Abstract

The advantages of blue InGaN light-emitting diodes with low bandgap energy and polarization-matched AlGaInN barriers are demonstrated numerically. Simulation results show that, besides the common benefit of enhanced electron–hole spatial overlap in the quantum well from the polarization-matched condition, the lower bandgap energy barriers can have additional advantages of more uniform carrier distribution among quantum wells while maintaining sufficient electron confinement. The internal quantum efficiencies of all the polarization-matched structures under study exhibit less severe efficiency droop, which is presumably attributed to the suppression of Auger recombination.

© 2012 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. V. Fiorentini, F. Bernardini, and O. Ambacher, Appl. Phys. Lett. 80, 1204 (2002).
    [CrossRef]
  2. M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
    [CrossRef]
  3. D. A. B. Miller, D. S. Chemla, and T. C. Damen, Phys. Rev. Lett. 53, 2173 (1984).
    [CrossRef]
  4. Y. K. Kuo, J. Y. Chang, M. C. Tsai, and S. H. Yen, Opt. Lett. 35, 3285 (2010).
    [CrossRef]
  5. M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
    [CrossRef]
  6. H. Zhao and N. Tansu, J. Appl. Phys. 107, 113110 (2010).
    [CrossRef]
  7. H. Zhao, G. Liu, J. Zhang, J. D. Poplawsky, V. Dierolf, and N. Tansu, Opt. Express 19, A991 (2011).
    [CrossRef]
  8. J. Xu, M. F. Schubert, A. N. Noemaun, D. Zhu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, H. J. Chung, S. Yoon, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 94, 011113 (2009).
    [CrossRef]
  9. Y. K. Kuo, J. Y. Chang, M. C. Tsai, and S. H. Yen, Appl. Phys. Lett. 95, 011116 (2009).
    [CrossRef]
  10. C. H. Wang, C. C. Ke, C. Y. Lee, S. P. Chang, W. T. Chang, J. C. Li, Z. Y. Li, H. C. Yang, H. C. Kuo, T. C. Lu, and S. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 97, 261103 (2010).
    [CrossRef]
  11. H. Zhao, G. Liu, R. A. Arif, and N. Tansu, Solid-State Electron. 54, 1119 (2010).
    [CrossRef]
  12. S. Choi, H. J. Kim, S. S. Kim, J. Liu, J. Kim, J. H. Ryou, R. D. Dupuis, A. M. Fischer, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Lett. 96, 221105 (2010).
    [CrossRef]
  13. APSYS by Crosslight Software Inc., Burnaby, Canada, http://www.crosslight.com .
  14. Y.-K. Kuo, Y. H. Shih, M. C. Tsai, and J. Y. Chang, IEEE Photon. Technol. Lett. 23, 1630 (2011).
    [CrossRef]
  15. J. Piprek, R. Farrell, S. DenBaars, and S. Nakamura, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 7 (2006).
    [CrossRef]

2011 (2)

Y.-K. Kuo, Y. H. Shih, M. C. Tsai, and J. Y. Chang, IEEE Photon. Technol. Lett. 23, 1630 (2011).
[CrossRef]

H. Zhao, G. Liu, J. Zhang, J. D. Poplawsky, V. Dierolf, and N. Tansu, Opt. Express 19, A991 (2011).
[CrossRef]

2010 (5)

H. Zhao and N. Tansu, J. Appl. Phys. 107, 113110 (2010).
[CrossRef]

Y. K. Kuo, J. Y. Chang, M. C. Tsai, and S. H. Yen, Opt. Lett. 35, 3285 (2010).
[CrossRef]

C. H. Wang, C. C. Ke, C. Y. Lee, S. P. Chang, W. T. Chang, J. C. Li, Z. Y. Li, H. C. Yang, H. C. Kuo, T. C. Lu, and S. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 97, 261103 (2010).
[CrossRef]

H. Zhao, G. Liu, R. A. Arif, and N. Tansu, Solid-State Electron. 54, 1119 (2010).
[CrossRef]

S. Choi, H. J. Kim, S. S. Kim, J. Liu, J. Kim, J. H. Ryou, R. D. Dupuis, A. M. Fischer, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Lett. 96, 221105 (2010).
[CrossRef]

2009 (2)

J. Xu, M. F. Schubert, A. N. Noemaun, D. Zhu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, H. J. Chung, S. Yoon, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 94, 011113 (2009).
[CrossRef]

Y. K. Kuo, J. Y. Chang, M. C. Tsai, and S. H. Yen, Appl. Phys. Lett. 95, 011116 (2009).
[CrossRef]

2008 (1)

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

2007 (1)

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

2006 (1)

J. Piprek, R. Farrell, S. DenBaars, and S. Nakamura, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 7 (2006).
[CrossRef]

2002 (1)

V. Fiorentini, F. Bernardini, and O. Ambacher, Appl. Phys. Lett. 80, 1204 (2002).
[CrossRef]

1984 (1)

D. A. B. Miller, D. S. Chemla, and T. C. Damen, Phys. Rev. Lett. 53, 2173 (1984).
[CrossRef]

Ambacher, O.

V. Fiorentini, F. Bernardini, and O. Ambacher, Appl. Phys. Lett. 80, 1204 (2002).
[CrossRef]

Arif, R. A.

H. Zhao, G. Liu, R. A. Arif, and N. Tansu, Solid-State Electron. 54, 1119 (2010).
[CrossRef]

Bernardini, F.

V. Fiorentini, F. Bernardini, and O. Ambacher, Appl. Phys. Lett. 80, 1204 (2002).
[CrossRef]

Chang, J. Y.

Y.-K. Kuo, Y. H. Shih, M. C. Tsai, and J. Y. Chang, IEEE Photon. Technol. Lett. 23, 1630 (2011).
[CrossRef]

Y. K. Kuo, J. Y. Chang, M. C. Tsai, and S. H. Yen, Opt. Lett. 35, 3285 (2010).
[CrossRef]

Y. K. Kuo, J. Y. Chang, M. C. Tsai, and S. H. Yen, Appl. Phys. Lett. 95, 011116 (2009).
[CrossRef]

Chang, S. P.

C. H. Wang, C. C. Ke, C. Y. Lee, S. P. Chang, W. T. Chang, J. C. Li, Z. Y. Li, H. C. Yang, H. C. Kuo, T. C. Lu, and S. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 97, 261103 (2010).
[CrossRef]

Chang, W. T.

C. H. Wang, C. C. Ke, C. Y. Lee, S. P. Chang, W. T. Chang, J. C. Li, Z. Y. Li, H. C. Yang, H. C. Kuo, T. C. Lu, and S. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 97, 261103 (2010).
[CrossRef]

Chemla, D. S.

D. A. B. Miller, D. S. Chemla, and T. C. Damen, Phys. Rev. Lett. 53, 2173 (1984).
[CrossRef]

Choi, S.

S. Choi, H. J. Kim, S. S. Kim, J. Liu, J. Kim, J. H. Ryou, R. D. Dupuis, A. M. Fischer, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Lett. 96, 221105 (2010).
[CrossRef]

Chung, H. J.

J. Xu, M. F. Schubert, A. N. Noemaun, D. Zhu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, H. J. Chung, S. Yoon, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 94, 011113 (2009).
[CrossRef]

Dai, Q.

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

Damen, T. C.

D. A. B. Miller, D. S. Chemla, and T. C. Damen, Phys. Rev. Lett. 53, 2173 (1984).
[CrossRef]

DenBaars, S.

J. Piprek, R. Farrell, S. DenBaars, and S. Nakamura, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 7 (2006).
[CrossRef]

Dierolf, V.

Dupuis, R. D.

S. Choi, H. J. Kim, S. S. Kim, J. Liu, J. Kim, J. H. Ryou, R. D. Dupuis, A. M. Fischer, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Lett. 96, 221105 (2010).
[CrossRef]

Farrell, R.

J. Piprek, R. Farrell, S. DenBaars, and S. Nakamura, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 7 (2006).
[CrossRef]

Fiorentini, V.

V. Fiorentini, F. Bernardini, and O. Ambacher, Appl. Phys. Lett. 80, 1204 (2002).
[CrossRef]

Fischer, A. M.

S. Choi, H. J. Kim, S. S. Kim, J. Liu, J. Kim, J. H. Ryou, R. D. Dupuis, A. M. Fischer, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Lett. 96, 221105 (2010).
[CrossRef]

Ke, C. C.

C. H. Wang, C. C. Ke, C. Y. Lee, S. P. Chang, W. T. Chang, J. C. Li, Z. Y. Li, H. C. Yang, H. C. Kuo, T. C. Lu, and S. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 97, 261103 (2010).
[CrossRef]

Kim, H. J.

S. Choi, H. J. Kim, S. S. Kim, J. Liu, J. Kim, J. H. Ryou, R. D. Dupuis, A. M. Fischer, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Lett. 96, 221105 (2010).
[CrossRef]

Kim, J.

S. Choi, H. J. Kim, S. S. Kim, J. Liu, J. Kim, J. H. Ryou, R. D. Dupuis, A. M. Fischer, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Lett. 96, 221105 (2010).
[CrossRef]

Kim, J. K.

J. Xu, M. F. Schubert, A. N. Noemaun, D. Zhu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, H. J. Chung, S. Yoon, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 94, 011113 (2009).
[CrossRef]

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

Kim, M. H.

J. Xu, M. F. Schubert, A. N. Noemaun, D. Zhu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, H. J. Chung, S. Yoon, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 94, 011113 (2009).
[CrossRef]

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

Kim, S. S.

S. Choi, H. J. Kim, S. S. Kim, J. Liu, J. Kim, J. H. Ryou, R. D. Dupuis, A. M. Fischer, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Lett. 96, 221105 (2010).
[CrossRef]

Kuo, H. C.

C. H. Wang, C. C. Ke, C. Y. Lee, S. P. Chang, W. T. Chang, J. C. Li, Z. Y. Li, H. C. Yang, H. C. Kuo, T. C. Lu, and S. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 97, 261103 (2010).
[CrossRef]

Kuo, Y. K.

Y. K. Kuo, J. Y. Chang, M. C. Tsai, and S. H. Yen, Opt. Lett. 35, 3285 (2010).
[CrossRef]

Y. K. Kuo, J. Y. Chang, M. C. Tsai, and S. H. Yen, Appl. Phys. Lett. 95, 011116 (2009).
[CrossRef]

Kuo, Y.-K.

Y.-K. Kuo, Y. H. Shih, M. C. Tsai, and J. Y. Chang, IEEE Photon. Technol. Lett. 23, 1630 (2011).
[CrossRef]

Lee, C. Y.

C. H. Wang, C. C. Ke, C. Y. Lee, S. P. Chang, W. T. Chang, J. C. Li, Z. Y. Li, H. C. Yang, H. C. Kuo, T. C. Lu, and S. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 97, 261103 (2010).
[CrossRef]

Lee, S. M.

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

Li, J. C.

C. H. Wang, C. C. Ke, C. Y. Lee, S. P. Chang, W. T. Chang, J. C. Li, Z. Y. Li, H. C. Yang, H. C. Kuo, T. C. Lu, and S. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 97, 261103 (2010).
[CrossRef]

Li, Z. Y.

C. H. Wang, C. C. Ke, C. Y. Lee, S. P. Chang, W. T. Chang, J. C. Li, Z. Y. Li, H. C. Yang, H. C. Kuo, T. C. Lu, and S. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 97, 261103 (2010).
[CrossRef]

Liu, G.

H. Zhao, G. Liu, J. Zhang, J. D. Poplawsky, V. Dierolf, and N. Tansu, Opt. Express 19, A991 (2011).
[CrossRef]

H. Zhao, G. Liu, R. A. Arif, and N. Tansu, Solid-State Electron. 54, 1119 (2010).
[CrossRef]

Liu, J.

S. Choi, H. J. Kim, S. S. Kim, J. Liu, J. Kim, J. H. Ryou, R. D. Dupuis, A. M. Fischer, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Lett. 96, 221105 (2010).
[CrossRef]

Lu, T. C.

C. H. Wang, C. C. Ke, C. Y. Lee, S. P. Chang, W. T. Chang, J. C. Li, Z. Y. Li, H. C. Yang, H. C. Kuo, T. C. Lu, and S. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 97, 261103 (2010).
[CrossRef]

Miller, D. A. B.

D. A. B. Miller, D. S. Chemla, and T. C. Damen, Phys. Rev. Lett. 53, 2173 (1984).
[CrossRef]

Nakamura, S.

J. Piprek, R. Farrell, S. DenBaars, and S. Nakamura, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 7 (2006).
[CrossRef]

Noemaun, A. N.

J. Xu, M. F. Schubert, A. N. Noemaun, D. Zhu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, H. J. Chung, S. Yoon, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 94, 011113 (2009).
[CrossRef]

Park, Y.

J. Xu, M. F. Schubert, A. N. Noemaun, D. Zhu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, H. J. Chung, S. Yoon, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 94, 011113 (2009).
[CrossRef]

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

Piprek, J.

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

J. Piprek, R. Farrell, S. DenBaars, and S. Nakamura, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 7 (2006).
[CrossRef]

Ponce, F. A.

S. Choi, H. J. Kim, S. S. Kim, J. Liu, J. Kim, J. H. Ryou, R. D. Dupuis, A. M. Fischer, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Lett. 96, 221105 (2010).
[CrossRef]

Poplawsky, J. D.

Ryou, J. H.

S. Choi, H. J. Kim, S. S. Kim, J. Liu, J. Kim, J. H. Ryou, R. D. Dupuis, A. M. Fischer, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Lett. 96, 221105 (2010).
[CrossRef]

Sakong, T.

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

Schubert, E. F.

J. Xu, M. F. Schubert, A. N. Noemaun, D. Zhu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, H. J. Chung, S. Yoon, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 94, 011113 (2009).
[CrossRef]

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

Schubert, M. F.

J. Xu, M. F. Schubert, A. N. Noemaun, D. Zhu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, H. J. Chung, S. Yoon, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 94, 011113 (2009).
[CrossRef]

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

Shih, Y. H.

Y.-K. Kuo, Y. H. Shih, M. C. Tsai, and J. Y. Chang, IEEE Photon. Technol. Lett. 23, 1630 (2011).
[CrossRef]

Sone, C.

J. Xu, M. F. Schubert, A. N. Noemaun, D. Zhu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, H. J. Chung, S. Yoon, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 94, 011113 (2009).
[CrossRef]

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

Tansu, N.

H. Zhao, G. Liu, J. Zhang, J. D. Poplawsky, V. Dierolf, and N. Tansu, Opt. Express 19, A991 (2011).
[CrossRef]

H. Zhao and N. Tansu, J. Appl. Phys. 107, 113110 (2010).
[CrossRef]

H. Zhao, G. Liu, R. A. Arif, and N. Tansu, Solid-State Electron. 54, 1119 (2010).
[CrossRef]

Tsai, M. C.

Y.-K. Kuo, Y. H. Shih, M. C. Tsai, and J. Y. Chang, IEEE Photon. Technol. Lett. 23, 1630 (2011).
[CrossRef]

Y. K. Kuo, J. Y. Chang, M. C. Tsai, and S. H. Yen, Opt. Lett. 35, 3285 (2010).
[CrossRef]

Y. K. Kuo, J. Y. Chang, M. C. Tsai, and S. H. Yen, Appl. Phys. Lett. 95, 011116 (2009).
[CrossRef]

Wang, C. H.

C. H. Wang, C. C. Ke, C. Y. Lee, S. P. Chang, W. T. Chang, J. C. Li, Z. Y. Li, H. C. Yang, H. C. Kuo, T. C. Lu, and S. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 97, 261103 (2010).
[CrossRef]

Wang, S. C.

C. H. Wang, C. C. Ke, C. Y. Lee, S. P. Chang, W. T. Chang, J. C. Li, Z. Y. Li, H. C. Yang, H. C. Kuo, T. C. Lu, and S. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 97, 261103 (2010).
[CrossRef]

Xu, J.

J. Xu, M. F. Schubert, A. N. Noemaun, D. Zhu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, H. J. Chung, S. Yoon, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 94, 011113 (2009).
[CrossRef]

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

Yang, H. C.

C. H. Wang, C. C. Ke, C. Y. Lee, S. P. Chang, W. T. Chang, J. C. Li, Z. Y. Li, H. C. Yang, H. C. Kuo, T. C. Lu, and S. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 97, 261103 (2010).
[CrossRef]

Yen, S. H.

Y. K. Kuo, J. Y. Chang, M. C. Tsai, and S. H. Yen, Opt. Lett. 35, 3285 (2010).
[CrossRef]

Y. K. Kuo, J. Y. Chang, M. C. Tsai, and S. H. Yen, Appl. Phys. Lett. 95, 011116 (2009).
[CrossRef]

Yoon, S.

J. Xu, M. F. Schubert, A. N. Noemaun, D. Zhu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, H. J. Chung, S. Yoon, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 94, 011113 (2009).
[CrossRef]

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

Zhang, J.

Zhao, H.

H. Zhao, G. Liu, J. Zhang, J. D. Poplawsky, V. Dierolf, and N. Tansu, Opt. Express 19, A991 (2011).
[CrossRef]

H. Zhao and N. Tansu, J. Appl. Phys. 107, 113110 (2010).
[CrossRef]

H. Zhao, G. Liu, R. A. Arif, and N. Tansu, Solid-State Electron. 54, 1119 (2010).
[CrossRef]

Zhu, D.

J. Xu, M. F. Schubert, A. N. Noemaun, D. Zhu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, H. J. Chung, S. Yoon, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 94, 011113 (2009).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett. (7)

J. Xu, M. F. Schubert, A. N. Noemaun, D. Zhu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, H. J. Chung, S. Yoon, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 94, 011113 (2009).
[CrossRef]

Y. K. Kuo, J. Y. Chang, M. C. Tsai, and S. H. Yen, Appl. Phys. Lett. 95, 011116 (2009).
[CrossRef]

C. H. Wang, C. C. Ke, C. Y. Lee, S. P. Chang, W. T. Chang, J. C. Li, Z. Y. Li, H. C. Yang, H. C. Kuo, T. C. Lu, and S. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 97, 261103 (2010).
[CrossRef]

S. Choi, H. J. Kim, S. S. Kim, J. Liu, J. Kim, J. H. Ryou, R. D. Dupuis, A. M. Fischer, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Lett. 96, 221105 (2010).
[CrossRef]

V. Fiorentini, F. Bernardini, and O. Ambacher, Appl. Phys. Lett. 80, 1204 (2002).
[CrossRef]

M. H. Kim, M. F. Schubert, Q. Dai, J. K. Kim, E. F. Schubert, J. Piprek, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 91, 183507 (2007).
[CrossRef]

M. F. Schubert, J. Xu, J. K. Kim, E. F. Schubert, M. H. Kim, S. Yoon, S. M. Lee, C. Sone, T. Sakong, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 93, 041102 (2008).
[CrossRef]

IEEE Photon. Technol. Lett. (2)

Y.-K. Kuo, Y. H. Shih, M. C. Tsai, and J. Y. Chang, IEEE Photon. Technol. Lett. 23, 1630 (2011).
[CrossRef]

J. Piprek, R. Farrell, S. DenBaars, and S. Nakamura, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 7 (2006).
[CrossRef]

J. Appl. Phys. (1)

H. Zhao and N. Tansu, J. Appl. Phys. 107, 113110 (2010).
[CrossRef]

Opt. Express (1)

Opt. Lett. (1)

Phys. Rev. Lett. (1)

D. A. B. Miller, D. S. Chemla, and T. C. Damen, Phys. Rev. Lett. 53, 2173 (1984).
[CrossRef]

Solid-State Electron. (1)

H. Zhao, G. Liu, R. A. Arif, and N. Tansu, Solid-State Electron. 54, 1119 (2010).
[CrossRef]

Other (1)

APSYS by Crosslight Software Inc., Burnaby, Canada, http://www.crosslight.com .

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (5)

Fig. 1.
Fig. 1.

(a) L-J and (b) IQE curves of the LED structures under study.

Fig. 2.
Fig. 2.

Energy band diagrams of the original structure and the structures with Al0.20Ga0.56In0.24N, Al0.40Ga0.29In0.31N barriers at 50A/cm2.

Fig. 3.
Fig. 3.

(a) Electron and (b) hole concentrations in the active region of the original structure and the structures with Al0.20Ga0.56In0.24N, Al0.40Ga0.29In0.31N barriers at 50A/cm2. The horizontal positions of the latter two structures have been appropriately adjusted for easy comparison.

Fig. 4.
Fig. 4.

Various recombination efficiencies as a function of carrier density.

Fig. 5.
Fig. 5.

Radiative and Auger recombination rates of the original structure and the structure with Al0.20Ga0.56In0.24N, Al0.40Ga0.29In0.31N barriers at 50A/cm2 and 220A/cm2.

Tables (1)

Tables Icon

Table 1. Bandgap Energy (Eg) and Polarization of the Well, Barriers, and EBL

Metrics