. H. Hasler, P. Adamiec, F. Bugge, F. Dittmar, J. Fricke, H. Wenzel, M. Zorn, G. Erbert, and G. Tränkle, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 15, 1009 (2009).
[CrossRef]

P. Crump, O. Brox, F. Bugge, J. Fricke, C. Schultz, M. Spreemann, B. Sumpf, H. Wenzel, and G. Erbert, in Advances in Semiconductor Lasers, J. J. Coleman, A. C. Bryce, and C. Jagadish, eds. (Academic, 2012), pp. 50–87.

Fu, F. Y.

Garg, A.

U. Reddy, N. L. Dias, A. Garg, and J. J. Coleman, Appl. Phys. Lett. 99, 171109 (2011).
[CrossRef]

Gmachl, C. F.

P. Q. Liu, K. Sladek, X. J. Wang, J. Y. Fan, and C. F. Gmachl, Appl. Phys. Lett. 99, 241112 (2011).
[CrossRef]

Gökden, B.

B. Gökden, T. S. Mansuripur, R. Blanchard, C. Wang, A. Goyal, A. Sanchez-Rubio, G. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 102, 053503 (2013).
[CrossRef]

P. Rauter, S. Menzel, A. K. Goyal, B. Gökden, C. A. Wang, A. Sanchez, G. W. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 101, 261117 (2012).
[CrossRef]

Goyal, A.

B. Gökden, T. S. Mansuripur, R. Blanchard, C. Wang, A. Goyal, A. Sanchez-Rubio, G. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 102, 053503 (2013).
[CrossRef]

S. Menzel, L. Diehl, C. Pflügl, A. Goyal, C. Wang, A. Sanchez, G. Turner, and F. Capasso, Opt. Express 19, 16229 (2011).
[CrossRef]

Goyal, A. K.

P. Rauter, S. Menzel, A. K. Goyal, B. Gökden, C. A. Wang, A. Sanchez, G. W. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 101, 261117 (2012).
[CrossRef]

Grimshaw, M.

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

Guo, W. H.

W. H. Guo, Q. Y. Lu, M. Nawrocka, A. Abdullaev, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, and J. F. Donegan, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 634 (2012).
[CrossRef]

Q. Y. Lu, W. H. Guo, M. Nawrocka, A. Abdullaev, C. Daunt, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, F. Peters, and J. F. Donegan, Opt. Express 19, B140 (2011).
[CrossRef]

Haji, M.

Han, I. K.

K. C. Kim, I. K. Han, J. I. Lee, and T. G. Kim, Appl. Phys. Lett. 96, 261106 (2010).
[CrossRef]

Hasler, K. H.

B. Sumpf, K. H. Hasler, P. Adamiec, F. Bugge, F. Dittmar, J. Fricke, H. Wenzel, M. Zorn, G. Erbert, and G. Tränkle, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 15, 1009 (2009).
[CrossRef]

Hassoun, T.

He, J. J.

Hou, L. P.

Jin, J. L.

John, W.

Kamiya, T.

Y. Yamamoto, T. Kamiya, and H. Yanai, IEEE J. Quantum Electron. 14, 245 (1978).
[CrossRef]

Kim, C. S.

C. S. Kim, M. Kim, W. W. Bewley, J. R. Lindle, C. L. Canedy, J. Abell, I. Vurgaftman, and J. R. Meyer, Appl. Phys. Lett. 95, 231103 (2009).
[CrossRef]

Kim, K. C.

K. C. Kim, I. K. Han, J. I. Lee, and T. G. Kim, Appl. Phys. Lett. 96, 261106 (2010).
[CrossRef]

Kim, M.

C. S. Kim, M. Kim, W. W. Bewley, J. R. Lindle, C. L. Canedy, J. Abell, I. Vurgaftman, and J. R. Meyer, Appl. Phys. Lett. 95, 231103 (2009).
[CrossRef]

Kim, T. G.

K. C. Kim, I. K. Han, J. I. Lee, and T. G. Kim, Appl. Phys. Lett. 96, 261106 (2010).
[CrossRef]

Krakowski, M.

I. Esquivias, H. Odriozola, J. M. G. Tijero, L. Borruel, A. M. Mínguez, N. Michel, M. Calligaro, M. Lecomte, O. Parillaud, and M. Krakowski, Proc. SPIE 7616, 76161E (2010).
[CrossRef]

Lecomte, M.

I. Esquivias, H. Odriozola, J. M. G. Tijero, L. Borruel, A. M. Mínguez, N. Michel, M. Calligaro, M. Lecomte, O. Parillaud, and M. Krakowski, Proc. SPIE 7616, 76161E (2010).
[CrossRef]

Lee, J. I.

K. C. Kim, I. K. Han, J. I. Lee, and T. G. Kim, Appl. Phys. Lett. 96, 261106 (2010).
[CrossRef]

Lindle, J. R.

C. S. Kim, M. Kim, W. W. Bewley, J. R. Lindle, C. L. Canedy, J. Abell, I. Vurgaftman, and J. R. Meyer, Appl. Phys. Lett. 95, 231103 (2009).
[CrossRef]

Liu, A. J.

Liu, L.

Liu, P. Q.

P. Q. Liu, K. Sladek, X. J. Wang, J. Y. Fan, and C. F. Gmachl, Appl. Phys. Lett. 99, 241112 (2011).
[CrossRef]

Lu, Q. Y.

W. H. Guo, Q. Y. Lu, M. Nawrocka, A. Abdullaev, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, and J. F. Donegan, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 634 (2012).
[CrossRef]

Q. Y. Lu, W. H. Guo, M. Nawrocka, A. Abdullaev, C. Daunt, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, F. Peters, and J. F. Donegan, Opt. Express 19, B140 (2011).
[CrossRef]

Lynch, M.

W. H. Guo, Q. Y. Lu, M. Nawrocka, A. Abdullaev, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, and J. F. Donegan, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 634 (2012).
[CrossRef]

Q. Y. Lu, W. H. Guo, M. Nawrocka, A. Abdullaev, C. Daunt, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, F. Peters, and J. F. Donegan, Opt. Express 19, B140 (2011).
[CrossRef]

Ma, S. D.

Maaßdorf, A.

C. M. Schultz, P. Crump, H. Wenzel, O. Brox, A. Maaßdorf, G. Erbert, and G. Tränkle, Electron. Lett. 46, 580 (2010).
[CrossRef]

Mansuripur, T. S.

B. Gökden, T. S. Mansuripur, R. Blanchard, C. Wang, A. Goyal, A. Sanchez-Rubio, G. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 102, 053503 (2013).
[CrossRef]

Marsh, J. H.

Martinsen, R.

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

Mawst, L. J.

H. Yang, L. J. Mawst, and D. Botez, Appl. Phys. Lett. 76, 1219 (2000).
[CrossRef]

Menzel, S.

P. Rauter, S. Menzel, A. K. Goyal, B. Gökden, C. A. Wang, A. Sanchez, G. W. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 101, 261117 (2012).
[CrossRef]

S. Menzel, L. Diehl, C. Pflügl, A. Goyal, C. Wang, A. Sanchez, G. Turner, and F. Capasso, Opt. Express 19, 16229 (2011).
[CrossRef]

Meyer, J. R.

C. S. Kim, M. Kim, W. W. Bewley, J. R. Lindle, C. L. Canedy, J. Abell, I. Vurgaftman, and J. R. Meyer, Appl. Phys. Lett. 95, 231103 (2009).
[CrossRef]

Michel, N.

I. Esquivias, H. Odriozola, J. M. G. Tijero, L. Borruel, A. M. Mínguez, N. Michel, M. Calligaro, M. Lecomte, O. Parillaud, and M. Krakowski, Proc. SPIE 7616, 76161E (2010).
[CrossRef]

Mínguez, A. M.

I. Esquivias, H. Odriozola, J. M. G. Tijero, L. Borruel, A. M. Mínguez, N. Michel, M. Calligaro, M. Lecomte, O. Parillaud, and M. Krakowski, Proc. SPIE 7616, 76161E (2010).
[CrossRef]

Nawrocka, M.

W. H. Guo, Q. Y. Lu, M. Nawrocka, A. Abdullaev, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, and J. F. Donegan, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 634 (2012).
[CrossRef]

Q. Y. Lu, W. H. Guo, M. Nawrocka, A. Abdullaev, C. Daunt, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, F. Peters, and J. F. Donegan, Opt. Express 19, B140 (2011).
[CrossRef]

O’Callaghan, J.

W. H. Guo, Q. Y. Lu, M. Nawrocka, A. Abdullaev, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, and J. F. Donegan, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 634 (2012).
[CrossRef]

Q. Y. Lu, W. H. Guo, M. Nawrocka, A. Abdullaev, C. Daunt, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, F. Peters, and J. F. Donegan, Opt. Express 19, B140 (2011).
[CrossRef]

Odriozola, H.

I. Esquivias, H. Odriozola, J. M. G. Tijero, L. Borruel, A. M. Mínguez, N. Michel, M. Calligaro, M. Lecomte, O. Parillaud, and M. Krakowski, Proc. SPIE 7616, 76161E (2010).
[CrossRef]

Parillaud, O.

I. Esquivias, H. Odriozola, J. M. G. Tijero, L. Borruel, A. M. Mínguez, N. Michel, M. Calligaro, M. Lecomte, O. Parillaud, and M. Krakowski, Proc. SPIE 7616, 76161E (2010).
[CrossRef]

Paschke, K.

Patterson, J.

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

Patterson, S.

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

Peters, F.

Pflügl, C.

Qi, A. Y.

Qu, H. W.

Rauter, P.

P. Rauter, S. Menzel, A. K. Goyal, B. Gökden, C. A. Wang, A. Sanchez, G. W. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 101, 261117 (2012).
[CrossRef]

Reddy, U.

U. Reddy, N. L. Dias, A. Garg, and J. J. Coleman, Appl. Phys. Lett. 99, 171109 (2011).
[CrossRef]

Sanchez, A.

P. Rauter, S. Menzel, A. K. Goyal, B. Gökden, C. A. Wang, A. Sanchez, G. W. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 101, 261117 (2012).
[CrossRef]

S. Menzel, L. Diehl, C. Pflügl, A. Goyal, C. Wang, A. Sanchez, G. Turner, and F. Capasso, Opt. Express 19, 16229 (2011).
[CrossRef]

Sanchez-Rubio, A.

B. Gökden, T. S. Mansuripur, R. Blanchard, C. Wang, A. Goyal, A. Sanchez-Rubio, G. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 102, 053503 (2013).
[CrossRef]

Schultz, C.

P. Crump, O. Brox, F. Bugge, J. Fricke, C. Schultz, M. Spreemann, B. Sumpf, H. Wenzel, and G. Erbert, in Advances in Semiconductor Lasers, J. J. Coleman, A. C. Bryce, and C. Jagadish, eds. (Academic, 2012), pp. 50–87.

Schultz, C. M.

C. M. Schultz, P. Crump, H. Wenzel, O. Brox, A. Maaßdorf, G. Erbert, and G. Tränkle, Electron. Lett. 46, 580 (2010).
[CrossRef]

Sladek, K.

P. Q. Liu, K. Sladek, X. J. Wang, J. Y. Fan, and C. F. Gmachl, Appl. Phys. Lett. 99, 241112 (2011).
[CrossRef]

Spreemann, M.

P. Crump, O. Brox, F. Bugge, J. Fricke, C. Schultz, M. Spreemann, B. Sumpf, H. Wenzel, and G. Erbert, in Advances in Semiconductor Lasers, J. J. Coleman, A. C. Bryce, and C. Jagadish, eds. (Academic, 2012), pp. 50–87.

Sumpf, B.

B. Sumpf, K. H. Hasler, P. Adamiec, F. Bugge, F. Dittmar, J. Fricke, H. Wenzel, M. Zorn, G. Erbert, and G. Tränkle, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 15, 1009 (2009).
[CrossRef]

P. Crump, O. Brox, F. Bugge, J. Fricke, C. Schultz, M. Spreemann, B. Sumpf, H. Wenzel, and G. Erbert, in Advances in Semiconductor Lasers, J. J. Coleman, A. C. Bryce, and C. Jagadish, eds. (Academic, 2012), pp. 50–87.

Tijero, J. M. G.

I. Esquivias, H. Odriozola, J. M. G. Tijero, L. Borruel, A. M. Mínguez, N. Michel, M. Calligaro, M. Lecomte, O. Parillaud, and M. Krakowski, Proc. SPIE 7616, 76161E (2010).
[CrossRef]

Tränkle, G.

C. M. Schultz, P. Crump, H. Wenzel, O. Brox, A. Maaßdorf, G. Erbert, and G. Tränkle, Electron. Lett. 46, 580 (2010).
[CrossRef]

B. Sumpf, K. H. Hasler, P. Adamiec, F. Bugge, F. Dittmar, J. Fricke, H. Wenzel, M. Zorn, G. Erbert, and G. Tränkle, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 15, 1009 (2009).
[CrossRef]

Turner, G.

B. Gökden, T. S. Mansuripur, R. Blanchard, C. Wang, A. Goyal, A. Sanchez-Rubio, G. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 102, 053503 (2013).
[CrossRef]

S. Menzel, L. Diehl, C. Pflügl, A. Goyal, C. Wang, A. Sanchez, G. Turner, and F. Capasso, Opt. Express 19, 16229 (2011).
[CrossRef]

Turner, G. W.

P. Rauter, S. Menzel, A. K. Goyal, B. Gökden, C. A. Wang, A. Sanchez, G. W. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 101, 261117 (2012).
[CrossRef]

Vurgaftman, I.

C. S. Kim, M. Kim, W. W. Bewley, J. R. Lindle, C. L. Canedy, J. Abell, I. Vurgaftman, and J. R. Meyer, Appl. Phys. Lett. 95, 231103 (2009).
[CrossRef]

Wang, C.

B. Gökden, T. S. Mansuripur, R. Blanchard, C. Wang, A. Goyal, A. Sanchez-Rubio, G. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 102, 053503 (2013).
[CrossRef]

S. Menzel, L. Diehl, C. Pflügl, A. Goyal, C. Wang, A. Sanchez, G. Turner, and F. Capasso, Opt. Express 19, 16229 (2011).
[CrossRef]

Wang, C. A.

P. Rauter, S. Menzel, A. K. Goyal, B. Gökden, C. A. Wang, A. Sanchez, G. W. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 101, 261117 (2012).
[CrossRef]

Wang, H. L.

Wang, J.

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

Wang, L.

Wang, X. J.

P. Q. Liu, K. Sladek, X. J. Wang, J. Y. Fan, and C. F. Gmachl, Appl. Phys. Lett. 99, 241112 (2011).
[CrossRef]

Wang, Y.

Wang, Y. F.

Weldon, V.

W. H. Guo, Q. Y. Lu, M. Nawrocka, A. Abdullaev, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, and J. F. Donegan, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 634 (2012).
[CrossRef]

Q. Y. Lu, W. H. Guo, M. Nawrocka, A. Abdullaev, C. Daunt, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, F. Peters, and J. F. Donegan, Opt. Express 19, B140 (2011).
[CrossRef]

Wenzel, H.

C. M. Schultz, P. Crump, H. Wenzel, O. Brox, A. Maaßdorf, G. Erbert, and G. Tränkle, Electron. Lett. 46, 580 (2010).
[CrossRef]

B. Sumpf, K. H. Hasler, P. Adamiec, F. Bugge, F. Dittmar, J. Fricke, H. Wenzel, M. Zorn, G. Erbert, and G. Tränkle, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 15, 1009 (2009).
[CrossRef]

P. Crump, O. Brox, F. Bugge, J. Fricke, C. Schultz, M. Spreemann, B. Sumpf, H. Wenzel, and G. Erbert, in Advances in Semiconductor Lasers, J. J. Coleman, A. C. Bryce, and C. Jagadish, eds. (Academic, 2012), pp. 50–87.

Wise, D.

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

Yamamoto, Y.

Y. Yamamoto, T. Kamiya, and H. Yanai, IEEE J. Quantum Electron. 14, 245 (1978).
[CrossRef]

Yanai, H.

Y. Yamamoto, T. Kamiya, and H. Yanai, IEEE J. Quantum Electron. 14, 245 (1978).
[CrossRef]

Yang, H.

H. Yang, L. J. Mawst, and D. Botez, Appl. Phys. Lett. 76, 1219 (2000).
[CrossRef]

Yu, T. T.

Zhang, J. X.

Zhang, S.

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

Zhang, Y. J.

Zheng, W. H.

Zhou, W. J.

Zorn, M.

B. Sumpf, K. H. Hasler, P. Adamiec, F. Bugge, F. Dittmar, J. Fricke, H. Wenzel, M. Zorn, G. Erbert, and G. Tränkle, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 15, 1009 (2009).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett.

P. Q. Liu, K. Sladek, X. J. Wang, J. Y. Fan, and C. F. Gmachl, Appl. Phys. Lett. 99, 241112 (2011).
[CrossRef]

U. Reddy, N. L. Dias, A. Garg, and J. J. Coleman, Appl. Phys. Lett. 99, 171109 (2011).
[CrossRef]

H. Yang, L. J. Mawst, and D. Botez, Appl. Phys. Lett. 76, 1219 (2000).
[CrossRef]

K. C. Kim, I. K. Han, J. I. Lee, and T. G. Kim, Appl. Phys. Lett. 96, 261106 (2010).
[CrossRef]

P. Rauter, S. Menzel, A. K. Goyal, B. Gökden, C. A. Wang, A. Sanchez, G. W. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 101, 261117 (2012).
[CrossRef]

C. S. Kim, M. Kim, W. W. Bewley, J. R. Lindle, C. L. Canedy, J. Abell, I. Vurgaftman, and J. R. Meyer, Appl. Phys. Lett. 95, 231103 (2009).
[CrossRef]

B. Gökden, T. S. Mansuripur, R. Blanchard, C. Wang, A. Goyal, A. Sanchez-Rubio, G. Turner, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 102, 053503 (2013).
[CrossRef]

Electron. Lett.

C. M. Schultz, P. Crump, H. Wenzel, O. Brox, A. Maaßdorf, G. Erbert, and G. Tränkle, Electron. Lett. 46, 580 (2010).
[CrossRef]

IEEE J. Quantum Electron.

Y. Yamamoto, T. Kamiya, and H. Yanai, IEEE J. Quantum Electron. 14, 245 (1978).
[CrossRef]

IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron.

B. Sumpf, K. H. Hasler, P. Adamiec, F. Bugge, F. Dittmar, J. Fricke, H. Wenzel, M. Zorn, G. Erbert, and G. Tränkle, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 15, 1009 (2009).
[CrossRef]

IEEE Photon. Technol. Lett.

W. H. Guo, Q. Y. Lu, M. Nawrocka, A. Abdullaev, J. O’Callaghan, M. Lynch, V. Weldon, and J. F. Donegan, IEEE Photon. Technol. Lett. 24, 634 (2012).
[CrossRef]

Opt. Express

Opt. Lett.

Proc. SPIE

I. Esquivias, H. Odriozola, J. M. G. Tijero, L. Borruel, A. M. Mínguez, N. Michel, M. Calligaro, M. Lecomte, O. Parillaud, and M. Krakowski, Proc. SPIE 7616, 76161E (2010).
[CrossRef]

P. Crump, W. Dong, M. Grimshaw, J. Wang, S. Patterson, D. Wise, M. DeFranza, S. Elim, S. Zhang, M. Bougher, J. Patterson, S. Das, J. Bell, J. Farmer, M. DeVito, and R. Martinsen, Proc. SPIE 6456, 64560M (2007).
[CrossRef]

Other

P. Crump, O. Brox, F. Bugge, J. Fricke, C. Schultz, M. Spreemann, B. Sumpf, H. Wenzel, and G. Erbert, in Advances in Semiconductor Lasers, J. J. Coleman, A. C. Bryce, and C. Jagadish, eds. (Academic, 2012), pp. 50–87.

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (5)

Fig. 1.
Fig. 1.

Schematical picture of the device. The scanning electron microscope map (inset) shows the ridge waveguide and the HOSGs on both sides of it.

Fig. 2.
Fig. 2.

(a) Calculated amplitude reflection spectrum as a function of periods, with a duty cycle of 0.5. (b) Calculated gain spectrum of our wafer, and amplitude reflection spectrum with a period of 3.05 μm.

Fig. 3.
Fig. 3.

Measured L–I–V curves in CW mode. The inset shows the transverse FFP.

Fig. 4.
Fig. 4.

Lateral FFPs under the CW test. The inset shows the divergence angles as a function of output power.

Fig. 5.
Fig. 5.

Laser spectrum of the double-tapered laser with the HOSGs in CW mode. The inset shows the spectrum of the double-tapered laser without the HOSGs for comparison.

Metrics