Abstract

In this Letter, we present a new type of ultrathin antireflection transparent and high-conductive screen based on plasmonic nanostructures that does not suffer from high loss and thickness coating and also can be used as good conductive material due to super electrical conductivity of the component (noble metal). Low reflection and greatly enhanced transmissions over a broad spectral range are observed at optical telecommunication frequencies in arbitrary polarizations. The performance is almost insensitive of the angle of incidence.

© 2012 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. W. L. Barnes, A. Dereux, and T. W. Ebbesen, Nature 424, 824 (2003).
    [CrossRef]
  2. H. A. Atwater and A. Polman, Nat. Mater. 9, 205 (2010).
    [CrossRef]
  3. D. J. Poxson, M.-L. Kuo, F. W. Mont, Y.-S. Kim, X. Yan, R. E. Welser, A. K. Sood, J. Cho, S.-Y. Lin, and E. F. Schubert, MRS Bull. 36, 434 (2011).
    [CrossRef]
  4. H. K. Raut, V. A. Ganesh, A. S. Nair, and S. Ramakrishna, Energ. Environ. Sci. 4, 3779 (2011).
    [CrossRef]
  5. H. R. Stuart and D. G. Hall, Appl. Phys. Lett. 69, 2327 (1996).
    [CrossRef]
  6. P. Spinelli, M. Hebbink, R. de Waele, L. Black, F. Lenzmann, and A. Polman, Nano Lett. 11, 1760 (2011).
    [CrossRef]
  7. K. L. Chropra, S. Major, and D. K. Pandya, Thin Solid Films 102, 1 (1983).
    [CrossRef]
  8. B. H. Lee, I. G. Kim, S. W. Cho, and S. H. Lee, Thin Solid Films 302, 25 (1997).
    [CrossRef]
  9. F. Zhu, B. L. Low, K. Zhang, and S. J. Chua, Appl. Phys. Lett. 79, 1205 (2001).
    [CrossRef]
  10. H. Kim, C. M. Gilmore, A. Piqué, J. S. Horwitz, H. Mattoussi, H. Murata, Z. H. Kafafi, and D. B. Chrisey, J. Appl. Phys. 86, 6451 (1999).
    [CrossRef]
  11. J. M. Phillips, R. J. Cava, G. A. Thomas, S. A. Carter, J. Kwo, T. Siegrist, J. J. Krajewski, J. H. Marshall, W. F. Peck, and D. H. Rapkine, Appl. Phys. Lett. 67, 2246 (1995).
    [CrossRef]
  12. M. Elbahri, M. K. Hedayati, V. S. K. Chakravadhanula, M. Jamali, T. Strunkus, V. Zaporojtchenko, and F. Faupel, Adv. Mater. 23, 1993 (2011).
    [CrossRef]
  13. J. van de Grop, P. Spinelli, and A. Polman, Nano Lett. 12, 3138 (2012).
    [CrossRef]
  14. J. M. Hao, J. Wang, X. L. Liu, W. J. Padilla, L. Zhou, and M. Qiu, Appl. Phys. Lett. 96, 251104 (2010).
    [CrossRef]
  15. J. M. Hao, L. Zhou, and M. Qiu, Phys. Rev. B 83, 165107 (2011).
    [CrossRef]
  16. CST Microwave Studio, CST GmbH, Germany, 2010.
  17. P. B. Johnson and R. W. Christy, Phys. Rev. B 6, 4370 (1972).
    [CrossRef]
  18. N. Bonod, S. Enoch, L. Li, E. Popov, and M. Nevière, Opt. Express 11, 482 (2003).
    [CrossRef]
  19. V. J. Logeeswaran, N. P. Kobayashi, M. S. Islam, W. Wu, P. Chaturvedi, N. X. Fang, S. Y. Wang, and R. S. Williams, Nano Lett. 9, 178 (2009).
    [CrossRef]

2012 (1)

J. van de Grop, P. Spinelli, and A. Polman, Nano Lett. 12, 3138 (2012).
[CrossRef]

2011 (5)

M. Elbahri, M. K. Hedayati, V. S. K. Chakravadhanula, M. Jamali, T. Strunkus, V. Zaporojtchenko, and F. Faupel, Adv. Mater. 23, 1993 (2011).
[CrossRef]

J. M. Hao, L. Zhou, and M. Qiu, Phys. Rev. B 83, 165107 (2011).
[CrossRef]

D. J. Poxson, M.-L. Kuo, F. W. Mont, Y.-S. Kim, X. Yan, R. E. Welser, A. K. Sood, J. Cho, S.-Y. Lin, and E. F. Schubert, MRS Bull. 36, 434 (2011).
[CrossRef]

H. K. Raut, V. A. Ganesh, A. S. Nair, and S. Ramakrishna, Energ. Environ. Sci. 4, 3779 (2011).
[CrossRef]

P. Spinelli, M. Hebbink, R. de Waele, L. Black, F. Lenzmann, and A. Polman, Nano Lett. 11, 1760 (2011).
[CrossRef]

2010 (2)

H. A. Atwater and A. Polman, Nat. Mater. 9, 205 (2010).
[CrossRef]

J. M. Hao, J. Wang, X. L. Liu, W. J. Padilla, L. Zhou, and M. Qiu, Appl. Phys. Lett. 96, 251104 (2010).
[CrossRef]

2009 (1)

V. J. Logeeswaran, N. P. Kobayashi, M. S. Islam, W. Wu, P. Chaturvedi, N. X. Fang, S. Y. Wang, and R. S. Williams, Nano Lett. 9, 178 (2009).
[CrossRef]

2003 (2)

N. Bonod, S. Enoch, L. Li, E. Popov, and M. Nevière, Opt. Express 11, 482 (2003).
[CrossRef]

W. L. Barnes, A. Dereux, and T. W. Ebbesen, Nature 424, 824 (2003).
[CrossRef]

2001 (1)

F. Zhu, B. L. Low, K. Zhang, and S. J. Chua, Appl. Phys. Lett. 79, 1205 (2001).
[CrossRef]

1999 (1)

H. Kim, C. M. Gilmore, A. Piqué, J. S. Horwitz, H. Mattoussi, H. Murata, Z. H. Kafafi, and D. B. Chrisey, J. Appl. Phys. 86, 6451 (1999).
[CrossRef]

1997 (1)

B. H. Lee, I. G. Kim, S. W. Cho, and S. H. Lee, Thin Solid Films 302, 25 (1997).
[CrossRef]

1996 (1)

H. R. Stuart and D. G. Hall, Appl. Phys. Lett. 69, 2327 (1996).
[CrossRef]

1995 (1)

J. M. Phillips, R. J. Cava, G. A. Thomas, S. A. Carter, J. Kwo, T. Siegrist, J. J. Krajewski, J. H. Marshall, W. F. Peck, and D. H. Rapkine, Appl. Phys. Lett. 67, 2246 (1995).
[CrossRef]

1983 (1)

K. L. Chropra, S. Major, and D. K. Pandya, Thin Solid Films 102, 1 (1983).
[CrossRef]

1972 (1)

P. B. Johnson and R. W. Christy, Phys. Rev. B 6, 4370 (1972).
[CrossRef]

Atwater, H. A.

H. A. Atwater and A. Polman, Nat. Mater. 9, 205 (2010).
[CrossRef]

Barnes, W. L.

W. L. Barnes, A. Dereux, and T. W. Ebbesen, Nature 424, 824 (2003).
[CrossRef]

Black, L.

P. Spinelli, M. Hebbink, R. de Waele, L. Black, F. Lenzmann, and A. Polman, Nano Lett. 11, 1760 (2011).
[CrossRef]

Bonod, N.

Carter, S. A.

J. M. Phillips, R. J. Cava, G. A. Thomas, S. A. Carter, J. Kwo, T. Siegrist, J. J. Krajewski, J. H. Marshall, W. F. Peck, and D. H. Rapkine, Appl. Phys. Lett. 67, 2246 (1995).
[CrossRef]

Cava, R. J.

J. M. Phillips, R. J. Cava, G. A. Thomas, S. A. Carter, J. Kwo, T. Siegrist, J. J. Krajewski, J. H. Marshall, W. F. Peck, and D. H. Rapkine, Appl. Phys. Lett. 67, 2246 (1995).
[CrossRef]

Chakravadhanula, V. S. K.

M. Elbahri, M. K. Hedayati, V. S. K. Chakravadhanula, M. Jamali, T. Strunkus, V. Zaporojtchenko, and F. Faupel, Adv. Mater. 23, 1993 (2011).
[CrossRef]

Chaturvedi, P.

V. J. Logeeswaran, N. P. Kobayashi, M. S. Islam, W. Wu, P. Chaturvedi, N. X. Fang, S. Y. Wang, and R. S. Williams, Nano Lett. 9, 178 (2009).
[CrossRef]

Cho, J.

D. J. Poxson, M.-L. Kuo, F. W. Mont, Y.-S. Kim, X. Yan, R. E. Welser, A. K. Sood, J. Cho, S.-Y. Lin, and E. F. Schubert, MRS Bull. 36, 434 (2011).
[CrossRef]

Cho, S. W.

B. H. Lee, I. G. Kim, S. W. Cho, and S. H. Lee, Thin Solid Films 302, 25 (1997).
[CrossRef]

Chrisey, D. B.

H. Kim, C. M. Gilmore, A. Piqué, J. S. Horwitz, H. Mattoussi, H. Murata, Z. H. Kafafi, and D. B. Chrisey, J. Appl. Phys. 86, 6451 (1999).
[CrossRef]

Christy, R. W.

P. B. Johnson and R. W. Christy, Phys. Rev. B 6, 4370 (1972).
[CrossRef]

Chropra, K. L.

K. L. Chropra, S. Major, and D. K. Pandya, Thin Solid Films 102, 1 (1983).
[CrossRef]

Chua, S. J.

F. Zhu, B. L. Low, K. Zhang, and S. J. Chua, Appl. Phys. Lett. 79, 1205 (2001).
[CrossRef]

de Waele, R.

P. Spinelli, M. Hebbink, R. de Waele, L. Black, F. Lenzmann, and A. Polman, Nano Lett. 11, 1760 (2011).
[CrossRef]

Dereux, A.

W. L. Barnes, A. Dereux, and T. W. Ebbesen, Nature 424, 824 (2003).
[CrossRef]

Ebbesen, T. W.

W. L. Barnes, A. Dereux, and T. W. Ebbesen, Nature 424, 824 (2003).
[CrossRef]

Elbahri, M.

M. Elbahri, M. K. Hedayati, V. S. K. Chakravadhanula, M. Jamali, T. Strunkus, V. Zaporojtchenko, and F. Faupel, Adv. Mater. 23, 1993 (2011).
[CrossRef]

Enoch, S.

Fang, N. X.

V. J. Logeeswaran, N. P. Kobayashi, M. S. Islam, W. Wu, P. Chaturvedi, N. X. Fang, S. Y. Wang, and R. S. Williams, Nano Lett. 9, 178 (2009).
[CrossRef]

Faupel, F.

M. Elbahri, M. K. Hedayati, V. S. K. Chakravadhanula, M. Jamali, T. Strunkus, V. Zaporojtchenko, and F. Faupel, Adv. Mater. 23, 1993 (2011).
[CrossRef]

Ganesh, V. A.

H. K. Raut, V. A. Ganesh, A. S. Nair, and S. Ramakrishna, Energ. Environ. Sci. 4, 3779 (2011).
[CrossRef]

Gilmore, C. M.

H. Kim, C. M. Gilmore, A. Piqué, J. S. Horwitz, H. Mattoussi, H. Murata, Z. H. Kafafi, and D. B. Chrisey, J. Appl. Phys. 86, 6451 (1999).
[CrossRef]

Hall, D. G.

H. R. Stuart and D. G. Hall, Appl. Phys. Lett. 69, 2327 (1996).
[CrossRef]

Hao, J. M.

J. M. Hao, L. Zhou, and M. Qiu, Phys. Rev. B 83, 165107 (2011).
[CrossRef]

J. M. Hao, J. Wang, X. L. Liu, W. J. Padilla, L. Zhou, and M. Qiu, Appl. Phys. Lett. 96, 251104 (2010).
[CrossRef]

Hebbink, M.

P. Spinelli, M. Hebbink, R. de Waele, L. Black, F. Lenzmann, and A. Polman, Nano Lett. 11, 1760 (2011).
[CrossRef]

Hedayati, M. K.

M. Elbahri, M. K. Hedayati, V. S. K. Chakravadhanula, M. Jamali, T. Strunkus, V. Zaporojtchenko, and F. Faupel, Adv. Mater. 23, 1993 (2011).
[CrossRef]

Horwitz, J. S.

H. Kim, C. M. Gilmore, A. Piqué, J. S. Horwitz, H. Mattoussi, H. Murata, Z. H. Kafafi, and D. B. Chrisey, J. Appl. Phys. 86, 6451 (1999).
[CrossRef]

Islam, M. S.

V. J. Logeeswaran, N. P. Kobayashi, M. S. Islam, W. Wu, P. Chaturvedi, N. X. Fang, S. Y. Wang, and R. S. Williams, Nano Lett. 9, 178 (2009).
[CrossRef]

Jamali, M.

M. Elbahri, M. K. Hedayati, V. S. K. Chakravadhanula, M. Jamali, T. Strunkus, V. Zaporojtchenko, and F. Faupel, Adv. Mater. 23, 1993 (2011).
[CrossRef]

Johnson, P. B.

P. B. Johnson and R. W. Christy, Phys. Rev. B 6, 4370 (1972).
[CrossRef]

Kafafi, Z. H.

H. Kim, C. M. Gilmore, A. Piqué, J. S. Horwitz, H. Mattoussi, H. Murata, Z. H. Kafafi, and D. B. Chrisey, J. Appl. Phys. 86, 6451 (1999).
[CrossRef]

Kim, H.

H. Kim, C. M. Gilmore, A. Piqué, J. S. Horwitz, H. Mattoussi, H. Murata, Z. H. Kafafi, and D. B. Chrisey, J. Appl. Phys. 86, 6451 (1999).
[CrossRef]

Kim, I. G.

B. H. Lee, I. G. Kim, S. W. Cho, and S. H. Lee, Thin Solid Films 302, 25 (1997).
[CrossRef]

Kim, Y.-S.

D. J. Poxson, M.-L. Kuo, F. W. Mont, Y.-S. Kim, X. Yan, R. E. Welser, A. K. Sood, J. Cho, S.-Y. Lin, and E. F. Schubert, MRS Bull. 36, 434 (2011).
[CrossRef]

Kobayashi, N. P.

V. J. Logeeswaran, N. P. Kobayashi, M. S. Islam, W. Wu, P. Chaturvedi, N. X. Fang, S. Y. Wang, and R. S. Williams, Nano Lett. 9, 178 (2009).
[CrossRef]

Krajewski, J. J.

J. M. Phillips, R. J. Cava, G. A. Thomas, S. A. Carter, J. Kwo, T. Siegrist, J. J. Krajewski, J. H. Marshall, W. F. Peck, and D. H. Rapkine, Appl. Phys. Lett. 67, 2246 (1995).
[CrossRef]

Kuo, M.-L.

D. J. Poxson, M.-L. Kuo, F. W. Mont, Y.-S. Kim, X. Yan, R. E. Welser, A. K. Sood, J. Cho, S.-Y. Lin, and E. F. Schubert, MRS Bull. 36, 434 (2011).
[CrossRef]

Kwo, J.

J. M. Phillips, R. J. Cava, G. A. Thomas, S. A. Carter, J. Kwo, T. Siegrist, J. J. Krajewski, J. H. Marshall, W. F. Peck, and D. H. Rapkine, Appl. Phys. Lett. 67, 2246 (1995).
[CrossRef]

Lee, B. H.

B. H. Lee, I. G. Kim, S. W. Cho, and S. H. Lee, Thin Solid Films 302, 25 (1997).
[CrossRef]

Lee, S. H.

B. H. Lee, I. G. Kim, S. W. Cho, and S. H. Lee, Thin Solid Films 302, 25 (1997).
[CrossRef]

Lenzmann, F.

P. Spinelli, M. Hebbink, R. de Waele, L. Black, F. Lenzmann, and A. Polman, Nano Lett. 11, 1760 (2011).
[CrossRef]

Li, L.

Lin, S.-Y.

D. J. Poxson, M.-L. Kuo, F. W. Mont, Y.-S. Kim, X. Yan, R. E. Welser, A. K. Sood, J. Cho, S.-Y. Lin, and E. F. Schubert, MRS Bull. 36, 434 (2011).
[CrossRef]

Liu, X. L.

J. M. Hao, J. Wang, X. L. Liu, W. J. Padilla, L. Zhou, and M. Qiu, Appl. Phys. Lett. 96, 251104 (2010).
[CrossRef]

Logeeswaran, V. J.

V. J. Logeeswaran, N. P. Kobayashi, M. S. Islam, W. Wu, P. Chaturvedi, N. X. Fang, S. Y. Wang, and R. S. Williams, Nano Lett. 9, 178 (2009).
[CrossRef]

Low, B. L.

F. Zhu, B. L. Low, K. Zhang, and S. J. Chua, Appl. Phys. Lett. 79, 1205 (2001).
[CrossRef]

Major, S.

K. L. Chropra, S. Major, and D. K. Pandya, Thin Solid Films 102, 1 (1983).
[CrossRef]

Marshall, J. H.

J. M. Phillips, R. J. Cava, G. A. Thomas, S. A. Carter, J. Kwo, T. Siegrist, J. J. Krajewski, J. H. Marshall, W. F. Peck, and D. H. Rapkine, Appl. Phys. Lett. 67, 2246 (1995).
[CrossRef]

Mattoussi, H.

H. Kim, C. M. Gilmore, A. Piqué, J. S. Horwitz, H. Mattoussi, H. Murata, Z. H. Kafafi, and D. B. Chrisey, J. Appl. Phys. 86, 6451 (1999).
[CrossRef]

Mont, F. W.

D. J. Poxson, M.-L. Kuo, F. W. Mont, Y.-S. Kim, X. Yan, R. E. Welser, A. K. Sood, J. Cho, S.-Y. Lin, and E. F. Schubert, MRS Bull. 36, 434 (2011).
[CrossRef]

Murata, H.

H. Kim, C. M. Gilmore, A. Piqué, J. S. Horwitz, H. Mattoussi, H. Murata, Z. H. Kafafi, and D. B. Chrisey, J. Appl. Phys. 86, 6451 (1999).
[CrossRef]

Nair, A. S.

H. K. Raut, V. A. Ganesh, A. S. Nair, and S. Ramakrishna, Energ. Environ. Sci. 4, 3779 (2011).
[CrossRef]

Nevière, M.

Padilla, W. J.

J. M. Hao, J. Wang, X. L. Liu, W. J. Padilla, L. Zhou, and M. Qiu, Appl. Phys. Lett. 96, 251104 (2010).
[CrossRef]

Pandya, D. K.

K. L. Chropra, S. Major, and D. K. Pandya, Thin Solid Films 102, 1 (1983).
[CrossRef]

Peck, W. F.

J. M. Phillips, R. J. Cava, G. A. Thomas, S. A. Carter, J. Kwo, T. Siegrist, J. J. Krajewski, J. H. Marshall, W. F. Peck, and D. H. Rapkine, Appl. Phys. Lett. 67, 2246 (1995).
[CrossRef]

Phillips, J. M.

J. M. Phillips, R. J. Cava, G. A. Thomas, S. A. Carter, J. Kwo, T. Siegrist, J. J. Krajewski, J. H. Marshall, W. F. Peck, and D. H. Rapkine, Appl. Phys. Lett. 67, 2246 (1995).
[CrossRef]

Piqué, A.

H. Kim, C. M. Gilmore, A. Piqué, J. S. Horwitz, H. Mattoussi, H. Murata, Z. H. Kafafi, and D. B. Chrisey, J. Appl. Phys. 86, 6451 (1999).
[CrossRef]

Polman, A.

J. van de Grop, P. Spinelli, and A. Polman, Nano Lett. 12, 3138 (2012).
[CrossRef]

P. Spinelli, M. Hebbink, R. de Waele, L. Black, F. Lenzmann, and A. Polman, Nano Lett. 11, 1760 (2011).
[CrossRef]

H. A. Atwater and A. Polman, Nat. Mater. 9, 205 (2010).
[CrossRef]

Popov, E.

Poxson, D. J.

D. J. Poxson, M.-L. Kuo, F. W. Mont, Y.-S. Kim, X. Yan, R. E. Welser, A. K. Sood, J. Cho, S.-Y. Lin, and E. F. Schubert, MRS Bull. 36, 434 (2011).
[CrossRef]

Qiu, M.

J. M. Hao, L. Zhou, and M. Qiu, Phys. Rev. B 83, 165107 (2011).
[CrossRef]

J. M. Hao, J. Wang, X. L. Liu, W. J. Padilla, L. Zhou, and M. Qiu, Appl. Phys. Lett. 96, 251104 (2010).
[CrossRef]

Ramakrishna, S.

H. K. Raut, V. A. Ganesh, A. S. Nair, and S. Ramakrishna, Energ. Environ. Sci. 4, 3779 (2011).
[CrossRef]

Rapkine, D. H.

J. M. Phillips, R. J. Cava, G. A. Thomas, S. A. Carter, J. Kwo, T. Siegrist, J. J. Krajewski, J. H. Marshall, W. F. Peck, and D. H. Rapkine, Appl. Phys. Lett. 67, 2246 (1995).
[CrossRef]

Raut, H. K.

H. K. Raut, V. A. Ganesh, A. S. Nair, and S. Ramakrishna, Energ. Environ. Sci. 4, 3779 (2011).
[CrossRef]

Schubert, E. F.

D. J. Poxson, M.-L. Kuo, F. W. Mont, Y.-S. Kim, X. Yan, R. E. Welser, A. K. Sood, J. Cho, S.-Y. Lin, and E. F. Schubert, MRS Bull. 36, 434 (2011).
[CrossRef]

Siegrist, T.

J. M. Phillips, R. J. Cava, G. A. Thomas, S. A. Carter, J. Kwo, T. Siegrist, J. J. Krajewski, J. H. Marshall, W. F. Peck, and D. H. Rapkine, Appl. Phys. Lett. 67, 2246 (1995).
[CrossRef]

Sood, A. K.

D. J. Poxson, M.-L. Kuo, F. W. Mont, Y.-S. Kim, X. Yan, R. E. Welser, A. K. Sood, J. Cho, S.-Y. Lin, and E. F. Schubert, MRS Bull. 36, 434 (2011).
[CrossRef]

Spinelli, P.

J. van de Grop, P. Spinelli, and A. Polman, Nano Lett. 12, 3138 (2012).
[CrossRef]

P. Spinelli, M. Hebbink, R. de Waele, L. Black, F. Lenzmann, and A. Polman, Nano Lett. 11, 1760 (2011).
[CrossRef]

Strunkus, T.

M. Elbahri, M. K. Hedayati, V. S. K. Chakravadhanula, M. Jamali, T. Strunkus, V. Zaporojtchenko, and F. Faupel, Adv. Mater. 23, 1993 (2011).
[CrossRef]

Stuart, H. R.

H. R. Stuart and D. G. Hall, Appl. Phys. Lett. 69, 2327 (1996).
[CrossRef]

Thomas, G. A.

J. M. Phillips, R. J. Cava, G. A. Thomas, S. A. Carter, J. Kwo, T. Siegrist, J. J. Krajewski, J. H. Marshall, W. F. Peck, and D. H. Rapkine, Appl. Phys. Lett. 67, 2246 (1995).
[CrossRef]

van de Grop, J.

J. van de Grop, P. Spinelli, and A. Polman, Nano Lett. 12, 3138 (2012).
[CrossRef]

Wang, J.

J. M. Hao, J. Wang, X. L. Liu, W. J. Padilla, L. Zhou, and M. Qiu, Appl. Phys. Lett. 96, 251104 (2010).
[CrossRef]

Wang, S. Y.

V. J. Logeeswaran, N. P. Kobayashi, M. S. Islam, W. Wu, P. Chaturvedi, N. X. Fang, S. Y. Wang, and R. S. Williams, Nano Lett. 9, 178 (2009).
[CrossRef]

Welser, R. E.

D. J. Poxson, M.-L. Kuo, F. W. Mont, Y.-S. Kim, X. Yan, R. E. Welser, A. K. Sood, J. Cho, S.-Y. Lin, and E. F. Schubert, MRS Bull. 36, 434 (2011).
[CrossRef]

Williams, R. S.

V. J. Logeeswaran, N. P. Kobayashi, M. S. Islam, W. Wu, P. Chaturvedi, N. X. Fang, S. Y. Wang, and R. S. Williams, Nano Lett. 9, 178 (2009).
[CrossRef]

Wu, W.

V. J. Logeeswaran, N. P. Kobayashi, M. S. Islam, W. Wu, P. Chaturvedi, N. X. Fang, S. Y. Wang, and R. S. Williams, Nano Lett. 9, 178 (2009).
[CrossRef]

Yan, X.

D. J. Poxson, M.-L. Kuo, F. W. Mont, Y.-S. Kim, X. Yan, R. E. Welser, A. K. Sood, J. Cho, S.-Y. Lin, and E. F. Schubert, MRS Bull. 36, 434 (2011).
[CrossRef]

Zaporojtchenko, V.

M. Elbahri, M. K. Hedayati, V. S. K. Chakravadhanula, M. Jamali, T. Strunkus, V. Zaporojtchenko, and F. Faupel, Adv. Mater. 23, 1993 (2011).
[CrossRef]

Zhang, K.

F. Zhu, B. L. Low, K. Zhang, and S. J. Chua, Appl. Phys. Lett. 79, 1205 (2001).
[CrossRef]

Zhou, L.

J. M. Hao, L. Zhou, and M. Qiu, Phys. Rev. B 83, 165107 (2011).
[CrossRef]

J. M. Hao, J. Wang, X. L. Liu, W. J. Padilla, L. Zhou, and M. Qiu, Appl. Phys. Lett. 96, 251104 (2010).
[CrossRef]

Zhu, F.

F. Zhu, B. L. Low, K. Zhang, and S. J. Chua, Appl. Phys. Lett. 79, 1205 (2001).
[CrossRef]

Adv. Mater. (1)

M. Elbahri, M. K. Hedayati, V. S. K. Chakravadhanula, M. Jamali, T. Strunkus, V. Zaporojtchenko, and F. Faupel, Adv. Mater. 23, 1993 (2011).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett. (4)

F. Zhu, B. L. Low, K. Zhang, and S. J. Chua, Appl. Phys. Lett. 79, 1205 (2001).
[CrossRef]

J. M. Hao, J. Wang, X. L. Liu, W. J. Padilla, L. Zhou, and M. Qiu, Appl. Phys. Lett. 96, 251104 (2010).
[CrossRef]

J. M. Phillips, R. J. Cava, G. A. Thomas, S. A. Carter, J. Kwo, T. Siegrist, J. J. Krajewski, J. H. Marshall, W. F. Peck, and D. H. Rapkine, Appl. Phys. Lett. 67, 2246 (1995).
[CrossRef]

H. R. Stuart and D. G. Hall, Appl. Phys. Lett. 69, 2327 (1996).
[CrossRef]

Energ. Environ. Sci. (1)

H. K. Raut, V. A. Ganesh, A. S. Nair, and S. Ramakrishna, Energ. Environ. Sci. 4, 3779 (2011).
[CrossRef]

J. Appl. Phys. (1)

H. Kim, C. M. Gilmore, A. Piqué, J. S. Horwitz, H. Mattoussi, H. Murata, Z. H. Kafafi, and D. B. Chrisey, J. Appl. Phys. 86, 6451 (1999).
[CrossRef]

MRS Bull. (1)

D. J. Poxson, M.-L. Kuo, F. W. Mont, Y.-S. Kim, X. Yan, R. E. Welser, A. K. Sood, J. Cho, S.-Y. Lin, and E. F. Schubert, MRS Bull. 36, 434 (2011).
[CrossRef]

Nano Lett. (3)

P. Spinelli, M. Hebbink, R. de Waele, L. Black, F. Lenzmann, and A. Polman, Nano Lett. 11, 1760 (2011).
[CrossRef]

J. van de Grop, P. Spinelli, and A. Polman, Nano Lett. 12, 3138 (2012).
[CrossRef]

V. J. Logeeswaran, N. P. Kobayashi, M. S. Islam, W. Wu, P. Chaturvedi, N. X. Fang, S. Y. Wang, and R. S. Williams, Nano Lett. 9, 178 (2009).
[CrossRef]

Nat. Mater. (1)

H. A. Atwater and A. Polman, Nat. Mater. 9, 205 (2010).
[CrossRef]

Nature (1)

W. L. Barnes, A. Dereux, and T. W. Ebbesen, Nature 424, 824 (2003).
[CrossRef]

Opt. Express (1)

Phys. Rev. B (2)

P. B. Johnson and R. W. Christy, Phys. Rev. B 6, 4370 (1972).
[CrossRef]

J. M. Hao, L. Zhou, and M. Qiu, Phys. Rev. B 83, 165107 (2011).
[CrossRef]

Thin Solid Films (2)

K. L. Chropra, S. Major, and D. K. Pandya, Thin Solid Films 102, 1 (1983).
[CrossRef]

B. H. Lee, I. G. Kim, S. W. Cho, and S. H. Lee, Thin Solid Films 302, 25 (1997).
[CrossRef]

Other (1)

CST Microwave Studio, CST GmbH, Germany, 2010.

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (4)

Fig. 1.
Fig. 1.

Transmittance as a function of wavelength. S, our antireflection transparent conductive device. C1, the central silver film layer of our device. C2, a system with only the top three layers of our device kept. The inset shows a schematic of unit cell of the structure studied in this Letter. The yellow regions are metal silver, and the scarlet region is the dielectric.

Fig. 2.
Fig. 2.

Transmittance as a function of wavelength and the width of square metal particles.

Fig. 3.
Fig. 3.

Transmittance spectra for five different thickness spacer layers.

Fig. 4.
Fig. 4.

Electric field distributions for the two different modes. The direction electric field is denoted by the arrows and its magnitude by the length of arrows and the colors. Wavelengths are of (a) 1.55 and (b) 2.01 μm.

Metrics