Abstract

160Gbit/s all-optical binary-to-quaternary amplitude shift keying format conversion is carried out in a nonlinear optical fiber. This scheme, which also acts as a 2bit digital-to-analog convertor, has been confirmed through Q-factor measurements.

© 2011 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, I. E. Fonseca, E. Moschim, and F. R. Barbosa, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 151 (2005).
    [CrossRef]
  2. M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, F. R. Barbosa, E. Moschim, and I. E. Fonseca, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 331 (2006).
    [CrossRef]
  3. S. Oda and A. Maruta, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 703 (2006).
    [CrossRef]
  4. C. Porzi, A. T. Nguyen, L. Poti, and A. Bogoni, IEEE Photon. Technol. Lett. 21, 654 (2009).
    [CrossRef]
  5. T. Saida, K. Okamoto, K. Uchiyama, K. Takiguchi, T. Shibata, and A. Sugita, Electron. Lett. 37, 1237 (2001).
    [CrossRef]
  6. A. Yacoubian and P. K. Das, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 117 (2003).
    [CrossRef]
  7. I.-W. Hsieh, X. Chen, J. I. Dadap, N. C. Panoiu, R. M. Osgood, S. J. McNab, and Y. A. Vlasov, Opt. Express 15, 1135 (2007).
    [CrossRef] [PubMed]

2009 (1)

C. Porzi, A. T. Nguyen, L. Poti, and A. Bogoni, IEEE Photon. Technol. Lett. 21, 654 (2009).
[CrossRef]

2007 (1)

2006 (2)

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, F. R. Barbosa, E. Moschim, and I. E. Fonseca, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 331 (2006).
[CrossRef]

S. Oda and A. Maruta, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 703 (2006).
[CrossRef]

2005 (1)

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, I. E. Fonseca, E. Moschim, and F. R. Barbosa, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 151 (2005).
[CrossRef]

2003 (1)

A. Yacoubian and P. K. Das, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 117 (2003).
[CrossRef]

2001 (1)

T. Saida, K. Okamoto, K. Uchiyama, K. Takiguchi, T. Shibata, and A. Sugita, Electron. Lett. 37, 1237 (2001).
[CrossRef]

Abbade, M. L. F.

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, F. R. Barbosa, E. Moschim, and I. E. Fonseca, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 331 (2006).
[CrossRef]

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, I. E. Fonseca, E. Moschim, and F. R. Barbosa, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 151 (2005).
[CrossRef]

Barbosa, F. R.

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, F. R. Barbosa, E. Moschim, and I. E. Fonseca, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 331 (2006).
[CrossRef]

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, I. E. Fonseca, E. Moschim, and F. R. Barbosa, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 151 (2005).
[CrossRef]

Bogoni, A.

C. Porzi, A. T. Nguyen, L. Poti, and A. Bogoni, IEEE Photon. Technol. Lett. 21, 654 (2009).
[CrossRef]

Braga, R. S.

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, F. R. Barbosa, E. Moschim, and I. E. Fonseca, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 331 (2006).
[CrossRef]

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, I. E. Fonseca, E. Moschim, and F. R. Barbosa, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 151 (2005).
[CrossRef]

Chen, X.

Dadap, J. I.

Das, P. K.

A. Yacoubian and P. K. Das, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 117 (2003).
[CrossRef]

Fagotto, E. A. M.

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, F. R. Barbosa, E. Moschim, and I. E. Fonseca, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 331 (2006).
[CrossRef]

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, I. E. Fonseca, E. Moschim, and F. R. Barbosa, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 151 (2005).
[CrossRef]

Fonseca, I. E.

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, F. R. Barbosa, E. Moschim, and I. E. Fonseca, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 331 (2006).
[CrossRef]

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, I. E. Fonseca, E. Moschim, and F. R. Barbosa, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 151 (2005).
[CrossRef]

Hsieh, I.-W.

Maruta, A.

S. Oda and A. Maruta, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 703 (2006).
[CrossRef]

McNab, S. J.

Moschim, E.

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, F. R. Barbosa, E. Moschim, and I. E. Fonseca, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 331 (2006).
[CrossRef]

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, I. E. Fonseca, E. Moschim, and F. R. Barbosa, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 151 (2005).
[CrossRef]

Nguyen, A. T.

C. Porzi, A. T. Nguyen, L. Poti, and A. Bogoni, IEEE Photon. Technol. Lett. 21, 654 (2009).
[CrossRef]

Oda, S.

S. Oda and A. Maruta, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 703 (2006).
[CrossRef]

Okamoto, K.

T. Saida, K. Okamoto, K. Uchiyama, K. Takiguchi, T. Shibata, and A. Sugita, Electron. Lett. 37, 1237 (2001).
[CrossRef]

Osgood, R. M.

Panoiu, N. C.

Porzi, C.

C. Porzi, A. T. Nguyen, L. Poti, and A. Bogoni, IEEE Photon. Technol. Lett. 21, 654 (2009).
[CrossRef]

Poti, L.

C. Porzi, A. T. Nguyen, L. Poti, and A. Bogoni, IEEE Photon. Technol. Lett. 21, 654 (2009).
[CrossRef]

Saida, T.

T. Saida, K. Okamoto, K. Uchiyama, K. Takiguchi, T. Shibata, and A. Sugita, Electron. Lett. 37, 1237 (2001).
[CrossRef]

Shibata, T.

T. Saida, K. Okamoto, K. Uchiyama, K. Takiguchi, T. Shibata, and A. Sugita, Electron. Lett. 37, 1237 (2001).
[CrossRef]

Sugita, A.

T. Saida, K. Okamoto, K. Uchiyama, K. Takiguchi, T. Shibata, and A. Sugita, Electron. Lett. 37, 1237 (2001).
[CrossRef]

Takiguchi, K.

T. Saida, K. Okamoto, K. Uchiyama, K. Takiguchi, T. Shibata, and A. Sugita, Electron. Lett. 37, 1237 (2001).
[CrossRef]

Uchiyama, K.

T. Saida, K. Okamoto, K. Uchiyama, K. Takiguchi, T. Shibata, and A. Sugita, Electron. Lett. 37, 1237 (2001).
[CrossRef]

Vlasov, Y. A.

Yacoubian, A.

A. Yacoubian and P. K. Das, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 117 (2003).
[CrossRef]

Electron. Lett. (1)

T. Saida, K. Okamoto, K. Uchiyama, K. Takiguchi, T. Shibata, and A. Sugita, Electron. Lett. 37, 1237 (2001).
[CrossRef]

IEEE Photon. Technol. Lett. (5)

A. Yacoubian and P. K. Das, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 117 (2003).
[CrossRef]

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, I. E. Fonseca, E. Moschim, and F. R. Barbosa, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 151 (2005).
[CrossRef]

M. L. F. Abbade, E. A. M. Fagotto, R. S. Braga, F. R. Barbosa, E. Moschim, and I. E. Fonseca, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 331 (2006).
[CrossRef]

S. Oda and A. Maruta, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 703 (2006).
[CrossRef]

C. Porzi, A. T. Nguyen, L. Poti, and A. Bogoni, IEEE Photon. Technol. Lett. 21, 654 (2009).
[CrossRef]

Opt. Express (1)

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (3)

Fig. 1
Fig. 1

Left, N-bit DAC architecture. Insets, the involved signals with N = 2 . SC, supercontinuum generation; AWG, arrayed waveguide grating; BPF, bandpass filter. N is the number of bit/symbol in the final multilevel signal and X Gb / s is the bit rate of the original 2-level signal. Right, spectral components involved in XPM generation in NL# 1 (top) and NL# 2 (bottom), for a generic N value (a) and for N = 2 (b).

Fig. 2
Fig. 2

Experimental setup. MLL, mode locked laser. Right, input and output optical spectra of the two nonlinear devices.

Fig. 3
Fig. 3

Eye diagrams of the original 160 Gb / s 2-level signal including 2 bit digital words (a), the two 80 GHz clocks used in the HNLF 1 (b) and (c), the two 80 Gb / s 2-level signals obtained by XPM in HNLF 1 representing the MSB and the LSB, respectively, (d) and (f), the 160 Gb / s 4-level signal generated by XPM in the HNLF 2, visualized by an optical sampling scope with 1 ps -resolution (f), and by an Agilent electrical sampling oscilloscope with 65 GHz -bandwidth used for Q-factor measurement (g).

Metrics