Abstract

We demonstrate thermally controlled plasmon resonance modulation of single gold nanoparticles on vanadium dioxide thin films by performing dark-field spectroscopy measurements at different temperatures. The plasmon resonance of the nanoparticles exhibits a significant blueshift in the visible range when the vanadium dioxide film undergoes its insulator-to-metal phase transition around 67°C. More importantly, the resonance shift shows a clear hysteresis, mirroring the behavior of the vanadium dioxide film. At a fixed wavelength, the scattering intensity of Au particles also shows a hysteretic behavior decorated with an overshoot before (after) the insulator–metal (metal–insulator) phase transition of the vanadium dioxide film, suggesting that the nanoparticle is probing local variations in the phase transition.

© 2010 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. F. J. Morin, Phys. Rev. Lett. 3, 34 (1959).
    [CrossRef]
  2. J. Y. Suh, E. U. Donev, D. W. Ferrara, K. A. Tetz, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., J. Opt. A 10, 055202 (2008).
    [CrossRef]
  3. D. W. Ferrara, J. Nag, E. MacQuarrie, K. Appavoo, and R. F. Haglund, Jr., Proc. SPIE 7394, 73942Q (2009).
    [CrossRef]
  4. G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053101 (2008).
    [CrossRef]
  5. G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053102 (2008).
    [CrossRef]
  6. J. B. Kana, J. M. Ndjaka, B. D. Ngom, N. Manyala, O. Nemraoui, A. Y. Fasasi, R. Nemutudi, A. Gibaud, D. Knoesen, and M. Maaza, Thin Solid Films 518, 1641 (2010).
    [CrossRef]
  7. M. J. Dicken, K. Aydin, I. M. Pryce, L. A. Sweatlock, E. M. Boyd, S. Walavalkar, J. Ma, and H. A. Atwater, Opt. Express 17, 18330 (2009).
    [CrossRef] [PubMed]
  8. M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
    [CrossRef] [PubMed]
  9. E. U. Donev, R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., Nano Lett. 9, 702 (2009).
    [CrossRef] [PubMed]
  10. E. U. Donev, J. I. Ziegler, R. F. Haglund, Jr., and L. C. Feldman, J. Opt. A 11, 125002 (2009).
    [CrossRef]
  11. J. Y. Suh, R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, J. Appl. Phys. 96, 1209 (2004).
    [CrossRef]
  12. H. W. Verleur, A. S. Barker, and C. N. Berglund, Phys. Rev. 172, 788 (1968).
    [CrossRef]
  13. E. M. Larsson, J. Alegret, M. Käll, and D. S. Sutherland, Nano Lett. 7, 1256 (2007).
    [CrossRef] [PubMed]
  14. R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., Phys. Rev. Lett. 93, 177403 (2004).
    [CrossRef] [PubMed]

2010 (2)

J. B. Kana, J. M. Ndjaka, B. D. Ngom, N. Manyala, O. Nemraoui, A. Y. Fasasi, R. Nemutudi, A. Gibaud, D. Knoesen, and M. Maaza, Thin Solid Films 518, 1641 (2010).
[CrossRef]

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

2009 (4)

E. U. Donev, R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., Nano Lett. 9, 702 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

E. U. Donev, J. I. Ziegler, R. F. Haglund, Jr., and L. C. Feldman, J. Opt. A 11, 125002 (2009).
[CrossRef]

D. W. Ferrara, J. Nag, E. MacQuarrie, K. Appavoo, and R. F. Haglund, Jr., Proc. SPIE 7394, 73942Q (2009).
[CrossRef]

M. J. Dicken, K. Aydin, I. M. Pryce, L. A. Sweatlock, E. M. Boyd, S. Walavalkar, J. Ma, and H. A. Atwater, Opt. Express 17, 18330 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

2008 (3)

G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053101 (2008).
[CrossRef]

G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053102 (2008).
[CrossRef]

J. Y. Suh, E. U. Donev, D. W. Ferrara, K. A. Tetz, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., J. Opt. A 10, 055202 (2008).
[CrossRef]

2007 (1)

E. M. Larsson, J. Alegret, M. Käll, and D. S. Sutherland, Nano Lett. 7, 1256 (2007).
[CrossRef] [PubMed]

2004 (2)

R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., Phys. Rev. Lett. 93, 177403 (2004).
[CrossRef] [PubMed]

J. Y. Suh, R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, J. Appl. Phys. 96, 1209 (2004).
[CrossRef]

1968 (1)

H. W. Verleur, A. S. Barker, and C. N. Berglund, Phys. Rev. 172, 788 (1968).
[CrossRef]

1959 (1)

F. J. Morin, Phys. Rev. Lett. 3, 34 (1959).
[CrossRef]

Ahn, K.

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

Ahn, Y. H.

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

Alegret, J.

E. M. Larsson, J. Alegret, M. Käll, and D. S. Sutherland, Nano Lett. 7, 1256 (2007).
[CrossRef] [PubMed]

Appavoo, K.

D. W. Ferrara, J. Nag, E. MacQuarrie, K. Appavoo, and R. F. Haglund, Jr., Proc. SPIE 7394, 73942Q (2009).
[CrossRef]

Atwater, H. A.

Aydin, K.

Barker, A. S.

H. W. Verleur, A. S. Barker, and C. N. Berglund, Phys. Rev. 172, 788 (1968).
[CrossRef]

Berglund, C. N.

H. W. Verleur, A. S. Barker, and C. N. Berglund, Phys. Rev. 172, 788 (1968).
[CrossRef]

Bernien, H.

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

Boyd, E. M.

Chen, D.-M.

G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053101 (2008).
[CrossRef]

G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053102 (2008).
[CrossRef]

Choe, J. H.

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

Dicken, M. J.

Donev, E. U.

E. U. Donev, J. I. Ziegler, R. F. Haglund, Jr., and L. C. Feldman, J. Opt. A 11, 125002 (2009).
[CrossRef]

E. U. Donev, R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., Nano Lett. 9, 702 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

J. Y. Suh, E. U. Donev, D. W. Ferrara, K. A. Tetz, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., J. Opt. A 10, 055202 (2008).
[CrossRef]

Fasasi, A. Y.

J. B. Kana, J. M. Ndjaka, B. D. Ngom, N. Manyala, O. Nemraoui, A. Y. Fasasi, R. Nemutudi, A. Gibaud, D. Knoesen, and M. Maaza, Thin Solid Films 518, 1641 (2010).
[CrossRef]

Feldman, L. C.

E. U. Donev, R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., Nano Lett. 9, 702 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

E. U. Donev, J. I. Ziegler, R. F. Haglund, Jr., and L. C. Feldman, J. Opt. A 11, 125002 (2009).
[CrossRef]

J. Y. Suh, E. U. Donev, D. W. Ferrara, K. A. Tetz, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., J. Opt. A 10, 055202 (2008).
[CrossRef]

R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., Phys. Rev. Lett. 93, 177403 (2004).
[CrossRef] [PubMed]

J. Y. Suh, R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, J. Appl. Phys. 96, 1209 (2004).
[CrossRef]

Ferrara, D. W.

D. W. Ferrara, J. Nag, E. MacQuarrie, K. Appavoo, and R. F. Haglund, Jr., Proc. SPIE 7394, 73942Q (2009).
[CrossRef]

J. Y. Suh, E. U. Donev, D. W. Ferrara, K. A. Tetz, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., J. Opt. A 10, 055202 (2008).
[CrossRef]

Gibaud, A.

J. B. Kana, J. M. Ndjaka, B. D. Ngom, N. Manyala, O. Nemraoui, A. Y. Fasasi, R. Nemutudi, A. Gibaud, D. Knoesen, and M. Maaza, Thin Solid Films 518, 1641 (2010).
[CrossRef]

Haglund, R. F.

E. U. Donev, R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., Nano Lett. 9, 702 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

D. W. Ferrara, J. Nag, E. MacQuarrie, K. Appavoo, and R. F. Haglund, Jr., Proc. SPIE 7394, 73942Q (2009).
[CrossRef]

E. U. Donev, J. I. Ziegler, R. F. Haglund, Jr., and L. C. Feldman, J. Opt. A 11, 125002 (2009).
[CrossRef]

J. Y. Suh, E. U. Donev, D. W. Ferrara, K. A. Tetz, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., J. Opt. A 10, 055202 (2008).
[CrossRef]

R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., Phys. Rev. Lett. 93, 177403 (2004).
[CrossRef] [PubMed]

J. Y. Suh, R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, J. Appl. Phys. 96, 1209 (2004).
[CrossRef]

Huang, C.-M.

G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053101 (2008).
[CrossRef]

G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053102 (2008).
[CrossRef]

Jin, P.

G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053102 (2008).
[CrossRef]

G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053101 (2008).
[CrossRef]

Käll, M.

E. M. Larsson, J. Alegret, M. Käll, and D. S. Sutherland, Nano Lett. 7, 1256 (2007).
[CrossRef] [PubMed]

Kana, J. B.

J. B. Kana, J. M. Ndjaka, B. D. Ngom, N. Manyala, O. Nemraoui, A. Y. Fasasi, R. Nemutudi, A. Gibaud, D. Knoesen, and M. Maaza, Thin Solid Films 518, 1641 (2010).
[CrossRef]

Kim, B. J.

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

Kim, D. S.

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

Kim, H. S.

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

Kim, H. T.

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

Knoesen, D.

J. B. Kana, J. M. Ndjaka, B. D. Ngom, N. Manyala, O. Nemraoui, A. Y. Fasasi, R. Nemutudi, A. Gibaud, D. Knoesen, and M. Maaza, Thin Solid Films 518, 1641 (2010).
[CrossRef]

Koo, S.

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

Kyoung, J.

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

Larsson, E. M.

E. M. Larsson, J. Alegret, M. Käll, and D. S. Sutherland, Nano Lett. 7, 1256 (2007).
[CrossRef] [PubMed]

Lopez, R.

E. U. Donev, R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., Nano Lett. 9, 702 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

J. Y. Suh, R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, J. Appl. Phys. 96, 1209 (2004).
[CrossRef]

R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., Phys. Rev. Lett. 93, 177403 (2004).
[CrossRef] [PubMed]

Ma, J.

Maaza, M.

J. B. Kana, J. M. Ndjaka, B. D. Ngom, N. Manyala, O. Nemraoui, A. Y. Fasasi, R. Nemutudi, A. Gibaud, D. Knoesen, and M. Maaza, Thin Solid Films 518, 1641 (2010).
[CrossRef]

MacQuarrie, E.

D. W. Ferrara, J. Nag, E. MacQuarrie, K. Appavoo, and R. F. Haglund, Jr., Proc. SPIE 7394, 73942Q (2009).
[CrossRef]

Manyala, N.

J. B. Kana, J. M. Ndjaka, B. D. Ngom, N. Manyala, O. Nemraoui, A. Y. Fasasi, R. Nemutudi, A. Gibaud, D. Knoesen, and M. Maaza, Thin Solid Films 518, 1641 (2010).
[CrossRef]

Morin, F. J.

F. J. Morin, Phys. Rev. Lett. 3, 34 (1959).
[CrossRef]

Nag, J.

D. W. Ferrara, J. Nag, E. MacQuarrie, K. Appavoo, and R. F. Haglund, Jr., Proc. SPIE 7394, 73942Q (2009).
[CrossRef]

Ndjaka, J. M.

J. B. Kana, J. M. Ndjaka, B. D. Ngom, N. Manyala, O. Nemraoui, A. Y. Fasasi, R. Nemutudi, A. Gibaud, D. Knoesen, and M. Maaza, Thin Solid Films 518, 1641 (2010).
[CrossRef]

Nemraoui, O.

J. B. Kana, J. M. Ndjaka, B. D. Ngom, N. Manyala, O. Nemraoui, A. Y. Fasasi, R. Nemutudi, A. Gibaud, D. Knoesen, and M. Maaza, Thin Solid Films 518, 1641 (2010).
[CrossRef]

Nemutudi, R.

J. B. Kana, J. M. Ndjaka, B. D. Ngom, N. Manyala, O. Nemraoui, A. Y. Fasasi, R. Nemutudi, A. Gibaud, D. Knoesen, and M. Maaza, Thin Solid Films 518, 1641 (2010).
[CrossRef]

Ngom, B. D.

J. B. Kana, J. M. Ndjaka, B. D. Ngom, N. Manyala, O. Nemraoui, A. Y. Fasasi, R. Nemutudi, A. Gibaud, D. Knoesen, and M. Maaza, Thin Solid Films 518, 1641 (2010).
[CrossRef]

Park, H.

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

Park, N.

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

Park, Q. H.

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

Pryce, I. M.

Seo, M.

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

Suh, J. Y.

J. Y. Suh, E. U. Donev, D. W. Ferrara, K. A. Tetz, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., J. Opt. A 10, 055202 (2008).
[CrossRef]

J. Y. Suh, R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, J. Appl. Phys. 96, 1209 (2004).
[CrossRef]

Sutherland, D. S.

E. M. Larsson, J. Alegret, M. Käll, and D. S. Sutherland, Nano Lett. 7, 1256 (2007).
[CrossRef] [PubMed]

Sweatlock, L. A.

Tazawa, M.

G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053101 (2008).
[CrossRef]

G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053102 (2008).
[CrossRef]

Tetz, K. A.

J. Y. Suh, E. U. Donev, D. W. Ferrara, K. A. Tetz, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., J. Opt. A 10, 055202 (2008).
[CrossRef]

Verleur, H. W.

H. W. Verleur, A. S. Barker, and C. N. Berglund, Phys. Rev. 172, 788 (1968).
[CrossRef]

Walavalkar, S.

Xu, G.

G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053101 (2008).
[CrossRef]

G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053102 (2008).
[CrossRef]

Ziegler, J. I.

E. U. Donev, J. I. Ziegler, R. F. Haglund, Jr., and L. C. Feldman, J. Opt. A 11, 125002 (2009).
[CrossRef]

J. Appl. Phys. (3)

G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053101 (2008).
[CrossRef]

G. Xu, C.-M. Huang, P. Jin, M. Tazawa, and D.-M. Chen, J. Appl. Phys. 104, 053102 (2008).
[CrossRef]

J. Y. Suh, R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, J. Appl. Phys. 96, 1209 (2004).
[CrossRef]

J. Opt. A (2)

J. Y. Suh, E. U. Donev, D. W. Ferrara, K. A. Tetz, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., J. Opt. A 10, 055202 (2008).
[CrossRef]

E. U. Donev, J. I. Ziegler, R. F. Haglund, Jr., and L. C. Feldman, J. Opt. A 11, 125002 (2009).
[CrossRef]

Nano Lett. (3)

M. Seo, J. Kyoung, H. Park, S. Koo, H. S. Kim, H. Bernien, B. J. Kim, J. H. Choe, Y. H. Ahn, H. T. Kim, N. Park, Q. H. Park, K. Ahn, and D. S. Kim, Nano Lett. 10, 2064 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

E. U. Donev, R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., Nano Lett. 9, 702 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

E. M. Larsson, J. Alegret, M. Käll, and D. S. Sutherland, Nano Lett. 7, 1256 (2007).
[CrossRef] [PubMed]

Opt. Express (1)

Phys. Rev. (1)

H. W. Verleur, A. S. Barker, and C. N. Berglund, Phys. Rev. 172, 788 (1968).
[CrossRef]

Phys. Rev. Lett. (2)

R. Lopez, L. C. Feldman, and R. F. Haglund, Jr., Phys. Rev. Lett. 93, 177403 (2004).
[CrossRef] [PubMed]

F. J. Morin, Phys. Rev. Lett. 3, 34 (1959).
[CrossRef]

Proc. SPIE (1)

D. W. Ferrara, J. Nag, E. MacQuarrie, K. Appavoo, and R. F. Haglund, Jr., Proc. SPIE 7394, 73942Q (2009).
[CrossRef]

Thin Solid Films (1)

J. B. Kana, J. M. Ndjaka, B. D. Ngom, N. Manyala, O. Nemraoui, A. Y. Fasasi, R. Nemutudi, A. Gibaud, D. Knoesen, and M. Maaza, Thin Solid Films 518, 1641 (2010).
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (3)

Fig. 1
Fig. 1

(a) Schematic of the dark-field setup working in the reflection geometry. (b), (c) Typical high- magnification SEM images and true-color dark-field images. (d) Scattering spectra for a single Au colloid on VO 2 film at low-temperature (black, upper curve) and high-temperature (red, lower curve) were captured by this dark-field setup integrated with a CCD-based spectrometer.

Fig. 2
Fig. 2

(a) Ensemble transmission hysteresis curve of 110 nm VO 2 film and (b) plasmon resonance hysteresis curve of a single Au colloid on a VO 2 film as a function of temperature. The transmission of the VO 2 film was measured by using a InGaAs photodetector when an incident beam from a tungsten lamp was focused on the sample. The plasmon resonant wavelengths were extracted from the peaks of the scattering spectra, such as the ones shown in Fig. 1d at different temperatures. The green and blue curves in (b) are sigmoidal functions fit to the measured data points.

Fig. 3
Fig. 3

Temperature evolution of the scattering intensity at λ = 740 nm . The error bar is estimated by the fluctuation of the scattering intensity in the dark-field spectra.

Metrics