Abstract

Studies on phosphorescent organic light emitting devices (PhOLEDs) with phosphorescent emitter, fac-tris (2-phenylpyridine) iridium (Ir(ppy)3), show that the lifetime of triplet exciton is modified by surface plasmon coupling of Au nanoparticles (NPs). Interactions between the triplet exciton and gold (Au) nanoparticles (NPs) lead to a decrease in the exciton lifetime and result in the spontaneous emission decay rate of triplet exciton faster as the distance between the phosphorescent material and the Au NPs becomes smaller. This interaction reduces the efficiency roll-off of Au NPs containing device. These results provide new guides for device design to improve efficiency performance.

© 2012 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. S. Reineke, F. Lindner, G. Schwartz, N. Seidler, K. Walzer, B. Lüssem, and K. Leo, Nature 459, 234 (2009).
    [CrossRef]
  2. Y. Doh, J. Park, A. W. Jeon, R. Pode, and J. Kwon, Org. Electron. 13, 586 (2012).
    [CrossRef]
  3. C. Adachi, M. A. Baldo, M. E. Thompson, and S. R. Forrest, J. Appl. Phys. 90, 5048 (2001).
    [CrossRef]
  4. M. A. Baldo, C. Adachi, and S. R. Forrest, Phys. Rev. B 62, 10967 (2000).
    [CrossRef]
  5. S. Reineke, K. Walzer, and K. Leo, Phys. Rev. B 75, 125328 (2007).
    [CrossRef]
  6. J. W. Kang, S. H. Lee, H. D. Park, W. I. Jeong, K. M. Yoo, Y. S. Park, and J. J. Kim, Appl. Phys. Lett. 90, 223508 (2007).
    [CrossRef]
  7. S. H. Kim, J. Jang, K. S. Yook, and J. Y. Lee, Appl. Phys. Lett. 92, 023513 (2008).
    [CrossRef]
  8. T. Zheng, W. C. H. Choy, C. L. Ho, and W. Y. Wong, Appl. Phys. Lett. 95, 133304 (2009).
    [CrossRef]
  9. S. Reineke, G. Schwartz, K. Walzer, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 91, 123508 (2007).
    [CrossRef]
  10. S. Reineke, G. Schwartz, K. Walzer, M. Falke, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 94, 163305 (2009).
    [CrossRef]
  11. F. X. Zang, T. C. Sum, A. C. H. Huan, T. L. Li, W. L. Li, and F. Zhu, Appl. Phys. Lett. 93, 023309 (2008).
    [CrossRef]
  12. L. M. Zhang, B. Li, L. Y. Zhang, and Z. M. Su, ACS Appl. Mater. Interf. 9, 1852 (2009).
    [CrossRef]
  13. S. A. Choulis, M. K. Mathai, and V. Choong, Appl. Phys. Lett. 88, 213503 (2006).
    [CrossRef]
  14. A. Fujiki, T. Uemura, N. Zettsu, M. Akai-Kasaya, A. Saito, and Y. Kuwahara, Appl. Phys. Lett. 88, 213503 (2006).
    [CrossRef]
  15. A. Kumar, R. Srivastava, P. Tyagi, D. S. Mehta, and M. N. Kamalasanan, Org. Electron. 13, 159 (2012).
    [CrossRef]
  16. W. Y. Ji, L. T. Zhang, R. X. Gao, L. M. Zhang, W. F. Xie, H. Z. Zhang, and B. Li, Opt. Express 16, 15489 (2008).
    [CrossRef]
  17. M. Brust, M. Walker, D. Bethell, D. J. Schiffrin, and R. Whyman, J. Chem. Soc. Chem. Commun. 7, 801 (1994).
    [CrossRef]
  18. G. Xua, Y. Chen, M. Tazawab, and P. Jin, Appl. Phys. Lett. 88, 043114 (2006).
    [CrossRef]
  19. L. Ke, P. Chen, R. S. Kumar, A. P. Burden, and S. J. Chua, IEEE Trans. Electron Devices 53, 1483 (2006).
    [CrossRef]
  20. D. Jung, J. Kim, S. Nam, C. Nahm, H. Choi, J. Kim, J. Lee, C. Kim, and B. Park, Appl. Phys. Lett. 99, 041906 (2011).
    [CrossRef]
  21. T. Tsuzuki, N. Shirasawa, T. Suzuki, and S. Tokito, Adv. Mater. 15, 1455 (2003).
    [CrossRef]

2012 (2)

Y. Doh, J. Park, A. W. Jeon, R. Pode, and J. Kwon, Org. Electron. 13, 586 (2012).
[CrossRef]

A. Kumar, R. Srivastava, P. Tyagi, D. S. Mehta, and M. N. Kamalasanan, Org. Electron. 13, 159 (2012).
[CrossRef]

2011 (1)

D. Jung, J. Kim, S. Nam, C. Nahm, H. Choi, J. Kim, J. Lee, C. Kim, and B. Park, Appl. Phys. Lett. 99, 041906 (2011).
[CrossRef]

2009 (4)

S. Reineke, G. Schwartz, K. Walzer, M. Falke, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 94, 163305 (2009).
[CrossRef]

L. M. Zhang, B. Li, L. Y. Zhang, and Z. M. Su, ACS Appl. Mater. Interf. 9, 1852 (2009).
[CrossRef]

S. Reineke, F. Lindner, G. Schwartz, N. Seidler, K. Walzer, B. Lüssem, and K. Leo, Nature 459, 234 (2009).
[CrossRef]

T. Zheng, W. C. H. Choy, C. L. Ho, and W. Y. Wong, Appl. Phys. Lett. 95, 133304 (2009).
[CrossRef]

2008 (3)

S. H. Kim, J. Jang, K. S. Yook, and J. Y. Lee, Appl. Phys. Lett. 92, 023513 (2008).
[CrossRef]

F. X. Zang, T. C. Sum, A. C. H. Huan, T. L. Li, W. L. Li, and F. Zhu, Appl. Phys. Lett. 93, 023309 (2008).
[CrossRef]

W. Y. Ji, L. T. Zhang, R. X. Gao, L. M. Zhang, W. F. Xie, H. Z. Zhang, and B. Li, Opt. Express 16, 15489 (2008).
[CrossRef]

2007 (3)

S. Reineke, G. Schwartz, K. Walzer, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 91, 123508 (2007).
[CrossRef]

S. Reineke, K. Walzer, and K. Leo, Phys. Rev. B 75, 125328 (2007).
[CrossRef]

J. W. Kang, S. H. Lee, H. D. Park, W. I. Jeong, K. M. Yoo, Y. S. Park, and J. J. Kim, Appl. Phys. Lett. 90, 223508 (2007).
[CrossRef]

2006 (4)

G. Xua, Y. Chen, M. Tazawab, and P. Jin, Appl. Phys. Lett. 88, 043114 (2006).
[CrossRef]

L. Ke, P. Chen, R. S. Kumar, A. P. Burden, and S. J. Chua, IEEE Trans. Electron Devices 53, 1483 (2006).
[CrossRef]

S. A. Choulis, M. K. Mathai, and V. Choong, Appl. Phys. Lett. 88, 213503 (2006).
[CrossRef]

A. Fujiki, T. Uemura, N. Zettsu, M. Akai-Kasaya, A. Saito, and Y. Kuwahara, Appl. Phys. Lett. 88, 213503 (2006).
[CrossRef]

2003 (1)

T. Tsuzuki, N. Shirasawa, T. Suzuki, and S. Tokito, Adv. Mater. 15, 1455 (2003).
[CrossRef]

2001 (1)

C. Adachi, M. A. Baldo, M. E. Thompson, and S. R. Forrest, J. Appl. Phys. 90, 5048 (2001).
[CrossRef]

2000 (1)

M. A. Baldo, C. Adachi, and S. R. Forrest, Phys. Rev. B 62, 10967 (2000).
[CrossRef]

1994 (1)

M. Brust, M. Walker, D. Bethell, D. J. Schiffrin, and R. Whyman, J. Chem. Soc. Chem. Commun. 7, 801 (1994).
[CrossRef]

Adachi, C.

C. Adachi, M. A. Baldo, M. E. Thompson, and S. R. Forrest, J. Appl. Phys. 90, 5048 (2001).
[CrossRef]

M. A. Baldo, C. Adachi, and S. R. Forrest, Phys. Rev. B 62, 10967 (2000).
[CrossRef]

Akai-Kasaya, M.

A. Fujiki, T. Uemura, N. Zettsu, M. Akai-Kasaya, A. Saito, and Y. Kuwahara, Appl. Phys. Lett. 88, 213503 (2006).
[CrossRef]

Baldo, M. A.

C. Adachi, M. A. Baldo, M. E. Thompson, and S. R. Forrest, J. Appl. Phys. 90, 5048 (2001).
[CrossRef]

M. A. Baldo, C. Adachi, and S. R. Forrest, Phys. Rev. B 62, 10967 (2000).
[CrossRef]

Bethell, D.

M. Brust, M. Walker, D. Bethell, D. J. Schiffrin, and R. Whyman, J. Chem. Soc. Chem. Commun. 7, 801 (1994).
[CrossRef]

Brust, M.

M. Brust, M. Walker, D. Bethell, D. J. Schiffrin, and R. Whyman, J. Chem. Soc. Chem. Commun. 7, 801 (1994).
[CrossRef]

Burden, A. P.

L. Ke, P. Chen, R. S. Kumar, A. P. Burden, and S. J. Chua, IEEE Trans. Electron Devices 53, 1483 (2006).
[CrossRef]

Chen, P.

L. Ke, P. Chen, R. S. Kumar, A. P. Burden, and S. J. Chua, IEEE Trans. Electron Devices 53, 1483 (2006).
[CrossRef]

Chen, Y.

G. Xua, Y. Chen, M. Tazawab, and P. Jin, Appl. Phys. Lett. 88, 043114 (2006).
[CrossRef]

Choi, H.

D. Jung, J. Kim, S. Nam, C. Nahm, H. Choi, J. Kim, J. Lee, C. Kim, and B. Park, Appl. Phys. Lett. 99, 041906 (2011).
[CrossRef]

Choong, V.

S. A. Choulis, M. K. Mathai, and V. Choong, Appl. Phys. Lett. 88, 213503 (2006).
[CrossRef]

Choulis, S. A.

S. A. Choulis, M. K. Mathai, and V. Choong, Appl. Phys. Lett. 88, 213503 (2006).
[CrossRef]

Choy, W. C. H.

T. Zheng, W. C. H. Choy, C. L. Ho, and W. Y. Wong, Appl. Phys. Lett. 95, 133304 (2009).
[CrossRef]

Chua, S. J.

L. Ke, P. Chen, R. S. Kumar, A. P. Burden, and S. J. Chua, IEEE Trans. Electron Devices 53, 1483 (2006).
[CrossRef]

Doh, Y.

Y. Doh, J. Park, A. W. Jeon, R. Pode, and J. Kwon, Org. Electron. 13, 586 (2012).
[CrossRef]

Falke, M.

S. Reineke, G. Schwartz, K. Walzer, M. Falke, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 94, 163305 (2009).
[CrossRef]

Forrest, S. R.

C. Adachi, M. A. Baldo, M. E. Thompson, and S. R. Forrest, J. Appl. Phys. 90, 5048 (2001).
[CrossRef]

M. A. Baldo, C. Adachi, and S. R. Forrest, Phys. Rev. B 62, 10967 (2000).
[CrossRef]

Fujiki, A.

A. Fujiki, T. Uemura, N. Zettsu, M. Akai-Kasaya, A. Saito, and Y. Kuwahara, Appl. Phys. Lett. 88, 213503 (2006).
[CrossRef]

Gao, R. X.

Ho, C. L.

T. Zheng, W. C. H. Choy, C. L. Ho, and W. Y. Wong, Appl. Phys. Lett. 95, 133304 (2009).
[CrossRef]

Huan, A. C. H.

F. X. Zang, T. C. Sum, A. C. H. Huan, T. L. Li, W. L. Li, and F. Zhu, Appl. Phys. Lett. 93, 023309 (2008).
[CrossRef]

Jang, J.

S. H. Kim, J. Jang, K. S. Yook, and J. Y. Lee, Appl. Phys. Lett. 92, 023513 (2008).
[CrossRef]

Jeon, A. W.

Y. Doh, J. Park, A. W. Jeon, R. Pode, and J. Kwon, Org. Electron. 13, 586 (2012).
[CrossRef]

Jeong, W. I.

J. W. Kang, S. H. Lee, H. D. Park, W. I. Jeong, K. M. Yoo, Y. S. Park, and J. J. Kim, Appl. Phys. Lett. 90, 223508 (2007).
[CrossRef]

Ji, W. Y.

Jin, P.

G. Xua, Y. Chen, M. Tazawab, and P. Jin, Appl. Phys. Lett. 88, 043114 (2006).
[CrossRef]

Jung, D.

D. Jung, J. Kim, S. Nam, C. Nahm, H. Choi, J. Kim, J. Lee, C. Kim, and B. Park, Appl. Phys. Lett. 99, 041906 (2011).
[CrossRef]

Kamalasanan, M. N.

A. Kumar, R. Srivastava, P. Tyagi, D. S. Mehta, and M. N. Kamalasanan, Org. Electron. 13, 159 (2012).
[CrossRef]

Kang, J. W.

J. W. Kang, S. H. Lee, H. D. Park, W. I. Jeong, K. M. Yoo, Y. S. Park, and J. J. Kim, Appl. Phys. Lett. 90, 223508 (2007).
[CrossRef]

Ke, L.

L. Ke, P. Chen, R. S. Kumar, A. P. Burden, and S. J. Chua, IEEE Trans. Electron Devices 53, 1483 (2006).
[CrossRef]

Kim, C.

D. Jung, J. Kim, S. Nam, C. Nahm, H. Choi, J. Kim, J. Lee, C. Kim, and B. Park, Appl. Phys. Lett. 99, 041906 (2011).
[CrossRef]

Kim, J.

D. Jung, J. Kim, S. Nam, C. Nahm, H. Choi, J. Kim, J. Lee, C. Kim, and B. Park, Appl. Phys. Lett. 99, 041906 (2011).
[CrossRef]

D. Jung, J. Kim, S. Nam, C. Nahm, H. Choi, J. Kim, J. Lee, C. Kim, and B. Park, Appl. Phys. Lett. 99, 041906 (2011).
[CrossRef]

Kim, J. J.

J. W. Kang, S. H. Lee, H. D. Park, W. I. Jeong, K. M. Yoo, Y. S. Park, and J. J. Kim, Appl. Phys. Lett. 90, 223508 (2007).
[CrossRef]

Kim, S. H.

S. H. Kim, J. Jang, K. S. Yook, and J. Y. Lee, Appl. Phys. Lett. 92, 023513 (2008).
[CrossRef]

Kumar, A.

A. Kumar, R. Srivastava, P. Tyagi, D. S. Mehta, and M. N. Kamalasanan, Org. Electron. 13, 159 (2012).
[CrossRef]

Kumar, R. S.

L. Ke, P. Chen, R. S. Kumar, A. P. Burden, and S. J. Chua, IEEE Trans. Electron Devices 53, 1483 (2006).
[CrossRef]

Kuwahara, Y.

A. Fujiki, T. Uemura, N. Zettsu, M. Akai-Kasaya, A. Saito, and Y. Kuwahara, Appl. Phys. Lett. 88, 213503 (2006).
[CrossRef]

Kwon, J.

Y. Doh, J. Park, A. W. Jeon, R. Pode, and J. Kwon, Org. Electron. 13, 586 (2012).
[CrossRef]

Lee, J.

D. Jung, J. Kim, S. Nam, C. Nahm, H. Choi, J. Kim, J. Lee, C. Kim, and B. Park, Appl. Phys. Lett. 99, 041906 (2011).
[CrossRef]

Lee, J. Y.

S. H. Kim, J. Jang, K. S. Yook, and J. Y. Lee, Appl. Phys. Lett. 92, 023513 (2008).
[CrossRef]

Lee, S. H.

J. W. Kang, S. H. Lee, H. D. Park, W. I. Jeong, K. M. Yoo, Y. S. Park, and J. J. Kim, Appl. Phys. Lett. 90, 223508 (2007).
[CrossRef]

Leo, K.

S. Reineke, F. Lindner, G. Schwartz, N. Seidler, K. Walzer, B. Lüssem, and K. Leo, Nature 459, 234 (2009).
[CrossRef]

S. Reineke, G. Schwartz, K. Walzer, M. Falke, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 94, 163305 (2009).
[CrossRef]

S. Reineke, G. Schwartz, K. Walzer, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 91, 123508 (2007).
[CrossRef]

S. Reineke, K. Walzer, and K. Leo, Phys. Rev. B 75, 125328 (2007).
[CrossRef]

Li, B.

L. M. Zhang, B. Li, L. Y. Zhang, and Z. M. Su, ACS Appl. Mater. Interf. 9, 1852 (2009).
[CrossRef]

W. Y. Ji, L. T. Zhang, R. X. Gao, L. M. Zhang, W. F. Xie, H. Z. Zhang, and B. Li, Opt. Express 16, 15489 (2008).
[CrossRef]

Li, T. L.

F. X. Zang, T. C. Sum, A. C. H. Huan, T. L. Li, W. L. Li, and F. Zhu, Appl. Phys. Lett. 93, 023309 (2008).
[CrossRef]

Li, W. L.

F. X. Zang, T. C. Sum, A. C. H. Huan, T. L. Li, W. L. Li, and F. Zhu, Appl. Phys. Lett. 93, 023309 (2008).
[CrossRef]

Lindner, F.

S. Reineke, F. Lindner, G. Schwartz, N. Seidler, K. Walzer, B. Lüssem, and K. Leo, Nature 459, 234 (2009).
[CrossRef]

Lüssem, B.

S. Reineke, F. Lindner, G. Schwartz, N. Seidler, K. Walzer, B. Lüssem, and K. Leo, Nature 459, 234 (2009).
[CrossRef]

Mathai, M. K.

S. A. Choulis, M. K. Mathai, and V. Choong, Appl. Phys. Lett. 88, 213503 (2006).
[CrossRef]

Mehta, D. S.

A. Kumar, R. Srivastava, P. Tyagi, D. S. Mehta, and M. N. Kamalasanan, Org. Electron. 13, 159 (2012).
[CrossRef]

Nahm, C.

D. Jung, J. Kim, S. Nam, C. Nahm, H. Choi, J. Kim, J. Lee, C. Kim, and B. Park, Appl. Phys. Lett. 99, 041906 (2011).
[CrossRef]

Nam, S.

D. Jung, J. Kim, S. Nam, C. Nahm, H. Choi, J. Kim, J. Lee, C. Kim, and B. Park, Appl. Phys. Lett. 99, 041906 (2011).
[CrossRef]

Park, B.

D. Jung, J. Kim, S. Nam, C. Nahm, H. Choi, J. Kim, J. Lee, C. Kim, and B. Park, Appl. Phys. Lett. 99, 041906 (2011).
[CrossRef]

Park, H. D.

J. W. Kang, S. H. Lee, H. D. Park, W. I. Jeong, K. M. Yoo, Y. S. Park, and J. J. Kim, Appl. Phys. Lett. 90, 223508 (2007).
[CrossRef]

Park, J.

Y. Doh, J. Park, A. W. Jeon, R. Pode, and J. Kwon, Org. Electron. 13, 586 (2012).
[CrossRef]

Park, Y. S.

J. W. Kang, S. H. Lee, H. D. Park, W. I. Jeong, K. M. Yoo, Y. S. Park, and J. J. Kim, Appl. Phys. Lett. 90, 223508 (2007).
[CrossRef]

Pode, R.

Y. Doh, J. Park, A. W. Jeon, R. Pode, and J. Kwon, Org. Electron. 13, 586 (2012).
[CrossRef]

Reineke, S.

S. Reineke, F. Lindner, G. Schwartz, N. Seidler, K. Walzer, B. Lüssem, and K. Leo, Nature 459, 234 (2009).
[CrossRef]

S. Reineke, G. Schwartz, K. Walzer, M. Falke, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 94, 163305 (2009).
[CrossRef]

S. Reineke, G. Schwartz, K. Walzer, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 91, 123508 (2007).
[CrossRef]

S. Reineke, K. Walzer, and K. Leo, Phys. Rev. B 75, 125328 (2007).
[CrossRef]

Saito, A.

A. Fujiki, T. Uemura, N. Zettsu, M. Akai-Kasaya, A. Saito, and Y. Kuwahara, Appl. Phys. Lett. 88, 213503 (2006).
[CrossRef]

Schiffrin, D. J.

M. Brust, M. Walker, D. Bethell, D. J. Schiffrin, and R. Whyman, J. Chem. Soc. Chem. Commun. 7, 801 (1994).
[CrossRef]

Schwartz, G.

S. Reineke, G. Schwartz, K. Walzer, M. Falke, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 94, 163305 (2009).
[CrossRef]

S. Reineke, F. Lindner, G. Schwartz, N. Seidler, K. Walzer, B. Lüssem, and K. Leo, Nature 459, 234 (2009).
[CrossRef]

S. Reineke, G. Schwartz, K. Walzer, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 91, 123508 (2007).
[CrossRef]

Seidler, N.

S. Reineke, F. Lindner, G. Schwartz, N. Seidler, K. Walzer, B. Lüssem, and K. Leo, Nature 459, 234 (2009).
[CrossRef]

Shirasawa, N.

T. Tsuzuki, N. Shirasawa, T. Suzuki, and S. Tokito, Adv. Mater. 15, 1455 (2003).
[CrossRef]

Srivastava, R.

A. Kumar, R. Srivastava, P. Tyagi, D. S. Mehta, and M. N. Kamalasanan, Org. Electron. 13, 159 (2012).
[CrossRef]

Su, Z. M.

L. M. Zhang, B. Li, L. Y. Zhang, and Z. M. Su, ACS Appl. Mater. Interf. 9, 1852 (2009).
[CrossRef]

Sum, T. C.

F. X. Zang, T. C. Sum, A. C. H. Huan, T. L. Li, W. L. Li, and F. Zhu, Appl. Phys. Lett. 93, 023309 (2008).
[CrossRef]

Suzuki, T.

T. Tsuzuki, N. Shirasawa, T. Suzuki, and S. Tokito, Adv. Mater. 15, 1455 (2003).
[CrossRef]

Tazawab, M.

G. Xua, Y. Chen, M. Tazawab, and P. Jin, Appl. Phys. Lett. 88, 043114 (2006).
[CrossRef]

Thompson, M. E.

C. Adachi, M. A. Baldo, M. E. Thompson, and S. R. Forrest, J. Appl. Phys. 90, 5048 (2001).
[CrossRef]

Tokito, S.

T. Tsuzuki, N. Shirasawa, T. Suzuki, and S. Tokito, Adv. Mater. 15, 1455 (2003).
[CrossRef]

Tsuzuki, T.

T. Tsuzuki, N. Shirasawa, T. Suzuki, and S. Tokito, Adv. Mater. 15, 1455 (2003).
[CrossRef]

Tyagi, P.

A. Kumar, R. Srivastava, P. Tyagi, D. S. Mehta, and M. N. Kamalasanan, Org. Electron. 13, 159 (2012).
[CrossRef]

Uemura, T.

A. Fujiki, T. Uemura, N. Zettsu, M. Akai-Kasaya, A. Saito, and Y. Kuwahara, Appl. Phys. Lett. 88, 213503 (2006).
[CrossRef]

Walker, M.

M. Brust, M. Walker, D. Bethell, D. J. Schiffrin, and R. Whyman, J. Chem. Soc. Chem. Commun. 7, 801 (1994).
[CrossRef]

Walzer, K.

S. Reineke, G. Schwartz, K. Walzer, M. Falke, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 94, 163305 (2009).
[CrossRef]

S. Reineke, F. Lindner, G. Schwartz, N. Seidler, K. Walzer, B. Lüssem, and K. Leo, Nature 459, 234 (2009).
[CrossRef]

S. Reineke, K. Walzer, and K. Leo, Phys. Rev. B 75, 125328 (2007).
[CrossRef]

S. Reineke, G. Schwartz, K. Walzer, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 91, 123508 (2007).
[CrossRef]

Whyman, R.

M. Brust, M. Walker, D. Bethell, D. J. Schiffrin, and R. Whyman, J. Chem. Soc. Chem. Commun. 7, 801 (1994).
[CrossRef]

Wong, W. Y.

T. Zheng, W. C. H. Choy, C. L. Ho, and W. Y. Wong, Appl. Phys. Lett. 95, 133304 (2009).
[CrossRef]

Xie, W. F.

Xua, G.

G. Xua, Y. Chen, M. Tazawab, and P. Jin, Appl. Phys. Lett. 88, 043114 (2006).
[CrossRef]

Yoo, K. M.

J. W. Kang, S. H. Lee, H. D. Park, W. I. Jeong, K. M. Yoo, Y. S. Park, and J. J. Kim, Appl. Phys. Lett. 90, 223508 (2007).
[CrossRef]

Yook, K. S.

S. H. Kim, J. Jang, K. S. Yook, and J. Y. Lee, Appl. Phys. Lett. 92, 023513 (2008).
[CrossRef]

Zang, F. X.

F. X. Zang, T. C. Sum, A. C. H. Huan, T. L. Li, W. L. Li, and F. Zhu, Appl. Phys. Lett. 93, 023309 (2008).
[CrossRef]

Zettsu, N.

A. Fujiki, T. Uemura, N. Zettsu, M. Akai-Kasaya, A. Saito, and Y. Kuwahara, Appl. Phys. Lett. 88, 213503 (2006).
[CrossRef]

Zhang, H. Z.

Zhang, L. M.

L. M. Zhang, B. Li, L. Y. Zhang, and Z. M. Su, ACS Appl. Mater. Interf. 9, 1852 (2009).
[CrossRef]

W. Y. Ji, L. T. Zhang, R. X. Gao, L. M. Zhang, W. F. Xie, H. Z. Zhang, and B. Li, Opt. Express 16, 15489 (2008).
[CrossRef]

Zhang, L. T.

Zhang, L. Y.

L. M. Zhang, B. Li, L. Y. Zhang, and Z. M. Su, ACS Appl. Mater. Interf. 9, 1852 (2009).
[CrossRef]

Zheng, T.

T. Zheng, W. C. H. Choy, C. L. Ho, and W. Y. Wong, Appl. Phys. Lett. 95, 133304 (2009).
[CrossRef]

Zhu, F.

F. X. Zang, T. C. Sum, A. C. H. Huan, T. L. Li, W. L. Li, and F. Zhu, Appl. Phys. Lett. 93, 023309 (2008).
[CrossRef]

ACS Appl. Mater. Interf. (1)

L. M. Zhang, B. Li, L. Y. Zhang, and Z. M. Su, ACS Appl. Mater. Interf. 9, 1852 (2009).
[CrossRef]

Adv. Mater. (1)

T. Tsuzuki, N. Shirasawa, T. Suzuki, and S. Tokito, Adv. Mater. 15, 1455 (2003).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett. (10)

D. Jung, J. Kim, S. Nam, C. Nahm, H. Choi, J. Kim, J. Lee, C. Kim, and B. Park, Appl. Phys. Lett. 99, 041906 (2011).
[CrossRef]

S. A. Choulis, M. K. Mathai, and V. Choong, Appl. Phys. Lett. 88, 213503 (2006).
[CrossRef]

A. Fujiki, T. Uemura, N. Zettsu, M. Akai-Kasaya, A. Saito, and Y. Kuwahara, Appl. Phys. Lett. 88, 213503 (2006).
[CrossRef]

G. Xua, Y. Chen, M. Tazawab, and P. Jin, Appl. Phys. Lett. 88, 043114 (2006).
[CrossRef]

J. W. Kang, S. H. Lee, H. D. Park, W. I. Jeong, K. M. Yoo, Y. S. Park, and J. J. Kim, Appl. Phys. Lett. 90, 223508 (2007).
[CrossRef]

S. H. Kim, J. Jang, K. S. Yook, and J. Y. Lee, Appl. Phys. Lett. 92, 023513 (2008).
[CrossRef]

T. Zheng, W. C. H. Choy, C. L. Ho, and W. Y. Wong, Appl. Phys. Lett. 95, 133304 (2009).
[CrossRef]

S. Reineke, G. Schwartz, K. Walzer, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 91, 123508 (2007).
[CrossRef]

S. Reineke, G. Schwartz, K. Walzer, M. Falke, and K. Leo, Appl. Phys. Lett. 94, 163305 (2009).
[CrossRef]

F. X. Zang, T. C. Sum, A. C. H. Huan, T. L. Li, W. L. Li, and F. Zhu, Appl. Phys. Lett. 93, 023309 (2008).
[CrossRef]

IEEE Trans. Electron Devices (1)

L. Ke, P. Chen, R. S. Kumar, A. P. Burden, and S. J. Chua, IEEE Trans. Electron Devices 53, 1483 (2006).
[CrossRef]

J. Appl. Phys. (1)

C. Adachi, M. A. Baldo, M. E. Thompson, and S. R. Forrest, J. Appl. Phys. 90, 5048 (2001).
[CrossRef]

J. Chem. Soc. Chem. Commun. (1)

M. Brust, M. Walker, D. Bethell, D. J. Schiffrin, and R. Whyman, J. Chem. Soc. Chem. Commun. 7, 801 (1994).
[CrossRef]

Nature (1)

S. Reineke, F. Lindner, G. Schwartz, N. Seidler, K. Walzer, B. Lüssem, and K. Leo, Nature 459, 234 (2009).
[CrossRef]

Opt. Express (1)

Org. Electron. (2)

A. Kumar, R. Srivastava, P. Tyagi, D. S. Mehta, and M. N. Kamalasanan, Org. Electron. 13, 159 (2012).
[CrossRef]

Y. Doh, J. Park, A. W. Jeon, R. Pode, and J. Kwon, Org. Electron. 13, 586 (2012).
[CrossRef]

Phys. Rev. B (2)

M. A. Baldo, C. Adachi, and S. R. Forrest, Phys. Rev. B 62, 10967 (2000).
[CrossRef]

S. Reineke, K. Walzer, and K. Leo, Phys. Rev. B 75, 125328 (2007).
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (4)

Fig. 1.
Fig. 1.

The absorption spectra of S1, S2, S3, S4 and S5, pure Au NPs, and the EL spectrum of device D; inset is the absorption spectrum of net CBP layer.

Fig. 2.
Fig. 2.

(a) The voltage–current density and (b) the current density–luminance characteristics of devices A, B, C, and D.

Fig. 3.
Fig. 3.

(a) The current density–current efficiency and (b) the luminance–current efficiency characteristics of devices A, B, C, and D.

Fig. 4.
Fig. 4.

(a) PL intensity versus time from Ir(ppy)3, following optical excitation by a 405 nm pulse, samples as depicted in the schematics, with various CBP layer thicknesses, (b) the PL spectra of S1, S2, S3, S4 and S5 with excited wavelength of 405 nm.

Metrics