Abstract

The transmittive and reflective Z-scan technique is used with a 10 Hz, frequency doubled, Q-switched, and mode-locked Nd:YAG laser to verify that the reflectivity of the super-resolution near-field structure of an SiN/Sb/SiN thin film increases as incident intensity decreases. This intensity-dependent reflection, called nonlinear reflection, reflects a TEM00 mode laser beam more strongly at its periphery than at its center and so shrinks the transmitted laser beam. The observed nonlinear reflection is attributed to laser-induced change of carrier densities in Sb, to justify quantitatively the experimental results.

© 2012 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C.-H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).
    [CrossRef]
  2. E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).
    [CrossRef]
  3. E. Betzig and J. K. Trautman, Science 257, 189 (1992).
    [CrossRef]
  4. D. P. Tsai and W. R. Guo, J. Vac. Sci. Technol. A 15, 1422 (1997).
  5. B. D. Terris, H. J. Mamin, D. Rugar, W. R. Studenmund, and G. S. Kino, Appl. Phys. Lett. 65, 388 (1994).
    [CrossRef]
  6. J. Tominaga, T. Nakano, and N. Atoda, Appl. Phys. Lett. 73, 2078 (1998).
    [CrossRef]
  7. T. Fukaya, J. Tominaga, T. Nakano, and N. Atoda, Appl. Phys. Lett. 75, 3114 (1999).
    [CrossRef]
  8. D. P. Tsai, C. W. Yang, W. C. Lin, F. H. Ho, H. J. Huang, M. Y. Chen, T. F. Tseng, C. H. Lee, and C. J. Yeh, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 982 (2000).
    [CrossRef]
  9. D. P. Tsai and W. C. Lin, Appl. Phys. Lett. 77, 1413 (2000).
    [CrossRef]
  10. W. C. Liu, C. Y. Wen, K. H. Chen, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Appl. Phys. Lett. 78, 685 (2001).
    [CrossRef]
  11. T. Fukaya, D. Buechel, S. Shinbori, J. Tominaga, N. Atoda, D. P. Tsai, and W. C. Lin, J. Appl. Phys. 89, 6139 (2001).
    [CrossRef]
  12. D. Egorov, B. S. Dennis, G. Blumberg, and M. I. Haftel, Phys. Rev. B70, 33404 (2004).
    [CrossRef]
  13. F. H. Ho, W. Y. Lin, H. H. Chang, Y. H. Lin, W. C. Liu, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 4101 (2001).
    [CrossRef]
  14. J. W. Fang, C. C. Wu, A. Liao, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 45, 1383 (2006).
    [CrossRef]
  15. D. R. Ou, J. Zhu, and J. H. Zhao, Appl. Phys. Lett. 82, 1521 (2003).
    [CrossRef]
  16. M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. H. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
    [CrossRef]
  17. N. Peyghambarian, S. W. Koch, and A. Mysyrowicz, Introduction to Semiconductor Optics (Prentice-Hall, New Jersey, 1993).
  18. L. Harris and F. R. Corrigan, J. Opt. Soc. Am. 54, 1437 (1964).
    [CrossRef]
  19. M. Born and E. Wolf, Principles of Optics (Cambridge Univ. Press, Cambridge, 1980).
  20. O. S. Heavens, Optical Properties of Thin Solid Films(Dover, New York, 1991).
  21. Q. Jiang, B. Q. Chi, and J. C. Li, Appl. Phys. Lett. 82, 2984 (2003).
    [CrossRef]

2006 (1)

J. W. Fang, C. C. Wu, A. Liao, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 45, 1383 (2006).
[CrossRef]

2004 (1)

D. Egorov, B. S. Dennis, G. Blumberg, and M. I. Haftel, Phys. Rev. B70, 33404 (2004).
[CrossRef]

2003 (2)

D. R. Ou, J. Zhu, and J. H. Zhao, Appl. Phys. Lett. 82, 1521 (2003).
[CrossRef]

Q. Jiang, B. Q. Chi, and J. C. Li, Appl. Phys. Lett. 82, 2984 (2003).
[CrossRef]

2001 (3)

F. H. Ho, W. Y. Lin, H. H. Chang, Y. H. Lin, W. C. Liu, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 4101 (2001).
[CrossRef]

W. C. Liu, C. Y. Wen, K. H. Chen, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Appl. Phys. Lett. 78, 685 (2001).
[CrossRef]

T. Fukaya, D. Buechel, S. Shinbori, J. Tominaga, N. Atoda, D. P. Tsai, and W. C. Lin, J. Appl. Phys. 89, 6139 (2001).
[CrossRef]

2000 (2)

D. P. Tsai, C. W. Yang, W. C. Lin, F. H. Ho, H. J. Huang, M. Y. Chen, T. F. Tseng, C. H. Lee, and C. J. Yeh, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 982 (2000).
[CrossRef]

D. P. Tsai and W. C. Lin, Appl. Phys. Lett. 77, 1413 (2000).
[CrossRef]

1999 (1)

T. Fukaya, J. Tominaga, T. Nakano, and N. Atoda, Appl. Phys. Lett. 75, 3114 (1999).
[CrossRef]

1998 (1)

J. Tominaga, T. Nakano, and N. Atoda, Appl. Phys. Lett. 73, 2078 (1998).
[CrossRef]

1997 (1)

D. P. Tsai and W. R. Guo, J. Vac. Sci. Technol. A 15, 1422 (1997).

1994 (1)

B. D. Terris, H. J. Mamin, D. Rugar, W. R. Studenmund, and G. S. Kino, Appl. Phys. Lett. 65, 388 (1994).
[CrossRef]

1992 (2)

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C.-H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).
[CrossRef]

E. Betzig and J. K. Trautman, Science 257, 189 (1992).
[CrossRef]

1991 (1)

E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).
[CrossRef]

1990 (1)

M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. H. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
[CrossRef]

1964 (1)

Atoda, N.

T. Fukaya, D. Buechel, S. Shinbori, J. Tominaga, N. Atoda, D. P. Tsai, and W. C. Lin, J. Appl. Phys. 89, 6139 (2001).
[CrossRef]

T. Fukaya, J. Tominaga, T. Nakano, and N. Atoda, Appl. Phys. Lett. 75, 3114 (1999).
[CrossRef]

J. Tominaga, T. Nakano, and N. Atoda, Appl. Phys. Lett. 73, 2078 (1998).
[CrossRef]

Betzig, E.

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C.-H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).
[CrossRef]

E. Betzig and J. K. Trautman, Science 257, 189 (1992).
[CrossRef]

E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).
[CrossRef]

Blumberg, G.

D. Egorov, B. S. Dennis, G. Blumberg, and M. I. Haftel, Phys. Rev. B70, 33404 (2004).
[CrossRef]

Born, M.

M. Born and E. Wolf, Principles of Optics (Cambridge Univ. Press, Cambridge, 1980).

Buechel, D.

T. Fukaya, D. Buechel, S. Shinbori, J. Tominaga, N. Atoda, D. P. Tsai, and W. C. Lin, J. Appl. Phys. 89, 6139 (2001).
[CrossRef]

Chang, C.-H.

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C.-H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).
[CrossRef]

Chang, H. H.

F. H. Ho, W. Y. Lin, H. H. Chang, Y. H. Lin, W. C. Liu, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 4101 (2001).
[CrossRef]

Chen, K. H.

W. C. Liu, C. Y. Wen, K. H. Chen, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Appl. Phys. Lett. 78, 685 (2001).
[CrossRef]

Chen, M. Y.

D. P. Tsai, C. W. Yang, W. C. Lin, F. H. Ho, H. J. Huang, M. Y. Chen, T. F. Tseng, C. H. Lee, and C. J. Yeh, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 982 (2000).
[CrossRef]

Chi, B. Q.

Q. Jiang, B. Q. Chi, and J. C. Li, Appl. Phys. Lett. 82, 2984 (2003).
[CrossRef]

Corrigan, F. R.

Dennis, B. S.

D. Egorov, B. S. Dennis, G. Blumberg, and M. I. Haftel, Phys. Rev. B70, 33404 (2004).
[CrossRef]

Egorov, D.

D. Egorov, B. S. Dennis, G. Blumberg, and M. I. Haftel, Phys. Rev. B70, 33404 (2004).
[CrossRef]

Fang, J. W.

J. W. Fang, C. C. Wu, A. Liao, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 45, 1383 (2006).
[CrossRef]

Finn, P. L.

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C.-H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).
[CrossRef]

Fukaya, T.

T. Fukaya, D. Buechel, S. Shinbori, J. Tominaga, N. Atoda, D. P. Tsai, and W. C. Lin, J. Appl. Phys. 89, 6139 (2001).
[CrossRef]

T. Fukaya, J. Tominaga, T. Nakano, and N. Atoda, Appl. Phys. Lett. 75, 3114 (1999).
[CrossRef]

Guo, W. R.

D. P. Tsai and W. R. Guo, J. Vac. Sci. Technol. A 15, 1422 (1997).

Gyorgy, E. M.

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C.-H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).
[CrossRef]

Haftel, M. I.

D. Egorov, B. S. Dennis, G. Blumberg, and M. I. Haftel, Phys. Rev. B70, 33404 (2004).
[CrossRef]

Hagan, D. J.

M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. H. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
[CrossRef]

Harris, L.

Harris, T. D.

E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).
[CrossRef]

Heavens, O. S.

O. S. Heavens, Optical Properties of Thin Solid Films(Dover, New York, 1991).

Ho, F. H.

F. H. Ho, W. Y. Lin, H. H. Chang, Y. H. Lin, W. C. Liu, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 4101 (2001).
[CrossRef]

D. P. Tsai, C. W. Yang, W. C. Lin, F. H. Ho, H. J. Huang, M. Y. Chen, T. F. Tseng, C. H. Lee, and C. J. Yeh, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 982 (2000).
[CrossRef]

Huang, H. J.

D. P. Tsai, C. W. Yang, W. C. Lin, F. H. Ho, H. J. Huang, M. Y. Chen, T. F. Tseng, C. H. Lee, and C. J. Yeh, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 982 (2000).
[CrossRef]

Jiang, Q.

Q. Jiang, B. Q. Chi, and J. C. Li, Appl. Phys. Lett. 82, 2984 (2003).
[CrossRef]

Kino, G. S.

B. D. Terris, H. J. Mamin, D. Rugar, W. R. Studenmund, and G. S. Kino, Appl. Phys. Lett. 65, 388 (1994).
[CrossRef]

Koch, S. W.

N. Peyghambarian, S. W. Koch, and A. Mysyrowicz, Introduction to Semiconductor Optics (Prentice-Hall, New Jersey, 1993).

Kostelak, R. L.

E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).
[CrossRef]

Kryder, M. H.

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C.-H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).
[CrossRef]

Lee, C. H.

D. P. Tsai, C. W. Yang, W. C. Lin, F. H. Ho, H. J. Huang, M. Y. Chen, T. F. Tseng, C. H. Lee, and C. J. Yeh, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 982 (2000).
[CrossRef]

Li, J. C.

Q. Jiang, B. Q. Chi, and J. C. Li, Appl. Phys. Lett. 82, 2984 (2003).
[CrossRef]

Liao, A.

J. W. Fang, C. C. Wu, A. Liao, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 45, 1383 (2006).
[CrossRef]

Lin, W. C.

J. W. Fang, C. C. Wu, A. Liao, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 45, 1383 (2006).
[CrossRef]

W. C. Liu, C. Y. Wen, K. H. Chen, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Appl. Phys. Lett. 78, 685 (2001).
[CrossRef]

T. Fukaya, D. Buechel, S. Shinbori, J. Tominaga, N. Atoda, D. P. Tsai, and W. C. Lin, J. Appl. Phys. 89, 6139 (2001).
[CrossRef]

D. P. Tsai, C. W. Yang, W. C. Lin, F. H. Ho, H. J. Huang, M. Y. Chen, T. F. Tseng, C. H. Lee, and C. J. Yeh, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 982 (2000).
[CrossRef]

D. P. Tsai and W. C. Lin, Appl. Phys. Lett. 77, 1413 (2000).
[CrossRef]

Lin, W. Y.

F. H. Ho, W. Y. Lin, H. H. Chang, Y. H. Lin, W. C. Liu, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 4101 (2001).
[CrossRef]

Lin, Y. H.

F. H. Ho, W. Y. Lin, H. H. Chang, Y. H. Lin, W. C. Liu, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 4101 (2001).
[CrossRef]

Liu, W. C.

F. H. Ho, W. Y. Lin, H. H. Chang, Y. H. Lin, W. C. Liu, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 4101 (2001).
[CrossRef]

W. C. Liu, C. Y. Wen, K. H. Chen, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Appl. Phys. Lett. 78, 685 (2001).
[CrossRef]

Mamin, H. J.

B. D. Terris, H. J. Mamin, D. Rugar, W. R. Studenmund, and G. S. Kino, Appl. Phys. Lett. 65, 388 (1994).
[CrossRef]

Mysyrowicz, A.

N. Peyghambarian, S. W. Koch, and A. Mysyrowicz, Introduction to Semiconductor Optics (Prentice-Hall, New Jersey, 1993).

Nakano, T.

T. Fukaya, J. Tominaga, T. Nakano, and N. Atoda, Appl. Phys. Lett. 75, 3114 (1999).
[CrossRef]

J. Tominaga, T. Nakano, and N. Atoda, Appl. Phys. Lett. 73, 2078 (1998).
[CrossRef]

Ou, D. R.

D. R. Ou, J. Zhu, and J. H. Zhao, Appl. Phys. Lett. 82, 1521 (2003).
[CrossRef]

Peyghambarian, N.

N. Peyghambarian, S. W. Koch, and A. Mysyrowicz, Introduction to Semiconductor Optics (Prentice-Hall, New Jersey, 1993).

Rugar, D.

B. D. Terris, H. J. Mamin, D. Rugar, W. R. Studenmund, and G. S. Kino, Appl. Phys. Lett. 65, 388 (1994).
[CrossRef]

Said, A. A.

M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. H. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
[CrossRef]

Sheik-Bahae, M.

M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. H. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
[CrossRef]

Shinbori, S.

T. Fukaya, D. Buechel, S. Shinbori, J. Tominaga, N. Atoda, D. P. Tsai, and W. C. Lin, J. Appl. Phys. 89, 6139 (2001).
[CrossRef]

Studenmund, W. R.

B. D. Terris, H. J. Mamin, D. Rugar, W. R. Studenmund, and G. S. Kino, Appl. Phys. Lett. 65, 388 (1994).
[CrossRef]

Terris, B. D.

B. D. Terris, H. J. Mamin, D. Rugar, W. R. Studenmund, and G. S. Kino, Appl. Phys. Lett. 65, 388 (1994).
[CrossRef]

Tominaga, J.

T. Fukaya, D. Buechel, S. Shinbori, J. Tominaga, N. Atoda, D. P. Tsai, and W. C. Lin, J. Appl. Phys. 89, 6139 (2001).
[CrossRef]

T. Fukaya, J. Tominaga, T. Nakano, and N. Atoda, Appl. Phys. Lett. 75, 3114 (1999).
[CrossRef]

J. Tominaga, T. Nakano, and N. Atoda, Appl. Phys. Lett. 73, 2078 (1998).
[CrossRef]

Trautman, J. K.

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C.-H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).
[CrossRef]

E. Betzig and J. K. Trautman, Science 257, 189 (1992).
[CrossRef]

E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).
[CrossRef]

Tsai, D. P.

J. W. Fang, C. C. Wu, A. Liao, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 45, 1383 (2006).
[CrossRef]

F. H. Ho, W. Y. Lin, H. H. Chang, Y. H. Lin, W. C. Liu, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 4101 (2001).
[CrossRef]

W. C. Liu, C. Y. Wen, K. H. Chen, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Appl. Phys. Lett. 78, 685 (2001).
[CrossRef]

T. Fukaya, D. Buechel, S. Shinbori, J. Tominaga, N. Atoda, D. P. Tsai, and W. C. Lin, J. Appl. Phys. 89, 6139 (2001).
[CrossRef]

D. P. Tsai, C. W. Yang, W. C. Lin, F. H. Ho, H. J. Huang, M. Y. Chen, T. F. Tseng, C. H. Lee, and C. J. Yeh, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 982 (2000).
[CrossRef]

D. P. Tsai and W. C. Lin, Appl. Phys. Lett. 77, 1413 (2000).
[CrossRef]

D. P. Tsai and W. R. Guo, J. Vac. Sci. Technol. A 15, 1422 (1997).

Tseng, T. F.

D. P. Tsai, C. W. Yang, W. C. Lin, F. H. Ho, H. J. Huang, M. Y. Chen, T. F. Tseng, C. H. Lee, and C. J. Yeh, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 982 (2000).
[CrossRef]

Van Stryland, E. W.

M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. H. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
[CrossRef]

Wei, T. H.

M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. H. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
[CrossRef]

Weiner, J. S.

E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).
[CrossRef]

Wen, C. Y.

W. C. Liu, C. Y. Wen, K. H. Chen, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Appl. Phys. Lett. 78, 685 (2001).
[CrossRef]

Wolf, E.

M. Born and E. Wolf, Principles of Optics (Cambridge Univ. Press, Cambridge, 1980).

Wolfe, R.

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C.-H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).
[CrossRef]

Wu, C. C.

J. W. Fang, C. C. Wu, A. Liao, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 45, 1383 (2006).
[CrossRef]

Yang, C. W.

D. P. Tsai, C. W. Yang, W. C. Lin, F. H. Ho, H. J. Huang, M. Y. Chen, T. F. Tseng, C. H. Lee, and C. J. Yeh, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 982 (2000).
[CrossRef]

Yeh, C. J.

D. P. Tsai, C. W. Yang, W. C. Lin, F. H. Ho, H. J. Huang, M. Y. Chen, T. F. Tseng, C. H. Lee, and C. J. Yeh, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 982 (2000).
[CrossRef]

Zhao, J. H.

D. R. Ou, J. Zhu, and J. H. Zhao, Appl. Phys. Lett. 82, 1521 (2003).
[CrossRef]

Zhu, J.

D. R. Ou, J. Zhu, and J. H. Zhao, Appl. Phys. Lett. 82, 1521 (2003).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett. (8)

B. D. Terris, H. J. Mamin, D. Rugar, W. R. Studenmund, and G. S. Kino, Appl. Phys. Lett. 65, 388 (1994).
[CrossRef]

J. Tominaga, T. Nakano, and N. Atoda, Appl. Phys. Lett. 73, 2078 (1998).
[CrossRef]

T. Fukaya, J. Tominaga, T. Nakano, and N. Atoda, Appl. Phys. Lett. 75, 3114 (1999).
[CrossRef]

D. P. Tsai and W. C. Lin, Appl. Phys. Lett. 77, 1413 (2000).
[CrossRef]

W. C. Liu, C. Y. Wen, K. H. Chen, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Appl. Phys. Lett. 78, 685 (2001).
[CrossRef]

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C.-H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).
[CrossRef]

D. R. Ou, J. Zhu, and J. H. Zhao, Appl. Phys. Lett. 82, 1521 (2003).
[CrossRef]

Q. Jiang, B. Q. Chi, and J. C. Li, Appl. Phys. Lett. 82, 2984 (2003).
[CrossRef]

IEEE J. Quantum Electron. (1)

M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. H. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
[CrossRef]

J. Appl. Phys. (1)

T. Fukaya, D. Buechel, S. Shinbori, J. Tominaga, N. Atoda, D. P. Tsai, and W. C. Lin, J. Appl. Phys. 89, 6139 (2001).
[CrossRef]

J. Opt. Soc. Am. (1)

J. Vac. Sci. Technol. A (1)

D. P. Tsai and W. R. Guo, J. Vac. Sci. Technol. A 15, 1422 (1997).

Jpn. J. Appl. Phys. (3)

F. H. Ho, W. Y. Lin, H. H. Chang, Y. H. Lin, W. C. Liu, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 4101 (2001).
[CrossRef]

J. W. Fang, C. C. Wu, A. Liao, W. C. Lin, and D. P. Tsai, Jpn. J. Appl. Phys. 45, 1383 (2006).
[CrossRef]

D. P. Tsai, C. W. Yang, W. C. Lin, F. H. Ho, H. J. Huang, M. Y. Chen, T. F. Tseng, C. H. Lee, and C. J. Yeh, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 982 (2000).
[CrossRef]

Phys. Rev. (1)

D. Egorov, B. S. Dennis, G. Blumberg, and M. I. Haftel, Phys. Rev. B70, 33404 (2004).
[CrossRef]

Science (2)

E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).
[CrossRef]

E. Betzig and J. K. Trautman, Science 257, 189 (1992).
[CrossRef]

Other (3)

M. Born and E. Wolf, Principles of Optics (Cambridge Univ. Press, Cambridge, 1980).

O. S. Heavens, Optical Properties of Thin Solid Films(Dover, New York, 1991).

N. Peyghambarian, S. W. Koch, and A. Mysyrowicz, Introduction to Semiconductor Optics (Prentice-Hall, New Jersey, 1993).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (3)

Fig. 1.
Fig. 1.

Schematic illustration of an SiN/Sb/SiN thin film.

Fig. 2.
Fig. 2.

Z-scan setup for recording both transmittance and reflectance as functions of sample position z.

Fig. 3.
Fig. 3.

Plots of experimental (scatter) and simulated (line) (a) TZ and (b) RZ curves for three energies: 25.4 nJ (dots), 19.1 nJ (triangles), and 6.6 nJ (crosses).

Equations (8)

Equations on this page are rendered with MathJax. Learn more.

dI(r,t)dzα(r,t)I(r,t)=σvNv(r,t)I(r,t).
Nv(r,t)=Nv(r,)t[α(r,t)I(r,t)ωNe(r,t)τe]dt
Ni(r,t)=Ni(r,)+t[α(r,t)I(r,t)ωNi(r,t)τi]dt.
I0(r,t)=I00×w02w2(z)×exp[2r2w2(z)]×exp[(tτ)2],
ε=εlq2ε0[Neτe2me(1+ω2τe2)+Nhτh2mh(1+ω2τh2)]
ε=q2ε0ω[Neτeme(1+ω2τe2)+Nhτhmh(1+ω2τh2)].
RI=r12+r22e4κβ+2r1r2e2κβcosφ1+r12r22e4κβ+2r1r2e2κβcosθ
TI=t12t22e2κβ1+r12r22e4κβ+2r1r2e2κβcosθ.

Metrics