Abstract

We report efficient generation of picosecond pulses in the near- and mid-IR in the new nonlinear material CdSiP2 pumped at 1.064μm by an amplified mode-locked Nd:YVO4 laser at a 100kHz repetition rate. By using single-pass optical parametric generation in 8-mm-long crystal cut for type I(eoo) noncritical phase matching, an average idler power of 154mW at 6.204μm together with 1.16W of signal at 1.282μm has been obtained for 6.1W of pump at photon conversion efficiencies of 15% and 23%, respectively. Signal pulse durations of 6.36ps are measured for 9ps pump pulses.

© 2010 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, in Advanced Solid-State Photonics, Conference Program and Technical Digest (Optical Society of America, 2008), postdeadline paper MG6.
  2. P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, T. M. Pollak, V. Petrov, and D. E. Zelmon, in Advanced Solid-State Photonics, Conference Program and Technical Digest (Optical Society of America, 2009), paper TuC6.
  3. V. Petrov, F. Noack, I. Tunchev, P. Schunemann, and K. Zawilski, Proc. SPIE 7197, 71970M (2009).
    [CrossRef]
  4. G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
    [CrossRef]
  5. V. Petrov, P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, and T. M. Pollak, Opt. Lett. 34, 2399 (2009).
    [CrossRef] [PubMed]
  6. A. Peremans, D. Lis, F. Cecchet, P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, and V. Petrov, Opt. Lett. 34, 3053 (2009).
    [CrossRef] [PubMed]
  7. V. Petrov, G. Marchev, P. G. Schunemann, A. Tyazhev, K. T. Zawilski, and T. M. Pollak, Opt. Lett. 35, 1230 (2010).
    [CrossRef] [PubMed]
  8. K. T. Zawilski, P. G. Schunemann, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, J. Cryst. Growth 312, 1127 (2010).
    [CrossRef]

2010 (2)

K. T. Zawilski, P. G. Schunemann, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, J. Cryst. Growth 312, 1127 (2010).
[CrossRef]

V. Petrov, G. Marchev, P. G. Schunemann, A. Tyazhev, K. T. Zawilski, and T. M. Pollak, Opt. Lett. 35, 1230 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

2009 (3)

2003 (1)

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Austin, R. H.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Carroll, F. E.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Cecchet, F.

Copeland, M. L.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Couprie, M. E.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Edwards, G. S.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Fernelius, N. C.

K. T. Zawilski, P. G. Schunemann, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, J. Cryst. Growth 312, 1127 (2010).
[CrossRef]

P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, in Advanced Solid-State Photonics, Conference Program and Technical Digest (Optical Society of America, 2008), postdeadline paper MG6.

Gabella, W. E.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Haglund, R. F.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Hooper, B. A.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Hopkins, F. K.

K. T. Zawilski, P. G. Schunemann, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, J. Cryst. Growth 312, 1127 (2010).
[CrossRef]

P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, in Advanced Solid-State Photonics, Conference Program and Technical Digest (Optical Society of America, 2008), postdeadline paper MG6.

Hutson, M. S.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Jansen, E. D.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Joos, K. M.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Kiehart, D. P.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Lindau, I.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Lis, D.

Marchev, G.

Miao, J.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Noack, F.

V. Petrov, F. Noack, I. Tunchev, P. Schunemann, and K. Zawilski, Proc. SPIE 7197, 71970M (2009).
[CrossRef]

Peremans, A.

Petrov, V.

V. Petrov, G. Marchev, P. G. Schunemann, A. Tyazhev, K. T. Zawilski, and T. M. Pollak, Opt. Lett. 35, 1230 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

A. Peremans, D. Lis, F. Cecchet, P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, and V. Petrov, Opt. Lett. 34, 3053 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

V. Petrov, P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, and T. M. Pollak, Opt. Lett. 34, 2399 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

V. Petrov, F. Noack, I. Tunchev, P. Schunemann, and K. Zawilski, Proc. SPIE 7197, 71970M (2009).
[CrossRef]

P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, T. M. Pollak, V. Petrov, and D. E. Zelmon, in Advanced Solid-State Photonics, Conference Program and Technical Digest (Optical Society of America, 2009), paper TuC6.

Pollak, T. M.

V. Petrov, G. Marchev, P. G. Schunemann, A. Tyazhev, K. T. Zawilski, and T. M. Pollak, Opt. Lett. 35, 1230 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

K. T. Zawilski, P. G. Schunemann, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, J. Cryst. Growth 312, 1127 (2010).
[CrossRef]

V. Petrov, P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, and T. M. Pollak, Opt. Lett. 34, 2399 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, in Advanced Solid-State Photonics, Conference Program and Technical Digest (Optical Society of America, 2008), postdeadline paper MG6.

P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, T. M. Pollak, V. Petrov, and D. E. Zelmon, in Advanced Solid-State Photonics, Conference Program and Technical Digest (Optical Society of America, 2009), paper TuC6.

Pratisto, H. S.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Schunemann, P.

V. Petrov, F. Noack, I. Tunchev, P. Schunemann, and K. Zawilski, Proc. SPIE 7197, 71970M (2009).
[CrossRef]

Schunemann, P. G.

K. T. Zawilski, P. G. Schunemann, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, J. Cryst. Growth 312, 1127 (2010).
[CrossRef]

V. Petrov, G. Marchev, P. G. Schunemann, A. Tyazhev, K. T. Zawilski, and T. M. Pollak, Opt. Lett. 35, 1230 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

V. Petrov, P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, and T. M. Pollak, Opt. Lett. 34, 2399 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

A. Peremans, D. Lis, F. Cecchet, P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, and V. Petrov, Opt. Lett. 34, 3053 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, in Advanced Solid-State Photonics, Conference Program and Technical Digest (Optical Society of America, 2008), postdeadline paper MG6.

P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, T. M. Pollak, V. Petrov, and D. E. Zelmon, in Advanced Solid-State Photonics, Conference Program and Technical Digest (Optical Society of America, 2009), paper TuC6.

Shen, J. H.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Tokutake, Y.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Tunchev, I.

V. Petrov, F. Noack, I. Tunchev, P. Schunemann, and K. Zawilski, Proc. SPIE 7197, 71970M (2009).
[CrossRef]

Tyazhev, A.

van der Meer, A. F. G.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Xie, A.

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Zawilski, K.

V. Petrov, F. Noack, I. Tunchev, P. Schunemann, and K. Zawilski, Proc. SPIE 7197, 71970M (2009).
[CrossRef]

Zawilski, K. T.

V. Petrov, G. Marchev, P. G. Schunemann, A. Tyazhev, K. T. Zawilski, and T. M. Pollak, Opt. Lett. 35, 1230 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

K. T. Zawilski, P. G. Schunemann, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, J. Cryst. Growth 312, 1127 (2010).
[CrossRef]

V. Petrov, P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, and T. M. Pollak, Opt. Lett. 34, 2399 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

A. Peremans, D. Lis, F. Cecchet, P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, and V. Petrov, Opt. Lett. 34, 3053 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, in Advanced Solid-State Photonics, Conference Program and Technical Digest (Optical Society of America, 2008), postdeadline paper MG6.

P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, T. M. Pollak, V. Petrov, and D. E. Zelmon, in Advanced Solid-State Photonics, Conference Program and Technical Digest (Optical Society of America, 2009), paper TuC6.

Zelmon, D. E.

K. T. Zawilski, P. G. Schunemann, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, J. Cryst. Growth 312, 1127 (2010).
[CrossRef]

P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, T. M. Pollak, V. Petrov, and D. E. Zelmon, in Advanced Solid-State Photonics, Conference Program and Technical Digest (Optical Society of America, 2009), paper TuC6.

P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, in Advanced Solid-State Photonics, Conference Program and Technical Digest (Optical Society of America, 2008), postdeadline paper MG6.

J. Cryst. Growth (1)

K. T. Zawilski, P. G. Schunemann, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, J. Cryst. Growth 312, 1127 (2010).
[CrossRef]

Opt. Lett. (3)

Proc. SPIE (1)

V. Petrov, F. Noack, I. Tunchev, P. Schunemann, and K. Zawilski, Proc. SPIE 7197, 71970M (2009).
[CrossRef]

Rev. Sci. Instrum. (1)

G. S. Edwards, R. H. Austin, F. E. Carroll, M. L. Copeland, M. E. Couprie, W. E. Gabella, R. F. Haglund, B. A. Hooper, M. S. Hutson, E. D. Jansen, K. M. Joos, D. P. Kiehart, I. Lindau, J. Miao, H. S. Pratisto, J. H. Shen, Y. Tokutake, A. F. G. van der Meer, and A. Xie, Rev. Sci. Instrum. 74, 3207 (2003).
[CrossRef]

Other (2)

P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, T. M. Pollak, D. E. Zelmon, N. C. Fernelius, and F. K. Hopkins, in Advanced Solid-State Photonics, Conference Program and Technical Digest (Optical Society of America, 2008), postdeadline paper MG6.

P. G. Schunemann, K. T. Zawilski, T. M. Pollak, V. Petrov, and D. E. Zelmon, in Advanced Solid-State Photonics, Conference Program and Technical Digest (Optical Society of America, 2009), paper TuC6.

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (4)

Fig. 1
Fig. 1

Experimental setup for single-pass CSP optical parametric generator pumped at 1.064 μm . λ / 2 , half-wave plate; PBS, polarizing beam splitter; L, lens; M, mirror; D, diagnostics.

Fig. 2
Fig. 2

Signal pulse energy versus pump pulse energy. (I) Unchopped pump beam; (II), (III) chopped pump beam. Also shown is the idler pulse energy versus pump pulse energy.

Fig. 3
Fig. 3

(a) Intensity autocorrelation and (b) spectrum of the signal pulses at 1.282 μm . Pump power is 2.54 W .

Fig. 4
Fig. 4

Idler spectrum centered at 6.204 μm . The sharp features correspond to water absorption lines. Pump power is 2.54 W .

Metrics