Abstract

To realize an electrically pumped compact mid-IR microlaser, the optical properties of a Cr2+:ZnSe film deposited by rf magnetron cosputtering were compared with those of a single crystal. The mid-IR room temperature photoluminescence efficiency of the film appears only twice less than the one of the single crystal under direct (1850 nm) and indirect (458 nm) excitations. The smaller Cr2+ fluorescence lifetime values of the film were attributed to the presence in the film of a large amount of chromium in a valence state different from Cr2+ and of structural defects in the ZnSe host matrix.

© 2010 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. R. W. Waynant, I. K. Ilev, and I. Gannot, Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A 359, 635 (2001).
    [CrossRef]
  2. L. Shterengas, G. L. Belenky, J. G. Kim, and R. U. Martinelli, Semicond. Sci. Technol. 19, 655 (2004).
    [CrossRef]
  3. L. D. DeLoach, R. H. Page, G. D. Wilke, S. A. Payne, and W. F. Krupke, IEEE J. Quantum Electron. 32, 885 (1996).
    [CrossRef]
  4. I. T. Sorokina, in Solid-State Mid-Infrared Laser Sources, Vol. 89 of Topics in Applied Physics, I.T.Sorokina and K.L.Vodopyanov, eds. (Springer, 2003), pp. 255-349.
    [CrossRef]
  5. N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, J. L. Doualan, and R. Moncorge, Appl. Phys. Lett. 90, 181915 (2007).
    [CrossRef]
  6. J. Jaeck, R. Haidar, E. Rosencher, M. Caes, M. Tauvy, S. Collin, N. Bardou, J. L. Pelouard, F. Pardo, and P. Lemasson, Opt. Lett. 31, 3501 (2006).
    [CrossRef] [PubMed]
  7. V. V. Fedorov, A. Gallian, I. Moskalev, and S. B. Mirov, J. Lumin. 125, 184 (2007).
    [CrossRef]
  8. N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, X. Portier, and J. L. Doualan, Mater. Sci. Eng. B 146, 236 (2008).
    [CrossRef]
  9. A. Gallian, V. V. Fedorov, J. Kernal, J. Allman, S. B. Mirov, E. M. Dianov, A. O. Zabezhaylov, and I. P. Kazakov, Appl. Phys. Lett. 86, 091105 (2005).
    [CrossRef]
  10. J. E. Williams, R. P. Camata, V. V. Fedorov, and S. B. Mirov, Appl. Phys. A 91, 333 (2008).
    [CrossRef]
  11. A. Sennaroglu, U. Demirbas, N. Vermeulen, H. Ottevaere, and H. Thienpont, Opt. Commun. 268, 115 (2006).
    [CrossRef]
  12. W. Q. Peng, S. C. Qu, G. W. Cong, and Z. G. Wang, J. Cryst. Growth 279, 454 (2005).
    [CrossRef]
  13. B. K. Rai, R. S. Katiyar, K. T. Chen, and A. Burger, J. Appl. Phys. 83, 6011 (1998).
    [CrossRef]
  14. B. L. VanMil, A. J. Ptak, L. Bai, L. Wang, M. Chirila, N. C. Giles, T. H. Mayers, and L. Wang, J. Electron. Mater. 31-7, 770 (2002).
    [CrossRef]
  15. J. F. Suyver, S. F. Wuister, J. J. Kelly, and A. Meijerink, Phys. Chem. Chem. Phys. 2, 5445 (2000).
    [CrossRef]
  16. E. Guziewicz, M. Godlewski, K. Kopalko, E. Pusakowska, E. Dynowska, M. Guziewics, M. M. Godlewski, and M. Phillips, Thin Solid Films 446, 172 (2004).
    [CrossRef]

2008

J. E. Williams, R. P. Camata, V. V. Fedorov, and S. B. Mirov, Appl. Phys. A 91, 333 (2008).
[CrossRef]

N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, X. Portier, and J. L. Doualan, Mater. Sci. Eng. B 146, 236 (2008).
[CrossRef]

2007

V. V. Fedorov, A. Gallian, I. Moskalev, and S. B. Mirov, J. Lumin. 125, 184 (2007).
[CrossRef]

N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, J. L. Doualan, and R. Moncorge, Appl. Phys. Lett. 90, 181915 (2007).
[CrossRef]

2006

2005

W. Q. Peng, S. C. Qu, G. W. Cong, and Z. G. Wang, J. Cryst. Growth 279, 454 (2005).
[CrossRef]

A. Gallian, V. V. Fedorov, J. Kernal, J. Allman, S. B. Mirov, E. M. Dianov, A. O. Zabezhaylov, and I. P. Kazakov, Appl. Phys. Lett. 86, 091105 (2005).
[CrossRef]

2004

E. Guziewicz, M. Godlewski, K. Kopalko, E. Pusakowska, E. Dynowska, M. Guziewics, M. M. Godlewski, and M. Phillips, Thin Solid Films 446, 172 (2004).
[CrossRef]

L. Shterengas, G. L. Belenky, J. G. Kim, and R. U. Martinelli, Semicond. Sci. Technol. 19, 655 (2004).
[CrossRef]

2003

I. T. Sorokina, in Solid-State Mid-Infrared Laser Sources, Vol. 89 of Topics in Applied Physics, I.T.Sorokina and K.L.Vodopyanov, eds. (Springer, 2003), pp. 255-349.
[CrossRef]

2002

B. L. VanMil, A. J. Ptak, L. Bai, L. Wang, M. Chirila, N. C. Giles, T. H. Mayers, and L. Wang, J. Electron. Mater. 31-7, 770 (2002).
[CrossRef]

2001

R. W. Waynant, I. K. Ilev, and I. Gannot, Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A 359, 635 (2001).
[CrossRef]

2000

J. F. Suyver, S. F. Wuister, J. J. Kelly, and A. Meijerink, Phys. Chem. Chem. Phys. 2, 5445 (2000).
[CrossRef]

1998

B. K. Rai, R. S. Katiyar, K. T. Chen, and A. Burger, J. Appl. Phys. 83, 6011 (1998).
[CrossRef]

1996

L. D. DeLoach, R. H. Page, G. D. Wilke, S. A. Payne, and W. F. Krupke, IEEE J. Quantum Electron. 32, 885 (1996).
[CrossRef]

Allman, J.

A. Gallian, V. V. Fedorov, J. Kernal, J. Allman, S. B. Mirov, E. M. Dianov, A. O. Zabezhaylov, and I. P. Kazakov, Appl. Phys. Lett. 86, 091105 (2005).
[CrossRef]

Bai, L.

B. L. VanMil, A. J. Ptak, L. Bai, L. Wang, M. Chirila, N. C. Giles, T. H. Mayers, and L. Wang, J. Electron. Mater. 31-7, 770 (2002).
[CrossRef]

Bardou, N.

Belenky, G. L.

L. Shterengas, G. L. Belenky, J. G. Kim, and R. U. Martinelli, Semicond. Sci. Technol. 19, 655 (2004).
[CrossRef]

Burger, A.

B. K. Rai, R. S. Katiyar, K. T. Chen, and A. Burger, J. Appl. Phys. 83, 6011 (1998).
[CrossRef]

Caes, M.

Camata, R. P.

J. E. Williams, R. P. Camata, V. V. Fedorov, and S. B. Mirov, Appl. Phys. A 91, 333 (2008).
[CrossRef]

Chen, K. T.

B. K. Rai, R. S. Katiyar, K. T. Chen, and A. Burger, J. Appl. Phys. 83, 6011 (1998).
[CrossRef]

Chirila, M.

B. L. VanMil, A. J. Ptak, L. Bai, L. Wang, M. Chirila, N. C. Giles, T. H. Mayers, and L. Wang, J. Electron. Mater. 31-7, 770 (2002).
[CrossRef]

Collin, S.

Cong, G. W.

W. Q. Peng, S. C. Qu, G. W. Cong, and Z. G. Wang, J. Cryst. Growth 279, 454 (2005).
[CrossRef]

DeLoach, L. D.

L. D. DeLoach, R. H. Page, G. D. Wilke, S. A. Payne, and W. F. Krupke, IEEE J. Quantum Electron. 32, 885 (1996).
[CrossRef]

Demirbas, U.

A. Sennaroglu, U. Demirbas, N. Vermeulen, H. Ottevaere, and H. Thienpont, Opt. Commun. 268, 115 (2006).
[CrossRef]

Dianov, E. M.

A. Gallian, V. V. Fedorov, J. Kernal, J. Allman, S. B. Mirov, E. M. Dianov, A. O. Zabezhaylov, and I. P. Kazakov, Appl. Phys. Lett. 86, 091105 (2005).
[CrossRef]

Doualan, J. L.

N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, X. Portier, and J. L. Doualan, Mater. Sci. Eng. B 146, 236 (2008).
[CrossRef]

N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, J. L. Doualan, and R. Moncorge, Appl. Phys. Lett. 90, 181915 (2007).
[CrossRef]

Dynowska, E.

E. Guziewicz, M. Godlewski, K. Kopalko, E. Pusakowska, E. Dynowska, M. Guziewics, M. M. Godlewski, and M. Phillips, Thin Solid Films 446, 172 (2004).
[CrossRef]

Fedorov, V. V.

J. E. Williams, R. P. Camata, V. V. Fedorov, and S. B. Mirov, Appl. Phys. A 91, 333 (2008).
[CrossRef]

V. V. Fedorov, A. Gallian, I. Moskalev, and S. B. Mirov, J. Lumin. 125, 184 (2007).
[CrossRef]

A. Gallian, V. V. Fedorov, J. Kernal, J. Allman, S. B. Mirov, E. M. Dianov, A. O. Zabezhaylov, and I. P. Kazakov, Appl. Phys. Lett. 86, 091105 (2005).
[CrossRef]

Gallian, A.

V. V. Fedorov, A. Gallian, I. Moskalev, and S. B. Mirov, J. Lumin. 125, 184 (2007).
[CrossRef]

A. Gallian, V. V. Fedorov, J. Kernal, J. Allman, S. B. Mirov, E. M. Dianov, A. O. Zabezhaylov, and I. P. Kazakov, Appl. Phys. Lett. 86, 091105 (2005).
[CrossRef]

Gannot, I.

R. W. Waynant, I. K. Ilev, and I. Gannot, Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A 359, 635 (2001).
[CrossRef]

Giles, N. C.

B. L. VanMil, A. J. Ptak, L. Bai, L. Wang, M. Chirila, N. C. Giles, T. H. Mayers, and L. Wang, J. Electron. Mater. 31-7, 770 (2002).
[CrossRef]

Godlewski, M.

E. Guziewicz, M. Godlewski, K. Kopalko, E. Pusakowska, E. Dynowska, M. Guziewics, M. M. Godlewski, and M. Phillips, Thin Solid Films 446, 172 (2004).
[CrossRef]

Godlewski, M. M.

E. Guziewicz, M. Godlewski, K. Kopalko, E. Pusakowska, E. Dynowska, M. Guziewics, M. M. Godlewski, and M. Phillips, Thin Solid Films 446, 172 (2004).
[CrossRef]

Guziewics, M.

E. Guziewicz, M. Godlewski, K. Kopalko, E. Pusakowska, E. Dynowska, M. Guziewics, M. M. Godlewski, and M. Phillips, Thin Solid Films 446, 172 (2004).
[CrossRef]

Guziewicz, E.

E. Guziewicz, M. Godlewski, K. Kopalko, E. Pusakowska, E. Dynowska, M. Guziewics, M. M. Godlewski, and M. Phillips, Thin Solid Films 446, 172 (2004).
[CrossRef]

Haidar, R.

Ilev, I. K.

R. W. Waynant, I. K. Ilev, and I. Gannot, Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A 359, 635 (2001).
[CrossRef]

Jaeck, J.

Katiyar, R. S.

B. K. Rai, R. S. Katiyar, K. T. Chen, and A. Burger, J. Appl. Phys. 83, 6011 (1998).
[CrossRef]

Kazakov, I. P.

A. Gallian, V. V. Fedorov, J. Kernal, J. Allman, S. B. Mirov, E. M. Dianov, A. O. Zabezhaylov, and I. P. Kazakov, Appl. Phys. Lett. 86, 091105 (2005).
[CrossRef]

Kelly, J. J.

J. F. Suyver, S. F. Wuister, J. J. Kelly, and A. Meijerink, Phys. Chem. Chem. Phys. 2, 5445 (2000).
[CrossRef]

Kernal, J.

A. Gallian, V. V. Fedorov, J. Kernal, J. Allman, S. B. Mirov, E. M. Dianov, A. O. Zabezhaylov, and I. P. Kazakov, Appl. Phys. Lett. 86, 091105 (2005).
[CrossRef]

Kim, J. G.

L. Shterengas, G. L. Belenky, J. G. Kim, and R. U. Martinelli, Semicond. Sci. Technol. 19, 655 (2004).
[CrossRef]

Kopalko, K.

E. Guziewicz, M. Godlewski, K. Kopalko, E. Pusakowska, E. Dynowska, M. Guziewics, M. M. Godlewski, and M. Phillips, Thin Solid Films 446, 172 (2004).
[CrossRef]

Krupke, W. F.

L. D. DeLoach, R. H. Page, G. D. Wilke, S. A. Payne, and W. F. Krupke, IEEE J. Quantum Electron. 32, 885 (1996).
[CrossRef]

Lemasson, P.

Levalois, M.

N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, X. Portier, and J. L. Doualan, Mater. Sci. Eng. B 146, 236 (2008).
[CrossRef]

N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, J. L. Doualan, and R. Moncorge, Appl. Phys. Lett. 90, 181915 (2007).
[CrossRef]

Martinelli, R. U.

L. Shterengas, G. L. Belenky, J. G. Kim, and R. U. Martinelli, Semicond. Sci. Technol. 19, 655 (2004).
[CrossRef]

Mayers, T. H.

B. L. VanMil, A. J. Ptak, L. Bai, L. Wang, M. Chirila, N. C. Giles, T. H. Mayers, and L. Wang, J. Electron. Mater. 31-7, 770 (2002).
[CrossRef]

Meijerink, A.

J. F. Suyver, S. F. Wuister, J. J. Kelly, and A. Meijerink, Phys. Chem. Chem. Phys. 2, 5445 (2000).
[CrossRef]

Mirov, S. B.

J. E. Williams, R. P. Camata, V. V. Fedorov, and S. B. Mirov, Appl. Phys. A 91, 333 (2008).
[CrossRef]

V. V. Fedorov, A. Gallian, I. Moskalev, and S. B. Mirov, J. Lumin. 125, 184 (2007).
[CrossRef]

A. Gallian, V. V. Fedorov, J. Kernal, J. Allman, S. B. Mirov, E. M. Dianov, A. O. Zabezhaylov, and I. P. Kazakov, Appl. Phys. Lett. 86, 091105 (2005).
[CrossRef]

Moncorge, R.

N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, J. L. Doualan, and R. Moncorge, Appl. Phys. Lett. 90, 181915 (2007).
[CrossRef]

Morales, M.

N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, X. Portier, and J. L. Doualan, Mater. Sci. Eng. B 146, 236 (2008).
[CrossRef]

N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, J. L. Doualan, and R. Moncorge, Appl. Phys. Lett. 90, 181915 (2007).
[CrossRef]

Moskalev, I.

V. V. Fedorov, A. Gallian, I. Moskalev, and S. B. Mirov, J. Lumin. 125, 184 (2007).
[CrossRef]

Ottevaere, H.

A. Sennaroglu, U. Demirbas, N. Vermeulen, H. Ottevaere, and H. Thienpont, Opt. Commun. 268, 115 (2006).
[CrossRef]

Page, R. H.

L. D. DeLoach, R. H. Page, G. D. Wilke, S. A. Payne, and W. F. Krupke, IEEE J. Quantum Electron. 32, 885 (1996).
[CrossRef]

Pardo, F.

Payne, S. A.

L. D. DeLoach, R. H. Page, G. D. Wilke, S. A. Payne, and W. F. Krupke, IEEE J. Quantum Electron. 32, 885 (1996).
[CrossRef]

Pelouard, J. L.

Peng, W. Q.

W. Q. Peng, S. C. Qu, G. W. Cong, and Z. G. Wang, J. Cryst. Growth 279, 454 (2005).
[CrossRef]

Phillips, M.

E. Guziewicz, M. Godlewski, K. Kopalko, E. Pusakowska, E. Dynowska, M. Guziewics, M. M. Godlewski, and M. Phillips, Thin Solid Films 446, 172 (2004).
[CrossRef]

Portier, X.

N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, X. Portier, and J. L. Doualan, Mater. Sci. Eng. B 146, 236 (2008).
[CrossRef]

Ptak, A. J.

B. L. VanMil, A. J. Ptak, L. Bai, L. Wang, M. Chirila, N. C. Giles, T. H. Mayers, and L. Wang, J. Electron. Mater. 31-7, 770 (2002).
[CrossRef]

Pusakowska, E.

E. Guziewicz, M. Godlewski, K. Kopalko, E. Pusakowska, E. Dynowska, M. Guziewics, M. M. Godlewski, and M. Phillips, Thin Solid Films 446, 172 (2004).
[CrossRef]

Qu, S. C.

W. Q. Peng, S. C. Qu, G. W. Cong, and Z. G. Wang, J. Cryst. Growth 279, 454 (2005).
[CrossRef]

Rai, B. K.

B. K. Rai, R. S. Katiyar, K. T. Chen, and A. Burger, J. Appl. Phys. 83, 6011 (1998).
[CrossRef]

Rosencher, E.

Sennaroglu, A.

A. Sennaroglu, U. Demirbas, N. Vermeulen, H. Ottevaere, and H. Thienpont, Opt. Commun. 268, 115 (2006).
[CrossRef]

Shterengas, L.

L. Shterengas, G. L. Belenky, J. G. Kim, and R. U. Martinelli, Semicond. Sci. Technol. 19, 655 (2004).
[CrossRef]

Sorokina, I. T.

I. T. Sorokina, in Solid-State Mid-Infrared Laser Sources, Vol. 89 of Topics in Applied Physics, I.T.Sorokina and K.L.Vodopyanov, eds. (Springer, 2003), pp. 255-349.
[CrossRef]

Suyver, J. F.

J. F. Suyver, S. F. Wuister, J. J. Kelly, and A. Meijerink, Phys. Chem. Chem. Phys. 2, 5445 (2000).
[CrossRef]

Tauvy, M.

Thienpont, H.

A. Sennaroglu, U. Demirbas, N. Vermeulen, H. Ottevaere, and H. Thienpont, Opt. Commun. 268, 115 (2006).
[CrossRef]

VanMil, B. L.

B. L. VanMil, A. J. Ptak, L. Bai, L. Wang, M. Chirila, N. C. Giles, T. H. Mayers, and L. Wang, J. Electron. Mater. 31-7, 770 (2002).
[CrossRef]

Vermeulen, N.

A. Sennaroglu, U. Demirbas, N. Vermeulen, H. Ottevaere, and H. Thienpont, Opt. Commun. 268, 115 (2006).
[CrossRef]

Vivet, N.

N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, X. Portier, and J. L. Doualan, Mater. Sci. Eng. B 146, 236 (2008).
[CrossRef]

N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, J. L. Doualan, and R. Moncorge, Appl. Phys. Lett. 90, 181915 (2007).
[CrossRef]

Wang, L.

B. L. VanMil, A. J. Ptak, L. Bai, L. Wang, M. Chirila, N. C. Giles, T. H. Mayers, and L. Wang, J. Electron. Mater. 31-7, 770 (2002).
[CrossRef]

B. L. VanMil, A. J. Ptak, L. Bai, L. Wang, M. Chirila, N. C. Giles, T. H. Mayers, and L. Wang, J. Electron. Mater. 31-7, 770 (2002).
[CrossRef]

Wang, Z. G.

W. Q. Peng, S. C. Qu, G. W. Cong, and Z. G. Wang, J. Cryst. Growth 279, 454 (2005).
[CrossRef]

Waynant, R. W.

R. W. Waynant, I. K. Ilev, and I. Gannot, Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A 359, 635 (2001).
[CrossRef]

Wilke, G. D.

L. D. DeLoach, R. H. Page, G. D. Wilke, S. A. Payne, and W. F. Krupke, IEEE J. Quantum Electron. 32, 885 (1996).
[CrossRef]

Williams, J. E.

J. E. Williams, R. P. Camata, V. V. Fedorov, and S. B. Mirov, Appl. Phys. A 91, 333 (2008).
[CrossRef]

Wuister, S. F.

J. F. Suyver, S. F. Wuister, J. J. Kelly, and A. Meijerink, Phys. Chem. Chem. Phys. 2, 5445 (2000).
[CrossRef]

Zabezhaylov, A. O.

A. Gallian, V. V. Fedorov, J. Kernal, J. Allman, S. B. Mirov, E. M. Dianov, A. O. Zabezhaylov, and I. P. Kazakov, Appl. Phys. Lett. 86, 091105 (2005).
[CrossRef]

Appl. Phys. A

J. E. Williams, R. P. Camata, V. V. Fedorov, and S. B. Mirov, Appl. Phys. A 91, 333 (2008).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett.

A. Gallian, V. V. Fedorov, J. Kernal, J. Allman, S. B. Mirov, E. M. Dianov, A. O. Zabezhaylov, and I. P. Kazakov, Appl. Phys. Lett. 86, 091105 (2005).
[CrossRef]

N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, J. L. Doualan, and R. Moncorge, Appl. Phys. Lett. 90, 181915 (2007).
[CrossRef]

IEEE J. Quantum Electron.

L. D. DeLoach, R. H. Page, G. D. Wilke, S. A. Payne, and W. F. Krupke, IEEE J. Quantum Electron. 32, 885 (1996).
[CrossRef]

J. Appl. Phys.

B. K. Rai, R. S. Katiyar, K. T. Chen, and A. Burger, J. Appl. Phys. 83, 6011 (1998).
[CrossRef]

J. Cryst. Growth

W. Q. Peng, S. C. Qu, G. W. Cong, and Z. G. Wang, J. Cryst. Growth 279, 454 (2005).
[CrossRef]

J. Electron. Mater.

B. L. VanMil, A. J. Ptak, L. Bai, L. Wang, M. Chirila, N. C. Giles, T. H. Mayers, and L. Wang, J. Electron. Mater. 31-7, 770 (2002).
[CrossRef]

J. Lumin.

V. V. Fedorov, A. Gallian, I. Moskalev, and S. B. Mirov, J. Lumin. 125, 184 (2007).
[CrossRef]

Mater. Sci. Eng. B

N. Vivet, M. Morales, M. Levalois, X. Portier, and J. L. Doualan, Mater. Sci. Eng. B 146, 236 (2008).
[CrossRef]

Opt. Commun.

A. Sennaroglu, U. Demirbas, N. Vermeulen, H. Ottevaere, and H. Thienpont, Opt. Commun. 268, 115 (2006).
[CrossRef]

Opt. Lett.

Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A

R. W. Waynant, I. K. Ilev, and I. Gannot, Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A 359, 635 (2001).
[CrossRef]

Phys. Chem. Chem. Phys.

J. F. Suyver, S. F. Wuister, J. J. Kelly, and A. Meijerink, Phys. Chem. Chem. Phys. 2, 5445 (2000).
[CrossRef]

Semicond. Sci. Technol.

L. Shterengas, G. L. Belenky, J. G. Kim, and R. U. Martinelli, Semicond. Sci. Technol. 19, 655 (2004).
[CrossRef]

Thin Solid Films

E. Guziewicz, M. Godlewski, K. Kopalko, E. Pusakowska, E. Dynowska, M. Guziewics, M. M. Godlewski, and M. Phillips, Thin Solid Films 446, 172 (2004).
[CrossRef]

Other

I. T. Sorokina, in Solid-State Mid-Infrared Laser Sources, Vol. 89 of Topics in Applied Physics, I.T.Sorokina and K.L.Vodopyanov, eds. (Springer, 2003), pp. 255-349.
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (3)

Fig. 1
Fig. 1

Comparison of the thickness normalized RT PL spectra between the single crystal (dashed curve) and the Cr 2 + : ZnSe film (solid curve) under 1850 nm excitation. The oscillations are due to multiple reflections on film surface, and the absorption band from 2600 to 2800 nm comes from the water vapor present in the atmosphere during the measurements.

Fig. 2
Fig. 2

Measured variation of the fluorescence lifetime for the single crystal (squares) and the studied film (open circles) between 10 and 400 K, using 1660 nm excitation.

Fig. 3
Fig. 3

Visible PL spectra at 10 K of the single crystal, the Cr 2 + : ZnSe studied film, and an undoped ZnSe film, using 458 nm Ar laser excitation.

Equations (3)

Equations on this page are rendered with MathJax. Learn more.

1 τ ( T ) = 1 τ 10   K + 1 τ nr = 1 τ 10   K + W nr ( T ) ,
W nr = A   exp ( Δ E k T ) ,
W nr = A 1   exp ( Δ E 1 k T ) + A 2   exp ( Δ E 2 k T ) .

Metrics