Abstract

Ag/Ge/Ag (AGA) is investigated as a transparent cathode for top-emitting organic light-emitting devices (TEOLEDs). TEOLEDs of different colors with excellent performances can be gained by simply adopting a corresponding emitting layer, without changing the thickness of the device and cathode. Especially, the blue and white TEOLEDs exhibit high efficiency as well as the bottom OLEDs and show an excellently angle-stable characteristic. The white TEOLED exhibits a maximum current efficiency of 12.4cd/A, and the CIE coordinates at 6 V only shift by (0.048, 0.046) from 0° to 60°. It can be attributed to the less angle-dependent cavity emission of the TEOLED with AGA cathode.

© 2013 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. S. Hofmann, M. Thomschke, B. Lussem, and K. Leo, Opt. Express 19, A1250 (2011).
    [CrossRef]
  2. J. Yoo, S. Jung, Y. Kim, S. Byun, J. Kim, N. Choi, S. Yoon, C. Kim, Y. Hwang, and I. Chung, J. Dispersion Sci. 6, 565 (2010).
  3. S. K. Hong, J. H. Sim, I. G. Seo, K. C. Kim, S. I. Bae, H. Y. Lee, N. Y. Lee, and J. Jang, J. Display Technology 6, 601 (2010).
    [CrossRef]
  4. Y. Jin, J. Feng, X. L. Zhang, Y. G. Bi, Y. Bai, L. Chen, T. Lan, Y. F. Liu, Q. D. Chen, and H. B. Sun, Adv. Mater. 24, 1187 (2012).
    [CrossRef]
  5. Z. J. Wu, Y. Zhai, R. X. Guo, and J. X. Wang, J. Lumin. 131, 2042 (2011).
    [CrossRef]
  6. X. W. Zhang, B. D. Ding, J. Li, L. Zhang, X. Y. Jiang, W. Q. Zhu, and Z. L. Zhang, Solid State Commun. 150, 1132 (2010).
    [CrossRef]
  7. Q. Wang, Y. T. Tao, X. F. Qiao, J. S. Chen, D. G. Ma, C. L. Yang, and J. G. Qin, Adv. Funct. Mater. 21, 1681 (2011).
    [CrossRef]
  8. S. F. Chen, W. F. Xie, W. Huang, and S. Y. Liu, Opt. Express 16, 8868 (2008).
    [CrossRef]
  9. J. Xie, C. Y. Chen, S. F. Chen, Y. Yang, M. Shao, X. Guo, Q. L. Fan, and W. Huang, Org. Electron. 12, 322 (2011).
    [CrossRef]
  10. Y. Meng, W. Xie, G. Xie, L. Zhang, Y. Zhao, J. Hou, and S. Liu, Opt. Express 17, 5364 (2009).
    [CrossRef]
  11. P. Freitag, S. Reineke, S. Olthof, M. Furno, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 11, 1676 (2010).
    [CrossRef]
  12. G. H. Xie, Z. S. Zhang, Q. Xue, S. M. Zhang, L. Zhao, Y. Luo, P. Chen, B. F. Quan, Y. Zhao, and S. Y. Liu, Org. Electron. 11, 2055 (2010).
    [CrossRef]
  13. V. Gohri, S. Hofmann, S. Reineke, T. Rosenow, M. Thomschke, M. Levichkova, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 12, 2126 (2011).
    [CrossRef]
  14. M. Thomschke, R. Nitsche, M. Furno, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 94, 083303 (2009).
    [CrossRef]
  15. S. M. Chen and H. S. Kwok, Org. Electron. 12, 2065 (2011).
    [CrossRef]
  16. K. Aslan, S. N. Malyn, Y. X. Zhang, and C. D. Geddes, J. Appl. Phys. 103, 084307 (2008).
    [CrossRef]
  17. Sim4tec GmbH, www.sim4tec.com .

2012

Y. Jin, J. Feng, X. L. Zhang, Y. G. Bi, Y. Bai, L. Chen, T. Lan, Y. F. Liu, Q. D. Chen, and H. B. Sun, Adv. Mater. 24, 1187 (2012).
[CrossRef]

2011

Z. J. Wu, Y. Zhai, R. X. Guo, and J. X. Wang, J. Lumin. 131, 2042 (2011).
[CrossRef]

Q. Wang, Y. T. Tao, X. F. Qiao, J. S. Chen, D. G. Ma, C. L. Yang, and J. G. Qin, Adv. Funct. Mater. 21, 1681 (2011).
[CrossRef]

V. Gohri, S. Hofmann, S. Reineke, T. Rosenow, M. Thomschke, M. Levichkova, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 12, 2126 (2011).
[CrossRef]

S. M. Chen and H. S. Kwok, Org. Electron. 12, 2065 (2011).
[CrossRef]

J. Xie, C. Y. Chen, S. F. Chen, Y. Yang, M. Shao, X. Guo, Q. L. Fan, and W. Huang, Org. Electron. 12, 322 (2011).
[CrossRef]

S. Hofmann, M. Thomschke, B. Lussem, and K. Leo, Opt. Express 19, A1250 (2011).
[CrossRef]

2010

P. Freitag, S. Reineke, S. Olthof, M. Furno, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 11, 1676 (2010).
[CrossRef]

G. H. Xie, Z. S. Zhang, Q. Xue, S. M. Zhang, L. Zhao, Y. Luo, P. Chen, B. F. Quan, Y. Zhao, and S. Y. Liu, Org. Electron. 11, 2055 (2010).
[CrossRef]

X. W. Zhang, B. D. Ding, J. Li, L. Zhang, X. Y. Jiang, W. Q. Zhu, and Z. L. Zhang, Solid State Commun. 150, 1132 (2010).
[CrossRef]

J. Yoo, S. Jung, Y. Kim, S. Byun, J. Kim, N. Choi, S. Yoon, C. Kim, Y. Hwang, and I. Chung, J. Dispersion Sci. 6, 565 (2010).

S. K. Hong, J. H. Sim, I. G. Seo, K. C. Kim, S. I. Bae, H. Y. Lee, N. Y. Lee, and J. Jang, J. Display Technology 6, 601 (2010).
[CrossRef]

2009

M. Thomschke, R. Nitsche, M. Furno, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 94, 083303 (2009).
[CrossRef]

Y. Meng, W. Xie, G. Xie, L. Zhang, Y. Zhao, J. Hou, and S. Liu, Opt. Express 17, 5364 (2009).
[CrossRef]

2008

S. F. Chen, W. F. Xie, W. Huang, and S. Y. Liu, Opt. Express 16, 8868 (2008).
[CrossRef]

K. Aslan, S. N. Malyn, Y. X. Zhang, and C. D. Geddes, J. Appl. Phys. 103, 084307 (2008).
[CrossRef]

Aslan, K.

K. Aslan, S. N. Malyn, Y. X. Zhang, and C. D. Geddes, J. Appl. Phys. 103, 084307 (2008).
[CrossRef]

Bae, S. I.

S. K. Hong, J. H. Sim, I. G. Seo, K. C. Kim, S. I. Bae, H. Y. Lee, N. Y. Lee, and J. Jang, J. Display Technology 6, 601 (2010).
[CrossRef]

Bai, Y.

Y. Jin, J. Feng, X. L. Zhang, Y. G. Bi, Y. Bai, L. Chen, T. Lan, Y. F. Liu, Q. D. Chen, and H. B. Sun, Adv. Mater. 24, 1187 (2012).
[CrossRef]

Bi, Y. G.

Y. Jin, J. Feng, X. L. Zhang, Y. G. Bi, Y. Bai, L. Chen, T. Lan, Y. F. Liu, Q. D. Chen, and H. B. Sun, Adv. Mater. 24, 1187 (2012).
[CrossRef]

Byun, S.

J. Yoo, S. Jung, Y. Kim, S. Byun, J. Kim, N. Choi, S. Yoon, C. Kim, Y. Hwang, and I. Chung, J. Dispersion Sci. 6, 565 (2010).

Chen, C. Y.

J. Xie, C. Y. Chen, S. F. Chen, Y. Yang, M. Shao, X. Guo, Q. L. Fan, and W. Huang, Org. Electron. 12, 322 (2011).
[CrossRef]

Chen, J. S.

Q. Wang, Y. T. Tao, X. F. Qiao, J. S. Chen, D. G. Ma, C. L. Yang, and J. G. Qin, Adv. Funct. Mater. 21, 1681 (2011).
[CrossRef]

Chen, L.

Y. Jin, J. Feng, X. L. Zhang, Y. G. Bi, Y. Bai, L. Chen, T. Lan, Y. F. Liu, Q. D. Chen, and H. B. Sun, Adv. Mater. 24, 1187 (2012).
[CrossRef]

Chen, P.

G. H. Xie, Z. S. Zhang, Q. Xue, S. M. Zhang, L. Zhao, Y. Luo, P. Chen, B. F. Quan, Y. Zhao, and S. Y. Liu, Org. Electron. 11, 2055 (2010).
[CrossRef]

Chen, Q. D.

Y. Jin, J. Feng, X. L. Zhang, Y. G. Bi, Y. Bai, L. Chen, T. Lan, Y. F. Liu, Q. D. Chen, and H. B. Sun, Adv. Mater. 24, 1187 (2012).
[CrossRef]

Chen, S. F.

J. Xie, C. Y. Chen, S. F. Chen, Y. Yang, M. Shao, X. Guo, Q. L. Fan, and W. Huang, Org. Electron. 12, 322 (2011).
[CrossRef]

S. F. Chen, W. F. Xie, W. Huang, and S. Y. Liu, Opt. Express 16, 8868 (2008).
[CrossRef]

Chen, S. M.

S. M. Chen and H. S. Kwok, Org. Electron. 12, 2065 (2011).
[CrossRef]

Choi, N.

J. Yoo, S. Jung, Y. Kim, S. Byun, J. Kim, N. Choi, S. Yoon, C. Kim, Y. Hwang, and I. Chung, J. Dispersion Sci. 6, 565 (2010).

Chung, I.

J. Yoo, S. Jung, Y. Kim, S. Byun, J. Kim, N. Choi, S. Yoon, C. Kim, Y. Hwang, and I. Chung, J. Dispersion Sci. 6, 565 (2010).

Ding, B. D.

X. W. Zhang, B. D. Ding, J. Li, L. Zhang, X. Y. Jiang, W. Q. Zhu, and Z. L. Zhang, Solid State Commun. 150, 1132 (2010).
[CrossRef]

Fan, Q. L.

J. Xie, C. Y. Chen, S. F. Chen, Y. Yang, M. Shao, X. Guo, Q. L. Fan, and W. Huang, Org. Electron. 12, 322 (2011).
[CrossRef]

Feng, J.

Y. Jin, J. Feng, X. L. Zhang, Y. G. Bi, Y. Bai, L. Chen, T. Lan, Y. F. Liu, Q. D. Chen, and H. B. Sun, Adv. Mater. 24, 1187 (2012).
[CrossRef]

Freitag, P.

P. Freitag, S. Reineke, S. Olthof, M. Furno, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 11, 1676 (2010).
[CrossRef]

Furno, M.

P. Freitag, S. Reineke, S. Olthof, M. Furno, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 11, 1676 (2010).
[CrossRef]

M. Thomschke, R. Nitsche, M. Furno, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 94, 083303 (2009).
[CrossRef]

Geddes, C. D.

K. Aslan, S. N. Malyn, Y. X. Zhang, and C. D. Geddes, J. Appl. Phys. 103, 084307 (2008).
[CrossRef]

Gohri, V.

V. Gohri, S. Hofmann, S. Reineke, T. Rosenow, M. Thomschke, M. Levichkova, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 12, 2126 (2011).
[CrossRef]

Guo, R. X.

Z. J. Wu, Y. Zhai, R. X. Guo, and J. X. Wang, J. Lumin. 131, 2042 (2011).
[CrossRef]

Guo, X.

J. Xie, C. Y. Chen, S. F. Chen, Y. Yang, M. Shao, X. Guo, Q. L. Fan, and W. Huang, Org. Electron. 12, 322 (2011).
[CrossRef]

Hofmann, S.

S. Hofmann, M. Thomschke, B. Lussem, and K. Leo, Opt. Express 19, A1250 (2011).
[CrossRef]

V. Gohri, S. Hofmann, S. Reineke, T. Rosenow, M. Thomschke, M. Levichkova, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 12, 2126 (2011).
[CrossRef]

Hong, S. K.

S. K. Hong, J. H. Sim, I. G. Seo, K. C. Kim, S. I. Bae, H. Y. Lee, N. Y. Lee, and J. Jang, J. Display Technology 6, 601 (2010).
[CrossRef]

Hou, J.

Huang, W.

J. Xie, C. Y. Chen, S. F. Chen, Y. Yang, M. Shao, X. Guo, Q. L. Fan, and W. Huang, Org. Electron. 12, 322 (2011).
[CrossRef]

S. F. Chen, W. F. Xie, W. Huang, and S. Y. Liu, Opt. Express 16, 8868 (2008).
[CrossRef]

Hwang, Y.

J. Yoo, S. Jung, Y. Kim, S. Byun, J. Kim, N. Choi, S. Yoon, C. Kim, Y. Hwang, and I. Chung, J. Dispersion Sci. 6, 565 (2010).

Jang, J.

S. K. Hong, J. H. Sim, I. G. Seo, K. C. Kim, S. I. Bae, H. Y. Lee, N. Y. Lee, and J. Jang, J. Display Technology 6, 601 (2010).
[CrossRef]

Jiang, X. Y.

X. W. Zhang, B. D. Ding, J. Li, L. Zhang, X. Y. Jiang, W. Q. Zhu, and Z. L. Zhang, Solid State Commun. 150, 1132 (2010).
[CrossRef]

Jin, Y.

Y. Jin, J. Feng, X. L. Zhang, Y. G. Bi, Y. Bai, L. Chen, T. Lan, Y. F. Liu, Q. D. Chen, and H. B. Sun, Adv. Mater. 24, 1187 (2012).
[CrossRef]

Jung, S.

J. Yoo, S. Jung, Y. Kim, S. Byun, J. Kim, N. Choi, S. Yoon, C. Kim, Y. Hwang, and I. Chung, J. Dispersion Sci. 6, 565 (2010).

Kim, C.

J. Yoo, S. Jung, Y. Kim, S. Byun, J. Kim, N. Choi, S. Yoon, C. Kim, Y. Hwang, and I. Chung, J. Dispersion Sci. 6, 565 (2010).

Kim, J.

J. Yoo, S. Jung, Y. Kim, S. Byun, J. Kim, N. Choi, S. Yoon, C. Kim, Y. Hwang, and I. Chung, J. Dispersion Sci. 6, 565 (2010).

Kim, K. C.

S. K. Hong, J. H. Sim, I. G. Seo, K. C. Kim, S. I. Bae, H. Y. Lee, N. Y. Lee, and J. Jang, J. Display Technology 6, 601 (2010).
[CrossRef]

Kim, Y.

J. Yoo, S. Jung, Y. Kim, S. Byun, J. Kim, N. Choi, S. Yoon, C. Kim, Y. Hwang, and I. Chung, J. Dispersion Sci. 6, 565 (2010).

Kwok, H. S.

S. M. Chen and H. S. Kwok, Org. Electron. 12, 2065 (2011).
[CrossRef]

Lan, T.

Y. Jin, J. Feng, X. L. Zhang, Y. G. Bi, Y. Bai, L. Chen, T. Lan, Y. F. Liu, Q. D. Chen, and H. B. Sun, Adv. Mater. 24, 1187 (2012).
[CrossRef]

Lee, H. Y.

S. K. Hong, J. H. Sim, I. G. Seo, K. C. Kim, S. I. Bae, H. Y. Lee, N. Y. Lee, and J. Jang, J. Display Technology 6, 601 (2010).
[CrossRef]

Lee, N. Y.

S. K. Hong, J. H. Sim, I. G. Seo, K. C. Kim, S. I. Bae, H. Y. Lee, N. Y. Lee, and J. Jang, J. Display Technology 6, 601 (2010).
[CrossRef]

Leo, K.

S. Hofmann, M. Thomschke, B. Lussem, and K. Leo, Opt. Express 19, A1250 (2011).
[CrossRef]

V. Gohri, S. Hofmann, S. Reineke, T. Rosenow, M. Thomschke, M. Levichkova, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 12, 2126 (2011).
[CrossRef]

P. Freitag, S. Reineke, S. Olthof, M. Furno, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 11, 1676 (2010).
[CrossRef]

M. Thomschke, R. Nitsche, M. Furno, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 94, 083303 (2009).
[CrossRef]

Levichkova, M.

V. Gohri, S. Hofmann, S. Reineke, T. Rosenow, M. Thomschke, M. Levichkova, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 12, 2126 (2011).
[CrossRef]

Li, J.

X. W. Zhang, B. D. Ding, J. Li, L. Zhang, X. Y. Jiang, W. Q. Zhu, and Z. L. Zhang, Solid State Commun. 150, 1132 (2010).
[CrossRef]

Liu, S.

Liu, S. Y.

G. H. Xie, Z. S. Zhang, Q. Xue, S. M. Zhang, L. Zhao, Y. Luo, P. Chen, B. F. Quan, Y. Zhao, and S. Y. Liu, Org. Electron. 11, 2055 (2010).
[CrossRef]

S. F. Chen, W. F. Xie, W. Huang, and S. Y. Liu, Opt. Express 16, 8868 (2008).
[CrossRef]

Liu, Y. F.

Y. Jin, J. Feng, X. L. Zhang, Y. G. Bi, Y. Bai, L. Chen, T. Lan, Y. F. Liu, Q. D. Chen, and H. B. Sun, Adv. Mater. 24, 1187 (2012).
[CrossRef]

Luo, Y.

G. H. Xie, Z. S. Zhang, Q. Xue, S. M. Zhang, L. Zhao, Y. Luo, P. Chen, B. F. Quan, Y. Zhao, and S. Y. Liu, Org. Electron. 11, 2055 (2010).
[CrossRef]

Lussem, B.

Lüssem, B.

V. Gohri, S. Hofmann, S. Reineke, T. Rosenow, M. Thomschke, M. Levichkova, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 12, 2126 (2011).
[CrossRef]

P. Freitag, S. Reineke, S. Olthof, M. Furno, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 11, 1676 (2010).
[CrossRef]

Ma, D. G.

Q. Wang, Y. T. Tao, X. F. Qiao, J. S. Chen, D. G. Ma, C. L. Yang, and J. G. Qin, Adv. Funct. Mater. 21, 1681 (2011).
[CrossRef]

Malyn, S. N.

K. Aslan, S. N. Malyn, Y. X. Zhang, and C. D. Geddes, J. Appl. Phys. 103, 084307 (2008).
[CrossRef]

Meng, Y.

Nitsche, R.

M. Thomschke, R. Nitsche, M. Furno, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 94, 083303 (2009).
[CrossRef]

Olthof, S.

P. Freitag, S. Reineke, S. Olthof, M. Furno, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 11, 1676 (2010).
[CrossRef]

Qiao, X. F.

Q. Wang, Y. T. Tao, X. F. Qiao, J. S. Chen, D. G. Ma, C. L. Yang, and J. G. Qin, Adv. Funct. Mater. 21, 1681 (2011).
[CrossRef]

Qin, J. G.

Q. Wang, Y. T. Tao, X. F. Qiao, J. S. Chen, D. G. Ma, C. L. Yang, and J. G. Qin, Adv. Funct. Mater. 21, 1681 (2011).
[CrossRef]

Quan, B. F.

G. H. Xie, Z. S. Zhang, Q. Xue, S. M. Zhang, L. Zhao, Y. Luo, P. Chen, B. F. Quan, Y. Zhao, and S. Y. Liu, Org. Electron. 11, 2055 (2010).
[CrossRef]

Reineke, S.

V. Gohri, S. Hofmann, S. Reineke, T. Rosenow, M. Thomschke, M. Levichkova, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 12, 2126 (2011).
[CrossRef]

P. Freitag, S. Reineke, S. Olthof, M. Furno, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 11, 1676 (2010).
[CrossRef]

Rosenow, T.

V. Gohri, S. Hofmann, S. Reineke, T. Rosenow, M. Thomschke, M. Levichkova, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 12, 2126 (2011).
[CrossRef]

Seo, I. G.

S. K. Hong, J. H. Sim, I. G. Seo, K. C. Kim, S. I. Bae, H. Y. Lee, N. Y. Lee, and J. Jang, J. Display Technology 6, 601 (2010).
[CrossRef]

Shao, M.

J. Xie, C. Y. Chen, S. F. Chen, Y. Yang, M. Shao, X. Guo, Q. L. Fan, and W. Huang, Org. Electron. 12, 322 (2011).
[CrossRef]

Sim, J. H.

S. K. Hong, J. H. Sim, I. G. Seo, K. C. Kim, S. I. Bae, H. Y. Lee, N. Y. Lee, and J. Jang, J. Display Technology 6, 601 (2010).
[CrossRef]

Sun, H. B.

Y. Jin, J. Feng, X. L. Zhang, Y. G. Bi, Y. Bai, L. Chen, T. Lan, Y. F. Liu, Q. D. Chen, and H. B. Sun, Adv. Mater. 24, 1187 (2012).
[CrossRef]

Tao, Y. T.

Q. Wang, Y. T. Tao, X. F. Qiao, J. S. Chen, D. G. Ma, C. L. Yang, and J. G. Qin, Adv. Funct. Mater. 21, 1681 (2011).
[CrossRef]

Thomschke, M.

S. Hofmann, M. Thomschke, B. Lussem, and K. Leo, Opt. Express 19, A1250 (2011).
[CrossRef]

V. Gohri, S. Hofmann, S. Reineke, T. Rosenow, M. Thomschke, M. Levichkova, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 12, 2126 (2011).
[CrossRef]

M. Thomschke, R. Nitsche, M. Furno, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 94, 083303 (2009).
[CrossRef]

Wang, J. X.

Z. J. Wu, Y. Zhai, R. X. Guo, and J. X. Wang, J. Lumin. 131, 2042 (2011).
[CrossRef]

Wang, Q.

Q. Wang, Y. T. Tao, X. F. Qiao, J. S. Chen, D. G. Ma, C. L. Yang, and J. G. Qin, Adv. Funct. Mater. 21, 1681 (2011).
[CrossRef]

Wu, Z. J.

Z. J. Wu, Y. Zhai, R. X. Guo, and J. X. Wang, J. Lumin. 131, 2042 (2011).
[CrossRef]

Xie, G.

Xie, G. H.

G. H. Xie, Z. S. Zhang, Q. Xue, S. M. Zhang, L. Zhao, Y. Luo, P. Chen, B. F. Quan, Y. Zhao, and S. Y. Liu, Org. Electron. 11, 2055 (2010).
[CrossRef]

Xie, J.

J. Xie, C. Y. Chen, S. F. Chen, Y. Yang, M. Shao, X. Guo, Q. L. Fan, and W. Huang, Org. Electron. 12, 322 (2011).
[CrossRef]

Xie, W.

Xie, W. F.

Xue, Q.

G. H. Xie, Z. S. Zhang, Q. Xue, S. M. Zhang, L. Zhao, Y. Luo, P. Chen, B. F. Quan, Y. Zhao, and S. Y. Liu, Org. Electron. 11, 2055 (2010).
[CrossRef]

Yang, C. L.

Q. Wang, Y. T. Tao, X. F. Qiao, J. S. Chen, D. G. Ma, C. L. Yang, and J. G. Qin, Adv. Funct. Mater. 21, 1681 (2011).
[CrossRef]

Yang, Y.

J. Xie, C. Y. Chen, S. F. Chen, Y. Yang, M. Shao, X. Guo, Q. L. Fan, and W. Huang, Org. Electron. 12, 322 (2011).
[CrossRef]

Yoo, J.

J. Yoo, S. Jung, Y. Kim, S. Byun, J. Kim, N. Choi, S. Yoon, C. Kim, Y. Hwang, and I. Chung, J. Dispersion Sci. 6, 565 (2010).

Yoon, S.

J. Yoo, S. Jung, Y. Kim, S. Byun, J. Kim, N. Choi, S. Yoon, C. Kim, Y. Hwang, and I. Chung, J. Dispersion Sci. 6, 565 (2010).

Zhai, Y.

Z. J. Wu, Y. Zhai, R. X. Guo, and J. X. Wang, J. Lumin. 131, 2042 (2011).
[CrossRef]

Zhang, L.

X. W. Zhang, B. D. Ding, J. Li, L. Zhang, X. Y. Jiang, W. Q. Zhu, and Z. L. Zhang, Solid State Commun. 150, 1132 (2010).
[CrossRef]

Y. Meng, W. Xie, G. Xie, L. Zhang, Y. Zhao, J. Hou, and S. Liu, Opt. Express 17, 5364 (2009).
[CrossRef]

Zhang, S. M.

G. H. Xie, Z. S. Zhang, Q. Xue, S. M. Zhang, L. Zhao, Y. Luo, P. Chen, B. F. Quan, Y. Zhao, and S. Y. Liu, Org. Electron. 11, 2055 (2010).
[CrossRef]

Zhang, X. L.

Y. Jin, J. Feng, X. L. Zhang, Y. G. Bi, Y. Bai, L. Chen, T. Lan, Y. F. Liu, Q. D. Chen, and H. B. Sun, Adv. Mater. 24, 1187 (2012).
[CrossRef]

Zhang, X. W.

X. W. Zhang, B. D. Ding, J. Li, L. Zhang, X. Y. Jiang, W. Q. Zhu, and Z. L. Zhang, Solid State Commun. 150, 1132 (2010).
[CrossRef]

Zhang, Y. X.

K. Aslan, S. N. Malyn, Y. X. Zhang, and C. D. Geddes, J. Appl. Phys. 103, 084307 (2008).
[CrossRef]

Zhang, Z. L.

X. W. Zhang, B. D. Ding, J. Li, L. Zhang, X. Y. Jiang, W. Q. Zhu, and Z. L. Zhang, Solid State Commun. 150, 1132 (2010).
[CrossRef]

Zhang, Z. S.

G. H. Xie, Z. S. Zhang, Q. Xue, S. M. Zhang, L. Zhao, Y. Luo, P. Chen, B. F. Quan, Y. Zhao, and S. Y. Liu, Org. Electron. 11, 2055 (2010).
[CrossRef]

Zhao, L.

G. H. Xie, Z. S. Zhang, Q. Xue, S. M. Zhang, L. Zhao, Y. Luo, P. Chen, B. F. Quan, Y. Zhao, and S. Y. Liu, Org. Electron. 11, 2055 (2010).
[CrossRef]

Zhao, Y.

G. H. Xie, Z. S. Zhang, Q. Xue, S. M. Zhang, L. Zhao, Y. Luo, P. Chen, B. F. Quan, Y. Zhao, and S. Y. Liu, Org. Electron. 11, 2055 (2010).
[CrossRef]

Y. Meng, W. Xie, G. Xie, L. Zhang, Y. Zhao, J. Hou, and S. Liu, Opt. Express 17, 5364 (2009).
[CrossRef]

Zhu, W. Q.

X. W. Zhang, B. D. Ding, J. Li, L. Zhang, X. Y. Jiang, W. Q. Zhu, and Z. L. Zhang, Solid State Commun. 150, 1132 (2010).
[CrossRef]

Adv. Funct. Mater.

Q. Wang, Y. T. Tao, X. F. Qiao, J. S. Chen, D. G. Ma, C. L. Yang, and J. G. Qin, Adv. Funct. Mater. 21, 1681 (2011).
[CrossRef]

Adv. Mater.

Y. Jin, J. Feng, X. L. Zhang, Y. G. Bi, Y. Bai, L. Chen, T. Lan, Y. F. Liu, Q. D. Chen, and H. B. Sun, Adv. Mater. 24, 1187 (2012).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett.

M. Thomschke, R. Nitsche, M. Furno, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 94, 083303 (2009).
[CrossRef]

J. Appl. Phys.

K. Aslan, S. N. Malyn, Y. X. Zhang, and C. D. Geddes, J. Appl. Phys. 103, 084307 (2008).
[CrossRef]

J. Dispersion Sci.

J. Yoo, S. Jung, Y. Kim, S. Byun, J. Kim, N. Choi, S. Yoon, C. Kim, Y. Hwang, and I. Chung, J. Dispersion Sci. 6, 565 (2010).

J. Display Technology

S. K. Hong, J. H. Sim, I. G. Seo, K. C. Kim, S. I. Bae, H. Y. Lee, N. Y. Lee, and J. Jang, J. Display Technology 6, 601 (2010).
[CrossRef]

J. Lumin.

Z. J. Wu, Y. Zhai, R. X. Guo, and J. X. Wang, J. Lumin. 131, 2042 (2011).
[CrossRef]

Opt. Express

Org. Electron.

J. Xie, C. Y. Chen, S. F. Chen, Y. Yang, M. Shao, X. Guo, Q. L. Fan, and W. Huang, Org. Electron. 12, 322 (2011).
[CrossRef]

S. M. Chen and H. S. Kwok, Org. Electron. 12, 2065 (2011).
[CrossRef]

P. Freitag, S. Reineke, S. Olthof, M. Furno, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 11, 1676 (2010).
[CrossRef]

G. H. Xie, Z. S. Zhang, Q. Xue, S. M. Zhang, L. Zhao, Y. Luo, P. Chen, B. F. Quan, Y. Zhao, and S. Y. Liu, Org. Electron. 11, 2055 (2010).
[CrossRef]

V. Gohri, S. Hofmann, S. Reineke, T. Rosenow, M. Thomschke, M. Levichkova, B. Lüssem, and K. Leo, Org. Electron. 12, 2126 (2011).
[CrossRef]

Solid State Commun.

X. W. Zhang, B. D. Ding, J. Li, L. Zhang, X. Y. Jiang, W. Q. Zhu, and Z. L. Zhang, Solid State Commun. 150, 1132 (2010).
[CrossRef]

Other

Sim4tec GmbH, www.sim4tec.com .

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (5)

Fig. 1.
Fig. 1.

EL spectra of blue devices at 1000cd/m2. The insets are the CIE coordinates of TOLED-B and TOLED-B (Ag) with different viewing angles, and the photograph of device TEOLED-B at current density of 2mA/cm2.

Fig. 2.
Fig. 2.

Cavity emission of the TEOLEDs. Inset is the transmission (T) and reflection (R) of the AGA and Ag cathode.

Fig. 3.
Fig. 3.

EL spectra of white devices at different voltages. The inset is an energy level diagram of the devices.

Fig. 4.
Fig. 4.

EL spectra of TEOLED-W with viewing angles. The inset is the photograph of TEOLED-W at the current density of 2mA/cm2.

Fig. 5.
Fig. 5.

Current density-luminance-current efficiency characteristics of blue and white devices.

Tables (1)

Tables Icon

Table 1. EL Characteristics of RGB WOLEDs

Metrics