Abstract

We present a multimodal diode-laser-based terahertz (THz) spectroscopy system. In contrast to other laser-based THz setups that provide either cw or broadband THz generation, our configuration combines the advantages of both approaches. Our low complexity setup enables fast switching from cw difference frequency generation to broadband THz emission, enabling sophisticated data analysis like much more complex time domain spectroscopy systems.

© 2010 Optical Society of America

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. W. B. Colson, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 475, 397 (2001).
    [CrossRef]
  2. R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
    [CrossRef]
  3. A. Barkan, F. Tittel, D. Mittleman, R. Dengler, P. Siegel, G. Scalari, P. Siegel, G. Scalari, L. Ajili, J. Faist, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, and D. Ritchie, Opt. Lett. 29, 575(2004).
    [CrossRef]
  4. M. van Exter, C. Fattinger, and D. Grischkowsky, Opt. Lett. 14, 1128 (1989).
    [CrossRef]
  5. P. U. Jepsen, R. H. Jacobsen, and S. R. Keiding, J. Opt. Soc. Am. B 13, 2424 (1996).
    [CrossRef]
  6. A. J. L. Adam, J. M. Brok, M. A. Seo, K. J. Ahn, D. S. Kim, J. H. Kang, Q. H. Park, M. Nagel, and P. C. Planken, Opt. Express 16, 7407 (2008).
    [CrossRef]
  7. C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
    [CrossRef]
  8. N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
    [CrossRef]
  9. K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
    [CrossRef]
  10. S. Matsuura, M. Tani, and K. Sakai, Appl. Phys. Lett. 70, 559 (1997).
    [CrossRef]
  11. K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
    [CrossRef]
  12. M. Tani, O. Morikawa, S. Matsuura, and M. Hangyo, Semicond. Sci. Technol. 20, S151 (2005).
    [CrossRef]
  13. R. Wilk, F. Breitfeld, M. Mikulics, and M. Koch, Appl. Opt. 47, 3023 (2008).
    [CrossRef]
  14. M. Scheller and M. Koch, Opt. Express 17, 17723 (2009).
    [CrossRef]
  15. M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
    [CrossRef]
  16. S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
    [CrossRef]
  17. I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
    [CrossRef]
  18. I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
    [CrossRef]
  19. T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
    [CrossRef]
  20. M. Matus, M. Kolesik, J. Moloney, M. Hofmann, and S. Koch, J. Opt. Soc. Am. B 21, 1758 (2004).
    [CrossRef]
  21. N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
    [CrossRef]
  22. M. Scheller and M. Koch, J. Infrared Milli. Terahz. Waves 30, 762 (2009).
    [CrossRef]

2009 (3)

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

M. Scheller and M. Koch, Opt. Express 17, 17723 (2009).
[CrossRef]

M. Scheller and M. Koch, J. Infrared Milli. Terahz. Waves 30, 762 (2009).
[CrossRef]

2008 (3)

2007 (1)

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

2006 (2)

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

2005 (1)

M. Tani, O. Morikawa, S. Matsuura, and M. Hangyo, Semicond. Sci. Technol. 20, S151 (2005).
[CrossRef]

2004 (2)

2002 (3)

R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
[CrossRef]

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

2001 (2)

W. B. Colson, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 475, 397 (2001).
[CrossRef]

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

1998 (1)

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

1997 (1)

S. Matsuura, M. Tani, and K. Sakai, Appl. Phys. Lett. 70, 559 (1997).
[CrossRef]

1996 (1)

1995 (1)

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

1989 (1)

Adam, A. J. L.

Ahn, K. J.

Ajili, L.

Barkan, A.

Bastian, M.

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

Bauer, T.

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

Beere, H.

Beltram, F.

R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
[CrossRef]

Bieler, M.

C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
[CrossRef]

Breede, M.

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Breitfeld, F.

Brok, J. M.

Brown, E.

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

Calawa, S.

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

Colson, W. B.

W. B. Colson, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 475, 397 (2001).
[CrossRef]

Davies, A.

Dengler, R.

Dewald, A.

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

DiNatale, W.

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

Dinatale, W. F.

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

Donhuijsen, K.

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Duerr, E. K.

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

Faist, J.

Fattinger, C.

Gerlach, K.

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

Grischkowsky, D.

Güsten, R.

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Hangyo, M.

M. Tani, O. Morikawa, S. Matsuura, and M. Hangyo, Semicond. Sci. Technol. 20, S151 (2005).
[CrossRef]

Hasek, T.

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

Hein, G.

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Hochrein, T.

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

Hoffmann, S.

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Hofmann, M.

M. Matus, M. Kolesik, J. Moloney, M. Hofmann, and S. Koch, J. Opt. Soc. Am. B 21, 1758 (2004).
[CrossRef]

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Hofmann, M. R.

C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
[CrossRef]

Iotti, R.

R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
[CrossRef]

Jacobs, K.

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Jacobsen, R. H.

Jepsen, P. U.

Jördens, C.

C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
[CrossRef]

Kang, J. H.

Kaseman, C.

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Keiding, S. R.

Kim, D. S.

Kleine-Ostmann, T.

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Knobloch, P.

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Koch, M.

M. Scheller and M. Koch, J. Infrared Milli. Terahz. Waves 30, 762 (2009).
[CrossRef]

M. Scheller and M. Koch, Opt. Express 17, 17723 (2009).
[CrossRef]

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
[CrossRef]

R. Wilk, F. Breitfeld, M. Mikulics, and M. Koch, Appl. Opt. 47, 3023 (2008).
[CrossRef]

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Koch, S.

M. Matus, M. Kolesik, J. Moloney, M. Hofmann, and S. Koch, J. Opt. Soc. Am. B 21, 1758 (2004).
[CrossRef]

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

Köhler, R.

R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
[CrossRef]

Kolesik, M.

Kordoš, P.

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Kretschmer, K.

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

Krumbholz, N.

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

Kürner, T.

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

Leonhardt, R.

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

Li, M.

C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
[CrossRef]

Linfield, E.

Löffler, T.

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

Lüth, H.

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Lyszczarz, T.

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

Maier, K.

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

Marso, M.

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Matsuura, S.

M. Tani, O. Morikawa, S. Matsuura, and M. Hangyo, Semicond. Sci. Technol. 20, S151 (2005).
[CrossRef]

S. Matsuura, M. Tani, and K. Sakai, Appl. Phys. Lett. 70, 559 (1997).
[CrossRef]

Matus, M.

M. Matus, M. Kolesik, J. Moloney, M. Hofmann, and S. Koch, J. Opt. Soc. Am. B 21, 1758 (2004).
[CrossRef]

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

Mayorga, I. C.

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

Mayorga, I. Cámara

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

McIntosh, K.

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

McIntosh, K. A.

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

McMahon, O.

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

Meyn, J.

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

Michael, E. A.

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Mikulics, M.

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

R. Wilk, F. Breitfeld, M. Mikulics, and M. Koch, Appl. Opt. 47, 3023 (2008).
[CrossRef]

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Mittleman, D.

Moloney, J.

M. Matus, M. Kolesik, J. Moloney, M. Hofmann, and S. Koch, J. Opt. Soc. Am. B 21, 1758 (2004).
[CrossRef]

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

Molvar, K. A.

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

Morikawa, O.

M. Tani, O. Morikawa, S. Matsuura, and M. Hangyo, Semicond. Sci. Technol. 20, S151 (2005).
[CrossRef]

Nagel, M.

Nichols, K.

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

Park, Q. H.

Pierz, K.

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Piesiewicz, R.

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

Planken, P. C.

Pradas, P. Muñoz

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Quast, H.

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

Ritchie, D.

Roskos, H. G.

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

Rossi, F.

R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
[CrossRef]

Rutz, F.

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

Sakai, K.

S. Matsuura, M. Tani, and K. Sakai, Appl. Phys. Lett. 70, 559 (1997).
[CrossRef]

Scalari, G.

Scheller, M.

M. Scheller and M. Koch, J. Infrared Milli. Terahz. Waves 30, 762 (2009).
[CrossRef]

M. Scheller and M. Koch, Opt. Express 17, 17723 (2009).
[CrossRef]

Schlauch, T.

C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
[CrossRef]

Schmitz, A.

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Seo, M. A.

Siebert, K. J.

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

Siegel, P.

Sperling, M.

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Struckmeier, J.

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

Tani, M.

M. Tani, O. Morikawa, S. Matsuura, and M. Hangyo, Semicond. Sci. Technol. 20, S151 (2005).
[CrossRef]

S. Matsuura, M. Tani, and K. Sakai, Appl. Phys. Lett. 70, 559 (1997).
[CrossRef]

Thomson, M.

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

Tittel, F.

Tredicucci, A.

R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
[CrossRef]

van der Wal, P.

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

van Exter, M.

Verghese, S.

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

Vieweg, N.

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

Wilk, R.

Zimmermann, J.

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

Appl. Opt. (1)

Appl. Phys. B (1)

C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett. (6)

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

S. Matsuura, M. Tani, and K. Sakai, Appl. Phys. Lett. 70, 559 (1997).
[CrossRef]

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

Electron. Lett. (1)

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

J. Appl. Phys. (1)

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

J. Infrared Milli. Terahz. Waves (1)

M. Scheller and M. Koch, J. Infrared Milli. Terahz. Waves 30, 762 (2009).
[CrossRef]

J. Opt. Soc. Am. B (2)

Nature (1)

R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
[CrossRef]

Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A (1)

W. B. Colson, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 475, 397 (2001).
[CrossRef]

Opt. Commun. (1)

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

Opt. Express (2)

Opt. Lett. (2)

Polymer Testing (1)

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

Semicond. Sci. Technol. (1)

M. Tani, O. Morikawa, S. Matsuura, and M. Hangyo, Semicond. Sci. Technol. 20, S151 (2005).
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Metrics