Abstract

Second-harmonic interferometry (SHI) is proposed for measuring the electro-optic (EO) coefficients of massive media. It combines the advantages of interferometric techniques with the mechanical stability of single-beam methods, simultaneously skimming the wavelength dispersion of the EO response. For demonstrating the effectiveness of the SHI technique, the EO coefficients r33T and r13T of the EO crystal lithium niobate are measured simultaneously at 1064 and 532nm.

© 2011 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. O. Smirnova, Y. Mairesse, S. Patchkovskii, N. Dudovich, D. Villeneuve, P. Corkum, and M. Y. Ivanov, Nature 460, 972 (2009).
    [CrossRef] [PubMed]
  2. F. Hopf, A. Tomita, and G. Al-Jumaily, Opt. Lett. 5, 386(1980).
    [CrossRef] [PubMed]
  3. P. D. Henshaw and D. P. DeGloria, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 3955 (1996).
    [CrossRef]
  4. F. Brandi and F. Giammanco, Opt. Lett. 32, 2327 (2007).
    [CrossRef] [PubMed]
  5. O. Sato, R. Baba, K. Hashimoto, and A. Fujishima, J. Phys. Chem. 95, 9636 (1991).
    [CrossRef]
  6. S. P. Velsko and D. Eimerl, Appl. Opt. 25, 1344 (1986).
    [CrossRef] [PubMed]
  7. E. L. Wooten, K. M. Kissa, A. Yi-Yan, E. J. Murphy, D. A. Lafaw, P. F. Hallemeier, D. Maack, D. V. Attanasio, D. J. Fritz, G. J. McBrien, and D. E. Bossi, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 6, 69 (2000).
    [CrossRef]
  8. T. Del Rosso, G. Margheri, S. Sottini, S. Trigari, M. De Sario, F. Prudenzano, and D. Grando, IEEE Sens. J. 7, 417 (2007).
    [CrossRef]
  9. A. Yariv and P. Yeh, Optical Waves in Crystals (Wiley, 1984).
  10. B. Kamg, B. K. Rhee, and G.-T. Joo, Mater. Lett. 60, 2306(2006).
    [CrossRef]
  11. M. Zgonik, K. Nakagawa, and P. Guenter, J. Opt. Soc. Am. B 12, 1416 (1995).
    [CrossRef]
  12. A. Grunnet-Jepsen, I. Aubrecht, and L. Solymar, J. Opt. Soc. Am. B 12, 921 (1995).
    [CrossRef]
  13. F. Brandi, F. Giammanco, W. S. Harris, T. Roche, E. Trask, and F. J. Vessel, Rev. Sci. Instrum. 80, 113501 (2009).
    [CrossRef] [PubMed]
  14. K.-H.Kellwege and A.M.Hellwege, eds., Landolt-Börnstein: Numerical Data and Functional Relationships in Sciences and Technology (Springer-Verlag, 1979), Vol.  11.
  15. K. Peithmann, A. Wiebrock, and K. Buse, Appl. Phys. B 68, 777 (1999).
    [CrossRef]
  16. M. Abarkan, J. P. Salvestrini, M. D. Fontana, and M. Aillerie, Appl. Phys. B 76, 765 (2003).
    [CrossRef]
  17. D. Grando, V. Bermudez, E. Dieguez, P. Galinetto, M. Marinone, F. Rossella, E. Giulotto, and G. Samoggia, in Proceedings of 8° Convegno Nazionale Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici (Associazione Italiana di Elettrotecnica, 2004), pp. 302–305.
  18. A. Mendez, A. Garcia-Cabanes, E. Dieguez, and J. M. Cabrera, Electron. Lett. 35, 498 (1999).
    [CrossRef]

2009

O. Smirnova, Y. Mairesse, S. Patchkovskii, N. Dudovich, D. Villeneuve, P. Corkum, and M. Y. Ivanov, Nature 460, 972 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

F. Brandi, F. Giammanco, W. S. Harris, T. Roche, E. Trask, and F. J. Vessel, Rev. Sci. Instrum. 80, 113501 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

2007

F. Brandi and F. Giammanco, Opt. Lett. 32, 2327 (2007).
[CrossRef] [PubMed]

T. Del Rosso, G. Margheri, S. Sottini, S. Trigari, M. De Sario, F. Prudenzano, and D. Grando, IEEE Sens. J. 7, 417 (2007).
[CrossRef]

2006

B. Kamg, B. K. Rhee, and G.-T. Joo, Mater. Lett. 60, 2306(2006).
[CrossRef]

2003

M. Abarkan, J. P. Salvestrini, M. D. Fontana, and M. Aillerie, Appl. Phys. B 76, 765 (2003).
[CrossRef]

2000

E. L. Wooten, K. M. Kissa, A. Yi-Yan, E. J. Murphy, D. A. Lafaw, P. F. Hallemeier, D. Maack, D. V. Attanasio, D. J. Fritz, G. J. McBrien, and D. E. Bossi, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 6, 69 (2000).
[CrossRef]

1999

K. Peithmann, A. Wiebrock, and K. Buse, Appl. Phys. B 68, 777 (1999).
[CrossRef]

A. Mendez, A. Garcia-Cabanes, E. Dieguez, and J. M. Cabrera, Electron. Lett. 35, 498 (1999).
[CrossRef]

1996

P. D. Henshaw and D. P. DeGloria, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 3955 (1996).
[CrossRef]

1995

1991

O. Sato, R. Baba, K. Hashimoto, and A. Fujishima, J. Phys. Chem. 95, 9636 (1991).
[CrossRef]

1986

1980

Abarkan, M.

M. Abarkan, J. P. Salvestrini, M. D. Fontana, and M. Aillerie, Appl. Phys. B 76, 765 (2003).
[CrossRef]

Aillerie, M.

M. Abarkan, J. P. Salvestrini, M. D. Fontana, and M. Aillerie, Appl. Phys. B 76, 765 (2003).
[CrossRef]

Al-Jumaily, G.

Attanasio, D. V.

E. L. Wooten, K. M. Kissa, A. Yi-Yan, E. J. Murphy, D. A. Lafaw, P. F. Hallemeier, D. Maack, D. V. Attanasio, D. J. Fritz, G. J. McBrien, and D. E. Bossi, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 6, 69 (2000).
[CrossRef]

Aubrecht, I.

Baba, R.

O. Sato, R. Baba, K. Hashimoto, and A. Fujishima, J. Phys. Chem. 95, 9636 (1991).
[CrossRef]

Bermudez, V.

D. Grando, V. Bermudez, E. Dieguez, P. Galinetto, M. Marinone, F. Rossella, E. Giulotto, and G. Samoggia, in Proceedings of 8° Convegno Nazionale Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici (Associazione Italiana di Elettrotecnica, 2004), pp. 302–305.

Bossi, D. E.

E. L. Wooten, K. M. Kissa, A. Yi-Yan, E. J. Murphy, D. A. Lafaw, P. F. Hallemeier, D. Maack, D. V. Attanasio, D. J. Fritz, G. J. McBrien, and D. E. Bossi, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 6, 69 (2000).
[CrossRef]

Brandi, F.

F. Brandi, F. Giammanco, W. S. Harris, T. Roche, E. Trask, and F. J. Vessel, Rev. Sci. Instrum. 80, 113501 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

F. Brandi and F. Giammanco, Opt. Lett. 32, 2327 (2007).
[CrossRef] [PubMed]

Buse, K.

K. Peithmann, A. Wiebrock, and K. Buse, Appl. Phys. B 68, 777 (1999).
[CrossRef]

Cabrera, J. M.

A. Mendez, A. Garcia-Cabanes, E. Dieguez, and J. M. Cabrera, Electron. Lett. 35, 498 (1999).
[CrossRef]

Corkum, P.

O. Smirnova, Y. Mairesse, S. Patchkovskii, N. Dudovich, D. Villeneuve, P. Corkum, and M. Y. Ivanov, Nature 460, 972 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

De Sario, M.

T. Del Rosso, G. Margheri, S. Sottini, S. Trigari, M. De Sario, F. Prudenzano, and D. Grando, IEEE Sens. J. 7, 417 (2007).
[CrossRef]

DeGloria, D. P.

P. D. Henshaw and D. P. DeGloria, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 3955 (1996).
[CrossRef]

Del Rosso, T.

T. Del Rosso, G. Margheri, S. Sottini, S. Trigari, M. De Sario, F. Prudenzano, and D. Grando, IEEE Sens. J. 7, 417 (2007).
[CrossRef]

Dieguez, E.

A. Mendez, A. Garcia-Cabanes, E. Dieguez, and J. M. Cabrera, Electron. Lett. 35, 498 (1999).
[CrossRef]

D. Grando, V. Bermudez, E. Dieguez, P. Galinetto, M. Marinone, F. Rossella, E. Giulotto, and G. Samoggia, in Proceedings of 8° Convegno Nazionale Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici (Associazione Italiana di Elettrotecnica, 2004), pp. 302–305.

Dudovich, N.

O. Smirnova, Y. Mairesse, S. Patchkovskii, N. Dudovich, D. Villeneuve, P. Corkum, and M. Y. Ivanov, Nature 460, 972 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Eimerl, D.

Fontana, M. D.

M. Abarkan, J. P. Salvestrini, M. D. Fontana, and M. Aillerie, Appl. Phys. B 76, 765 (2003).
[CrossRef]

Fritz, D. J.

E. L. Wooten, K. M. Kissa, A. Yi-Yan, E. J. Murphy, D. A. Lafaw, P. F. Hallemeier, D. Maack, D. V. Attanasio, D. J. Fritz, G. J. McBrien, and D. E. Bossi, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 6, 69 (2000).
[CrossRef]

Fujishima, A.

O. Sato, R. Baba, K. Hashimoto, and A. Fujishima, J. Phys. Chem. 95, 9636 (1991).
[CrossRef]

Galinetto, P.

D. Grando, V. Bermudez, E. Dieguez, P. Galinetto, M. Marinone, F. Rossella, E. Giulotto, and G. Samoggia, in Proceedings of 8° Convegno Nazionale Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici (Associazione Italiana di Elettrotecnica, 2004), pp. 302–305.

Garcia-Cabanes, A.

A. Mendez, A. Garcia-Cabanes, E. Dieguez, and J. M. Cabrera, Electron. Lett. 35, 498 (1999).
[CrossRef]

Giammanco, F.

F. Brandi, F. Giammanco, W. S. Harris, T. Roche, E. Trask, and F. J. Vessel, Rev. Sci. Instrum. 80, 113501 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

F. Brandi and F. Giammanco, Opt. Lett. 32, 2327 (2007).
[CrossRef] [PubMed]

Giulotto, E.

D. Grando, V. Bermudez, E. Dieguez, P. Galinetto, M. Marinone, F. Rossella, E. Giulotto, and G. Samoggia, in Proceedings of 8° Convegno Nazionale Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici (Associazione Italiana di Elettrotecnica, 2004), pp. 302–305.

Grando, D.

T. Del Rosso, G. Margheri, S. Sottini, S. Trigari, M. De Sario, F. Prudenzano, and D. Grando, IEEE Sens. J. 7, 417 (2007).
[CrossRef]

D. Grando, V. Bermudez, E. Dieguez, P. Galinetto, M. Marinone, F. Rossella, E. Giulotto, and G. Samoggia, in Proceedings of 8° Convegno Nazionale Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici (Associazione Italiana di Elettrotecnica, 2004), pp. 302–305.

Grunnet-Jepsen, A.

Guenter, P.

Hallemeier, P. F.

E. L. Wooten, K. M. Kissa, A. Yi-Yan, E. J. Murphy, D. A. Lafaw, P. F. Hallemeier, D. Maack, D. V. Attanasio, D. J. Fritz, G. J. McBrien, and D. E. Bossi, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 6, 69 (2000).
[CrossRef]

Harris, W. S.

F. Brandi, F. Giammanco, W. S. Harris, T. Roche, E. Trask, and F. J. Vessel, Rev. Sci. Instrum. 80, 113501 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Hashimoto, K.

O. Sato, R. Baba, K. Hashimoto, and A. Fujishima, J. Phys. Chem. 95, 9636 (1991).
[CrossRef]

Henshaw, P. D.

P. D. Henshaw and D. P. DeGloria, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 3955 (1996).
[CrossRef]

Hopf, F.

Ivanov, M. Y.

O. Smirnova, Y. Mairesse, S. Patchkovskii, N. Dudovich, D. Villeneuve, P. Corkum, and M. Y. Ivanov, Nature 460, 972 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Joo, G.-T.

B. Kamg, B. K. Rhee, and G.-T. Joo, Mater. Lett. 60, 2306(2006).
[CrossRef]

Kamg, B.

B. Kamg, B. K. Rhee, and G.-T. Joo, Mater. Lett. 60, 2306(2006).
[CrossRef]

Kissa, K. M.

E. L. Wooten, K. M. Kissa, A. Yi-Yan, E. J. Murphy, D. A. Lafaw, P. F. Hallemeier, D. Maack, D. V. Attanasio, D. J. Fritz, G. J. McBrien, and D. E. Bossi, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 6, 69 (2000).
[CrossRef]

Lafaw, D. A.

E. L. Wooten, K. M. Kissa, A. Yi-Yan, E. J. Murphy, D. A. Lafaw, P. F. Hallemeier, D. Maack, D. V. Attanasio, D. J. Fritz, G. J. McBrien, and D. E. Bossi, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 6, 69 (2000).
[CrossRef]

Maack, D.

E. L. Wooten, K. M. Kissa, A. Yi-Yan, E. J. Murphy, D. A. Lafaw, P. F. Hallemeier, D. Maack, D. V. Attanasio, D. J. Fritz, G. J. McBrien, and D. E. Bossi, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 6, 69 (2000).
[CrossRef]

Mairesse, Y.

O. Smirnova, Y. Mairesse, S. Patchkovskii, N. Dudovich, D. Villeneuve, P. Corkum, and M. Y. Ivanov, Nature 460, 972 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Margheri, G.

T. Del Rosso, G. Margheri, S. Sottini, S. Trigari, M. De Sario, F. Prudenzano, and D. Grando, IEEE Sens. J. 7, 417 (2007).
[CrossRef]

Marinone, M.

D. Grando, V. Bermudez, E. Dieguez, P. Galinetto, M. Marinone, F. Rossella, E. Giulotto, and G. Samoggia, in Proceedings of 8° Convegno Nazionale Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici (Associazione Italiana di Elettrotecnica, 2004), pp. 302–305.

McBrien, G. J.

E. L. Wooten, K. M. Kissa, A. Yi-Yan, E. J. Murphy, D. A. Lafaw, P. F. Hallemeier, D. Maack, D. V. Attanasio, D. J. Fritz, G. J. McBrien, and D. E. Bossi, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 6, 69 (2000).
[CrossRef]

Mendez, A.

A. Mendez, A. Garcia-Cabanes, E. Dieguez, and J. M. Cabrera, Electron. Lett. 35, 498 (1999).
[CrossRef]

Murphy, E. J.

E. L. Wooten, K. M. Kissa, A. Yi-Yan, E. J. Murphy, D. A. Lafaw, P. F. Hallemeier, D. Maack, D. V. Attanasio, D. J. Fritz, G. J. McBrien, and D. E. Bossi, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 6, 69 (2000).
[CrossRef]

Nakagawa, K.

Patchkovskii, S.

O. Smirnova, Y. Mairesse, S. Patchkovskii, N. Dudovich, D. Villeneuve, P. Corkum, and M. Y. Ivanov, Nature 460, 972 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Peithmann, K.

K. Peithmann, A. Wiebrock, and K. Buse, Appl. Phys. B 68, 777 (1999).
[CrossRef]

Prudenzano, F.

T. Del Rosso, G. Margheri, S. Sottini, S. Trigari, M. De Sario, F. Prudenzano, and D. Grando, IEEE Sens. J. 7, 417 (2007).
[CrossRef]

Rhee, B. K.

B. Kamg, B. K. Rhee, and G.-T. Joo, Mater. Lett. 60, 2306(2006).
[CrossRef]

Roche, T.

F. Brandi, F. Giammanco, W. S. Harris, T. Roche, E. Trask, and F. J. Vessel, Rev. Sci. Instrum. 80, 113501 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Rossella, F.

D. Grando, V. Bermudez, E. Dieguez, P. Galinetto, M. Marinone, F. Rossella, E. Giulotto, and G. Samoggia, in Proceedings of 8° Convegno Nazionale Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici (Associazione Italiana di Elettrotecnica, 2004), pp. 302–305.

Salvestrini, J. P.

M. Abarkan, J. P. Salvestrini, M. D. Fontana, and M. Aillerie, Appl. Phys. B 76, 765 (2003).
[CrossRef]

Samoggia, G.

D. Grando, V. Bermudez, E. Dieguez, P. Galinetto, M. Marinone, F. Rossella, E. Giulotto, and G. Samoggia, in Proceedings of 8° Convegno Nazionale Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici (Associazione Italiana di Elettrotecnica, 2004), pp. 302–305.

Sato, O.

O. Sato, R. Baba, K. Hashimoto, and A. Fujishima, J. Phys. Chem. 95, 9636 (1991).
[CrossRef]

Smirnova, O.

O. Smirnova, Y. Mairesse, S. Patchkovskii, N. Dudovich, D. Villeneuve, P. Corkum, and M. Y. Ivanov, Nature 460, 972 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Solymar, L.

Sottini, S.

T. Del Rosso, G. Margheri, S. Sottini, S. Trigari, M. De Sario, F. Prudenzano, and D. Grando, IEEE Sens. J. 7, 417 (2007).
[CrossRef]

Tomita, A.

Trask, E.

F. Brandi, F. Giammanco, W. S. Harris, T. Roche, E. Trask, and F. J. Vessel, Rev. Sci. Instrum. 80, 113501 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Trigari, S.

T. Del Rosso, G. Margheri, S. Sottini, S. Trigari, M. De Sario, F. Prudenzano, and D. Grando, IEEE Sens. J. 7, 417 (2007).
[CrossRef]

Velsko, S. P.

Vessel, F. J.

F. Brandi, F. Giammanco, W. S. Harris, T. Roche, E. Trask, and F. J. Vessel, Rev. Sci. Instrum. 80, 113501 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Villeneuve, D.

O. Smirnova, Y. Mairesse, S. Patchkovskii, N. Dudovich, D. Villeneuve, P. Corkum, and M. Y. Ivanov, Nature 460, 972 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Wiebrock, A.

K. Peithmann, A. Wiebrock, and K. Buse, Appl. Phys. B 68, 777 (1999).
[CrossRef]

Wooten, E. L.

E. L. Wooten, K. M. Kissa, A. Yi-Yan, E. J. Murphy, D. A. Lafaw, P. F. Hallemeier, D. Maack, D. V. Attanasio, D. J. Fritz, G. J. McBrien, and D. E. Bossi, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 6, 69 (2000).
[CrossRef]

Yariv, A.

A. Yariv and P. Yeh, Optical Waves in Crystals (Wiley, 1984).

Yeh, P.

A. Yariv and P. Yeh, Optical Waves in Crystals (Wiley, 1984).

Yi-Yan, A.

E. L. Wooten, K. M. Kissa, A. Yi-Yan, E. J. Murphy, D. A. Lafaw, P. F. Hallemeier, D. Maack, D. V. Attanasio, D. J. Fritz, G. J. McBrien, and D. E. Bossi, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 6, 69 (2000).
[CrossRef]

Zgonik, M.

Appl. Opt.

Appl. Phys. B

K. Peithmann, A. Wiebrock, and K. Buse, Appl. Phys. B 68, 777 (1999).
[CrossRef]

M. Abarkan, J. P. Salvestrini, M. D. Fontana, and M. Aillerie, Appl. Phys. B 76, 765 (2003).
[CrossRef]

Electron. Lett.

A. Mendez, A. Garcia-Cabanes, E. Dieguez, and J. M. Cabrera, Electron. Lett. 35, 498 (1999).
[CrossRef]

IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron.

E. L. Wooten, K. M. Kissa, A. Yi-Yan, E. J. Murphy, D. A. Lafaw, P. F. Hallemeier, D. Maack, D. V. Attanasio, D. J. Fritz, G. J. McBrien, and D. E. Bossi, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 6, 69 (2000).
[CrossRef]

IEEE Sens. J.

T. Del Rosso, G. Margheri, S. Sottini, S. Trigari, M. De Sario, F. Prudenzano, and D. Grando, IEEE Sens. J. 7, 417 (2007).
[CrossRef]

J. Opt. Soc. Am. B

J. Phys. Chem.

O. Sato, R. Baba, K. Hashimoto, and A. Fujishima, J. Phys. Chem. 95, 9636 (1991).
[CrossRef]

J. Vac. Sci. Technol. B

P. D. Henshaw and D. P. DeGloria, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 3955 (1996).
[CrossRef]

Mater. Lett.

B. Kamg, B. K. Rhee, and G.-T. Joo, Mater. Lett. 60, 2306(2006).
[CrossRef]

Nature

O. Smirnova, Y. Mairesse, S. Patchkovskii, N. Dudovich, D. Villeneuve, P. Corkum, and M. Y. Ivanov, Nature 460, 972 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Opt. Lett.

Rev. Sci. Instrum.

F. Brandi, F. Giammanco, W. S. Harris, T. Roche, E. Trask, and F. J. Vessel, Rev. Sci. Instrum. 80, 113501 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Other

K.-H.Kellwege and A.M.Hellwege, eds., Landolt-Börnstein: Numerical Data and Functional Relationships in Sciences and Technology (Springer-Verlag, 1979), Vol.  11.

D. Grando, V. Bermudez, E. Dieguez, P. Galinetto, M. Marinone, F. Rossella, E. Giulotto, and G. Samoggia, in Proceedings of 8° Convegno Nazionale Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici (Associazione Italiana di Elettrotecnica, 2004), pp. 302–305.

A. Yariv and P. Yeh, Optical Waves in Crystals (Wiley, 1984).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (2)

Fig. 1
Fig. 1

The polarization state ( , ) of the fundamental beam (ω) and the SHB ( 2 ω ) impinging on the EO crystal sample and the crystal BIBO 2 are individually controlled by two sets of two DWPs.

Fig. 2
Fig. 2

Snapshot of the monitor of the oscilloscope recording the contrast R (bottom trace), the applied voltage divided by a factor 100 (middle trace), and the clock signal (top trace) in the case of Δ ϕ 13 .

Equations (2)

Equations on this page are rendered with MathJax. Learn more.

R = V T V R V T + V R = C sin ( Δ ϕ + Δ ϕ 0 ) + α ,
Δ ϕ i j = 4 π λ { 1 2 [ n i ω 3 r i 3 ( ω ) n j 2 ω 3 r j 3 ( 2 ω ) ] + p } V d L .

Metrics