Abstract

Magnetic-field-dependent optical properties of nitrogen-doped ZnO (ZnO:N) thin films were investigated using surface plasmon resonance (SPR) and a highly sensitive (4.65/Tesla) magnetic field sensor has been realized. The refractive index (RI) of ZnO:N film increases from 1.949 to 2.025 with increase in N doping from 0% to 10% demonstrating tunable RI. In contrast to pure ZnO, SPR curves for ZnO:N films exhibit a shift toward lower angles with increasing applied magnetic field from 0 to 35 mT due to change in reflectance of light upon reflection from ferromagnetic surface. Results indicate promising application of ferromagnetic ZnO:N film as a magnetic field sensor.

© 2013 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. D. Goldring, Z. Zalevsky, G. Shabtay, and D. Abraham, J. Opt. A 6, 98 (2004).
    [CrossRef]
  2. J. B. Khurgin, Appl. Phys. Lett. 89, 251115 (2006).
    [CrossRef]
  3. K. Bohnert, P. Gabus, J. Nehring, H. Brändle, and M. G. Brunzel, J. Lightwave Technol. 25, 3602 (2007).
    [CrossRef]
  4. P. Zu, C. C. Chan, W. S. Lew, L. Hu, Y. Jin, H. F. Liew, L. H. Chen, W. C. Wong, and X. Dong, IEEE Photon. J. 4, 491 (2012).
    [CrossRef]
  5. K. J. Chau, S. E. Irvine, and A. Y. Elezzabi, IEEE J. Quantum Electron. 40, 571 (2004).
    [CrossRef]
  6. L. K. Elbaum, T. Shibauchi, B. Argyle, L. Gignac, and D. Weller, Nature 410, 444 (2001).
    [CrossRef]
  7. K. Postava, D. Hrabovský, O. Životský, J. Pištora, N. Dix, R. Muralidharan, J. M. Caicedo, F. Sánchez, and J. Fontcuberta, J. Appl. Phys. 105, 07C124 (2009).
    [CrossRef]
  8. P. Gangopadhyay, G. Koeckelberghs, and A. Persoons, Chem. Mater. 23, 516 (2011).
    [CrossRef]
  9. S. Y. Yang, J. J. Chieh, H. E. Horng, C.-Y. Hong, and H. C. Yang, Appl. Phys. Lett. 84, 5204 (2004).
    [CrossRef]
  10. K. Schwinge, C. Müller, A. Mogilatenko, J. J. Paggel, and P. Fumagalli, J. Appl. Phys. 97, 103913 (2005).
    [CrossRef]
  11. A. L. Herrera-May, L. A. Aguilera-Cortés, and E. Manjarrez, Sensors 9, 7785 (2009).
    [CrossRef]
  12. R. Russo, C. Granata, P. Walke, A. Vettoliere, E. Esposito, and M. Russo, J. Nanopart. Res. 13, 5661 (2011).
    [CrossRef]
  13. A. Schuhl, F. N. V. Dau, and J. R. Childress, Appl. Phys. Lett. 66, 2751 (1995).
    [CrossRef]
  14. J. Zhai, Z. Xing, S. Dong, J. Li, and D. Viehland, Appl. Phys. Lett. 88, 062510 (2006).
    [CrossRef]
  15. R. Macedo, F. A. Cardoso, S. Cardoso, P. P. Freitas, J. Germano, and M. S. Piedade, Appl. Phys. Lett. 98, 103503 (2011).
    [CrossRef]
  16. V. I. Safarov, V. A. Kosobukin, C. Hermann, G. Lampel, J. Peretti, and C. Marliere, Phys. Rev. Lett. 73, 3584 (1994).
    [CrossRef]
  17. J. B. González-Díaz, A. García-Martín, G. Armelles, J. M. García-Martín, C. Clavero, A. Cebollada, R. A. Lukaszew, J. R. Skuza, D. P. Kumah, and R. Clarke, Phys. Rev. B 76, 153402 (2007).
    [CrossRef]
  18. K. Jindal, M. Tomar, and V. Gupta, Analyst 138, 4353 (2013).
    [CrossRef]
  19. X. L. Wang, C. Y. Luan, Q. Shao, A. Pruna, C. W. Leung, R. Lortz, J. A. Zapien, and A. Ruotolo, Appl. Phys. Lett. 102, 102112 (2013).
    [CrossRef]
  20. K. Ando, H. Saito, Z. Jin, T. Fukumura, M. Kawasaki, Y. Matsumoto, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 78, 2700 (2001).
    [CrossRef]
  21. Y. P. Zhang, S. S. Yan, Y. H. Liu, M. J. Ren, Y. Fang, Y. X. Chen, G. L. Liu, L. M. Mei, J. P. Liu, J. H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 042501 (2006).
    [CrossRef]
  22. K. Y. Wu, Q. Q. Fang, W. N. Wang, C. Zhou, W. J. Huang, J. G. Li, Q. R. Lv, Y. M. Liu, Q. P. Zhang, and H. M. Zhang, J. Appl. Phys. 108, 063530 (2010).
    [CrossRef]
  23. K. Jindal, M. Tomar, R. S. Katiyar, and V. Gupta, J. Appl. Phys. 111, 102805 (2012).
    [CrossRef]
  24. Joint Committee on Power Diffraction Standard (JCPDS), File No. .
  25. M. Futsuhara, K. Yoshioka, and O. Takai, Thin Solid Films 317, 322 (1998).
    [CrossRef]
  26. S. Saha, N. Mehan, K. Sreenivas, and V. Gupta, Appl. Phys. Lett. 95, 071106 (2009).
    [CrossRef]
  27. S. Zhang, L. Berguiga, J. Elezgaray, T. Roland, C. F. Moskalenko, and F. Argoul, Surf. Sci. 601, 5445 (2007).
    [CrossRef]
  28. N. Mehan, V. Gupta, K. Sreenivas, and A. Mansingh, J. Appl. Phys. 96, 3134 (2004).
    [CrossRef]
  29. O. S. Heavens, Optical Properties of Thin Solid Films (Butterworths Scientific, 1955).
  30. C.-Y. You and S.-C. Shin, Appl. Phys. Lett. 69, 1315 (1996).
    [CrossRef]
  31. Z. J. Yang and M. R. Scheinfein, J. Appl. Phys. 74, 6810 (1993).
    [CrossRef]
  32. M. Fronk, B. Bräuer, J. Kortus, O. G. Schmidt, D. R. T. Zahn, and G. Salvan, Phys. Rev. B 79, 235305 (2009).
    [CrossRef]

2013 (2)

K. Jindal, M. Tomar, and V. Gupta, Analyst 138, 4353 (2013).
[CrossRef]

X. L. Wang, C. Y. Luan, Q. Shao, A. Pruna, C. W. Leung, R. Lortz, J. A. Zapien, and A. Ruotolo, Appl. Phys. Lett. 102, 102112 (2013).
[CrossRef]

2012 (2)

P. Zu, C. C. Chan, W. S. Lew, L. Hu, Y. Jin, H. F. Liew, L. H. Chen, W. C. Wong, and X. Dong, IEEE Photon. J. 4, 491 (2012).
[CrossRef]

K. Jindal, M. Tomar, R. S. Katiyar, and V. Gupta, J. Appl. Phys. 111, 102805 (2012).
[CrossRef]

2011 (3)

P. Gangopadhyay, G. Koeckelberghs, and A. Persoons, Chem. Mater. 23, 516 (2011).
[CrossRef]

R. Russo, C. Granata, P. Walke, A. Vettoliere, E. Esposito, and M. Russo, J. Nanopart. Res. 13, 5661 (2011).
[CrossRef]

R. Macedo, F. A. Cardoso, S. Cardoso, P. P. Freitas, J. Germano, and M. S. Piedade, Appl. Phys. Lett. 98, 103503 (2011).
[CrossRef]

2010 (1)

K. Y. Wu, Q. Q. Fang, W. N. Wang, C. Zhou, W. J. Huang, J. G. Li, Q. R. Lv, Y. M. Liu, Q. P. Zhang, and H. M. Zhang, J. Appl. Phys. 108, 063530 (2010).
[CrossRef]

2009 (4)

M. Fronk, B. Bräuer, J. Kortus, O. G. Schmidt, D. R. T. Zahn, and G. Salvan, Phys. Rev. B 79, 235305 (2009).
[CrossRef]

S. Saha, N. Mehan, K. Sreenivas, and V. Gupta, Appl. Phys. Lett. 95, 071106 (2009).
[CrossRef]

A. L. Herrera-May, L. A. Aguilera-Cortés, and E. Manjarrez, Sensors 9, 7785 (2009).
[CrossRef]

K. Postava, D. Hrabovský, O. Životský, J. Pištora, N. Dix, R. Muralidharan, J. M. Caicedo, F. Sánchez, and J. Fontcuberta, J. Appl. Phys. 105, 07C124 (2009).
[CrossRef]

2007 (3)

J. B. González-Díaz, A. García-Martín, G. Armelles, J. M. García-Martín, C. Clavero, A. Cebollada, R. A. Lukaszew, J. R. Skuza, D. P. Kumah, and R. Clarke, Phys. Rev. B 76, 153402 (2007).
[CrossRef]

S. Zhang, L. Berguiga, J. Elezgaray, T. Roland, C. F. Moskalenko, and F. Argoul, Surf. Sci. 601, 5445 (2007).
[CrossRef]

K. Bohnert, P. Gabus, J. Nehring, H. Brändle, and M. G. Brunzel, J. Lightwave Technol. 25, 3602 (2007).
[CrossRef]

2006 (3)

J. B. Khurgin, Appl. Phys. Lett. 89, 251115 (2006).
[CrossRef]

Y. P. Zhang, S. S. Yan, Y. H. Liu, M. J. Ren, Y. Fang, Y. X. Chen, G. L. Liu, L. M. Mei, J. P. Liu, J. H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 042501 (2006).
[CrossRef]

J. Zhai, Z. Xing, S. Dong, J. Li, and D. Viehland, Appl. Phys. Lett. 88, 062510 (2006).
[CrossRef]

2005 (1)

K. Schwinge, C. Müller, A. Mogilatenko, J. J. Paggel, and P. Fumagalli, J. Appl. Phys. 97, 103913 (2005).
[CrossRef]

2004 (4)

S. Y. Yang, J. J. Chieh, H. E. Horng, C.-Y. Hong, and H. C. Yang, Appl. Phys. Lett. 84, 5204 (2004).
[CrossRef]

K. J. Chau, S. E. Irvine, and A. Y. Elezzabi, IEEE J. Quantum Electron. 40, 571 (2004).
[CrossRef]

N. Mehan, V. Gupta, K. Sreenivas, and A. Mansingh, J. Appl. Phys. 96, 3134 (2004).
[CrossRef]

D. Goldring, Z. Zalevsky, G. Shabtay, and D. Abraham, J. Opt. A 6, 98 (2004).
[CrossRef]

2001 (2)

L. K. Elbaum, T. Shibauchi, B. Argyle, L. Gignac, and D. Weller, Nature 410, 444 (2001).
[CrossRef]

K. Ando, H. Saito, Z. Jin, T. Fukumura, M. Kawasaki, Y. Matsumoto, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 78, 2700 (2001).
[CrossRef]

1998 (1)

M. Futsuhara, K. Yoshioka, and O. Takai, Thin Solid Films 317, 322 (1998).
[CrossRef]

1996 (1)

C.-Y. You and S.-C. Shin, Appl. Phys. Lett. 69, 1315 (1996).
[CrossRef]

1995 (1)

A. Schuhl, F. N. V. Dau, and J. R. Childress, Appl. Phys. Lett. 66, 2751 (1995).
[CrossRef]

1994 (1)

V. I. Safarov, V. A. Kosobukin, C. Hermann, G. Lampel, J. Peretti, and C. Marliere, Phys. Rev. Lett. 73, 3584 (1994).
[CrossRef]

1993 (1)

Z. J. Yang and M. R. Scheinfein, J. Appl. Phys. 74, 6810 (1993).
[CrossRef]

Abraham, D.

D. Goldring, Z. Zalevsky, G. Shabtay, and D. Abraham, J. Opt. A 6, 98 (2004).
[CrossRef]

Aguilera-Cortés, L. A.

A. L. Herrera-May, L. A. Aguilera-Cortés, and E. Manjarrez, Sensors 9, 7785 (2009).
[CrossRef]

Ando, K.

K. Ando, H. Saito, Z. Jin, T. Fukumura, M. Kawasaki, Y. Matsumoto, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 78, 2700 (2001).
[CrossRef]

Argoul, F.

S. Zhang, L. Berguiga, J. Elezgaray, T. Roland, C. F. Moskalenko, and F. Argoul, Surf. Sci. 601, 5445 (2007).
[CrossRef]

Argyle, B.

L. K. Elbaum, T. Shibauchi, B. Argyle, L. Gignac, and D. Weller, Nature 410, 444 (2001).
[CrossRef]

Armelles, G.

J. B. González-Díaz, A. García-Martín, G. Armelles, J. M. García-Martín, C. Clavero, A. Cebollada, R. A. Lukaszew, J. R. Skuza, D. P. Kumah, and R. Clarke, Phys. Rev. B 76, 153402 (2007).
[CrossRef]

Berguiga, L.

S. Zhang, L. Berguiga, J. Elezgaray, T. Roland, C. F. Moskalenko, and F. Argoul, Surf. Sci. 601, 5445 (2007).
[CrossRef]

Bohnert, K.

Brändle, H.

Bräuer, B.

M. Fronk, B. Bräuer, J. Kortus, O. G. Schmidt, D. R. T. Zahn, and G. Salvan, Phys. Rev. B 79, 235305 (2009).
[CrossRef]

Brunzel, M. G.

Caicedo, J. M.

K. Postava, D. Hrabovský, O. Životský, J. Pištora, N. Dix, R. Muralidharan, J. M. Caicedo, F. Sánchez, and J. Fontcuberta, J. Appl. Phys. 105, 07C124 (2009).
[CrossRef]

Cardoso, F. A.

R. Macedo, F. A. Cardoso, S. Cardoso, P. P. Freitas, J. Germano, and M. S. Piedade, Appl. Phys. Lett. 98, 103503 (2011).
[CrossRef]

Cardoso, S.

R. Macedo, F. A. Cardoso, S. Cardoso, P. P. Freitas, J. Germano, and M. S. Piedade, Appl. Phys. Lett. 98, 103503 (2011).
[CrossRef]

Cebollada, A.

J. B. González-Díaz, A. García-Martín, G. Armelles, J. M. García-Martín, C. Clavero, A. Cebollada, R. A. Lukaszew, J. R. Skuza, D. P. Kumah, and R. Clarke, Phys. Rev. B 76, 153402 (2007).
[CrossRef]

Chan, C. C.

P. Zu, C. C. Chan, W. S. Lew, L. Hu, Y. Jin, H. F. Liew, L. H. Chen, W. C. Wong, and X. Dong, IEEE Photon. J. 4, 491 (2012).
[CrossRef]

Chau, K. J.

K. J. Chau, S. E. Irvine, and A. Y. Elezzabi, IEEE J. Quantum Electron. 40, 571 (2004).
[CrossRef]

Chen, L. H.

P. Zu, C. C. Chan, W. S. Lew, L. Hu, Y. Jin, H. F. Liew, L. H. Chen, W. C. Wong, and X. Dong, IEEE Photon. J. 4, 491 (2012).
[CrossRef]

Chen, L. Y.

Y. P. Zhang, S. S. Yan, Y. H. Liu, M. J. Ren, Y. Fang, Y. X. Chen, G. L. Liu, L. M. Mei, J. P. Liu, J. H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 042501 (2006).
[CrossRef]

Chen, Y. X.

Y. P. Zhang, S. S. Yan, Y. H. Liu, M. J. Ren, Y. Fang, Y. X. Chen, G. L. Liu, L. M. Mei, J. P. Liu, J. H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 042501 (2006).
[CrossRef]

Chieh, J. J.

S. Y. Yang, J. J. Chieh, H. E. Horng, C.-Y. Hong, and H. C. Yang, Appl. Phys. Lett. 84, 5204 (2004).
[CrossRef]

Childress, J. R.

A. Schuhl, F. N. V. Dau, and J. R. Childress, Appl. Phys. Lett. 66, 2751 (1995).
[CrossRef]

Clarke, R.

J. B. González-Díaz, A. García-Martín, G. Armelles, J. M. García-Martín, C. Clavero, A. Cebollada, R. A. Lukaszew, J. R. Skuza, D. P. Kumah, and R. Clarke, Phys. Rev. B 76, 153402 (2007).
[CrossRef]

Clavero, C.

J. B. González-Díaz, A. García-Martín, G. Armelles, J. M. García-Martín, C. Clavero, A. Cebollada, R. A. Lukaszew, J. R. Skuza, D. P. Kumah, and R. Clarke, Phys. Rev. B 76, 153402 (2007).
[CrossRef]

Dau, F. N. V.

A. Schuhl, F. N. V. Dau, and J. R. Childress, Appl. Phys. Lett. 66, 2751 (1995).
[CrossRef]

Dix, N.

K. Postava, D. Hrabovský, O. Životský, J. Pištora, N. Dix, R. Muralidharan, J. M. Caicedo, F. Sánchez, and J. Fontcuberta, J. Appl. Phys. 105, 07C124 (2009).
[CrossRef]

Dong, S.

J. Zhai, Z. Xing, S. Dong, J. Li, and D. Viehland, Appl. Phys. Lett. 88, 062510 (2006).
[CrossRef]

Dong, X.

P. Zu, C. C. Chan, W. S. Lew, L. Hu, Y. Jin, H. F. Liew, L. H. Chen, W. C. Wong, and X. Dong, IEEE Photon. J. 4, 491 (2012).
[CrossRef]

Elbaum, L. K.

L. K. Elbaum, T. Shibauchi, B. Argyle, L. Gignac, and D. Weller, Nature 410, 444 (2001).
[CrossRef]

Elezgaray, J.

S. Zhang, L. Berguiga, J. Elezgaray, T. Roland, C. F. Moskalenko, and F. Argoul, Surf. Sci. 601, 5445 (2007).
[CrossRef]

Elezzabi, A. Y.

K. J. Chau, S. E. Irvine, and A. Y. Elezzabi, IEEE J. Quantum Electron. 40, 571 (2004).
[CrossRef]

Esposito, E.

R. Russo, C. Granata, P. Walke, A. Vettoliere, E. Esposito, and M. Russo, J. Nanopart. Res. 13, 5661 (2011).
[CrossRef]

Fang, Q. Q.

K. Y. Wu, Q. Q. Fang, W. N. Wang, C. Zhou, W. J. Huang, J. G. Li, Q. R. Lv, Y. M. Liu, Q. P. Zhang, and H. M. Zhang, J. Appl. Phys. 108, 063530 (2010).
[CrossRef]

Fang, Y.

Y. P. Zhang, S. S. Yan, Y. H. Liu, M. J. Ren, Y. Fang, Y. X. Chen, G. L. Liu, L. M. Mei, J. P. Liu, J. H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 042501 (2006).
[CrossRef]

Fontcuberta, J.

K. Postava, D. Hrabovský, O. Životský, J. Pištora, N. Dix, R. Muralidharan, J. M. Caicedo, F. Sánchez, and J. Fontcuberta, J. Appl. Phys. 105, 07C124 (2009).
[CrossRef]

Freitas, P. P.

R. Macedo, F. A. Cardoso, S. Cardoso, P. P. Freitas, J. Germano, and M. S. Piedade, Appl. Phys. Lett. 98, 103503 (2011).
[CrossRef]

Fronk, M.

M. Fronk, B. Bräuer, J. Kortus, O. G. Schmidt, D. R. T. Zahn, and G. Salvan, Phys. Rev. B 79, 235305 (2009).
[CrossRef]

Fukumura, T.

K. Ando, H. Saito, Z. Jin, T. Fukumura, M. Kawasaki, Y. Matsumoto, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 78, 2700 (2001).
[CrossRef]

Fumagalli, P.

K. Schwinge, C. Müller, A. Mogilatenko, J. J. Paggel, and P. Fumagalli, J. Appl. Phys. 97, 103913 (2005).
[CrossRef]

Futsuhara, M.

M. Futsuhara, K. Yoshioka, and O. Takai, Thin Solid Films 317, 322 (1998).
[CrossRef]

Gabus, P.

Gangopadhyay, P.

P. Gangopadhyay, G. Koeckelberghs, and A. Persoons, Chem. Mater. 23, 516 (2011).
[CrossRef]

García-Martín, A.

J. B. González-Díaz, A. García-Martín, G. Armelles, J. M. García-Martín, C. Clavero, A. Cebollada, R. A. Lukaszew, J. R. Skuza, D. P. Kumah, and R. Clarke, Phys. Rev. B 76, 153402 (2007).
[CrossRef]

García-Martín, J. M.

J. B. González-Díaz, A. García-Martín, G. Armelles, J. M. García-Martín, C. Clavero, A. Cebollada, R. A. Lukaszew, J. R. Skuza, D. P. Kumah, and R. Clarke, Phys. Rev. B 76, 153402 (2007).
[CrossRef]

Germano, J.

R. Macedo, F. A. Cardoso, S. Cardoso, P. P. Freitas, J. Germano, and M. S. Piedade, Appl. Phys. Lett. 98, 103503 (2011).
[CrossRef]

Gignac, L.

L. K. Elbaum, T. Shibauchi, B. Argyle, L. Gignac, and D. Weller, Nature 410, 444 (2001).
[CrossRef]

Goldring, D.

D. Goldring, Z. Zalevsky, G. Shabtay, and D. Abraham, J. Opt. A 6, 98 (2004).
[CrossRef]

González-Díaz, J. B.

J. B. González-Díaz, A. García-Martín, G. Armelles, J. M. García-Martín, C. Clavero, A. Cebollada, R. A. Lukaszew, J. R. Skuza, D. P. Kumah, and R. Clarke, Phys. Rev. B 76, 153402 (2007).
[CrossRef]

Granata, C.

R. Russo, C. Granata, P. Walke, A. Vettoliere, E. Esposito, and M. Russo, J. Nanopart. Res. 13, 5661 (2011).
[CrossRef]

Gupta, V.

K. Jindal, M. Tomar, and V. Gupta, Analyst 138, 4353 (2013).
[CrossRef]

K. Jindal, M. Tomar, R. S. Katiyar, and V. Gupta, J. Appl. Phys. 111, 102805 (2012).
[CrossRef]

S. Saha, N. Mehan, K. Sreenivas, and V. Gupta, Appl. Phys. Lett. 95, 071106 (2009).
[CrossRef]

N. Mehan, V. Gupta, K. Sreenivas, and A. Mansingh, J. Appl. Phys. 96, 3134 (2004).
[CrossRef]

Heavens, O. S.

O. S. Heavens, Optical Properties of Thin Solid Films (Butterworths Scientific, 1955).

Hermann, C.

V. I. Safarov, V. A. Kosobukin, C. Hermann, G. Lampel, J. Peretti, and C. Marliere, Phys. Rev. Lett. 73, 3584 (1994).
[CrossRef]

Herrera-May, A. L.

A. L. Herrera-May, L. A. Aguilera-Cortés, and E. Manjarrez, Sensors 9, 7785 (2009).
[CrossRef]

Hong, C.-Y.

S. Y. Yang, J. J. Chieh, H. E. Horng, C.-Y. Hong, and H. C. Yang, Appl. Phys. Lett. 84, 5204 (2004).
[CrossRef]

Horng, H. E.

S. Y. Yang, J. J. Chieh, H. E. Horng, C.-Y. Hong, and H. C. Yang, Appl. Phys. Lett. 84, 5204 (2004).
[CrossRef]

Hrabovský, D.

K. Postava, D. Hrabovský, O. Životský, J. Pištora, N. Dix, R. Muralidharan, J. M. Caicedo, F. Sánchez, and J. Fontcuberta, J. Appl. Phys. 105, 07C124 (2009).
[CrossRef]

Hu, L.

P. Zu, C. C. Chan, W. S. Lew, L. Hu, Y. Jin, H. F. Liew, L. H. Chen, W. C. Wong, and X. Dong, IEEE Photon. J. 4, 491 (2012).
[CrossRef]

Huang, W. J.

K. Y. Wu, Q. Q. Fang, W. N. Wang, C. Zhou, W. J. Huang, J. G. Li, Q. R. Lv, Y. M. Liu, Q. P. Zhang, and H. M. Zhang, J. Appl. Phys. 108, 063530 (2010).
[CrossRef]

Irvine, S. E.

K. J. Chau, S. E. Irvine, and A. Y. Elezzabi, IEEE J. Quantum Electron. 40, 571 (2004).
[CrossRef]

Jin, Y.

P. Zu, C. C. Chan, W. S. Lew, L. Hu, Y. Jin, H. F. Liew, L. H. Chen, W. C. Wong, and X. Dong, IEEE Photon. J. 4, 491 (2012).
[CrossRef]

Jin, Z.

K. Ando, H. Saito, Z. Jin, T. Fukumura, M. Kawasaki, Y. Matsumoto, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 78, 2700 (2001).
[CrossRef]

Jindal, K.

K. Jindal, M. Tomar, and V. Gupta, Analyst 138, 4353 (2013).
[CrossRef]

K. Jindal, M. Tomar, R. S. Katiyar, and V. Gupta, J. Appl. Phys. 111, 102805 (2012).
[CrossRef]

Katiyar, R. S.

K. Jindal, M. Tomar, R. S. Katiyar, and V. Gupta, J. Appl. Phys. 111, 102805 (2012).
[CrossRef]

Kawasaki, M.

K. Ando, H. Saito, Z. Jin, T. Fukumura, M. Kawasaki, Y. Matsumoto, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 78, 2700 (2001).
[CrossRef]

Khurgin, J. B.

J. B. Khurgin, Appl. Phys. Lett. 89, 251115 (2006).
[CrossRef]

Koeckelberghs, G.

P. Gangopadhyay, G. Koeckelberghs, and A. Persoons, Chem. Mater. 23, 516 (2011).
[CrossRef]

Koinuma, H.

K. Ando, H. Saito, Z. Jin, T. Fukumura, M. Kawasaki, Y. Matsumoto, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 78, 2700 (2001).
[CrossRef]

Kortus, J.

M. Fronk, B. Bräuer, J. Kortus, O. G. Schmidt, D. R. T. Zahn, and G. Salvan, Phys. Rev. B 79, 235305 (2009).
[CrossRef]

Kosobukin, V. A.

V. I. Safarov, V. A. Kosobukin, C. Hermann, G. Lampel, J. Peretti, and C. Marliere, Phys. Rev. Lett. 73, 3584 (1994).
[CrossRef]

Kumah, D. P.

J. B. González-Díaz, A. García-Martín, G. Armelles, J. M. García-Martín, C. Clavero, A. Cebollada, R. A. Lukaszew, J. R. Skuza, D. P. Kumah, and R. Clarke, Phys. Rev. B 76, 153402 (2007).
[CrossRef]

Lampel, G.

V. I. Safarov, V. A. Kosobukin, C. Hermann, G. Lampel, J. Peretti, and C. Marliere, Phys. Rev. Lett. 73, 3584 (1994).
[CrossRef]

Leung, C. W.

X. L. Wang, C. Y. Luan, Q. Shao, A. Pruna, C. W. Leung, R. Lortz, J. A. Zapien, and A. Ruotolo, Appl. Phys. Lett. 102, 102112 (2013).
[CrossRef]

Lew, W. S.

P. Zu, C. C. Chan, W. S. Lew, L. Hu, Y. Jin, H. F. Liew, L. H. Chen, W. C. Wong, and X. Dong, IEEE Photon. J. 4, 491 (2012).
[CrossRef]

Li, J.

J. Zhai, Z. Xing, S. Dong, J. Li, and D. Viehland, Appl. Phys. Lett. 88, 062510 (2006).
[CrossRef]

Li, J. G.

K. Y. Wu, Q. Q. Fang, W. N. Wang, C. Zhou, W. J. Huang, J. G. Li, Q. R. Lv, Y. M. Liu, Q. P. Zhang, and H. M. Zhang, J. Appl. Phys. 108, 063530 (2010).
[CrossRef]

Liew, H. F.

P. Zu, C. C. Chan, W. S. Lew, L. Hu, Y. Jin, H. F. Liew, L. H. Chen, W. C. Wong, and X. Dong, IEEE Photon. J. 4, 491 (2012).
[CrossRef]

Liu, G. L.

Y. P. Zhang, S. S. Yan, Y. H. Liu, M. J. Ren, Y. Fang, Y. X. Chen, G. L. Liu, L. M. Mei, J. P. Liu, J. H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 042501 (2006).
[CrossRef]

Liu, J. P.

Y. P. Zhang, S. S. Yan, Y. H. Liu, M. J. Ren, Y. Fang, Y. X. Chen, G. L. Liu, L. M. Mei, J. P. Liu, J. H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 042501 (2006).
[CrossRef]

Liu, Y. H.

Y. P. Zhang, S. S. Yan, Y. H. Liu, M. J. Ren, Y. Fang, Y. X. Chen, G. L. Liu, L. M. Mei, J. P. Liu, J. H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 042501 (2006).
[CrossRef]

Liu, Y. M.

K. Y. Wu, Q. Q. Fang, W. N. Wang, C. Zhou, W. J. Huang, J. G. Li, Q. R. Lv, Y. M. Liu, Q. P. Zhang, and H. M. Zhang, J. Appl. Phys. 108, 063530 (2010).
[CrossRef]

Lortz, R.

X. L. Wang, C. Y. Luan, Q. Shao, A. Pruna, C. W. Leung, R. Lortz, J. A. Zapien, and A. Ruotolo, Appl. Phys. Lett. 102, 102112 (2013).
[CrossRef]

Luan, C. Y.

X. L. Wang, C. Y. Luan, Q. Shao, A. Pruna, C. W. Leung, R. Lortz, J. A. Zapien, and A. Ruotolo, Appl. Phys. Lett. 102, 102112 (2013).
[CrossRef]

Lukaszew, R. A.

J. B. González-Díaz, A. García-Martín, G. Armelles, J. M. García-Martín, C. Clavero, A. Cebollada, R. A. Lukaszew, J. R. Skuza, D. P. Kumah, and R. Clarke, Phys. Rev. B 76, 153402 (2007).
[CrossRef]

Lv, Q. R.

K. Y. Wu, Q. Q. Fang, W. N. Wang, C. Zhou, W. J. Huang, J. G. Li, Q. R. Lv, Y. M. Liu, Q. P. Zhang, and H. M. Zhang, J. Appl. Phys. 108, 063530 (2010).
[CrossRef]

Macedo, R.

R. Macedo, F. A. Cardoso, S. Cardoso, P. P. Freitas, J. Germano, and M. S. Piedade, Appl. Phys. Lett. 98, 103503 (2011).
[CrossRef]

Manjarrez, E.

A. L. Herrera-May, L. A. Aguilera-Cortés, and E. Manjarrez, Sensors 9, 7785 (2009).
[CrossRef]

Mansingh, A.

N. Mehan, V. Gupta, K. Sreenivas, and A. Mansingh, J. Appl. Phys. 96, 3134 (2004).
[CrossRef]

Marliere, C.

V. I. Safarov, V. A. Kosobukin, C. Hermann, G. Lampel, J. Peretti, and C. Marliere, Phys. Rev. Lett. 73, 3584 (1994).
[CrossRef]

Matsumoto, Y.

K. Ando, H. Saito, Z. Jin, T. Fukumura, M. Kawasaki, Y. Matsumoto, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 78, 2700 (2001).
[CrossRef]

Mehan, N.

S. Saha, N. Mehan, K. Sreenivas, and V. Gupta, Appl. Phys. Lett. 95, 071106 (2009).
[CrossRef]

N. Mehan, V. Gupta, K. Sreenivas, and A. Mansingh, J. Appl. Phys. 96, 3134 (2004).
[CrossRef]

Mei, L. M.

Y. P. Zhang, S. S. Yan, Y. H. Liu, M. J. Ren, Y. Fang, Y. X. Chen, G. L. Liu, L. M. Mei, J. P. Liu, J. H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 042501 (2006).
[CrossRef]

Mogilatenko, A.

K. Schwinge, C. Müller, A. Mogilatenko, J. J. Paggel, and P. Fumagalli, J. Appl. Phys. 97, 103913 (2005).
[CrossRef]

Moskalenko, C. F.

S. Zhang, L. Berguiga, J. Elezgaray, T. Roland, C. F. Moskalenko, and F. Argoul, Surf. Sci. 601, 5445 (2007).
[CrossRef]

Müller, C.

K. Schwinge, C. Müller, A. Mogilatenko, J. J. Paggel, and P. Fumagalli, J. Appl. Phys. 97, 103913 (2005).
[CrossRef]

Muralidharan, R.

K. Postava, D. Hrabovský, O. Životský, J. Pištora, N. Dix, R. Muralidharan, J. M. Caicedo, F. Sánchez, and J. Fontcuberta, J. Appl. Phys. 105, 07C124 (2009).
[CrossRef]

Nehring, J.

Paggel, J. J.

K. Schwinge, C. Müller, A. Mogilatenko, J. J. Paggel, and P. Fumagalli, J. Appl. Phys. 97, 103913 (2005).
[CrossRef]

Peretti, J.

V. I. Safarov, V. A. Kosobukin, C. Hermann, G. Lampel, J. Peretti, and C. Marliere, Phys. Rev. Lett. 73, 3584 (1994).
[CrossRef]

Persoons, A.

P. Gangopadhyay, G. Koeckelberghs, and A. Persoons, Chem. Mater. 23, 516 (2011).
[CrossRef]

Piedade, M. S.

R. Macedo, F. A. Cardoso, S. Cardoso, P. P. Freitas, J. Germano, and M. S. Piedade, Appl. Phys. Lett. 98, 103503 (2011).
[CrossRef]

Pištora, J.

K. Postava, D. Hrabovský, O. Životský, J. Pištora, N. Dix, R. Muralidharan, J. M. Caicedo, F. Sánchez, and J. Fontcuberta, J. Appl. Phys. 105, 07C124 (2009).
[CrossRef]

Postava, K.

K. Postava, D. Hrabovský, O. Životský, J. Pištora, N. Dix, R. Muralidharan, J. M. Caicedo, F. Sánchez, and J. Fontcuberta, J. Appl. Phys. 105, 07C124 (2009).
[CrossRef]

Pruna, A.

X. L. Wang, C. Y. Luan, Q. Shao, A. Pruna, C. W. Leung, R. Lortz, J. A. Zapien, and A. Ruotolo, Appl. Phys. Lett. 102, 102112 (2013).
[CrossRef]

Qiu, J. H.

Y. P. Zhang, S. S. Yan, Y. H. Liu, M. J. Ren, Y. Fang, Y. X. Chen, G. L. Liu, L. M. Mei, J. P. Liu, J. H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 042501 (2006).
[CrossRef]

Ren, M. J.

Y. P. Zhang, S. S. Yan, Y. H. Liu, M. J. Ren, Y. Fang, Y. X. Chen, G. L. Liu, L. M. Mei, J. P. Liu, J. H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 042501 (2006).
[CrossRef]

Roland, T.

S. Zhang, L. Berguiga, J. Elezgaray, T. Roland, C. F. Moskalenko, and F. Argoul, Surf. Sci. 601, 5445 (2007).
[CrossRef]

Ruotolo, A.

X. L. Wang, C. Y. Luan, Q. Shao, A. Pruna, C. W. Leung, R. Lortz, J. A. Zapien, and A. Ruotolo, Appl. Phys. Lett. 102, 102112 (2013).
[CrossRef]

Russo, M.

R. Russo, C. Granata, P. Walke, A. Vettoliere, E. Esposito, and M. Russo, J. Nanopart. Res. 13, 5661 (2011).
[CrossRef]

Russo, R.

R. Russo, C. Granata, P. Walke, A. Vettoliere, E. Esposito, and M. Russo, J. Nanopart. Res. 13, 5661 (2011).
[CrossRef]

Safarov, V. I.

V. I. Safarov, V. A. Kosobukin, C. Hermann, G. Lampel, J. Peretti, and C. Marliere, Phys. Rev. Lett. 73, 3584 (1994).
[CrossRef]

Saha, S.

S. Saha, N. Mehan, K. Sreenivas, and V. Gupta, Appl. Phys. Lett. 95, 071106 (2009).
[CrossRef]

Saito, H.

K. Ando, H. Saito, Z. Jin, T. Fukumura, M. Kawasaki, Y. Matsumoto, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 78, 2700 (2001).
[CrossRef]

Salvan, G.

M. Fronk, B. Bräuer, J. Kortus, O. G. Schmidt, D. R. T. Zahn, and G. Salvan, Phys. Rev. B 79, 235305 (2009).
[CrossRef]

Sánchez, F.

K. Postava, D. Hrabovský, O. Životský, J. Pištora, N. Dix, R. Muralidharan, J. M. Caicedo, F. Sánchez, and J. Fontcuberta, J. Appl. Phys. 105, 07C124 (2009).
[CrossRef]

Scheinfein, M. R.

Z. J. Yang and M. R. Scheinfein, J. Appl. Phys. 74, 6810 (1993).
[CrossRef]

Schmidt, O. G.

M. Fronk, B. Bräuer, J. Kortus, O. G. Schmidt, D. R. T. Zahn, and G. Salvan, Phys. Rev. B 79, 235305 (2009).
[CrossRef]

Schuhl, A.

A. Schuhl, F. N. V. Dau, and J. R. Childress, Appl. Phys. Lett. 66, 2751 (1995).
[CrossRef]

Schwinge, K.

K. Schwinge, C. Müller, A. Mogilatenko, J. J. Paggel, and P. Fumagalli, J. Appl. Phys. 97, 103913 (2005).
[CrossRef]

Shabtay, G.

D. Goldring, Z. Zalevsky, G. Shabtay, and D. Abraham, J. Opt. A 6, 98 (2004).
[CrossRef]

Shao, Q.

X. L. Wang, C. Y. Luan, Q. Shao, A. Pruna, C. W. Leung, R. Lortz, J. A. Zapien, and A. Ruotolo, Appl. Phys. Lett. 102, 102112 (2013).
[CrossRef]

Shibauchi, T.

L. K. Elbaum, T. Shibauchi, B. Argyle, L. Gignac, and D. Weller, Nature 410, 444 (2001).
[CrossRef]

Shin, S.-C.

C.-Y. You and S.-C. Shin, Appl. Phys. Lett. 69, 1315 (1996).
[CrossRef]

Skuza, J. R.

J. B. González-Díaz, A. García-Martín, G. Armelles, J. M. García-Martín, C. Clavero, A. Cebollada, R. A. Lukaszew, J. R. Skuza, D. P. Kumah, and R. Clarke, Phys. Rev. B 76, 153402 (2007).
[CrossRef]

Sreenivas, K.

S. Saha, N. Mehan, K. Sreenivas, and V. Gupta, Appl. Phys. Lett. 95, 071106 (2009).
[CrossRef]

N. Mehan, V. Gupta, K. Sreenivas, and A. Mansingh, J. Appl. Phys. 96, 3134 (2004).
[CrossRef]

Takai, O.

M. Futsuhara, K. Yoshioka, and O. Takai, Thin Solid Films 317, 322 (1998).
[CrossRef]

Tomar, M.

K. Jindal, M. Tomar, and V. Gupta, Analyst 138, 4353 (2013).
[CrossRef]

K. Jindal, M. Tomar, R. S. Katiyar, and V. Gupta, J. Appl. Phys. 111, 102805 (2012).
[CrossRef]

Vettoliere, A.

R. Russo, C. Granata, P. Walke, A. Vettoliere, E. Esposito, and M. Russo, J. Nanopart. Res. 13, 5661 (2011).
[CrossRef]

Viehland, D.

J. Zhai, Z. Xing, S. Dong, J. Li, and D. Viehland, Appl. Phys. Lett. 88, 062510 (2006).
[CrossRef]

Walke, P.

R. Russo, C. Granata, P. Walke, A. Vettoliere, E. Esposito, and M. Russo, J. Nanopart. Res. 13, 5661 (2011).
[CrossRef]

Wang, S. Y.

Y. P. Zhang, S. S. Yan, Y. H. Liu, M. J. Ren, Y. Fang, Y. X. Chen, G. L. Liu, L. M. Mei, J. P. Liu, J. H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 042501 (2006).
[CrossRef]

Wang, W. N.

K. Y. Wu, Q. Q. Fang, W. N. Wang, C. Zhou, W. J. Huang, J. G. Li, Q. R. Lv, Y. M. Liu, Q. P. Zhang, and H. M. Zhang, J. Appl. Phys. 108, 063530 (2010).
[CrossRef]

Wang, X. L.

X. L. Wang, C. Y. Luan, Q. Shao, A. Pruna, C. W. Leung, R. Lortz, J. A. Zapien, and A. Ruotolo, Appl. Phys. Lett. 102, 102112 (2013).
[CrossRef]

Weller, D.

L. K. Elbaum, T. Shibauchi, B. Argyle, L. Gignac, and D. Weller, Nature 410, 444 (2001).
[CrossRef]

Wong, W. C.

P. Zu, C. C. Chan, W. S. Lew, L. Hu, Y. Jin, H. F. Liew, L. H. Chen, W. C. Wong, and X. Dong, IEEE Photon. J. 4, 491 (2012).
[CrossRef]

Wu, K. Y.

K. Y. Wu, Q. Q. Fang, W. N. Wang, C. Zhou, W. J. Huang, J. G. Li, Q. R. Lv, Y. M. Liu, Q. P. Zhang, and H. M. Zhang, J. Appl. Phys. 108, 063530 (2010).
[CrossRef]

Xing, Z.

J. Zhai, Z. Xing, S. Dong, J. Li, and D. Viehland, Appl. Phys. Lett. 88, 062510 (2006).
[CrossRef]

Yan, S. S.

Y. P. Zhang, S. S. Yan, Y. H. Liu, M. J. Ren, Y. Fang, Y. X. Chen, G. L. Liu, L. M. Mei, J. P. Liu, J. H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 042501 (2006).
[CrossRef]

Yang, H. C.

S. Y. Yang, J. J. Chieh, H. E. Horng, C.-Y. Hong, and H. C. Yang, Appl. Phys. Lett. 84, 5204 (2004).
[CrossRef]

Yang, S. Y.

S. Y. Yang, J. J. Chieh, H. E. Horng, C.-Y. Hong, and H. C. Yang, Appl. Phys. Lett. 84, 5204 (2004).
[CrossRef]

Yang, Z. J.

Z. J. Yang and M. R. Scheinfein, J. Appl. Phys. 74, 6810 (1993).
[CrossRef]

Yoshioka, K.

M. Futsuhara, K. Yoshioka, and O. Takai, Thin Solid Films 317, 322 (1998).
[CrossRef]

You, C.-Y.

C.-Y. You and S.-C. Shin, Appl. Phys. Lett. 69, 1315 (1996).
[CrossRef]

Zahn, D. R. T.

M. Fronk, B. Bräuer, J. Kortus, O. G. Schmidt, D. R. T. Zahn, and G. Salvan, Phys. Rev. B 79, 235305 (2009).
[CrossRef]

Zalevsky, Z.

D. Goldring, Z. Zalevsky, G. Shabtay, and D. Abraham, J. Opt. A 6, 98 (2004).
[CrossRef]

Zapien, J. A.

X. L. Wang, C. Y. Luan, Q. Shao, A. Pruna, C. W. Leung, R. Lortz, J. A. Zapien, and A. Ruotolo, Appl. Phys. Lett. 102, 102112 (2013).
[CrossRef]

Zhai, J.

J. Zhai, Z. Xing, S. Dong, J. Li, and D. Viehland, Appl. Phys. Lett. 88, 062510 (2006).
[CrossRef]

Zhang, H. M.

K. Y. Wu, Q. Q. Fang, W. N. Wang, C. Zhou, W. J. Huang, J. G. Li, Q. R. Lv, Y. M. Liu, Q. P. Zhang, and H. M. Zhang, J. Appl. Phys. 108, 063530 (2010).
[CrossRef]

Zhang, Q. P.

K. Y. Wu, Q. Q. Fang, W. N. Wang, C. Zhou, W. J. Huang, J. G. Li, Q. R. Lv, Y. M. Liu, Q. P. Zhang, and H. M. Zhang, J. Appl. Phys. 108, 063530 (2010).
[CrossRef]

Zhang, S.

S. Zhang, L. Berguiga, J. Elezgaray, T. Roland, C. F. Moskalenko, and F. Argoul, Surf. Sci. 601, 5445 (2007).
[CrossRef]

Zhang, Y. P.

Y. P. Zhang, S. S. Yan, Y. H. Liu, M. J. Ren, Y. Fang, Y. X. Chen, G. L. Liu, L. M. Mei, J. P. Liu, J. H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 042501 (2006).
[CrossRef]

Zhou, C.

K. Y. Wu, Q. Q. Fang, W. N. Wang, C. Zhou, W. J. Huang, J. G. Li, Q. R. Lv, Y. M. Liu, Q. P. Zhang, and H. M. Zhang, J. Appl. Phys. 108, 063530 (2010).
[CrossRef]

Životský, O.

K. Postava, D. Hrabovský, O. Životský, J. Pištora, N. Dix, R. Muralidharan, J. M. Caicedo, F. Sánchez, and J. Fontcuberta, J. Appl. Phys. 105, 07C124 (2009).
[CrossRef]

Zu, P.

P. Zu, C. C. Chan, W. S. Lew, L. Hu, Y. Jin, H. F. Liew, L. H. Chen, W. C. Wong, and X. Dong, IEEE Photon. J. 4, 491 (2012).
[CrossRef]

Analyst (1)

K. Jindal, M. Tomar, and V. Gupta, Analyst 138, 4353 (2013).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett. (10)

X. L. Wang, C. Y. Luan, Q. Shao, A. Pruna, C. W. Leung, R. Lortz, J. A. Zapien, and A. Ruotolo, Appl. Phys. Lett. 102, 102112 (2013).
[CrossRef]

K. Ando, H. Saito, Z. Jin, T. Fukumura, M. Kawasaki, Y. Matsumoto, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 78, 2700 (2001).
[CrossRef]

Y. P. Zhang, S. S. Yan, Y. H. Liu, M. J. Ren, Y. Fang, Y. X. Chen, G. L. Liu, L. M. Mei, J. P. Liu, J. H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 042501 (2006).
[CrossRef]

A. Schuhl, F. N. V. Dau, and J. R. Childress, Appl. Phys. Lett. 66, 2751 (1995).
[CrossRef]

J. Zhai, Z. Xing, S. Dong, J. Li, and D. Viehland, Appl. Phys. Lett. 88, 062510 (2006).
[CrossRef]

R. Macedo, F. A. Cardoso, S. Cardoso, P. P. Freitas, J. Germano, and M. S. Piedade, Appl. Phys. Lett. 98, 103503 (2011).
[CrossRef]

S. Y. Yang, J. J. Chieh, H. E. Horng, C.-Y. Hong, and H. C. Yang, Appl. Phys. Lett. 84, 5204 (2004).
[CrossRef]

S. Saha, N. Mehan, K. Sreenivas, and V. Gupta, Appl. Phys. Lett. 95, 071106 (2009).
[CrossRef]

C.-Y. You and S.-C. Shin, Appl. Phys. Lett. 69, 1315 (1996).
[CrossRef]

J. B. Khurgin, Appl. Phys. Lett. 89, 251115 (2006).
[CrossRef]

Chem. Mater. (1)

P. Gangopadhyay, G. Koeckelberghs, and A. Persoons, Chem. Mater. 23, 516 (2011).
[CrossRef]

IEEE J. Quantum Electron. (1)

K. J. Chau, S. E. Irvine, and A. Y. Elezzabi, IEEE J. Quantum Electron. 40, 571 (2004).
[CrossRef]

IEEE Photon. J. (1)

P. Zu, C. C. Chan, W. S. Lew, L. Hu, Y. Jin, H. F. Liew, L. H. Chen, W. C. Wong, and X. Dong, IEEE Photon. J. 4, 491 (2012).
[CrossRef]

J. Appl. Phys. (6)

K. Postava, D. Hrabovský, O. Životský, J. Pištora, N. Dix, R. Muralidharan, J. M. Caicedo, F. Sánchez, and J. Fontcuberta, J. Appl. Phys. 105, 07C124 (2009).
[CrossRef]

K. Schwinge, C. Müller, A. Mogilatenko, J. J. Paggel, and P. Fumagalli, J. Appl. Phys. 97, 103913 (2005).
[CrossRef]

K. Y. Wu, Q. Q. Fang, W. N. Wang, C. Zhou, W. J. Huang, J. G. Li, Q. R. Lv, Y. M. Liu, Q. P. Zhang, and H. M. Zhang, J. Appl. Phys. 108, 063530 (2010).
[CrossRef]

K. Jindal, M. Tomar, R. S. Katiyar, and V. Gupta, J. Appl. Phys. 111, 102805 (2012).
[CrossRef]

Z. J. Yang and M. R. Scheinfein, J. Appl. Phys. 74, 6810 (1993).
[CrossRef]

N. Mehan, V. Gupta, K. Sreenivas, and A. Mansingh, J. Appl. Phys. 96, 3134 (2004).
[CrossRef]

J. Lightwave Technol. (1)

J. Nanopart. Res. (1)

R. Russo, C. Granata, P. Walke, A. Vettoliere, E. Esposito, and M. Russo, J. Nanopart. Res. 13, 5661 (2011).
[CrossRef]

J. Opt. A (1)

D. Goldring, Z. Zalevsky, G. Shabtay, and D. Abraham, J. Opt. A 6, 98 (2004).
[CrossRef]

Nature (1)

L. K. Elbaum, T. Shibauchi, B. Argyle, L. Gignac, and D. Weller, Nature 410, 444 (2001).
[CrossRef]

Phys. Rev. B (2)

M. Fronk, B. Bräuer, J. Kortus, O. G. Schmidt, D. R. T. Zahn, and G. Salvan, Phys. Rev. B 79, 235305 (2009).
[CrossRef]

J. B. González-Díaz, A. García-Martín, G. Armelles, J. M. García-Martín, C. Clavero, A. Cebollada, R. A. Lukaszew, J. R. Skuza, D. P. Kumah, and R. Clarke, Phys. Rev. B 76, 153402 (2007).
[CrossRef]

Phys. Rev. Lett. (1)

V. I. Safarov, V. A. Kosobukin, C. Hermann, G. Lampel, J. Peretti, and C. Marliere, Phys. Rev. Lett. 73, 3584 (1994).
[CrossRef]

Sensors (1)

A. L. Herrera-May, L. A. Aguilera-Cortés, and E. Manjarrez, Sensors 9, 7785 (2009).
[CrossRef]

Surf. Sci. (1)

S. Zhang, L. Berguiga, J. Elezgaray, T. Roland, C. F. Moskalenko, and F. Argoul, Surf. Sci. 601, 5445 (2007).
[CrossRef]

Thin Solid Films (1)

M. Futsuhara, K. Yoshioka, and O. Takai, Thin Solid Films 317, 322 (1998).
[CrossRef]

Other (2)

O. S. Heavens, Optical Properties of Thin Solid Films (Butterworths Scientific, 1955).

Joint Committee on Power Diffraction Standard (JCPDS), File No. .

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (4)

Fig. 1.
Fig. 1.

Schematic of the SPR system for (a) nonmagnetic and (b) magnetic configurations.

Fig. 2.
Fig. 2.

SPR curves for prism–Au–air and prism–Au–ZnO–air system.

Fig. 3.
Fig. 3.

(a) SPR curves for ZnO:N films with N doping concentration. (b) Variation in RI and extinction coefficient of ZnO:N film with N doping; inset shows the variation in θSPR with N doping.

Fig. 4.
Fig. 4.

(a) SPR curves for ZnO:N (8%) film as a function of magnetic field. (b) Plot of reflectance versus field for prism/Au/ZnO:N(8%)/air system measured at fixed incidence angle of 57°. Inset shows shift in SPR dip angle (θSPR) with applied field for ZnO and ZnO:N (8%) films.

Equations (6)

Equations on this page are rendered with MathJax. Learn more.

Rpga=|rpg+rgaexp(2ikzgdg)1+rpgrgaexp(2ikzgdg)|2,
rik=(kziεikzkεk)/(kziεi+kzkεk),
kzi=2πλ(εiεpsin2θ),
Rpgoa=|rpg+Rgoaexp(2ikzgdg)1+rpg·Rgoaexp(2ikzgdg)|2,
rik=[(kziεikzkεk)/(kziεi+kzkεk)]i[(2kzisinθmxQεpεiεk)/(kziεi+kzkεk)],
n=no[1(Q/2)],

Metrics