Abstract

A method to generate time- and wavelength-interleaved optical pulse trains based on dispersion spreading and sectional compression is proposed and demonstrated. A 4×2GHz time- and wavelength-interleaved pulse train is generated from an input 2 GHz mode-locked pulse train. The advantages of the proposed scheme are its simplicity and robustness, since no microwave component or multiwavelength laser source is required. In addition, we demonstrate supercontinuum generation of an ultraflat 18 nm bandwidth spectrum with less than 0.5 dB fluctuation over the 3.2 nm central bandwidth.

© 2012 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. G. C. Valley, Opt. Express 15, 1955 (2007).
    [CrossRef]
  2. F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).
  3. P. W. Juodawlkis, J. C. Twichell, G. E. Betts, J. J. Hargreaves, R. D. Younger, J. L. Wasserman, F. J. O’Donnell, K. G. Ray, and R. C. Williamson, IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 49, 1840 (2001).
    [CrossRef]
  4. A. Yariv and R. Koumans, Electron. Lett. 34, 2012 (1998).
    [CrossRef]
  5. J. van Howe, J. Hansryd, and C. Xu, Opt. Lett. 29, 1470 (2004).
    [CrossRef]
  6. X. Fu, H. M. Zhang, Y. Peng, and M. Y. Yao, Opt. Eng. 48, 104302 (2009).
    [CrossRef]
  7. K. L. Lee, M. P. Fok, and C. Shu, Opt. Commun. 251, 149 (2005).
    [CrossRef]
  8. C. M. Ouyang, P. P. Shum, K. Wu, J. H. Wong, X. Wu, H. Q. Lam, and S. Aditya, IEEE Photon. J. 3, 881 (2011).
    [CrossRef]
  9. S. Ramachandran, S. Ghalmi, S. Chandrasekhar, I. Ryazansky, M. F. Yan, F. V. Dimarcello, W. A. Reed, and P. Wisk, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 727(2003).
    [CrossRef]
  10. G. H. Lee, S. J. Xiao, and A. M. Weiner, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1819 (2006).
    [CrossRef]
  11. X. W. Shu, K. Sugden, P. Rhead, J. Mitchell, I. Felmeri, G. Lloyd, K. Byron, Z. J. Huang, I. Khrushchev, and I. Bennion, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1111 (2003).
    [CrossRef]

2011 (1)

C. M. Ouyang, P. P. Shum, K. Wu, J. H. Wong, X. Wu, H. Q. Lam, and S. Aditya, IEEE Photon. J. 3, 881 (2011).
[CrossRef]

2009 (1)

X. Fu, H. M. Zhang, Y. Peng, and M. Y. Yao, Opt. Eng. 48, 104302 (2009).
[CrossRef]

2008 (1)

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

2007 (1)

2006 (1)

G. H. Lee, S. J. Xiao, and A. M. Weiner, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1819 (2006).
[CrossRef]

2005 (1)

K. L. Lee, M. P. Fok, and C. Shu, Opt. Commun. 251, 149 (2005).
[CrossRef]

2004 (1)

2003 (2)

S. Ramachandran, S. Ghalmi, S. Chandrasekhar, I. Ryazansky, M. F. Yan, F. V. Dimarcello, W. A. Reed, and P. Wisk, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 727(2003).
[CrossRef]

X. W. Shu, K. Sugden, P. Rhead, J. Mitchell, I. Felmeri, G. Lloyd, K. Byron, Z. J. Huang, I. Khrushchev, and I. Bennion, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1111 (2003).
[CrossRef]

2001 (1)

P. W. Juodawlkis, J. C. Twichell, G. E. Betts, J. J. Hargreaves, R. D. Younger, J. L. Wasserman, F. J. O’Donnell, K. G. Ray, and R. C. Williamson, IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 49, 1840 (2001).
[CrossRef]

1998 (1)

A. Yariv and R. Koumans, Electron. Lett. 34, 2012 (1998).
[CrossRef]

Aditya, S.

C. M. Ouyang, P. P. Shum, K. Wu, J. H. Wong, X. Wu, H. Q. Lam, and S. Aditya, IEEE Photon. J. 3, 881 (2011).
[CrossRef]

Amatya, R.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Araghchini, M.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Bennion, I.

X. W. Shu, K. Sugden, P. Rhead, J. Mitchell, I. Felmeri, G. Lloyd, K. Byron, Z. J. Huang, I. Khrushchev, and I. Bennion, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1111 (2003).
[CrossRef]

Betts, G. E.

P. W. Juodawlkis, J. C. Twichell, G. E. Betts, J. J. Hargreaves, R. D. Younger, J. L. Wasserman, F. J. O’Donnell, K. G. Ray, and R. C. Williamson, IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 49, 1840 (2001).
[CrossRef]

Birge, J.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Byron, K.

X. W. Shu, K. Sugden, P. Rhead, J. Mitchell, I. Felmeri, G. Lloyd, K. Byron, Z. J. Huang, I. Khrushchev, and I. Bennion, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1111 (2003).
[CrossRef]

Byun, H.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Chandrasekhar, S.

S. Ramachandran, S. Ghalmi, S. Chandrasekhar, I. Ryazansky, M. F. Yan, F. V. Dimarcello, W. A. Reed, and P. Wisk, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 727(2003).
[CrossRef]

Chen, J.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Dahlem, M.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

DiLello, N. A.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Dimarcello, F. V.

S. Ramachandran, S. Ghalmi, S. Chandrasekhar, I. Ryazansky, M. F. Yan, F. V. Dimarcello, W. A. Reed, and P. Wisk, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 727(2003).
[CrossRef]

Felmeri, I.

X. W. Shu, K. Sugden, P. Rhead, J. Mitchell, I. Felmeri, G. Lloyd, K. Byron, Z. J. Huang, I. Khrushchev, and I. Bennion, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1111 (2003).
[CrossRef]

Fok, M. P.

K. L. Lee, M. P. Fok, and C. Shu, Opt. Commun. 251, 149 (2005).
[CrossRef]

Fu, X.

X. Fu, H. M. Zhang, Y. Peng, and M. Y. Yao, Opt. Eng. 48, 104302 (2009).
[CrossRef]

Gan, F.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Geis, M. W.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Ghalmi, S.

S. Ramachandran, S. Ghalmi, S. Chandrasekhar, I. Ryazansky, M. F. Yan, F. V. Dimarcello, W. A. Reed, and P. Wisk, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 727(2003).
[CrossRef]

Grein, M. E.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Hansryd, J.

Hargreaves, J. J.

P. W. Juodawlkis, J. C. Twichell, G. E. Betts, J. J. Hargreaves, R. D. Younger, J. L. Wasserman, F. J. O’Donnell, K. G. Ray, and R. C. Williamson, IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 49, 1840 (2001).
[CrossRef]

Holzwarth, C. W.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Hoyt, J. L.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Huang, Z. J.

X. W. Shu, K. Sugden, P. Rhead, J. Mitchell, I. Felmeri, G. Lloyd, K. Byron, Z. J. Huang, I. Khrushchev, and I. Bennion, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1111 (2003).
[CrossRef]

Ippen, E. P.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Juodawlkis, P. W.

P. W. Juodawlkis, J. C. Twichell, G. E. Betts, J. J. Hargreaves, R. D. Younger, J. L. Wasserman, F. J. O’Donnell, K. G. Ray, and R. C. Williamson, IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 49, 1840 (2001).
[CrossRef]

Kartner, F. X.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Khilo, A.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Khrushchev, I.

X. W. Shu, K. Sugden, P. Rhead, J. Mitchell, I. Felmeri, G. Lloyd, K. Byron, Z. J. Huang, I. Khrushchev, and I. Bennion, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1111 (2003).
[CrossRef]

Kim, J.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Kim, M.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Koumans, R.

A. Yariv and R. Koumans, Electron. Lett. 34, 2012 (1998).
[CrossRef]

Lam, H. Q.

C. M. Ouyang, P. P. Shum, K. Wu, J. H. Wong, X. Wu, H. Q. Lam, and S. Aditya, IEEE Photon. J. 3, 881 (2011).
[CrossRef]

Lee, G. H.

G. H. Lee, S. J. Xiao, and A. M. Weiner, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1819 (2006).
[CrossRef]

Lee, K. L.

K. L. Lee, M. P. Fok, and C. Shu, Opt. Commun. 251, 149 (2005).
[CrossRef]

Lennon, D. M.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Lloyd, G.

X. W. Shu, K. Sugden, P. Rhead, J. Mitchell, I. Felmeri, G. Lloyd, K. Byron, Z. J. Huang, I. Khrushchev, and I. Bennion, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1111 (2003).
[CrossRef]

Lyszczarz, T. M.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Mitchell, J.

X. W. Shu, K. Sugden, P. Rhead, J. Mitchell, I. Felmeri, G. Lloyd, K. Byron, Z. J. Huang, I. Khrushchev, and I. Bennion, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1111 (2003).
[CrossRef]

Motamedi, A.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

O’Donnell, F. J.

P. W. Juodawlkis, J. C. Twichell, G. E. Betts, J. J. Hargreaves, R. D. Younger, J. L. Wasserman, F. J. O’Donnell, K. G. Ray, and R. C. Williamson, IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 49, 1840 (2001).
[CrossRef]

Orcutt, J. S.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Ouyang, C. M.

C. M. Ouyang, P. P. Shum, K. Wu, J. H. Wong, X. Wu, H. Q. Lam, and S. Aditya, IEEE Photon. J. 3, 881 (2011).
[CrossRef]

Park, M.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Peng, Y.

X. Fu, H. M. Zhang, Y. Peng, and M. Y. Yao, Opt. Eng. 48, 104302 (2009).
[CrossRef]

Perrott, M.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Popovic, M. A.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Ram, R. J.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Ramachandran, S.

S. Ramachandran, S. Ghalmi, S. Chandrasekhar, I. Ryazansky, M. F. Yan, F. V. Dimarcello, W. A. Reed, and P. Wisk, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 727(2003).
[CrossRef]

Ray, K. G.

P. W. Juodawlkis, J. C. Twichell, G. E. Betts, J. J. Hargreaves, R. D. Younger, J. L. Wasserman, F. J. O’Donnell, K. G. Ray, and R. C. Williamson, IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 49, 1840 (2001).
[CrossRef]

Reed, W. A.

S. Ramachandran, S. Ghalmi, S. Chandrasekhar, I. Ryazansky, M. F. Yan, F. V. Dimarcello, W. A. Reed, and P. Wisk, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 727(2003).
[CrossRef]

Rhead, P.

X. W. Shu, K. Sugden, P. Rhead, J. Mitchell, I. Felmeri, G. Lloyd, K. Byron, Z. J. Huang, I. Khrushchev, and I. Bennion, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1111 (2003).
[CrossRef]

Ryazansky, I.

S. Ramachandran, S. Ghalmi, S. Chandrasekhar, I. Ryazansky, M. F. Yan, F. V. Dimarcello, W. A. Reed, and P. Wisk, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 727(2003).
[CrossRef]

Schulein, R. T.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Shu, C.

K. L. Lee, M. P. Fok, and C. Shu, Opt. Commun. 251, 149 (2005).
[CrossRef]

Shu, X. W.

X. W. Shu, K. Sugden, P. Rhead, J. Mitchell, I. Felmeri, G. Lloyd, K. Byron, Z. J. Huang, I. Khrushchev, and I. Bennion, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1111 (2003).
[CrossRef]

Shum, P. P.

C. M. Ouyang, P. P. Shum, K. Wu, J. H. Wong, X. Wu, H. Q. Lam, and S. Aditya, IEEE Photon. J. 3, 881 (2011).
[CrossRef]

Smith, H. I.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Spector, S. J.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Sugden, K.

X. W. Shu, K. Sugden, P. Rhead, J. Mitchell, I. Felmeri, G. Lloyd, K. Byron, Z. J. Huang, I. Khrushchev, and I. Bennion, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1111 (2003).
[CrossRef]

Twichell, J. C.

P. W. Juodawlkis, J. C. Twichell, G. E. Betts, J. J. Hargreaves, R. D. Younger, J. L. Wasserman, F. J. O’Donnell, K. G. Ray, and R. C. Williamson, IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 49, 1840 (2001).
[CrossRef]

Valley, G. C.

van Howe, J.

Wasserman, J. L.

P. W. Juodawlkis, J. C. Twichell, G. E. Betts, J. J. Hargreaves, R. D. Younger, J. L. Wasserman, F. J. O’Donnell, K. G. Ray, and R. C. Williamson, IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 49, 1840 (2001).
[CrossRef]

Weiner, A. M.

G. H. Lee, S. J. Xiao, and A. M. Weiner, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1819 (2006).
[CrossRef]

Williamson, R. C.

P. W. Juodawlkis, J. C. Twichell, G. E. Betts, J. J. Hargreaves, R. D. Younger, J. L. Wasserman, F. J. O’Donnell, K. G. Ray, and R. C. Williamson, IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 49, 1840 (2001).
[CrossRef]

Wisk, P.

S. Ramachandran, S. Ghalmi, S. Chandrasekhar, I. Ryazansky, M. F. Yan, F. V. Dimarcello, W. A. Reed, and P. Wisk, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 727(2003).
[CrossRef]

Wong, J. H.

C. M. Ouyang, P. P. Shum, K. Wu, J. H. Wong, X. Wu, H. Q. Lam, and S. Aditya, IEEE Photon. J. 3, 881 (2011).
[CrossRef]

Wu, K.

C. M. Ouyang, P. P. Shum, K. Wu, J. H. Wong, X. Wu, H. Q. Lam, and S. Aditya, IEEE Photon. J. 3, 881 (2011).
[CrossRef]

Wu, X.

C. M. Ouyang, P. P. Shum, K. Wu, J. H. Wong, X. Wu, H. Q. Lam, and S. Aditya, IEEE Photon. J. 3, 881 (2011).
[CrossRef]

Xiao, S. J.

G. H. Lee, S. J. Xiao, and A. M. Weiner, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1819 (2006).
[CrossRef]

Xu, C.

Yan, M. F.

S. Ramachandran, S. Ghalmi, S. Chandrasekhar, I. Ryazansky, M. F. Yan, F. V. Dimarcello, W. A. Reed, and P. Wisk, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 727(2003).
[CrossRef]

Yao, M. Y.

X. Fu, H. M. Zhang, Y. Peng, and M. Y. Yao, Opt. Eng. 48, 104302 (2009).
[CrossRef]

Yariv, A.

A. Yariv and R. Koumans, Electron. Lett. 34, 2012 (1998).
[CrossRef]

Yoon, J. U.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Younger, R. D.

P. W. Juodawlkis, J. C. Twichell, G. E. Betts, J. J. Hargreaves, R. D. Younger, J. L. Wasserman, F. J. O’Donnell, K. G. Ray, and R. C. Williamson, IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 49, 1840 (2001).
[CrossRef]

Zhang, H. M.

X. Fu, H. M. Zhang, Y. Peng, and M. Y. Yao, Opt. Eng. 48, 104302 (2009).
[CrossRef]

Zhou, G. R.

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Electron. Lett. (1)

A. Yariv and R. Koumans, Electron. Lett. 34, 2012 (1998).
[CrossRef]

IEEE Photon. J. (1)

C. M. Ouyang, P. P. Shum, K. Wu, J. H. Wong, X. Wu, H. Q. Lam, and S. Aditya, IEEE Photon. J. 3, 881 (2011).
[CrossRef]

IEEE Photon. Technol. Lett. (3)

S. Ramachandran, S. Ghalmi, S. Chandrasekhar, I. Ryazansky, M. F. Yan, F. V. Dimarcello, W. A. Reed, and P. Wisk, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 727(2003).
[CrossRef]

G. H. Lee, S. J. Xiao, and A. M. Weiner, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 1819 (2006).
[CrossRef]

X. W. Shu, K. Sugden, P. Rhead, J. Mitchell, I. Felmeri, G. Lloyd, K. Byron, Z. J. Huang, I. Khrushchev, and I. Bennion, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1111 (2003).
[CrossRef]

IEEE Trans. Microw. Theory Tech. (1)

P. W. Juodawlkis, J. C. Twichell, G. E. Betts, J. J. Hargreaves, R. D. Younger, J. L. Wasserman, F. J. O’Donnell, K. G. Ray, and R. C. Williamson, IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 49, 1840 (2001).
[CrossRef]

Opt. Commun. (1)

K. L. Lee, M. P. Fok, and C. Shu, Opt. Commun. 251, 149 (2005).
[CrossRef]

Opt. Eng. (1)

X. Fu, H. M. Zhang, Y. Peng, and M. Y. Yao, Opt. Eng. 48, 104302 (2009).
[CrossRef]

Opt. Express (1)

Opt. Lett. (1)

Proc. SPIE (1)

F. X. Kartner, R. Amatya, M. Araghchini, J. Birge, H. Byun, J. Chen, M. Dahlem, N. A. DiLello, F. Gan, C. W. Holzwarth, J. L. Hoyt, E. P. Ippen, A. Khilo, J. Kim, M. Kim, A. Motamedi, J. S. Orcutt, M. Park, M. Perrott, M. A. Popovic, R. J. Ram, H. I. Smith, G. R. Zhou, S. J. Spector, T. M. Lyszczarz, M. W. Geis, D. M. Lennon, J. U. Yoon, M. E. Grein, and R. T. Schulein, Proc. SPIE 6898, 689806 (2008).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (6)

Fig. 1.
Fig. 1.

Setup of a system to generate time- and wavelength-interleaved pulse train.

Fig. 2.
Fig. 2.

Group delay of the single-channel dispersion module.

Fig. 3.
Fig. 3.

Group delay of the multichannel dispersion module.

Fig. 4.
Fig. 4.

Experimental setup to generate time- and wavelength-interleaved pulse train.

Fig. 5.
Fig. 5.

Optical spectra of the pulses at the input and output of the SC generator; the optical spectrum analyzer’s resolution is 0.02 nm.

Fig. 6.
Fig. 6.

Oscilloscope traces of the 2 GHz input pulse train (a) and the generated time- and wavelength-interleaved 8 GHz pulse train (b).

Metrics