Abstract

In this Letter, a light-emitting diode (LED) with prism-shaped-air-ring microstructures (PSAMs) formed on flat sapphire substrate is demonstrated as an alternative design to face-up LEDs on patterned sapphire substrate (PSS) for enhanced light extraction efficiency. In this LED design, the emitted photons can be deflected to the top of the chip for its effective extraction, contrary to the PSS-LED wherein photons are guided to sapphire and get absorbed by packaging materials. The PSAM-LED showed an enhancement in the radiometric power as high as 10% with a low far-field angle of 129° over that of a PSS-LED under an injection current of 20 mA.

© 2013 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. T. Fujii, Y. Gao, R. Sharma, E. L. Hu, S. P. DenBaars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 84, 855 (2004).
    [CrossRef]
  2. M. K. Kwon, J. Y. Kim, I. K. Park, K. S. Kim, G. Y. Jung, S. J. Park, J. W. Kim, and Y. C. Kim, Appl. Phys. Lett. 92, 251110 (2008).
    [CrossRef]
  3. K.-J. Byeon, J.-Y. Cho, J. Kim, H. Park, and H. Lee, Opt. Express 20, 11423 (2012).
    [CrossRef]
  4. D. S. Wuu, W. K. Wang, K. S. Wen, S. C. Huang, S. H. Lin, S. Y. Huang, C. F. Lin, and R. H. Horng, Appl. Phys. Lett. 89, 161105 (2006).
    [CrossRef]
  5. Y. J. Lee, J. M. Hwang, T. C. Hsu, M. H. Hsieh, M. J. Jou, B. J. Lee, T. C. Lu, H. C. Kuo, and S. C. Wang, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1152 (2006).
    [CrossRef]
  6. Z. H. Feng, Y. D. Qi, Z. D. Lu, and K. M. Lau, J. Cryst. Growth 272, 327 (2004).
    [CrossRef]
  7. X.-H. Huang, J.-P. Liu, J.-J. Kong, H. Yang, and H.-B. Wang, Opt. Express 19, A949 (2011).
    [CrossRef]
  8. H. Y. Lin, Y. J. Chen, C. C. Chang, X. F. Li, S. C. Hsu, and C. Y. Liu, Electrochem. Solid-State Lett. 15, H72 (2012).
    [CrossRef]
  9. J. H. Kang, H. G. Kim, S. Chandramohan, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, Y. J. Park, Y. S. Beak, J. S. Lee, J. S. Park, V. V. Lysak, and C.-H. Hong, Opt. Lett. 37, 88 (2012).
    [CrossRef]
  10. H. G. Kim, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, J. H. Kang, N. Han, P. Uthirakumar, and C.-H. Hong, Appl. Phys. Lett. 95, 221110 (2009).
    [CrossRef]
  11. C. F. Lin, C. M. Lin, K. T. Chen, W. C. Huang, M. S. Lin, J. J. Dai, R. H. Jiang, Y. C. Huang, and C. Y. Chang, Appl. Phys. Lett. 95, 201102 (2009).
    [CrossRef]
  12. H.-H. Huang, P.-L. Wu, H.-Y. Zeng, P.-C. Liu, T.-W. Chi, J.-D. Tsay, and W.-I. Lee, J. Electrochem. Soc. 155, H504 (2008).
    [CrossRef]
  13. T. S. Oh, H. Jeong, Y. S. Lee, A. H. Park, T. H. Seo, H. Kim, K. J. Lee, M. S. Jeong, and E.-K. Suh, Opt. Express 19, 9385 (2011).
    [CrossRef]

2012 (3)

2011 (2)

2009 (2)

H. G. Kim, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, J. H. Kang, N. Han, P. Uthirakumar, and C.-H. Hong, Appl. Phys. Lett. 95, 221110 (2009).
[CrossRef]

C. F. Lin, C. M. Lin, K. T. Chen, W. C. Huang, M. S. Lin, J. J. Dai, R. H. Jiang, Y. C. Huang, and C. Y. Chang, Appl. Phys. Lett. 95, 201102 (2009).
[CrossRef]

2008 (2)

H.-H. Huang, P.-L. Wu, H.-Y. Zeng, P.-C. Liu, T.-W. Chi, J.-D. Tsay, and W.-I. Lee, J. Electrochem. Soc. 155, H504 (2008).
[CrossRef]

M. K. Kwon, J. Y. Kim, I. K. Park, K. S. Kim, G. Y. Jung, S. J. Park, J. W. Kim, and Y. C. Kim, Appl. Phys. Lett. 92, 251110 (2008).
[CrossRef]

2006 (2)

D. S. Wuu, W. K. Wang, K. S. Wen, S. C. Huang, S. H. Lin, S. Y. Huang, C. F. Lin, and R. H. Horng, Appl. Phys. Lett. 89, 161105 (2006).
[CrossRef]

Y. J. Lee, J. M. Hwang, T. C. Hsu, M. H. Hsieh, M. J. Jou, B. J. Lee, T. C. Lu, H. C. Kuo, and S. C. Wang, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1152 (2006).
[CrossRef]

2004 (2)

Z. H. Feng, Y. D. Qi, Z. D. Lu, and K. M. Lau, J. Cryst. Growth 272, 327 (2004).
[CrossRef]

T. Fujii, Y. Gao, R. Sharma, E. L. Hu, S. P. DenBaars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 84, 855 (2004).
[CrossRef]

Beak, Y. S.

Byeon, K.-J.

Chandramohan, S.

Chang, C. C.

H. Y. Lin, Y. J. Chen, C. C. Chang, X. F. Li, S. C. Hsu, and C. Y. Liu, Electrochem. Solid-State Lett. 15, H72 (2012).
[CrossRef]

Chang, C. Y.

C. F. Lin, C. M. Lin, K. T. Chen, W. C. Huang, M. S. Lin, J. J. Dai, R. H. Jiang, Y. C. Huang, and C. Y. Chang, Appl. Phys. Lett. 95, 201102 (2009).
[CrossRef]

Chen, K. T.

C. F. Lin, C. M. Lin, K. T. Chen, W. C. Huang, M. S. Lin, J. J. Dai, R. H. Jiang, Y. C. Huang, and C. Y. Chang, Appl. Phys. Lett. 95, 201102 (2009).
[CrossRef]

Chen, Y. J.

H. Y. Lin, Y. J. Chen, C. C. Chang, X. F. Li, S. C. Hsu, and C. Y. Liu, Electrochem. Solid-State Lett. 15, H72 (2012).
[CrossRef]

Chi, T.-W.

H.-H. Huang, P.-L. Wu, H.-Y. Zeng, P.-C. Liu, T.-W. Chi, J.-D. Tsay, and W.-I. Lee, J. Electrochem. Soc. 155, H504 (2008).
[CrossRef]

Cho, J.-Y.

Dai, J. J.

C. F. Lin, C. M. Lin, K. T. Chen, W. C. Huang, M. S. Lin, J. J. Dai, R. H. Jiang, Y. C. Huang, and C. Y. Chang, Appl. Phys. Lett. 95, 201102 (2009).
[CrossRef]

DenBaars, S. P.

T. Fujii, Y. Gao, R. Sharma, E. L. Hu, S. P. DenBaars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 84, 855 (2004).
[CrossRef]

Feng, Z. H.

Z. H. Feng, Y. D. Qi, Z. D. Lu, and K. M. Lau, J. Cryst. Growth 272, 327 (2004).
[CrossRef]

Fujii, T.

T. Fujii, Y. Gao, R. Sharma, E. L. Hu, S. P. DenBaars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 84, 855 (2004).
[CrossRef]

Gao, Y.

T. Fujii, Y. Gao, R. Sharma, E. L. Hu, S. P. DenBaars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 84, 855 (2004).
[CrossRef]

Han, N.

H. G. Kim, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, J. H. Kang, N. Han, P. Uthirakumar, and C.-H. Hong, Appl. Phys. Lett. 95, 221110 (2009).
[CrossRef]

Hong, C.-H.

J. H. Kang, H. G. Kim, S. Chandramohan, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, Y. J. Park, Y. S. Beak, J. S. Lee, J. S. Park, V. V. Lysak, and C.-H. Hong, Opt. Lett. 37, 88 (2012).
[CrossRef]

H. G. Kim, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, J. H. Kang, N. Han, P. Uthirakumar, and C.-H. Hong, Appl. Phys. Lett. 95, 221110 (2009).
[CrossRef]

Horng, R. H.

D. S. Wuu, W. K. Wang, K. S. Wen, S. C. Huang, S. H. Lin, S. Y. Huang, C. F. Lin, and R. H. Horng, Appl. Phys. Lett. 89, 161105 (2006).
[CrossRef]

Hsieh, M. H.

Y. J. Lee, J. M. Hwang, T. C. Hsu, M. H. Hsieh, M. J. Jou, B. J. Lee, T. C. Lu, H. C. Kuo, and S. C. Wang, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1152 (2006).
[CrossRef]

Hsu, S. C.

H. Y. Lin, Y. J. Chen, C. C. Chang, X. F. Li, S. C. Hsu, and C. Y. Liu, Electrochem. Solid-State Lett. 15, H72 (2012).
[CrossRef]

Hsu, T. C.

Y. J. Lee, J. M. Hwang, T. C. Hsu, M. H. Hsieh, M. J. Jou, B. J. Lee, T. C. Lu, H. C. Kuo, and S. C. Wang, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1152 (2006).
[CrossRef]

Hu, E. L.

T. Fujii, Y. Gao, R. Sharma, E. L. Hu, S. P. DenBaars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 84, 855 (2004).
[CrossRef]

Huang, H.-H.

H.-H. Huang, P.-L. Wu, H.-Y. Zeng, P.-C. Liu, T.-W. Chi, J.-D. Tsay, and W.-I. Lee, J. Electrochem. Soc. 155, H504 (2008).
[CrossRef]

Huang, S. C.

D. S. Wuu, W. K. Wang, K. S. Wen, S. C. Huang, S. H. Lin, S. Y. Huang, C. F. Lin, and R. H. Horng, Appl. Phys. Lett. 89, 161105 (2006).
[CrossRef]

Huang, S. Y.

D. S. Wuu, W. K. Wang, K. S. Wen, S. C. Huang, S. H. Lin, S. Y. Huang, C. F. Lin, and R. H. Horng, Appl. Phys. Lett. 89, 161105 (2006).
[CrossRef]

Huang, W. C.

C. F. Lin, C. M. Lin, K. T. Chen, W. C. Huang, M. S. Lin, J. J. Dai, R. H. Jiang, Y. C. Huang, and C. Y. Chang, Appl. Phys. Lett. 95, 201102 (2009).
[CrossRef]

Huang, X.-H.

Huang, Y. C.

C. F. Lin, C. M. Lin, K. T. Chen, W. C. Huang, M. S. Lin, J. J. Dai, R. H. Jiang, Y. C. Huang, and C. Y. Chang, Appl. Phys. Lett. 95, 201102 (2009).
[CrossRef]

Hwang, J. M.

Y. J. Lee, J. M. Hwang, T. C. Hsu, M. H. Hsieh, M. J. Jou, B. J. Lee, T. C. Lu, H. C. Kuo, and S. C. Wang, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1152 (2006).
[CrossRef]

Jeong, H.

Jeong, M. S.

Jiang, R. H.

C. F. Lin, C. M. Lin, K. T. Chen, W. C. Huang, M. S. Lin, J. J. Dai, R. H. Jiang, Y. C. Huang, and C. Y. Chang, Appl. Phys. Lett. 95, 201102 (2009).
[CrossRef]

Jou, M. J.

Y. J. Lee, J. M. Hwang, T. C. Hsu, M. H. Hsieh, M. J. Jou, B. J. Lee, T. C. Lu, H. C. Kuo, and S. C. Wang, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1152 (2006).
[CrossRef]

Jung, G. Y.

M. K. Kwon, J. Y. Kim, I. K. Park, K. S. Kim, G. Y. Jung, S. J. Park, J. W. Kim, and Y. C. Kim, Appl. Phys. Lett. 92, 251110 (2008).
[CrossRef]

Kang, J. H.

J. H. Kang, H. G. Kim, S. Chandramohan, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, Y. J. Park, Y. S. Beak, J. S. Lee, J. S. Park, V. V. Lysak, and C.-H. Hong, Opt. Lett. 37, 88 (2012).
[CrossRef]

H. G. Kim, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, J. H. Kang, N. Han, P. Uthirakumar, and C.-H. Hong, Appl. Phys. Lett. 95, 221110 (2009).
[CrossRef]

Kim, H.

Kim, H. G.

J. H. Kang, H. G. Kim, S. Chandramohan, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, Y. J. Park, Y. S. Beak, J. S. Lee, J. S. Park, V. V. Lysak, and C.-H. Hong, Opt. Lett. 37, 88 (2012).
[CrossRef]

H. G. Kim, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, J. H. Kang, N. Han, P. Uthirakumar, and C.-H. Hong, Appl. Phys. Lett. 95, 221110 (2009).
[CrossRef]

Kim, H. K.

J. H. Kang, H. G. Kim, S. Chandramohan, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, Y. J. Park, Y. S. Beak, J. S. Lee, J. S. Park, V. V. Lysak, and C.-H. Hong, Opt. Lett. 37, 88 (2012).
[CrossRef]

H. G. Kim, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, J. H. Kang, N. Han, P. Uthirakumar, and C.-H. Hong, Appl. Phys. Lett. 95, 221110 (2009).
[CrossRef]

Kim, H. Y.

J. H. Kang, H. G. Kim, S. Chandramohan, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, Y. J. Park, Y. S. Beak, J. S. Lee, J. S. Park, V. V. Lysak, and C.-H. Hong, Opt. Lett. 37, 88 (2012).
[CrossRef]

H. G. Kim, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, J. H. Kang, N. Han, P. Uthirakumar, and C.-H. Hong, Appl. Phys. Lett. 95, 221110 (2009).
[CrossRef]

Kim, J.

Kim, J. W.

M. K. Kwon, J. Y. Kim, I. K. Park, K. S. Kim, G. Y. Jung, S. J. Park, J. W. Kim, and Y. C. Kim, Appl. Phys. Lett. 92, 251110 (2008).
[CrossRef]

Kim, J. Y.

M. K. Kwon, J. Y. Kim, I. K. Park, K. S. Kim, G. Y. Jung, S. J. Park, J. W. Kim, and Y. C. Kim, Appl. Phys. Lett. 92, 251110 (2008).
[CrossRef]

Kim, K. S.

M. K. Kwon, J. Y. Kim, I. K. Park, K. S. Kim, G. Y. Jung, S. J. Park, J. W. Kim, and Y. C. Kim, Appl. Phys. Lett. 92, 251110 (2008).
[CrossRef]

Kim, Y. C.

M. K. Kwon, J. Y. Kim, I. K. Park, K. S. Kim, G. Y. Jung, S. J. Park, J. W. Kim, and Y. C. Kim, Appl. Phys. Lett. 92, 251110 (2008).
[CrossRef]

Kong, J.-J.

Kuo, H. C.

Y. J. Lee, J. M. Hwang, T. C. Hsu, M. H. Hsieh, M. J. Jou, B. J. Lee, T. C. Lu, H. C. Kuo, and S. C. Wang, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1152 (2006).
[CrossRef]

Kwon, M. K.

M. K. Kwon, J. Y. Kim, I. K. Park, K. S. Kim, G. Y. Jung, S. J. Park, J. W. Kim, and Y. C. Kim, Appl. Phys. Lett. 92, 251110 (2008).
[CrossRef]

Lau, K. M.

Z. H. Feng, Y. D. Qi, Z. D. Lu, and K. M. Lau, J. Cryst. Growth 272, 327 (2004).
[CrossRef]

Lee, B. J.

Y. J. Lee, J. M. Hwang, T. C. Hsu, M. H. Hsieh, M. J. Jou, B. J. Lee, T. C. Lu, H. C. Kuo, and S. C. Wang, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1152 (2006).
[CrossRef]

Lee, H.

Lee, J. S.

Lee, K. J.

Lee, W.-I.

H.-H. Huang, P.-L. Wu, H.-Y. Zeng, P.-C. Liu, T.-W. Chi, J.-D. Tsay, and W.-I. Lee, J. Electrochem. Soc. 155, H504 (2008).
[CrossRef]

Lee, Y. J.

Y. J. Lee, J. M. Hwang, T. C. Hsu, M. H. Hsieh, M. J. Jou, B. J. Lee, T. C. Lu, H. C. Kuo, and S. C. Wang, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1152 (2006).
[CrossRef]

Lee, Y. S.

Li, X. F.

H. Y. Lin, Y. J. Chen, C. C. Chang, X. F. Li, S. C. Hsu, and C. Y. Liu, Electrochem. Solid-State Lett. 15, H72 (2012).
[CrossRef]

Lin, C. F.

C. F. Lin, C. M. Lin, K. T. Chen, W. C. Huang, M. S. Lin, J. J. Dai, R. H. Jiang, Y. C. Huang, and C. Y. Chang, Appl. Phys. Lett. 95, 201102 (2009).
[CrossRef]

D. S. Wuu, W. K. Wang, K. S. Wen, S. C. Huang, S. H. Lin, S. Y. Huang, C. F. Lin, and R. H. Horng, Appl. Phys. Lett. 89, 161105 (2006).
[CrossRef]

Lin, C. M.

C. F. Lin, C. M. Lin, K. T. Chen, W. C. Huang, M. S. Lin, J. J. Dai, R. H. Jiang, Y. C. Huang, and C. Y. Chang, Appl. Phys. Lett. 95, 201102 (2009).
[CrossRef]

Lin, H. Y.

H. Y. Lin, Y. J. Chen, C. C. Chang, X. F. Li, S. C. Hsu, and C. Y. Liu, Electrochem. Solid-State Lett. 15, H72 (2012).
[CrossRef]

Lin, M. S.

C. F. Lin, C. M. Lin, K. T. Chen, W. C. Huang, M. S. Lin, J. J. Dai, R. H. Jiang, Y. C. Huang, and C. Y. Chang, Appl. Phys. Lett. 95, 201102 (2009).
[CrossRef]

Lin, S. H.

D. S. Wuu, W. K. Wang, K. S. Wen, S. C. Huang, S. H. Lin, S. Y. Huang, C. F. Lin, and R. H. Horng, Appl. Phys. Lett. 89, 161105 (2006).
[CrossRef]

Liu, C. Y.

H. Y. Lin, Y. J. Chen, C. C. Chang, X. F. Li, S. C. Hsu, and C. Y. Liu, Electrochem. Solid-State Lett. 15, H72 (2012).
[CrossRef]

Liu, J.-P.

Liu, P.-C.

H.-H. Huang, P.-L. Wu, H.-Y. Zeng, P.-C. Liu, T.-W. Chi, J.-D. Tsay, and W.-I. Lee, J. Electrochem. Soc. 155, H504 (2008).
[CrossRef]

Lu, T. C.

Y. J. Lee, J. M. Hwang, T. C. Hsu, M. H. Hsieh, M. J. Jou, B. J. Lee, T. C. Lu, H. C. Kuo, and S. C. Wang, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1152 (2006).
[CrossRef]

Lu, Z. D.

Z. H. Feng, Y. D. Qi, Z. D. Lu, and K. M. Lau, J. Cryst. Growth 272, 327 (2004).
[CrossRef]

Lysak, V. V.

Nakamura, S.

T. Fujii, Y. Gao, R. Sharma, E. L. Hu, S. P. DenBaars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 84, 855 (2004).
[CrossRef]

Oh, T. S.

Park, A. H.

Park, H.

Park, I. K.

M. K. Kwon, J. Y. Kim, I. K. Park, K. S. Kim, G. Y. Jung, S. J. Park, J. W. Kim, and Y. C. Kim, Appl. Phys. Lett. 92, 251110 (2008).
[CrossRef]

Park, J. S.

Park, S. J.

M. K. Kwon, J. Y. Kim, I. K. Park, K. S. Kim, G. Y. Jung, S. J. Park, J. W. Kim, and Y. C. Kim, Appl. Phys. Lett. 92, 251110 (2008).
[CrossRef]

Park, Y. J.

Qi, Y. D.

Z. H. Feng, Y. D. Qi, Z. D. Lu, and K. M. Lau, J. Cryst. Growth 272, 327 (2004).
[CrossRef]

Ryu, J. H.

J. H. Kang, H. G. Kim, S. Chandramohan, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, Y. J. Park, Y. S. Beak, J. S. Lee, J. S. Park, V. V. Lysak, and C.-H. Hong, Opt. Lett. 37, 88 (2012).
[CrossRef]

H. G. Kim, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, J. H. Kang, N. Han, P. Uthirakumar, and C.-H. Hong, Appl. Phys. Lett. 95, 221110 (2009).
[CrossRef]

Seo, T. H.

Sharma, R.

T. Fujii, Y. Gao, R. Sharma, E. L. Hu, S. P. DenBaars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 84, 855 (2004).
[CrossRef]

Suh, E.-K.

Tsay, J.-D.

H.-H. Huang, P.-L. Wu, H.-Y. Zeng, P.-C. Liu, T.-W. Chi, J.-D. Tsay, and W.-I. Lee, J. Electrochem. Soc. 155, H504 (2008).
[CrossRef]

Uthirakumar, P.

H. G. Kim, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, J. H. Kang, N. Han, P. Uthirakumar, and C.-H. Hong, Appl. Phys. Lett. 95, 221110 (2009).
[CrossRef]

Wang, H.-B.

Wang, S. C.

Y. J. Lee, J. M. Hwang, T. C. Hsu, M. H. Hsieh, M. J. Jou, B. J. Lee, T. C. Lu, H. C. Kuo, and S. C. Wang, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1152 (2006).
[CrossRef]

Wang, W. K.

D. S. Wuu, W. K. Wang, K. S. Wen, S. C. Huang, S. H. Lin, S. Y. Huang, C. F. Lin, and R. H. Horng, Appl. Phys. Lett. 89, 161105 (2006).
[CrossRef]

Wen, K. S.

D. S. Wuu, W. K. Wang, K. S. Wen, S. C. Huang, S. H. Lin, S. Y. Huang, C. F. Lin, and R. H. Horng, Appl. Phys. Lett. 89, 161105 (2006).
[CrossRef]

Wu, P.-L.

H.-H. Huang, P.-L. Wu, H.-Y. Zeng, P.-C. Liu, T.-W. Chi, J.-D. Tsay, and W.-I. Lee, J. Electrochem. Soc. 155, H504 (2008).
[CrossRef]

Wuu, D. S.

D. S. Wuu, W. K. Wang, K. S. Wen, S. C. Huang, S. H. Lin, S. Y. Huang, C. F. Lin, and R. H. Horng, Appl. Phys. Lett. 89, 161105 (2006).
[CrossRef]

Yang, H.

Zeng, H.-Y.

H.-H. Huang, P.-L. Wu, H.-Y. Zeng, P.-C. Liu, T.-W. Chi, J.-D. Tsay, and W.-I. Lee, J. Electrochem. Soc. 155, H504 (2008).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett. (5)

D. S. Wuu, W. K. Wang, K. S. Wen, S. C. Huang, S. H. Lin, S. Y. Huang, C. F. Lin, and R. H. Horng, Appl. Phys. Lett. 89, 161105 (2006).
[CrossRef]

T. Fujii, Y. Gao, R. Sharma, E. L. Hu, S. P. DenBaars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 84, 855 (2004).
[CrossRef]

M. K. Kwon, J. Y. Kim, I. K. Park, K. S. Kim, G. Y. Jung, S. J. Park, J. W. Kim, and Y. C. Kim, Appl. Phys. Lett. 92, 251110 (2008).
[CrossRef]

H. G. Kim, H. K. Kim, H. Y. Kim, J. H. Ryu, J. H. Kang, N. Han, P. Uthirakumar, and C.-H. Hong, Appl. Phys. Lett. 95, 221110 (2009).
[CrossRef]

C. F. Lin, C. M. Lin, K. T. Chen, W. C. Huang, M. S. Lin, J. J. Dai, R. H. Jiang, Y. C. Huang, and C. Y. Chang, Appl. Phys. Lett. 95, 201102 (2009).
[CrossRef]

Electrochem. Solid-State Lett. (1)

H. Y. Lin, Y. J. Chen, C. C. Chang, X. F. Li, S. C. Hsu, and C. Y. Liu, Electrochem. Solid-State Lett. 15, H72 (2012).
[CrossRef]

IEEE Photon. Technol. Lett. (1)

Y. J. Lee, J. M. Hwang, T. C. Hsu, M. H. Hsieh, M. J. Jou, B. J. Lee, T. C. Lu, H. C. Kuo, and S. C. Wang, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1152 (2006).
[CrossRef]

J. Cryst. Growth (1)

Z. H. Feng, Y. D. Qi, Z. D. Lu, and K. M. Lau, J. Cryst. Growth 272, 327 (2004).
[CrossRef]

J. Electrochem. Soc. (1)

H.-H. Huang, P.-L. Wu, H.-Y. Zeng, P.-C. Liu, T.-W. Chi, J.-D. Tsay, and W.-I. Lee, J. Electrochem. Soc. 155, H504 (2008).
[CrossRef]

Opt. Express (3)

Opt. Lett. (1)

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (5)

Fig. 1.
Fig. 1.

(a) Schematic of the PSAM-LED fabrication processes. (b) Schematic of the mask pattern. (c) Optical and (d) cross-sectional SEM images confirming the formation of PSAM after the wet etching. (e) The cross section of the formed air-ring indicating the sidewall characteristics and stable crystallographic planes.

Fig. 2.
Fig. 2.

(a), (c) Schematic showing the receiver positions considered in the simulation. (b) Simulated LEE of different devices at different extracting faces. (d) Total number of rays detected at each receiver position for different LEDs.

Fig. 3.
Fig. 3.

(a) L–I characteristics of unpackaged LEDs. Inset is the I–V curve of the respective devices. (b) Light output power of packaged LEDs obtained from EL measurements.

Fig. 4.
Fig. 4.

(a), (b) Optical images of the LEDs during light emission. The insets are the simulated far-field radiation pattern of the respective devices. (c) Far-field radiation patterns of the LED packages.

Fig. 5.
Fig. 5.

CSEM images of (a) PSS-LED and (b) PSAM-LED.

Metrics