Abstract

We present the hexagonal digital moiré method for three-directional structural characterization of hexagonal packed nanostructures. A mismatch between a three-way grating and a nanoparticle assembly is shown to produce hexagonal moiré fringes due to the interference between three groups of parallel moiré patterns. The measuring principles of the pitches and the orientations of the three 1D arrays of the nanoparticles are presented. The structural information on a silica nanoparticle assembly is analyzed.

© 2012 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. E. C. Nelson, N. L. Dias, K. P. Bassett, S. N. Dunham, V. Verma, M. Miyake, P. Wiltzius, J. A. Rogers, J. J. Coleman, X. L. Li, and P. V. Braun, Nat. Mater. 10, 676 (2011).
    [CrossRef]
  2. K. Q. Peng, X. Wang, L. Li, X. L. Wu, and S. T. Lee, J. Am. Chem. Soc. 132, 6872 (2010).
    [CrossRef]
  3. P. Badica, A. Crisan, G. Aldica, K. Endo, H. Borodianska, K. Togano, S. Awaji, K. Watanabe, Y. Sakka, and O. Vasylkiv, Sci. Technol. Adv. Mater. 12, 013001 (2011).
    [CrossRef]
  4. M. J. Beliatis, S. J. Henley, and S. R. P. Silva, Opt. Lett. 36, 1362 (2011).
    [CrossRef]
  5. W. Ko, C. Yim, N. Jung, J. Joo, S. Jeon, H. Seo, S. S. Lee, and J. C. Park, Nanotechnology 22, 405502 (2011).
    [CrossRef]
  6. L. X. Chen, X. G. Huang, J. H. Zhu, G. C. Li, and S. Lan, Opt. Lett. 36, 2761 (2011).
    [CrossRef]
  7. D. L. Miller, K. D. Kubista, G. M. Rutter, M. Ruan, W. A. de Heer, P. N. First, and J. A. Stroscio, Phys. Rev. B 81, 125427 (2010).
    [CrossRef]
  8. S. Kishimoto, M. Egashira, and N. Shinya, Opt. Eng. 32, 522 (1993).
    [CrossRef]
  9. Y. Yamauchi, T. Nagaura, K. Takai, N. Suzuki, K. Sato, N. Fukata, S. Inoue, and S. Kishimoto, J. Phys. Chem. C 113, 9632 (2009).
    [CrossRef]
  10. S. Kishimoto and Y. Yamauchi, Phys. Chem. Chem. Phys. 11, 5554 (2009).
    [CrossRef]
  11. R. Weller and B. Shepard, Proc. Soc. Exp. Stress Anal. 6, 35 (1948).
  12. H. M. Xie, Q. H. Wang, S. Kishimoto, and F. L. Dai, J. Appl. Phys. 101 (2007).
    [CrossRef]
  13. T. Yokoi, Y. Sakamoto, O. Terasaki, Y. Kubota, T. Okubo, and T. Tatsumi, J. Am. Chem. Soc. 128, 13664 (2006).
    [CrossRef]
  14. Y. Yamauchi, J. Imasu, Y. Kuroda, K. Kuroda, and Y. Sakka, J. Mater. Chem. 19, 1964 (2009).
    [CrossRef]

2011

E. C. Nelson, N. L. Dias, K. P. Bassett, S. N. Dunham, V. Verma, M. Miyake, P. Wiltzius, J. A. Rogers, J. J. Coleman, X. L. Li, and P. V. Braun, Nat. Mater. 10, 676 (2011).
[CrossRef]

P. Badica, A. Crisan, G. Aldica, K. Endo, H. Borodianska, K. Togano, S. Awaji, K. Watanabe, Y. Sakka, and O. Vasylkiv, Sci. Technol. Adv. Mater. 12, 013001 (2011).
[CrossRef]

W. Ko, C. Yim, N. Jung, J. Joo, S. Jeon, H. Seo, S. S. Lee, and J. C. Park, Nanotechnology 22, 405502 (2011).
[CrossRef]

M. J. Beliatis, S. J. Henley, and S. R. P. Silva, Opt. Lett. 36, 1362 (2011).
[CrossRef]

L. X. Chen, X. G. Huang, J. H. Zhu, G. C. Li, and S. Lan, Opt. Lett. 36, 2761 (2011).
[CrossRef]

2010

K. Q. Peng, X. Wang, L. Li, X. L. Wu, and S. T. Lee, J. Am. Chem. Soc. 132, 6872 (2010).
[CrossRef]

D. L. Miller, K. D. Kubista, G. M. Rutter, M. Ruan, W. A. de Heer, P. N. First, and J. A. Stroscio, Phys. Rev. B 81, 125427 (2010).
[CrossRef]

2009

Y. Yamauchi, T. Nagaura, K. Takai, N. Suzuki, K. Sato, N. Fukata, S. Inoue, and S. Kishimoto, J. Phys. Chem. C 113, 9632 (2009).
[CrossRef]

S. Kishimoto and Y. Yamauchi, Phys. Chem. Chem. Phys. 11, 5554 (2009).
[CrossRef]

Y. Yamauchi, J. Imasu, Y. Kuroda, K. Kuroda, and Y. Sakka, J. Mater. Chem. 19, 1964 (2009).
[CrossRef]

2007

H. M. Xie, Q. H. Wang, S. Kishimoto, and F. L. Dai, J. Appl. Phys. 101 (2007).
[CrossRef]

2006

T. Yokoi, Y. Sakamoto, O. Terasaki, Y. Kubota, T. Okubo, and T. Tatsumi, J. Am. Chem. Soc. 128, 13664 (2006).
[CrossRef]

1993

S. Kishimoto, M. Egashira, and N. Shinya, Opt. Eng. 32, 522 (1993).
[CrossRef]

1948

R. Weller and B. Shepard, Proc. Soc. Exp. Stress Anal. 6, 35 (1948).

Aldica, G.

P. Badica, A. Crisan, G. Aldica, K. Endo, H. Borodianska, K. Togano, S. Awaji, K. Watanabe, Y. Sakka, and O. Vasylkiv, Sci. Technol. Adv. Mater. 12, 013001 (2011).
[CrossRef]

Awaji, S.

P. Badica, A. Crisan, G. Aldica, K. Endo, H. Borodianska, K. Togano, S. Awaji, K. Watanabe, Y. Sakka, and O. Vasylkiv, Sci. Technol. Adv. Mater. 12, 013001 (2011).
[CrossRef]

Badica, P.

P. Badica, A. Crisan, G. Aldica, K. Endo, H. Borodianska, K. Togano, S. Awaji, K. Watanabe, Y. Sakka, and O. Vasylkiv, Sci. Technol. Adv. Mater. 12, 013001 (2011).
[CrossRef]

Bassett, K. P.

E. C. Nelson, N. L. Dias, K. P. Bassett, S. N. Dunham, V. Verma, M. Miyake, P. Wiltzius, J. A. Rogers, J. J. Coleman, X. L. Li, and P. V. Braun, Nat. Mater. 10, 676 (2011).
[CrossRef]

Beliatis, M. J.

Borodianska, H.

P. Badica, A. Crisan, G. Aldica, K. Endo, H. Borodianska, K. Togano, S. Awaji, K. Watanabe, Y. Sakka, and O. Vasylkiv, Sci. Technol. Adv. Mater. 12, 013001 (2011).
[CrossRef]

Braun, P. V.

E. C. Nelson, N. L. Dias, K. P. Bassett, S. N. Dunham, V. Verma, M. Miyake, P. Wiltzius, J. A. Rogers, J. J. Coleman, X. L. Li, and P. V. Braun, Nat. Mater. 10, 676 (2011).
[CrossRef]

Chen, L. X.

Coleman, J. J.

E. C. Nelson, N. L. Dias, K. P. Bassett, S. N. Dunham, V. Verma, M. Miyake, P. Wiltzius, J. A. Rogers, J. J. Coleman, X. L. Li, and P. V. Braun, Nat. Mater. 10, 676 (2011).
[CrossRef]

Crisan, A.

P. Badica, A. Crisan, G. Aldica, K. Endo, H. Borodianska, K. Togano, S. Awaji, K. Watanabe, Y. Sakka, and O. Vasylkiv, Sci. Technol. Adv. Mater. 12, 013001 (2011).
[CrossRef]

Dai, F. L.

H. M. Xie, Q. H. Wang, S. Kishimoto, and F. L. Dai, J. Appl. Phys. 101 (2007).
[CrossRef]

de Heer, W. A.

D. L. Miller, K. D. Kubista, G. M. Rutter, M. Ruan, W. A. de Heer, P. N. First, and J. A. Stroscio, Phys. Rev. B 81, 125427 (2010).
[CrossRef]

Dias, N. L.

E. C. Nelson, N. L. Dias, K. P. Bassett, S. N. Dunham, V. Verma, M. Miyake, P. Wiltzius, J. A. Rogers, J. J. Coleman, X. L. Li, and P. V. Braun, Nat. Mater. 10, 676 (2011).
[CrossRef]

Dunham, S. N.

E. C. Nelson, N. L. Dias, K. P. Bassett, S. N. Dunham, V. Verma, M. Miyake, P. Wiltzius, J. A. Rogers, J. J. Coleman, X. L. Li, and P. V. Braun, Nat. Mater. 10, 676 (2011).
[CrossRef]

Egashira, M.

S. Kishimoto, M. Egashira, and N. Shinya, Opt. Eng. 32, 522 (1993).
[CrossRef]

Endo, K.

P. Badica, A. Crisan, G. Aldica, K. Endo, H. Borodianska, K. Togano, S. Awaji, K. Watanabe, Y. Sakka, and O. Vasylkiv, Sci. Technol. Adv. Mater. 12, 013001 (2011).
[CrossRef]

First, P. N.

D. L. Miller, K. D. Kubista, G. M. Rutter, M. Ruan, W. A. de Heer, P. N. First, and J. A. Stroscio, Phys. Rev. B 81, 125427 (2010).
[CrossRef]

Fukata, N.

Y. Yamauchi, T. Nagaura, K. Takai, N. Suzuki, K. Sato, N. Fukata, S. Inoue, and S. Kishimoto, J. Phys. Chem. C 113, 9632 (2009).
[CrossRef]

Henley, S. J.

Huang, X. G.

Imasu, J.

Y. Yamauchi, J. Imasu, Y. Kuroda, K. Kuroda, and Y. Sakka, J. Mater. Chem. 19, 1964 (2009).
[CrossRef]

Inoue, S.

Y. Yamauchi, T. Nagaura, K. Takai, N. Suzuki, K. Sato, N. Fukata, S. Inoue, and S. Kishimoto, J. Phys. Chem. C 113, 9632 (2009).
[CrossRef]

Jeon, S.

W. Ko, C. Yim, N. Jung, J. Joo, S. Jeon, H. Seo, S. S. Lee, and J. C. Park, Nanotechnology 22, 405502 (2011).
[CrossRef]

Joo, J.

W. Ko, C. Yim, N. Jung, J. Joo, S. Jeon, H. Seo, S. S. Lee, and J. C. Park, Nanotechnology 22, 405502 (2011).
[CrossRef]

Jung, N.

W. Ko, C. Yim, N. Jung, J. Joo, S. Jeon, H. Seo, S. S. Lee, and J. C. Park, Nanotechnology 22, 405502 (2011).
[CrossRef]

Kishimoto, S.

Y. Yamauchi, T. Nagaura, K. Takai, N. Suzuki, K. Sato, N. Fukata, S. Inoue, and S. Kishimoto, J. Phys. Chem. C 113, 9632 (2009).
[CrossRef]

S. Kishimoto and Y. Yamauchi, Phys. Chem. Chem. Phys. 11, 5554 (2009).
[CrossRef]

H. M. Xie, Q. H. Wang, S. Kishimoto, and F. L. Dai, J. Appl. Phys. 101 (2007).
[CrossRef]

S. Kishimoto, M. Egashira, and N. Shinya, Opt. Eng. 32, 522 (1993).
[CrossRef]

Ko, W.

W. Ko, C. Yim, N. Jung, J. Joo, S. Jeon, H. Seo, S. S. Lee, and J. C. Park, Nanotechnology 22, 405502 (2011).
[CrossRef]

Kubista, K. D.

D. L. Miller, K. D. Kubista, G. M. Rutter, M. Ruan, W. A. de Heer, P. N. First, and J. A. Stroscio, Phys. Rev. B 81, 125427 (2010).
[CrossRef]

Kubota, Y.

T. Yokoi, Y. Sakamoto, O. Terasaki, Y. Kubota, T. Okubo, and T. Tatsumi, J. Am. Chem. Soc. 128, 13664 (2006).
[CrossRef]

Kuroda, K.

Y. Yamauchi, J. Imasu, Y. Kuroda, K. Kuroda, and Y. Sakka, J. Mater. Chem. 19, 1964 (2009).
[CrossRef]

Kuroda, Y.

Y. Yamauchi, J. Imasu, Y. Kuroda, K. Kuroda, and Y. Sakka, J. Mater. Chem. 19, 1964 (2009).
[CrossRef]

Lan, S.

Lee, S. S.

W. Ko, C. Yim, N. Jung, J. Joo, S. Jeon, H. Seo, S. S. Lee, and J. C. Park, Nanotechnology 22, 405502 (2011).
[CrossRef]

Lee, S. T.

K. Q. Peng, X. Wang, L. Li, X. L. Wu, and S. T. Lee, J. Am. Chem. Soc. 132, 6872 (2010).
[CrossRef]

Li, G. C.

Li, L.

K. Q. Peng, X. Wang, L. Li, X. L. Wu, and S. T. Lee, J. Am. Chem. Soc. 132, 6872 (2010).
[CrossRef]

Li, X. L.

E. C. Nelson, N. L. Dias, K. P. Bassett, S. N. Dunham, V. Verma, M. Miyake, P. Wiltzius, J. A. Rogers, J. J. Coleman, X. L. Li, and P. V. Braun, Nat. Mater. 10, 676 (2011).
[CrossRef]

Miller, D. L.

D. L. Miller, K. D. Kubista, G. M. Rutter, M. Ruan, W. A. de Heer, P. N. First, and J. A. Stroscio, Phys. Rev. B 81, 125427 (2010).
[CrossRef]

Miyake, M.

E. C. Nelson, N. L. Dias, K. P. Bassett, S. N. Dunham, V. Verma, M. Miyake, P. Wiltzius, J. A. Rogers, J. J. Coleman, X. L. Li, and P. V. Braun, Nat. Mater. 10, 676 (2011).
[CrossRef]

Nagaura, T.

Y. Yamauchi, T. Nagaura, K. Takai, N. Suzuki, K. Sato, N. Fukata, S. Inoue, and S. Kishimoto, J. Phys. Chem. C 113, 9632 (2009).
[CrossRef]

Nelson, E. C.

E. C. Nelson, N. L. Dias, K. P. Bassett, S. N. Dunham, V. Verma, M. Miyake, P. Wiltzius, J. A. Rogers, J. J. Coleman, X. L. Li, and P. V. Braun, Nat. Mater. 10, 676 (2011).
[CrossRef]

Okubo, T.

T. Yokoi, Y. Sakamoto, O. Terasaki, Y. Kubota, T. Okubo, and T. Tatsumi, J. Am. Chem. Soc. 128, 13664 (2006).
[CrossRef]

Park, J. C.

W. Ko, C. Yim, N. Jung, J. Joo, S. Jeon, H. Seo, S. S. Lee, and J. C. Park, Nanotechnology 22, 405502 (2011).
[CrossRef]

Peng, K. Q.

K. Q. Peng, X. Wang, L. Li, X. L. Wu, and S. T. Lee, J. Am. Chem. Soc. 132, 6872 (2010).
[CrossRef]

Rogers, J. A.

E. C. Nelson, N. L. Dias, K. P. Bassett, S. N. Dunham, V. Verma, M. Miyake, P. Wiltzius, J. A. Rogers, J. J. Coleman, X. L. Li, and P. V. Braun, Nat. Mater. 10, 676 (2011).
[CrossRef]

Ruan, M.

D. L. Miller, K. D. Kubista, G. M. Rutter, M. Ruan, W. A. de Heer, P. N. First, and J. A. Stroscio, Phys. Rev. B 81, 125427 (2010).
[CrossRef]

Rutter, G. M.

D. L. Miller, K. D. Kubista, G. M. Rutter, M. Ruan, W. A. de Heer, P. N. First, and J. A. Stroscio, Phys. Rev. B 81, 125427 (2010).
[CrossRef]

Sakamoto, Y.

T. Yokoi, Y. Sakamoto, O. Terasaki, Y. Kubota, T. Okubo, and T. Tatsumi, J. Am. Chem. Soc. 128, 13664 (2006).
[CrossRef]

Sakka, Y.

P. Badica, A. Crisan, G. Aldica, K. Endo, H. Borodianska, K. Togano, S. Awaji, K. Watanabe, Y. Sakka, and O. Vasylkiv, Sci. Technol. Adv. Mater. 12, 013001 (2011).
[CrossRef]

Y. Yamauchi, J. Imasu, Y. Kuroda, K. Kuroda, and Y. Sakka, J. Mater. Chem. 19, 1964 (2009).
[CrossRef]

Sato, K.

Y. Yamauchi, T. Nagaura, K. Takai, N. Suzuki, K. Sato, N. Fukata, S. Inoue, and S. Kishimoto, J. Phys. Chem. C 113, 9632 (2009).
[CrossRef]

Seo, H.

W. Ko, C. Yim, N. Jung, J. Joo, S. Jeon, H. Seo, S. S. Lee, and J. C. Park, Nanotechnology 22, 405502 (2011).
[CrossRef]

Shepard, B.

R. Weller and B. Shepard, Proc. Soc. Exp. Stress Anal. 6, 35 (1948).

Shinya, N.

S. Kishimoto, M. Egashira, and N. Shinya, Opt. Eng. 32, 522 (1993).
[CrossRef]

Silva, S. R. P.

Stroscio, J. A.

D. L. Miller, K. D. Kubista, G. M. Rutter, M. Ruan, W. A. de Heer, P. N. First, and J. A. Stroscio, Phys. Rev. B 81, 125427 (2010).
[CrossRef]

Suzuki, N.

Y. Yamauchi, T. Nagaura, K. Takai, N. Suzuki, K. Sato, N. Fukata, S. Inoue, and S. Kishimoto, J. Phys. Chem. C 113, 9632 (2009).
[CrossRef]

Takai, K.

Y. Yamauchi, T. Nagaura, K. Takai, N. Suzuki, K. Sato, N. Fukata, S. Inoue, and S. Kishimoto, J. Phys. Chem. C 113, 9632 (2009).
[CrossRef]

Tatsumi, T.

T. Yokoi, Y. Sakamoto, O. Terasaki, Y. Kubota, T. Okubo, and T. Tatsumi, J. Am. Chem. Soc. 128, 13664 (2006).
[CrossRef]

Terasaki, O.

T. Yokoi, Y. Sakamoto, O. Terasaki, Y. Kubota, T. Okubo, and T. Tatsumi, J. Am. Chem. Soc. 128, 13664 (2006).
[CrossRef]

Togano, K.

P. Badica, A. Crisan, G. Aldica, K. Endo, H. Borodianska, K. Togano, S. Awaji, K. Watanabe, Y. Sakka, and O. Vasylkiv, Sci. Technol. Adv. Mater. 12, 013001 (2011).
[CrossRef]

Vasylkiv, O.

P. Badica, A. Crisan, G. Aldica, K. Endo, H. Borodianska, K. Togano, S. Awaji, K. Watanabe, Y. Sakka, and O. Vasylkiv, Sci. Technol. Adv. Mater. 12, 013001 (2011).
[CrossRef]

Verma, V.

E. C. Nelson, N. L. Dias, K. P. Bassett, S. N. Dunham, V. Verma, M. Miyake, P. Wiltzius, J. A. Rogers, J. J. Coleman, X. L. Li, and P. V. Braun, Nat. Mater. 10, 676 (2011).
[CrossRef]

Wang, Q. H.

H. M. Xie, Q. H. Wang, S. Kishimoto, and F. L. Dai, J. Appl. Phys. 101 (2007).
[CrossRef]

Wang, X.

K. Q. Peng, X. Wang, L. Li, X. L. Wu, and S. T. Lee, J. Am. Chem. Soc. 132, 6872 (2010).
[CrossRef]

Watanabe, K.

P. Badica, A. Crisan, G. Aldica, K. Endo, H. Borodianska, K. Togano, S. Awaji, K. Watanabe, Y. Sakka, and O. Vasylkiv, Sci. Technol. Adv. Mater. 12, 013001 (2011).
[CrossRef]

Weller, R.

R. Weller and B. Shepard, Proc. Soc. Exp. Stress Anal. 6, 35 (1948).

Wiltzius, P.

E. C. Nelson, N. L. Dias, K. P. Bassett, S. N. Dunham, V. Verma, M. Miyake, P. Wiltzius, J. A. Rogers, J. J. Coleman, X. L. Li, and P. V. Braun, Nat. Mater. 10, 676 (2011).
[CrossRef]

Wu, X. L.

K. Q. Peng, X. Wang, L. Li, X. L. Wu, and S. T. Lee, J. Am. Chem. Soc. 132, 6872 (2010).
[CrossRef]

Xie, H. M.

H. M. Xie, Q. H. Wang, S. Kishimoto, and F. L. Dai, J. Appl. Phys. 101 (2007).
[CrossRef]

Yamauchi, Y.

Y. Yamauchi, J. Imasu, Y. Kuroda, K. Kuroda, and Y. Sakka, J. Mater. Chem. 19, 1964 (2009).
[CrossRef]

S. Kishimoto and Y. Yamauchi, Phys. Chem. Chem. Phys. 11, 5554 (2009).
[CrossRef]

Y. Yamauchi, T. Nagaura, K. Takai, N. Suzuki, K. Sato, N. Fukata, S. Inoue, and S. Kishimoto, J. Phys. Chem. C 113, 9632 (2009).
[CrossRef]

Yim, C.

W. Ko, C. Yim, N. Jung, J. Joo, S. Jeon, H. Seo, S. S. Lee, and J. C. Park, Nanotechnology 22, 405502 (2011).
[CrossRef]

Yokoi, T.

T. Yokoi, Y. Sakamoto, O. Terasaki, Y. Kubota, T. Okubo, and T. Tatsumi, J. Am. Chem. Soc. 128, 13664 (2006).
[CrossRef]

Zhu, J. H.

J. Am. Chem. Soc.

T. Yokoi, Y. Sakamoto, O. Terasaki, Y. Kubota, T. Okubo, and T. Tatsumi, J. Am. Chem. Soc. 128, 13664 (2006).
[CrossRef]

K. Q. Peng, X. Wang, L. Li, X. L. Wu, and S. T. Lee, J. Am. Chem. Soc. 132, 6872 (2010).
[CrossRef]

J. Appl. Phys.

H. M. Xie, Q. H. Wang, S. Kishimoto, and F. L. Dai, J. Appl. Phys. 101 (2007).
[CrossRef]

J. Mater. Chem.

Y. Yamauchi, J. Imasu, Y. Kuroda, K. Kuroda, and Y. Sakka, J. Mater. Chem. 19, 1964 (2009).
[CrossRef]

J. Phys. Chem. C

Y. Yamauchi, T. Nagaura, K. Takai, N. Suzuki, K. Sato, N. Fukata, S. Inoue, and S. Kishimoto, J. Phys. Chem. C 113, 9632 (2009).
[CrossRef]

Nanotechnology

W. Ko, C. Yim, N. Jung, J. Joo, S. Jeon, H. Seo, S. S. Lee, and J. C. Park, Nanotechnology 22, 405502 (2011).
[CrossRef]

Nat. Mater.

E. C. Nelson, N. L. Dias, K. P. Bassett, S. N. Dunham, V. Verma, M. Miyake, P. Wiltzius, J. A. Rogers, J. J. Coleman, X. L. Li, and P. V. Braun, Nat. Mater. 10, 676 (2011).
[CrossRef]

Opt. Eng.

S. Kishimoto, M. Egashira, and N. Shinya, Opt. Eng. 32, 522 (1993).
[CrossRef]

Opt. Lett.

Phys. Chem. Chem. Phys.

S. Kishimoto and Y. Yamauchi, Phys. Chem. Chem. Phys. 11, 5554 (2009).
[CrossRef]

Phys. Rev. B

D. L. Miller, K. D. Kubista, G. M. Rutter, M. Ruan, W. A. de Heer, P. N. First, and J. A. Stroscio, Phys. Rev. B 81, 125427 (2010).
[CrossRef]

Proc. Soc. Exp. Stress Anal.

R. Weller and B. Shepard, Proc. Soc. Exp. Stress Anal. 6, 35 (1948).

Sci. Technol. Adv. Mater.

P. Badica, A. Crisan, G. Aldica, K. Endo, H. Borodianska, K. Togano, S. Awaji, K. Watanabe, Y. Sakka, and O. Vasylkiv, Sci. Technol. Adv. Mater. 12, 013001 (2011).
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (4)

Fig. 1.
Fig. 1.

Formation of hexagonal moiré fringes: (a) nanoparticles, (b) three-way grating, (c) hexagonal moiré formed by a nanoparticle assembly and a three-way grating, and (d) hexagonal moiré formed by two three-way gratings.

Fig. 2.
Fig. 2.

Measuring principle for regular hexagonal moiré fringes: (a) regular hexagonal moiré fringes formed by the specimen grating (larger three-way grating) and the reference grating (smaller one), (b) three groups of parallel moiré patterns corresponding to the three one-way gratings, (c) enlarged image of the hexagon moiré fringe colored in green in (a), and (d) determination of the orientation of the specimen grating. Symbols m, r, and s represent the parallel moiré, the reference grating, and the specimen grating, respectively; d denotes the spacing of one parallel moiré pattern; D is the distance between the opposite sides of the hexagon along the direction of one parallel moiré; and φi and θi are the angles between ri and mi and ri and si (i=1,2,3), respectively.

Fig. 3.
Fig. 3.

Measuring principle for general hexagonal moiré fringes: (a) general hexagonal moiré fringes formed by the specimen grating (larger three-way grating) and the reference grating (smaller one) and (b) enlarged images of the hexagon moiré fringe colored in green in (a), showing the relationships between D2 and d1, and D3 and d2. Symbols Di and di have the same meanings as D and d in Fig. 2 corresponding to mi ((i=1,2,3)), and α1, α2, α3 are the included angles between m2 and m3, m3 and m1, and m1 and m2, respectively.

Fig. 4.
Fig. 4.

Structural analysis of silica nanoparticles: (a) hexagonal moiré fringes generated by the superimposition of a three-way grating (reference grating) and the silica nanoparticle assembly (specimen grating), (b) location relations between parallel moiré patterns (m1, m2, m3) and the three one-way gratings of the reference grating (r1, r2, r3), and (c) the pitches (a1, a2) and the orientations of the 1D arrays of silica nanoparticles (s1, s2) obtained by the hexagonal digital moiré method. φi and θi are the same as in Fig. 2(d), αi (i=1,2,3) is the same as in Fig. 3(b).

Equations (3)

Equations on this page are rendered with MathJax. Learn more.

d=Dsin60°,
{ai=diadi2+a2±2diacosφiθi=arctan±sinφi(di/a)±cosφi(i=1,2,3),
d1=D2sinα3,d2=D3sinα1.

Metrics