Abstract

In blue InGaN light-emitting diodes (LEDs), the intuitive approaches to suppress Auger recombination by reducing carrier density, e.g., increasing the number of quantum wells (QWs) and thickening the width of wells, suffer from nonuniform carrier distribution and more severe spatial separation of electron and hole wave functions. To resolve this issue, LED structures with thick InGaN wells and polarization-matched AlGaInN barriers are proposed theoretically. Furthermore, the number of QWs is reduced for the purpose of mitigating the additional compressive strain in AlGaInN barriers. Simulation results reveal that, in the proposed structures, the quantum-confined Stark effect in strained wells is nearly eliminated through the utilization of polarization-matched barriers, which efficiently promotes internal quantum efficiency. Furthermore, the phenomenon of efficiency droop is also markedly improved because of the uniformly distributed or dispersed carriers, and accordingly the suppressed Auger recombination.

© 2013 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. B. Monemar and B. E. Sernelius, Appl. Phys. Lett. 91, 181103 (2007).
    [CrossRef]
  2. Y. C. Shen, G. O. Mueller, S. Watanabe, N. F. Gardner, A. Munkholm, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 141101 (2007).
    [CrossRef]
  3. I. V. Rozhansky and D. A. Zakheim, Semiconductors 40, 839 (2006).
    [CrossRef]
  4. J.-I. Shim, D.-P. Han, H. Kim, D.-S. Shin, G.-B. Lin, D. S. Meyaard, Q. Shan, J. Cho, E. F. Schubert, H. Shim, and C. Sone, Appl. Phys. Lett. 100, 111106 (2012).
    [CrossRef]
  5. M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
    [CrossRef]
  6. J. Hader, J. V. Moloney, B. Pasenow, S. W. Koch, M. Sabathil, N. Linder, and S. Lutgen, Appl. Phys. Lett. 92, 261103 (2008).
    [CrossRef]
  7. M. Meneghini, N. Trivellin, G. Meneghesso, E. Zanoni, U. Zehnder, and B. Hahn, J. Appl. Phys. 106, 114508 (2009).
    [CrossRef]
  8. M. Zhang, P. Bhattacharya, J. Singh, and J. Hinckley, Appl. Phys. Lett. 95, 201108 (2009).
    [CrossRef]
  9. A. David and M. J. Grundmann, Appl. Phys. Lett. 96, 103504 (2010).
    [CrossRef]
  10. M. Brendel, A. Kruse, H. Jönen, L. Hoffmann, H. Bremers, U. Rossow, and A. Hangleiter, Appl. Phys. Lett. 99, 031106 (2011).
    [CrossRef]
  11. E. Kioupakis, P. Rinke, K. T. Delaney, and C. G. Van de Walle, Appl. Phys. Lett. 98, 161107 (2011).
    [CrossRef]
  12. Crosslight Software Inc., APSYS, http://www.crosslight.com .
  13. J. Piprek, Phys. Status Solidi A 207, 2217 (2010).
    [CrossRef]
  14. J. Piprek and Z. M. Simon Li, Appl. Phys. Lett. 102, 023510 (2013).
    [CrossRef]
  15. Y.-K. Kuo, Y.-H. Shih, M.-C. Tsai, and J.-Y. Chang, IEEE Photon. Technol. Lett. 23, 1630 (2011).
    [CrossRef]
  16. V. Fiorentini, F. Bernardini, and O. Ambacher, Appl. Phys. Lett. 80, 1204 (2002).
    [CrossRef]
  17. F. Renner, P. Kiesel, G. H. Döhler, M. Kneissl, C. G. Van de Walle, and N. M. Johnson, Appl. Phys. Lett. 81, 490 (2002).
    [CrossRef]
  18. H. Zhang, E. J. Miller, E. T. Yu, C. Poblenz, and J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 84, 4644 (2004).
    [CrossRef]
  19. A. David, M. J. Grundmann, J. F. Kaeding, N. F. Gardner, T. G. Mihopoulos, M. R. Krames, T. G. Mihopoulos, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 92, 053502 (2008).
    [CrossRef]
  20. N. F. Gardner, G. O. Mueller, Y. C. Shen, G. Chen, S. Watanabe, W. Goetz, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 243506 (2007).
    [CrossRef]
  21. J.-Y. Chang and Y.-K. Kuo, Opt. Lett. 37, 1574 (2012).
    [CrossRef]
  22. A. Dadgar, L. Groh, S. Metzner, S. Neugebauer, J. Bläsing, T. Hempel, F. Bertram, J. Christen, A. Krost, Z. Andreev, and B. Witzigmann, Appl. Phys. Lett. 102, 062110 (2013).
    [CrossRef]
  23. M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
    [CrossRef]
  24. J. P. Liu, J.-H. Ryou, R. D. Dupuis, J. Han, G. D. Shen, and H. B. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 021102 (2008).
    [CrossRef]
  25. Y. Zhao, S. Tanaka, C.-C. Pan, K. Fujito, D. Feezell, J. S. Speck, S. P. Den Baars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Express 4, 082104 (2011).
    [CrossRef]
  26. C.-C. Pan, S. Tanaka, F. Wu, Y. Zhao, J. S. Speck, S. Nakamura, S. P. Den Baars, and D. Feezell, Appl. Phys. Express 5, 062103 (2012).
    [CrossRef]

2013

J. Piprek and Z. M. Simon Li, Appl. Phys. Lett. 102, 023510 (2013).
[CrossRef]

A. Dadgar, L. Groh, S. Metzner, S. Neugebauer, J. Bläsing, T. Hempel, F. Bertram, J. Christen, A. Krost, Z. Andreev, and B. Witzigmann, Appl. Phys. Lett. 102, 062110 (2013).
[CrossRef]

2012

C.-C. Pan, S. Tanaka, F. Wu, Y. Zhao, J. S. Speck, S. Nakamura, S. P. Den Baars, and D. Feezell, Appl. Phys. Express 5, 062103 (2012).
[CrossRef]

J.-Y. Chang and Y.-K. Kuo, Opt. Lett. 37, 1574 (2012).
[CrossRef]

J.-I. Shim, D.-P. Han, H. Kim, D.-S. Shin, G.-B. Lin, D. S. Meyaard, Q. Shan, J. Cho, E. F. Schubert, H. Shim, and C. Sone, Appl. Phys. Lett. 100, 111106 (2012).
[CrossRef]

2011

Y.-K. Kuo, Y.-H. Shih, M.-C. Tsai, and J.-Y. Chang, IEEE Photon. Technol. Lett. 23, 1630 (2011).
[CrossRef]

M. Brendel, A. Kruse, H. Jönen, L. Hoffmann, H. Bremers, U. Rossow, and A. Hangleiter, Appl. Phys. Lett. 99, 031106 (2011).
[CrossRef]

E. Kioupakis, P. Rinke, K. T. Delaney, and C. G. Van de Walle, Appl. Phys. Lett. 98, 161107 (2011).
[CrossRef]

Y. Zhao, S. Tanaka, C.-C. Pan, K. Fujito, D. Feezell, J. S. Speck, S. P. Den Baars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Express 4, 082104 (2011).
[CrossRef]

2010

J. Piprek, Phys. Status Solidi A 207, 2217 (2010).
[CrossRef]

A. David and M. J. Grundmann, Appl. Phys. Lett. 96, 103504 (2010).
[CrossRef]

2009

M. Meneghini, N. Trivellin, G. Meneghesso, E. Zanoni, U. Zehnder, and B. Hahn, J. Appl. Phys. 106, 114508 (2009).
[CrossRef]

M. Zhang, P. Bhattacharya, J. Singh, and J. Hinckley, Appl. Phys. Lett. 95, 201108 (2009).
[CrossRef]

2008

J. Hader, J. V. Moloney, B. Pasenow, S. W. Koch, M. Sabathil, N. Linder, and S. Lutgen, Appl. Phys. Lett. 92, 261103 (2008).
[CrossRef]

A. David, M. J. Grundmann, J. F. Kaeding, N. F. Gardner, T. G. Mihopoulos, M. R. Krames, T. G. Mihopoulos, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 92, 053502 (2008).
[CrossRef]

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

J. P. Liu, J.-H. Ryou, R. D. Dupuis, J. Han, G. D. Shen, and H. B. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 021102 (2008).
[CrossRef]

2007

N. F. Gardner, G. O. Mueller, Y. C. Shen, G. Chen, S. Watanabe, W. Goetz, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 243506 (2007).
[CrossRef]

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

B. Monemar and B. E. Sernelius, Appl. Phys. Lett. 91, 181103 (2007).
[CrossRef]

Y. C. Shen, G. O. Mueller, S. Watanabe, N. F. Gardner, A. Munkholm, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 141101 (2007).
[CrossRef]

2006

I. V. Rozhansky and D. A. Zakheim, Semiconductors 40, 839 (2006).
[CrossRef]

2004

H. Zhang, E. J. Miller, E. T. Yu, C. Poblenz, and J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 84, 4644 (2004).
[CrossRef]

2002

V. Fiorentini, F. Bernardini, and O. Ambacher, Appl. Phys. Lett. 80, 1204 (2002).
[CrossRef]

F. Renner, P. Kiesel, G. H. Döhler, M. Kneissl, C. G. Van de Walle, and N. M. Johnson, Appl. Phys. Lett. 81, 490 (2002).
[CrossRef]

Ambacher, O.

V. Fiorentini, F. Bernardini, and O. Ambacher, Appl. Phys. Lett. 80, 1204 (2002).
[CrossRef]

Andreev, Z.

A. Dadgar, L. Groh, S. Metzner, S. Neugebauer, J. Bläsing, T. Hempel, F. Bertram, J. Christen, A. Krost, Z. Andreev, and B. Witzigmann, Appl. Phys. Lett. 102, 062110 (2013).
[CrossRef]

Bernardini, F.

V. Fiorentini, F. Bernardini, and O. Ambacher, Appl. Phys. Lett. 80, 1204 (2002).
[CrossRef]

Bertram, F.

A. Dadgar, L. Groh, S. Metzner, S. Neugebauer, J. Bläsing, T. Hempel, F. Bertram, J. Christen, A. Krost, Z. Andreev, and B. Witzigmann, Appl. Phys. Lett. 102, 062110 (2013).
[CrossRef]

Bhattacharya, P.

M. Zhang, P. Bhattacharya, J. Singh, and J. Hinckley, Appl. Phys. Lett. 95, 201108 (2009).
[CrossRef]

Bläsing, J.

A. Dadgar, L. Groh, S. Metzner, S. Neugebauer, J. Bläsing, T. Hempel, F. Bertram, J. Christen, A. Krost, Z. Andreev, and B. Witzigmann, Appl. Phys. Lett. 102, 062110 (2013).
[CrossRef]

Bremers, H.

M. Brendel, A. Kruse, H. Jönen, L. Hoffmann, H. Bremers, U. Rossow, and A. Hangleiter, Appl. Phys. Lett. 99, 031106 (2011).
[CrossRef]

Brendel, M.

M. Brendel, A. Kruse, H. Jönen, L. Hoffmann, H. Bremers, U. Rossow, and A. Hangleiter, Appl. Phys. Lett. 99, 031106 (2011).
[CrossRef]

Chang, J.-Y.

J.-Y. Chang and Y.-K. Kuo, Opt. Lett. 37, 1574 (2012).
[CrossRef]

Y.-K. Kuo, Y.-H. Shih, M.-C. Tsai, and J.-Y. Chang, IEEE Photon. Technol. Lett. 23, 1630 (2011).
[CrossRef]

Chen, G.

N. F. Gardner, G. O. Mueller, Y. C. Shen, G. Chen, S. Watanabe, W. Goetz, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 243506 (2007).
[CrossRef]

Cho, J.

J.-I. Shim, D.-P. Han, H. Kim, D.-S. Shin, G.-B. Lin, D. S. Meyaard, Q. Shan, J. Cho, E. F. Schubert, H. Shim, and C. Sone, Appl. Phys. Lett. 100, 111106 (2012).
[CrossRef]

Christen, J.

A. Dadgar, L. Groh, S. Metzner, S. Neugebauer, J. Bläsing, T. Hempel, F. Bertram, J. Christen, A. Krost, Z. Andreev, and B. Witzigmann, Appl. Phys. Lett. 102, 062110 (2013).
[CrossRef]

Dadgar, A.

A. Dadgar, L. Groh, S. Metzner, S. Neugebauer, J. Bläsing, T. Hempel, F. Bertram, J. Christen, A. Krost, Z. Andreev, and B. Witzigmann, Appl. Phys. Lett. 102, 062110 (2013).
[CrossRef]

Dai, Q.

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

David, A.

A. David and M. J. Grundmann, Appl. Phys. Lett. 96, 103504 (2010).
[CrossRef]

A. David, M. J. Grundmann, J. F. Kaeding, N. F. Gardner, T. G. Mihopoulos, M. R. Krames, T. G. Mihopoulos, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 92, 053502 (2008).
[CrossRef]

Delaney, K. T.

E. Kioupakis, P. Rinke, K. T. Delaney, and C. G. Van de Walle, Appl. Phys. Lett. 98, 161107 (2011).
[CrossRef]

Den Baars, S. P.

C.-C. Pan, S. Tanaka, F. Wu, Y. Zhao, J. S. Speck, S. Nakamura, S. P. Den Baars, and D. Feezell, Appl. Phys. Express 5, 062103 (2012).
[CrossRef]

Y. Zhao, S. Tanaka, C.-C. Pan, K. Fujito, D. Feezell, J. S. Speck, S. P. Den Baars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Express 4, 082104 (2011).
[CrossRef]

Döhler, G. H.

F. Renner, P. Kiesel, G. H. Döhler, M. Kneissl, C. G. Van de Walle, and N. M. Johnson, Appl. Phys. Lett. 81, 490 (2002).
[CrossRef]

Dupuis, R. D.

J. P. Liu, J.-H. Ryou, R. D. Dupuis, J. Han, G. D. Shen, and H. B. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 021102 (2008).
[CrossRef]

Feezell, D.

C.-C. Pan, S. Tanaka, F. Wu, Y. Zhao, J. S. Speck, S. Nakamura, S. P. Den Baars, and D. Feezell, Appl. Phys. Express 5, 062103 (2012).
[CrossRef]

Y. Zhao, S. Tanaka, C.-C. Pan, K. Fujito, D. Feezell, J. S. Speck, S. P. Den Baars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Express 4, 082104 (2011).
[CrossRef]

Fiorentini, V.

V. Fiorentini, F. Bernardini, and O. Ambacher, Appl. Phys. Lett. 80, 1204 (2002).
[CrossRef]

Fujito, K.

Y. Zhao, S. Tanaka, C.-C. Pan, K. Fujito, D. Feezell, J. S. Speck, S. P. Den Baars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Express 4, 082104 (2011).
[CrossRef]

Gardner, N. F.

A. David, M. J. Grundmann, J. F. Kaeding, N. F. Gardner, T. G. Mihopoulos, M. R. Krames, T. G. Mihopoulos, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 92, 053502 (2008).
[CrossRef]

Y. C. Shen, G. O. Mueller, S. Watanabe, N. F. Gardner, A. Munkholm, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 141101 (2007).
[CrossRef]

N. F. Gardner, G. O. Mueller, Y. C. Shen, G. Chen, S. Watanabe, W. Goetz, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 243506 (2007).
[CrossRef]

Goetz, W.

N. F. Gardner, G. O. Mueller, Y. C. Shen, G. Chen, S. Watanabe, W. Goetz, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 243506 (2007).
[CrossRef]

Groh, L.

A. Dadgar, L. Groh, S. Metzner, S. Neugebauer, J. Bläsing, T. Hempel, F. Bertram, J. Christen, A. Krost, Z. Andreev, and B. Witzigmann, Appl. Phys. Lett. 102, 062110 (2013).
[CrossRef]

Grundmann, M. J.

A. David and M. J. Grundmann, Appl. Phys. Lett. 96, 103504 (2010).
[CrossRef]

A. David, M. J. Grundmann, J. F. Kaeding, N. F. Gardner, T. G. Mihopoulos, M. R. Krames, T. G. Mihopoulos, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 92, 053502 (2008).
[CrossRef]

Hader, J.

J. Hader, J. V. Moloney, B. Pasenow, S. W. Koch, M. Sabathil, N. Linder, and S. Lutgen, Appl. Phys. Lett. 92, 261103 (2008).
[CrossRef]

Hahn, B.

M. Meneghini, N. Trivellin, G. Meneghesso, E. Zanoni, U. Zehnder, and B. Hahn, J. Appl. Phys. 106, 114508 (2009).
[CrossRef]

Han, D.-P.

J.-I. Shim, D.-P. Han, H. Kim, D.-S. Shin, G.-B. Lin, D. S. Meyaard, Q. Shan, J. Cho, E. F. Schubert, H. Shim, and C. Sone, Appl. Phys. Lett. 100, 111106 (2012).
[CrossRef]

Han, J.

J. P. Liu, J.-H. Ryou, R. D. Dupuis, J. Han, G. D. Shen, and H. B. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 021102 (2008).
[CrossRef]

Hangleiter, A.

M. Brendel, A. Kruse, H. Jönen, L. Hoffmann, H. Bremers, U. Rossow, and A. Hangleiter, Appl. Phys. Lett. 99, 031106 (2011).
[CrossRef]

Hempel, T.

A. Dadgar, L. Groh, S. Metzner, S. Neugebauer, J. Bläsing, T. Hempel, F. Bertram, J. Christen, A. Krost, Z. Andreev, and B. Witzigmann, Appl. Phys. Lett. 102, 062110 (2013).
[CrossRef]

Hinckley, J.

M. Zhang, P. Bhattacharya, J. Singh, and J. Hinckley, Appl. Phys. Lett. 95, 201108 (2009).
[CrossRef]

Hoffmann, L.

M. Brendel, A. Kruse, H. Jönen, L. Hoffmann, H. Bremers, U. Rossow, and A. Hangleiter, Appl. Phys. Lett. 99, 031106 (2011).
[CrossRef]

Johnson, N. M.

F. Renner, P. Kiesel, G. H. Döhler, M. Kneissl, C. G. Van de Walle, and N. M. Johnson, Appl. Phys. Lett. 81, 490 (2002).
[CrossRef]

Jönen, H.

M. Brendel, A. Kruse, H. Jönen, L. Hoffmann, H. Bremers, U. Rossow, and A. Hangleiter, Appl. Phys. Lett. 99, 031106 (2011).
[CrossRef]

Kaeding, J. F.

A. David, M. J. Grundmann, J. F. Kaeding, N. F. Gardner, T. G. Mihopoulos, M. R. Krames, T. G. Mihopoulos, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 92, 053502 (2008).
[CrossRef]

Kiesel, P.

F. Renner, P. Kiesel, G. H. Döhler, M. Kneissl, C. G. Van de Walle, and N. M. Johnson, Appl. Phys. Lett. 81, 490 (2002).
[CrossRef]

Kim, H.

J.-I. Shim, D.-P. Han, H. Kim, D.-S. Shin, G.-B. Lin, D. S. Meyaard, Q. Shan, J. Cho, E. F. Schubert, H. Shim, and C. Sone, Appl. Phys. Lett. 100, 111106 (2012).
[CrossRef]

Kim, J. K.

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

Kim, M. H.

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

Kioupakis, E.

E. Kioupakis, P. Rinke, K. T. Delaney, and C. G. Van de Walle, Appl. Phys. Lett. 98, 161107 (2011).
[CrossRef]

Kneissl, M.

F. Renner, P. Kiesel, G. H. Döhler, M. Kneissl, C. G. Van de Walle, and N. M. Johnson, Appl. Phys. Lett. 81, 490 (2002).
[CrossRef]

Koch, S. W.

J. Hader, J. V. Moloney, B. Pasenow, S. W. Koch, M. Sabathil, N. Linder, and S. Lutgen, Appl. Phys. Lett. 92, 261103 (2008).
[CrossRef]

Krames, M. R.

A. David, M. J. Grundmann, J. F. Kaeding, N. F. Gardner, T. G. Mihopoulos, M. R. Krames, T. G. Mihopoulos, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 92, 053502 (2008).
[CrossRef]

A. David, M. J. Grundmann, J. F. Kaeding, N. F. Gardner, T. G. Mihopoulos, M. R. Krames, T. G. Mihopoulos, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 92, 053502 (2008).
[CrossRef]

Y. C. Shen, G. O. Mueller, S. Watanabe, N. F. Gardner, A. Munkholm, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 141101 (2007).
[CrossRef]

N. F. Gardner, G. O. Mueller, Y. C. Shen, G. Chen, S. Watanabe, W. Goetz, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 243506 (2007).
[CrossRef]

Krost, A.

A. Dadgar, L. Groh, S. Metzner, S. Neugebauer, J. Bläsing, T. Hempel, F. Bertram, J. Christen, A. Krost, Z. Andreev, and B. Witzigmann, Appl. Phys. Lett. 102, 062110 (2013).
[CrossRef]

Kruse, A.

M. Brendel, A. Kruse, H. Jönen, L. Hoffmann, H. Bremers, U. Rossow, and A. Hangleiter, Appl. Phys. Lett. 99, 031106 (2011).
[CrossRef]

Kuo, Y.-K.

J.-Y. Chang and Y.-K. Kuo, Opt. Lett. 37, 1574 (2012).
[CrossRef]

Y.-K. Kuo, Y.-H. Shih, M.-C. Tsai, and J.-Y. Chang, IEEE Photon. Technol. Lett. 23, 1630 (2011).
[CrossRef]

Lee, S. M.

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

Lin, G.-B.

J.-I. Shim, D.-P. Han, H. Kim, D.-S. Shin, G.-B. Lin, D. S. Meyaard, Q. Shan, J. Cho, E. F. Schubert, H. Shim, and C. Sone, Appl. Phys. Lett. 100, 111106 (2012).
[CrossRef]

Linder, N.

J. Hader, J. V. Moloney, B. Pasenow, S. W. Koch, M. Sabathil, N. Linder, and S. Lutgen, Appl. Phys. Lett. 92, 261103 (2008).
[CrossRef]

Liu, J. P.

J. P. Liu, J.-H. Ryou, R. D. Dupuis, J. Han, G. D. Shen, and H. B. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 021102 (2008).
[CrossRef]

Lutgen, S.

J. Hader, J. V. Moloney, B. Pasenow, S. W. Koch, M. Sabathil, N. Linder, and S. Lutgen, Appl. Phys. Lett. 92, 261103 (2008).
[CrossRef]

Meneghesso, G.

M. Meneghini, N. Trivellin, G. Meneghesso, E. Zanoni, U. Zehnder, and B. Hahn, J. Appl. Phys. 106, 114508 (2009).
[CrossRef]

Meneghini, M.

M. Meneghini, N. Trivellin, G. Meneghesso, E. Zanoni, U. Zehnder, and B. Hahn, J. Appl. Phys. 106, 114508 (2009).
[CrossRef]

Metzner, S.

A. Dadgar, L. Groh, S. Metzner, S. Neugebauer, J. Bläsing, T. Hempel, F. Bertram, J. Christen, A. Krost, Z. Andreev, and B. Witzigmann, Appl. Phys. Lett. 102, 062110 (2013).
[CrossRef]

Meyaard, D. S.

J.-I. Shim, D.-P. Han, H. Kim, D.-S. Shin, G.-B. Lin, D. S. Meyaard, Q. Shan, J. Cho, E. F. Schubert, H. Shim, and C. Sone, Appl. Phys. Lett. 100, 111106 (2012).
[CrossRef]

Mihopoulos, T. G.

A. David, M. J. Grundmann, J. F. Kaeding, N. F. Gardner, T. G. Mihopoulos, M. R. Krames, T. G. Mihopoulos, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 92, 053502 (2008).
[CrossRef]

A. David, M. J. Grundmann, J. F. Kaeding, N. F. Gardner, T. G. Mihopoulos, M. R. Krames, T. G. Mihopoulos, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 92, 053502 (2008).
[CrossRef]

Miller, E. J.

H. Zhang, E. J. Miller, E. T. Yu, C. Poblenz, and J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 84, 4644 (2004).
[CrossRef]

Moloney, J. V.

J. Hader, J. V. Moloney, B. Pasenow, S. W. Koch, M. Sabathil, N. Linder, and S. Lutgen, Appl. Phys. Lett. 92, 261103 (2008).
[CrossRef]

Monemar, B.

B. Monemar and B. E. Sernelius, Appl. Phys. Lett. 91, 181103 (2007).
[CrossRef]

Mueller, G. O.

N. F. Gardner, G. O. Mueller, Y. C. Shen, G. Chen, S. Watanabe, W. Goetz, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 243506 (2007).
[CrossRef]

Y. C. Shen, G. O. Mueller, S. Watanabe, N. F. Gardner, A. Munkholm, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 141101 (2007).
[CrossRef]

Munkholm, A.

Y. C. Shen, G. O. Mueller, S. Watanabe, N. F. Gardner, A. Munkholm, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 141101 (2007).
[CrossRef]

Nakamura, S.

C.-C. Pan, S. Tanaka, F. Wu, Y. Zhao, J. S. Speck, S. Nakamura, S. P. Den Baars, and D. Feezell, Appl. Phys. Express 5, 062103 (2012).
[CrossRef]

Y. Zhao, S. Tanaka, C.-C. Pan, K. Fujito, D. Feezell, J. S. Speck, S. P. Den Baars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Express 4, 082104 (2011).
[CrossRef]

Neugebauer, S.

A. Dadgar, L. Groh, S. Metzner, S. Neugebauer, J. Bläsing, T. Hempel, F. Bertram, J. Christen, A. Krost, Z. Andreev, and B. Witzigmann, Appl. Phys. Lett. 102, 062110 (2013).
[CrossRef]

Pan, C.-C.

C.-C. Pan, S. Tanaka, F. Wu, Y. Zhao, J. S. Speck, S. Nakamura, S. P. Den Baars, and D. Feezell, Appl. Phys. Express 5, 062103 (2012).
[CrossRef]

Y. Zhao, S. Tanaka, C.-C. Pan, K. Fujito, D. Feezell, J. S. Speck, S. P. Den Baars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Express 4, 082104 (2011).
[CrossRef]

Park, Y.

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

Pasenow, B.

J. Hader, J. V. Moloney, B. Pasenow, S. W. Koch, M. Sabathil, N. Linder, and S. Lutgen, Appl. Phys. Lett. 92, 261103 (2008).
[CrossRef]

Piprek, J.

J. Piprek and Z. M. Simon Li, Appl. Phys. Lett. 102, 023510 (2013).
[CrossRef]

J. Piprek, Phys. Status Solidi A 207, 2217 (2010).
[CrossRef]

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

Poblenz, C.

H. Zhang, E. J. Miller, E. T. Yu, C. Poblenz, and J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 84, 4644 (2004).
[CrossRef]

Renner, F.

F. Renner, P. Kiesel, G. H. Döhler, M. Kneissl, C. G. Van de Walle, and N. M. Johnson, Appl. Phys. Lett. 81, 490 (2002).
[CrossRef]

Rinke, P.

E. Kioupakis, P. Rinke, K. T. Delaney, and C. G. Van de Walle, Appl. Phys. Lett. 98, 161107 (2011).
[CrossRef]

Rossow, U.

M. Brendel, A. Kruse, H. Jönen, L. Hoffmann, H. Bremers, U. Rossow, and A. Hangleiter, Appl. Phys. Lett. 99, 031106 (2011).
[CrossRef]

Rozhansky, I. V.

I. V. Rozhansky and D. A. Zakheim, Semiconductors 40, 839 (2006).
[CrossRef]

Ryou, J.-H.

J. P. Liu, J.-H. Ryou, R. D. Dupuis, J. Han, G. D. Shen, and H. B. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 021102 (2008).
[CrossRef]

Sabathil, M.

J. Hader, J. V. Moloney, B. Pasenow, S. W. Koch, M. Sabathil, N. Linder, and S. Lutgen, Appl. Phys. Lett. 92, 261103 (2008).
[CrossRef]

Sakong, T.

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

Schubert, E. F.

J.-I. Shim, D.-P. Han, H. Kim, D.-S. Shin, G.-B. Lin, D. S. Meyaard, Q. Shan, J. Cho, E. F. Schubert, H. Shim, and C. Sone, Appl. Phys. Lett. 100, 111106 (2012).
[CrossRef]

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

Schubert, M. F.

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

Sernelius, B. E.

B. Monemar and B. E. Sernelius, Appl. Phys. Lett. 91, 181103 (2007).
[CrossRef]

Shan, Q.

J.-I. Shim, D.-P. Han, H. Kim, D.-S. Shin, G.-B. Lin, D. S. Meyaard, Q. Shan, J. Cho, E. F. Schubert, H. Shim, and C. Sone, Appl. Phys. Lett. 100, 111106 (2012).
[CrossRef]

Shen, G. D.

J. P. Liu, J.-H. Ryou, R. D. Dupuis, J. Han, G. D. Shen, and H. B. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 021102 (2008).
[CrossRef]

Shen, Y. C.

N. F. Gardner, G. O. Mueller, Y. C. Shen, G. Chen, S. Watanabe, W. Goetz, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 243506 (2007).
[CrossRef]

Y. C. Shen, G. O. Mueller, S. Watanabe, N. F. Gardner, A. Munkholm, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 141101 (2007).
[CrossRef]

Shih, Y.-H.

Y.-K. Kuo, Y.-H. Shih, M.-C. Tsai, and J.-Y. Chang, IEEE Photon. Technol. Lett. 23, 1630 (2011).
[CrossRef]

Shim, H.

J.-I. Shim, D.-P. Han, H. Kim, D.-S. Shin, G.-B. Lin, D. S. Meyaard, Q. Shan, J. Cho, E. F. Schubert, H. Shim, and C. Sone, Appl. Phys. Lett. 100, 111106 (2012).
[CrossRef]

Shim, J.-I.

J.-I. Shim, D.-P. Han, H. Kim, D.-S. Shin, G.-B. Lin, D. S. Meyaard, Q. Shan, J. Cho, E. F. Schubert, H. Shim, and C. Sone, Appl. Phys. Lett. 100, 111106 (2012).
[CrossRef]

Shin, D.-S.

J.-I. Shim, D.-P. Han, H. Kim, D.-S. Shin, G.-B. Lin, D. S. Meyaard, Q. Shan, J. Cho, E. F. Schubert, H. Shim, and C. Sone, Appl. Phys. Lett. 100, 111106 (2012).
[CrossRef]

Simon Li, Z. M.

J. Piprek and Z. M. Simon Li, Appl. Phys. Lett. 102, 023510 (2013).
[CrossRef]

Singh, J.

M. Zhang, P. Bhattacharya, J. Singh, and J. Hinckley, Appl. Phys. Lett. 95, 201108 (2009).
[CrossRef]

Sone, C.

J.-I. Shim, D.-P. Han, H. Kim, D.-S. Shin, G.-B. Lin, D. S. Meyaard, Q. Shan, J. Cho, E. F. Schubert, H. Shim, and C. Sone, Appl. Phys. Lett. 100, 111106 (2012).
[CrossRef]

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

Speck, J. S.

C.-C. Pan, S. Tanaka, F. Wu, Y. Zhao, J. S. Speck, S. Nakamura, S. P. Den Baars, and D. Feezell, Appl. Phys. Express 5, 062103 (2012).
[CrossRef]

Y. Zhao, S. Tanaka, C.-C. Pan, K. Fujito, D. Feezell, J. S. Speck, S. P. Den Baars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Express 4, 082104 (2011).
[CrossRef]

H. Zhang, E. J. Miller, E. T. Yu, C. Poblenz, and J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 84, 4644 (2004).
[CrossRef]

Tanaka, S.

C.-C. Pan, S. Tanaka, F. Wu, Y. Zhao, J. S. Speck, S. Nakamura, S. P. Den Baars, and D. Feezell, Appl. Phys. Express 5, 062103 (2012).
[CrossRef]

Y. Zhao, S. Tanaka, C.-C. Pan, K. Fujito, D. Feezell, J. S. Speck, S. P. Den Baars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Express 4, 082104 (2011).
[CrossRef]

Trivellin, N.

M. Meneghini, N. Trivellin, G. Meneghesso, E. Zanoni, U. Zehnder, and B. Hahn, J. Appl. Phys. 106, 114508 (2009).
[CrossRef]

Tsai, M.-C.

Y.-K. Kuo, Y.-H. Shih, M.-C. Tsai, and J.-Y. Chang, IEEE Photon. Technol. Lett. 23, 1630 (2011).
[CrossRef]

Van de Walle, C. G.

E. Kioupakis, P. Rinke, K. T. Delaney, and C. G. Van de Walle, Appl. Phys. Lett. 98, 161107 (2011).
[CrossRef]

F. Renner, P. Kiesel, G. H. Döhler, M. Kneissl, C. G. Van de Walle, and N. M. Johnson, Appl. Phys. Lett. 81, 490 (2002).
[CrossRef]

Wang, H. B.

J. P. Liu, J.-H. Ryou, R. D. Dupuis, J. Han, G. D. Shen, and H. B. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 021102 (2008).
[CrossRef]

Watanabe, S.

N. F. Gardner, G. O. Mueller, Y. C. Shen, G. Chen, S. Watanabe, W. Goetz, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 243506 (2007).
[CrossRef]

Y. C. Shen, G. O. Mueller, S. Watanabe, N. F. Gardner, A. Munkholm, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 141101 (2007).
[CrossRef]

Witzigmann, B.

A. Dadgar, L. Groh, S. Metzner, S. Neugebauer, J. Bläsing, T. Hempel, F. Bertram, J. Christen, A. Krost, Z. Andreev, and B. Witzigmann, Appl. Phys. Lett. 102, 062110 (2013).
[CrossRef]

Wu, F.

C.-C. Pan, S. Tanaka, F. Wu, Y. Zhao, J. S. Speck, S. Nakamura, S. P. Den Baars, and D. Feezell, Appl. Phys. Express 5, 062103 (2012).
[CrossRef]

Xu, J.

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

Yoon, S.

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

Yu, E. T.

H. Zhang, E. J. Miller, E. T. Yu, C. Poblenz, and J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 84, 4644 (2004).
[CrossRef]

Zakheim, D. A.

I. V. Rozhansky and D. A. Zakheim, Semiconductors 40, 839 (2006).
[CrossRef]

Zanoni, E.

M. Meneghini, N. Trivellin, G. Meneghesso, E. Zanoni, U. Zehnder, and B. Hahn, J. Appl. Phys. 106, 114508 (2009).
[CrossRef]

Zehnder, U.

M. Meneghini, N. Trivellin, G. Meneghesso, E. Zanoni, U. Zehnder, and B. Hahn, J. Appl. Phys. 106, 114508 (2009).
[CrossRef]

Zhang, H.

H. Zhang, E. J. Miller, E. T. Yu, C. Poblenz, and J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 84, 4644 (2004).
[CrossRef]

Zhang, M.

M. Zhang, P. Bhattacharya, J. Singh, and J. Hinckley, Appl. Phys. Lett. 95, 201108 (2009).
[CrossRef]

Zhao, Y.

C.-C. Pan, S. Tanaka, F. Wu, Y. Zhao, J. S. Speck, S. Nakamura, S. P. Den Baars, and D. Feezell, Appl. Phys. Express 5, 062103 (2012).
[CrossRef]

Y. Zhao, S. Tanaka, C.-C. Pan, K. Fujito, D. Feezell, J. S. Speck, S. P. Den Baars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Express 4, 082104 (2011).
[CrossRef]

Appl. Phys. Express

Y. Zhao, S. Tanaka, C.-C. Pan, K. Fujito, D. Feezell, J. S. Speck, S. P. Den Baars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Express 4, 082104 (2011).
[CrossRef]

C.-C. Pan, S. Tanaka, F. Wu, Y. Zhao, J. S. Speck, S. Nakamura, S. P. Den Baars, and D. Feezell, Appl. Phys. Express 5, 062103 (2012).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett.

B. Monemar and B. E. Sernelius, Appl. Phys. Lett. 91, 181103 (2007).
[CrossRef]

Y. C. Shen, G. O. Mueller, S. Watanabe, N. F. Gardner, A. Munkholm, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 141101 (2007).
[CrossRef]

J. Piprek and Z. M. Simon Li, Appl. Phys. Lett. 102, 023510 (2013).
[CrossRef]

J.-I. Shim, D.-P. Han, H. Kim, D.-S. Shin, G.-B. Lin, D. S. Meyaard, Q. Shan, J. Cho, E. F. Schubert, H. Shim, and C. Sone, Appl. Phys. Lett. 100, 111106 (2012).
[CrossRef]

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

J. Hader, J. V. Moloney, B. Pasenow, S. W. Koch, M. Sabathil, N. Linder, and S. Lutgen, Appl. Phys. Lett. 92, 261103 (2008).
[CrossRef]

M. Zhang, P. Bhattacharya, J. Singh, and J. Hinckley, Appl. Phys. Lett. 95, 201108 (2009).
[CrossRef]

A. David and M. J. Grundmann, Appl. Phys. Lett. 96, 103504 (2010).
[CrossRef]

M. Brendel, A. Kruse, H. Jönen, L. Hoffmann, H. Bremers, U. Rossow, and A. Hangleiter, Appl. Phys. Lett. 99, 031106 (2011).
[CrossRef]

E. Kioupakis, P. Rinke, K. T. Delaney, and C. G. Van de Walle, Appl. Phys. Lett. 98, 161107 (2011).
[CrossRef]

V. Fiorentini, F. Bernardini, and O. Ambacher, Appl. Phys. Lett. 80, 1204 (2002).
[CrossRef]

F. Renner, P. Kiesel, G. H. Döhler, M. Kneissl, C. G. Van de Walle, and N. M. Johnson, Appl. Phys. Lett. 81, 490 (2002).
[CrossRef]

H. Zhang, E. J. Miller, E. T. Yu, C. Poblenz, and J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 84, 4644 (2004).
[CrossRef]

A. David, M. J. Grundmann, J. F. Kaeding, N. F. Gardner, T. G. Mihopoulos, M. R. Krames, T. G. Mihopoulos, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 92, 053502 (2008).
[CrossRef]

N. F. Gardner, G. O. Mueller, Y. C. Shen, G. Chen, S. Watanabe, W. Goetz, and M. R. Krames, Appl. Phys. Lett. 91, 243506 (2007).
[CrossRef]

A. Dadgar, L. Groh, S. Metzner, S. Neugebauer, J. Bläsing, T. Hempel, F. Bertram, J. Christen, A. Krost, Z. Andreev, and B. Witzigmann, Appl. Phys. Lett. 102, 062110 (2013).
[CrossRef]

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

J. P. Liu, J.-H. Ryou, R. D. Dupuis, J. Han, G. D. Shen, and H. B. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 021102 (2008).
[CrossRef]

IEEE Photon. Technol. Lett.

Y.-K. Kuo, Y.-H. Shih, M.-C. Tsai, and J.-Y. Chang, IEEE Photon. Technol. Lett. 23, 1630 (2011).
[CrossRef]

J. Appl. Phys.

M. Meneghini, N. Trivellin, G. Meneghesso, E. Zanoni, U. Zehnder, and B. Hahn, J. Appl. Phys. 106, 114508 (2009).
[CrossRef]

Opt. Lett.

Phys. Status Solidi A

J. Piprek, Phys. Status Solidi A 207, 2217 (2010).
[CrossRef]

Semiconductors

I. V. Rozhansky and D. A. Zakheim, Semiconductors 40, 839 (2006).
[CrossRef]

Other

Crosslight Software Inc., APSYS, http://www.crosslight.com .

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (6)

Fig. 1.
Fig. 1.

(a), (b) Carrier concentrations and (c), (d) recombination rates of the original LED structure with two and six QWs at 100A/cm2. The gray areas represent the location of QWs, and the horizontal positions of the SRH and Auger recombination rates have been appropriately adjusted for better comparison.

Fig. 2.
Fig. 2.

Band profiles and subband wave functions (C1 and HH1) of the InGaN QWs with (a) 2.5 nm and (b) 5.0 nm widths, (c), (d) carrier concentrations and (e), (f) recombination rates of the 5.0 nm QW LED with two and six QWs at 100A/cm2. The horizontal positions of the SRH and Auger recombination rates have been appropriately adjusted for better comparison.

Fig. 3.
Fig. 3.

IQEs of the original LED structure with six QWs (QW width is 2.5 nm) and of the 5.0 nm QW LED with two and six QWs.

Fig. 4.
Fig. 4.

(a) Band profile of the LED with two 5.0 nm thick polarization-matched QWs at 100A/cm2. (b) Enlarged drawing of the first QW in (a), in which the subband wave functions (C1 and HH1) are included. Band profile and subband wave functions (c) C1 and HH1 and (d) C2 and HH2 of the LED with a single 10.0 nm thick polarization-matched well at 100A/cm2.

Fig. 5.
Fig. 5.

(a), (b) Carrier concentrations and (c), (d) recombination rates of the LEDs with two 5.0 nm thick and single 10.0 nm thick polarization-matched wells at 100A/cm2.

Fig. 6.
Fig. 6.

IQE characteristics of the original six-QW LED (QW width is 2.5 nm) and the LEDs with two 5.0 nm thick QWs and a single 10.0 nm thick polarization-matched well.

Tables (2)

Tables Icon

Table 1. Well and Barrier Materials in Various Structures under Study

Tables Icon

Table 2. Bandgap Energy (Eg), Built-in Electric Polarization (P), and Lattice Constant (a0) of Wells, Barriers and EBL of LEDs with Thicker and Polarization-Matched Wells

Equations (1)

Equations on this page are rendered with MathJax. Learn more.

IQE=B·n2A·n+B·n2+C·n3,

Metrics