Abstract

The interference effects generated in a bottom-emitting electroluminescent device fabricated on a polymer underlayer introduced with the aim of improving the anode roughness have been studied. The analysis of the interference fringes at different detection angles and the spatial coherence demonstrates that this phenomenon is due to multiple internal reflections that propagate in the polymer layer. This effect can be eliminated by modifying the polymer thickness and the incidence angle of the electromagnetic radiation at the anode–polymer interface. Inkjet etching technology is adopted for microcavities-shaped polymer structuring to destroy the resonator effect of the optical cavity.

© 2010 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, A. R. Brown, R. N. Marks, K. Mackay, R. H. Friend, P. L. Burns, and A. B. Holmes, Nature 347, 539 (1990).
    [CrossRef]
  2. S. R. Forrest, Org. Electron. 4, 45 (2003).
    [CrossRef]
  3. C. J. Lee, R. B. Pode, D. G. Moon, J. I. Han, B. H. Park, S. H. Baik, and S. S. Ju, Phys. Status Solidi A 201, 1022 (2004).
    [CrossRef]
  4. W. Li, R. A. Jones, S. C. Allen, J. C. Heikenfeld, and A. J. Steckl, J. Dispay Technol. 2, 143 (2006).
    [CrossRef]
  5. V. Cimrovà and D. Neher, J. Appl. Phys. 79, 3299 (1996).
    [CrossRef]
  6. D. Hill, K. Leo, G. He, and Q. Huang, Appl. Phys. Lett. 90, 101111 (2007).
    [CrossRef]
  7. P. Vacca, M. Petrosino, A. Guerra, R. Chierchia, C. Minarini, D. della Sala, and A. Rubino, J. Phys. Chem. C 111, 17404 (2007).
    [CrossRef]
  8. H.-C. Hsieh, S.-C. Chang, and Y.-M. Tsai, in Proceedings of Society for Information Display: International Symposium Digest (SID 03) (Society for Information Display, 2003).
  9. B. J. Chen, X. W. Sun, B. K. Tay, L. Ke, and S. J. Chua, Appl. Phys. Lett. 86, 063506 (2005).
    [CrossRef]
  10. R. Pericet-Camara, A. Best, S. K. Nett, J. S. Gutmann, and E. Bonaccurso, Opt. Express 15, 9877 (2007).
    [CrossRef] [PubMed]
  11. R. D. Deegan, O. Bakajin, T. F. Dupont, G. Huber, S. R. Nagel, and T. A. Witten, Phys. Rev. E 62, 756 (2000).
    [CrossRef]
  12. L. Mandel and E. Wolf, Optical Coherence and Quantum Optics (Cambridge U. Press, 1995).

2007

D. Hill, K. Leo, G. He, and Q. Huang, Appl. Phys. Lett. 90, 101111 (2007).
[CrossRef]

P. Vacca, M. Petrosino, A. Guerra, R. Chierchia, C. Minarini, D. della Sala, and A. Rubino, J. Phys. Chem. C 111, 17404 (2007).
[CrossRef]

R. Pericet-Camara, A. Best, S. K. Nett, J. S. Gutmann, and E. Bonaccurso, Opt. Express 15, 9877 (2007).
[CrossRef] [PubMed]

2006

W. Li, R. A. Jones, S. C. Allen, J. C. Heikenfeld, and A. J. Steckl, J. Dispay Technol. 2, 143 (2006).
[CrossRef]

2005

B. J. Chen, X. W. Sun, B. K. Tay, L. Ke, and S. J. Chua, Appl. Phys. Lett. 86, 063506 (2005).
[CrossRef]

2004

C. J. Lee, R. B. Pode, D. G. Moon, J. I. Han, B. H. Park, S. H. Baik, and S. S. Ju, Phys. Status Solidi A 201, 1022 (2004).
[CrossRef]

2003

H.-C. Hsieh, S.-C. Chang, and Y.-M. Tsai, in Proceedings of Society for Information Display: International Symposium Digest (SID 03) (Society for Information Display, 2003).

S. R. Forrest, Org. Electron. 4, 45 (2003).
[CrossRef]

2000

R. D. Deegan, O. Bakajin, T. F. Dupont, G. Huber, S. R. Nagel, and T. A. Witten, Phys. Rev. E 62, 756 (2000).
[CrossRef]

1996

V. Cimrovà and D. Neher, J. Appl. Phys. 79, 3299 (1996).
[CrossRef]

1995

L. Mandel and E. Wolf, Optical Coherence and Quantum Optics (Cambridge U. Press, 1995).

1990

J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, A. R. Brown, R. N. Marks, K. Mackay, R. H. Friend, P. L. Burns, and A. B. Holmes, Nature 347, 539 (1990).
[CrossRef]

Allen, S. C.

W. Li, R. A. Jones, S. C. Allen, J. C. Heikenfeld, and A. J. Steckl, J. Dispay Technol. 2, 143 (2006).
[CrossRef]

Baik, S. H.

C. J. Lee, R. B. Pode, D. G. Moon, J. I. Han, B. H. Park, S. H. Baik, and S. S. Ju, Phys. Status Solidi A 201, 1022 (2004).
[CrossRef]

Bakajin, O.

R. D. Deegan, O. Bakajin, T. F. Dupont, G. Huber, S. R. Nagel, and T. A. Witten, Phys. Rev. E 62, 756 (2000).
[CrossRef]

Best, A.

Bonaccurso, E.

Bradley, D. D. C.

J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, A. R. Brown, R. N. Marks, K. Mackay, R. H. Friend, P. L. Burns, and A. B. Holmes, Nature 347, 539 (1990).
[CrossRef]

Brown, A. R.

J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, A. R. Brown, R. N. Marks, K. Mackay, R. H. Friend, P. L. Burns, and A. B. Holmes, Nature 347, 539 (1990).
[CrossRef]

Burns, P. L.

J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, A. R. Brown, R. N. Marks, K. Mackay, R. H. Friend, P. L. Burns, and A. B. Holmes, Nature 347, 539 (1990).
[CrossRef]

Burroughes, J. H.

J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, A. R. Brown, R. N. Marks, K. Mackay, R. H. Friend, P. L. Burns, and A. B. Holmes, Nature 347, 539 (1990).
[CrossRef]

Chang, S.-C.

H.-C. Hsieh, S.-C. Chang, and Y.-M. Tsai, in Proceedings of Society for Information Display: International Symposium Digest (SID 03) (Society for Information Display, 2003).

Chen, B. J.

B. J. Chen, X. W. Sun, B. K. Tay, L. Ke, and S. J. Chua, Appl. Phys. Lett. 86, 063506 (2005).
[CrossRef]

Chierchia, R.

P. Vacca, M. Petrosino, A. Guerra, R. Chierchia, C. Minarini, D. della Sala, and A. Rubino, J. Phys. Chem. C 111, 17404 (2007).
[CrossRef]

Chua, S. J.

B. J. Chen, X. W. Sun, B. K. Tay, L. Ke, and S. J. Chua, Appl. Phys. Lett. 86, 063506 (2005).
[CrossRef]

Cimrovà, V.

V. Cimrovà and D. Neher, J. Appl. Phys. 79, 3299 (1996).
[CrossRef]

Deegan, R. D.

R. D. Deegan, O. Bakajin, T. F. Dupont, G. Huber, S. R. Nagel, and T. A. Witten, Phys. Rev. E 62, 756 (2000).
[CrossRef]

della Sala, D.

P. Vacca, M. Petrosino, A. Guerra, R. Chierchia, C. Minarini, D. della Sala, and A. Rubino, J. Phys. Chem. C 111, 17404 (2007).
[CrossRef]

Dupont, T. F.

R. D. Deegan, O. Bakajin, T. F. Dupont, G. Huber, S. R. Nagel, and T. A. Witten, Phys. Rev. E 62, 756 (2000).
[CrossRef]

Forrest, S. R.

S. R. Forrest, Org. Electron. 4, 45 (2003).
[CrossRef]

Friend, R. H.

J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, A. R. Brown, R. N. Marks, K. Mackay, R. H. Friend, P. L. Burns, and A. B. Holmes, Nature 347, 539 (1990).
[CrossRef]

Guerra, A.

P. Vacca, M. Petrosino, A. Guerra, R. Chierchia, C. Minarini, D. della Sala, and A. Rubino, J. Phys. Chem. C 111, 17404 (2007).
[CrossRef]

Gutmann, J. S.

Han, J. I.

C. J. Lee, R. B. Pode, D. G. Moon, J. I. Han, B. H. Park, S. H. Baik, and S. S. Ju, Phys. Status Solidi A 201, 1022 (2004).
[CrossRef]

He, G.

D. Hill, K. Leo, G. He, and Q. Huang, Appl. Phys. Lett. 90, 101111 (2007).
[CrossRef]

Heikenfeld, J. C.

W. Li, R. A. Jones, S. C. Allen, J. C. Heikenfeld, and A. J. Steckl, J. Dispay Technol. 2, 143 (2006).
[CrossRef]

Hill, D.

D. Hill, K. Leo, G. He, and Q. Huang, Appl. Phys. Lett. 90, 101111 (2007).
[CrossRef]

Holmes, A. B.

J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, A. R. Brown, R. N. Marks, K. Mackay, R. H. Friend, P. L. Burns, and A. B. Holmes, Nature 347, 539 (1990).
[CrossRef]

Hsieh, H.-C.

H.-C. Hsieh, S.-C. Chang, and Y.-M. Tsai, in Proceedings of Society for Information Display: International Symposium Digest (SID 03) (Society for Information Display, 2003).

Huang, Q.

D. Hill, K. Leo, G. He, and Q. Huang, Appl. Phys. Lett. 90, 101111 (2007).
[CrossRef]

Huber, G.

R. D. Deegan, O. Bakajin, T. F. Dupont, G. Huber, S. R. Nagel, and T. A. Witten, Phys. Rev. E 62, 756 (2000).
[CrossRef]

Jones, R. A.

W. Li, R. A. Jones, S. C. Allen, J. C. Heikenfeld, and A. J. Steckl, J. Dispay Technol. 2, 143 (2006).
[CrossRef]

Ju, S. S.

C. J. Lee, R. B. Pode, D. G. Moon, J. I. Han, B. H. Park, S. H. Baik, and S. S. Ju, Phys. Status Solidi A 201, 1022 (2004).
[CrossRef]

Ke, L.

B. J. Chen, X. W. Sun, B. K. Tay, L. Ke, and S. J. Chua, Appl. Phys. Lett. 86, 063506 (2005).
[CrossRef]

Lee, C. J.

C. J. Lee, R. B. Pode, D. G. Moon, J. I. Han, B. H. Park, S. H. Baik, and S. S. Ju, Phys. Status Solidi A 201, 1022 (2004).
[CrossRef]

Leo, K.

D. Hill, K. Leo, G. He, and Q. Huang, Appl. Phys. Lett. 90, 101111 (2007).
[CrossRef]

Li, W.

W. Li, R. A. Jones, S. C. Allen, J. C. Heikenfeld, and A. J. Steckl, J. Dispay Technol. 2, 143 (2006).
[CrossRef]

Mackay, K.

J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, A. R. Brown, R. N. Marks, K. Mackay, R. H. Friend, P. L. Burns, and A. B. Holmes, Nature 347, 539 (1990).
[CrossRef]

Mandel, L.

L. Mandel and E. Wolf, Optical Coherence and Quantum Optics (Cambridge U. Press, 1995).

Marks, R. N.

J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, A. R. Brown, R. N. Marks, K. Mackay, R. H. Friend, P. L. Burns, and A. B. Holmes, Nature 347, 539 (1990).
[CrossRef]

Minarini, C.

P. Vacca, M. Petrosino, A. Guerra, R. Chierchia, C. Minarini, D. della Sala, and A. Rubino, J. Phys. Chem. C 111, 17404 (2007).
[CrossRef]

Moon, D. G.

C. J. Lee, R. B. Pode, D. G. Moon, J. I. Han, B. H. Park, S. H. Baik, and S. S. Ju, Phys. Status Solidi A 201, 1022 (2004).
[CrossRef]

Nagel, S. R.

R. D. Deegan, O. Bakajin, T. F. Dupont, G. Huber, S. R. Nagel, and T. A. Witten, Phys. Rev. E 62, 756 (2000).
[CrossRef]

Neher, D.

V. Cimrovà and D. Neher, J. Appl. Phys. 79, 3299 (1996).
[CrossRef]

Nett, S. K.

Park, B. H.

C. J. Lee, R. B. Pode, D. G. Moon, J. I. Han, B. H. Park, S. H. Baik, and S. S. Ju, Phys. Status Solidi A 201, 1022 (2004).
[CrossRef]

Pericet-Camara, R.

Petrosino, M.

P. Vacca, M. Petrosino, A. Guerra, R. Chierchia, C. Minarini, D. della Sala, and A. Rubino, J. Phys. Chem. C 111, 17404 (2007).
[CrossRef]

Pode, R. B.

C. J. Lee, R. B. Pode, D. G. Moon, J. I. Han, B. H. Park, S. H. Baik, and S. S. Ju, Phys. Status Solidi A 201, 1022 (2004).
[CrossRef]

Rubino, A.

P. Vacca, M. Petrosino, A. Guerra, R. Chierchia, C. Minarini, D. della Sala, and A. Rubino, J. Phys. Chem. C 111, 17404 (2007).
[CrossRef]

Steckl, A. J.

W. Li, R. A. Jones, S. C. Allen, J. C. Heikenfeld, and A. J. Steckl, J. Dispay Technol. 2, 143 (2006).
[CrossRef]

Sun, X. W.

B. J. Chen, X. W. Sun, B. K. Tay, L. Ke, and S. J. Chua, Appl. Phys. Lett. 86, 063506 (2005).
[CrossRef]

Tay, B. K.

B. J. Chen, X. W. Sun, B. K. Tay, L. Ke, and S. J. Chua, Appl. Phys. Lett. 86, 063506 (2005).
[CrossRef]

Tsai, Y.-M.

H.-C. Hsieh, S.-C. Chang, and Y.-M. Tsai, in Proceedings of Society for Information Display: International Symposium Digest (SID 03) (Society for Information Display, 2003).

Vacca, P.

P. Vacca, M. Petrosino, A. Guerra, R. Chierchia, C. Minarini, D. della Sala, and A. Rubino, J. Phys. Chem. C 111, 17404 (2007).
[CrossRef]

Witten, T. A.

R. D. Deegan, O. Bakajin, T. F. Dupont, G. Huber, S. R. Nagel, and T. A. Witten, Phys. Rev. E 62, 756 (2000).
[CrossRef]

Wolf, E.

L. Mandel and E. Wolf, Optical Coherence and Quantum Optics (Cambridge U. Press, 1995).

Appl. Phys. Lett.

B. J. Chen, X. W. Sun, B. K. Tay, L. Ke, and S. J. Chua, Appl. Phys. Lett. 86, 063506 (2005).
[CrossRef]

D. Hill, K. Leo, G. He, and Q. Huang, Appl. Phys. Lett. 90, 101111 (2007).
[CrossRef]

J. Appl. Phys.

V. Cimrovà and D. Neher, J. Appl. Phys. 79, 3299 (1996).
[CrossRef]

J. Dispay Technol.

W. Li, R. A. Jones, S. C. Allen, J. C. Heikenfeld, and A. J. Steckl, J. Dispay Technol. 2, 143 (2006).
[CrossRef]

J. Phys. Chem. C

P. Vacca, M. Petrosino, A. Guerra, R. Chierchia, C. Minarini, D. della Sala, and A. Rubino, J. Phys. Chem. C 111, 17404 (2007).
[CrossRef]

Nature

J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, A. R. Brown, R. N. Marks, K. Mackay, R. H. Friend, P. L. Burns, and A. B. Holmes, Nature 347, 539 (1990).
[CrossRef]

Opt. Express

Org. Electron.

S. R. Forrest, Org. Electron. 4, 45 (2003).
[CrossRef]

Phys. Rev. E

R. D. Deegan, O. Bakajin, T. F. Dupont, G. Huber, S. R. Nagel, and T. A. Witten, Phys. Rev. E 62, 756 (2000).
[CrossRef]

Phys. Status Solidi A

C. J. Lee, R. B. Pode, D. G. Moon, J. I. Han, B. H. Park, S. H. Baik, and S. S. Ju, Phys. Status Solidi A 201, 1022 (2004).
[CrossRef]

Other

L. Mandel and E. Wolf, Optical Coherence and Quantum Optics (Cambridge U. Press, 1995).

H.-C. Hsieh, S.-C. Chang, and Y.-M. Tsai, in Proceedings of Society for Information Display: International Symposium Digest (SID 03) (Society for Information Display, 2003).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (4)

Fig. 1
Fig. 1

(a) 3D profile of the microcavity inkjet etched on a PS underlayer by printing toluene drops. (b) Schematic section of OLED stack manufactured on structured polymer underlayer.

Fig. 2
Fig. 2

AFM images (scan size 0.5 μm × 0.5 μm , z scale of 10 nm ) of ZnO films sputtered (a) on PS/glass and (b) directly on glass. Ra is the average roughness value.

Fig. 3
Fig. 3

Emission spectra of OLED on the unstructured PS underlayer at different view angles. The inset curves are obtained subtracting the spectra interpolation to detected EL profiles.

Fig. 4
Fig. 4

Structured OLED emission spectra for different detection angles. The measured EL profile minus the spectrum interpolation is detailed in the inset for each angle.

Equations (2)

Equations on this page are rendered with MathJax. Learn more.

d = λ 1 λ 2 2 n PS ( λ 2 λ 1 ) ,
S ( υ ) S 0 ( ν ) [ 1 + | μ | cos ( β Δ r ) ] ,

Metrics