Abstract

Results are presented for a dual-band detector that simultaneously detects UV radiation in the 250360nm and IR radiation in the 514μm regions with near zero spectral cross talk. In this detector having separate UV- and IR-active regions with three contacts (one common contact for both regions) allows the separation of the UV and IR generated photocurrent components, identifying the relative strength of each component. This will be an important development in UV–IR dual-band applications such as fire–flame detection, solar astronomy, and military sensing, eliminating the difficulties of employing several individual detectors with separate electronics–cooling mechanisms.

© 2008 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. D. Starikov, C. Boney, R. Pillai, and A. Bensaoula, in Proceedings of the ISA/IEEE Sensors for Industry Conference (IEEE, 2004), pp. 36-40.
    [CrossRef]
  2. M. A. Khan, J. N. Kuznia, D. T. Olson, M. Blasingame, and A. R. Bhattarai, Appl. Phys. Lett. 63, 2455 (1993).
    [CrossRef]
  3. D. Walker, X. Zhang, P. Kung, A. Saxler, S. Javadpour, J. Xu, and M. Razeghi, Appl. Phys. Lett. 68, 2100 (1996).
    [CrossRef]
  4. G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, D. G. Esaev, S. G. Matsik, G. Hastings, A. G. U. Perera, H. C. Liu, B. N. Zvonkov, and V. I. Gavrilenko, Appl. Phys. Lett. 86, 143510 (2005).
    [CrossRef]
  5. A. Goldberg, P. N. Uppal, and M. Winn, Infrared Phys. Technol. 44, 427 (2003).
    [CrossRef]
  6. H. C. Liu, C. Y. Song, A. Shen, M. Gao, Z. R. Wasilewski, and M. Buchanan, Appl. Phys. Lett. 77, 2437 (2000).
    [CrossRef]
  7. M. P. Touse, G. Karunasiri, K. R. Lantz, H. Li, and T. Mei, Appl. Phys. Lett. 86, 093501 (2005).
    [CrossRef]
  8. G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Alevli, M. Strassburg, N. Dietz, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 89, 091113 (2006).
    [CrossRef]
  9. A. G. U. Perera, G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Stevens, M. Alevli, N. Dietz, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Infrared Phys. Technol. 50, 142 (2007).
    [CrossRef]
  10. D. G. Esaev, M. B. M. Rinzan, S. G. Matsik, and A. G. U. Perera, J. Appl. Phys. 96, 4588 (2004).
    [CrossRef]
  11. W. Z. Shen, A. G. U. Perera, H. C. Liu, M. Buchanan, and W. J. Schaff, Appl. Phys. Lett. 71, 2677 (1997).
    [CrossRef]
  12. H. Jiang, G. Y. Zhao, H. Ishikawa, T. Egawa, T. Jimbo, and M. Umeno, J. Appl. Phys. 89, 1046 (2001).
    [CrossRef]
  13. L. Chernyak, A. Osinsky, and A. Schultea, Solid-State Electron. 45, 1687 (2001).
    [CrossRef]

2007 (1)

A. G. U. Perera, G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Stevens, M. Alevli, N. Dietz, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Infrared Phys. Technol. 50, 142 (2007).
[CrossRef]

2006 (1)

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Alevli, M. Strassburg, N. Dietz, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 89, 091113 (2006).
[CrossRef]

2005 (2)

M. P. Touse, G. Karunasiri, K. R. Lantz, H. Li, and T. Mei, Appl. Phys. Lett. 86, 093501 (2005).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, D. G. Esaev, S. G. Matsik, G. Hastings, A. G. U. Perera, H. C. Liu, B. N. Zvonkov, and V. I. Gavrilenko, Appl. Phys. Lett. 86, 143510 (2005).
[CrossRef]

2004 (2)

D. Starikov, C. Boney, R. Pillai, and A. Bensaoula, in Proceedings of the ISA/IEEE Sensors for Industry Conference (IEEE, 2004), pp. 36-40.
[CrossRef]

D. G. Esaev, M. B. M. Rinzan, S. G. Matsik, and A. G. U. Perera, J. Appl. Phys. 96, 4588 (2004).
[CrossRef]

2003 (1)

A. Goldberg, P. N. Uppal, and M. Winn, Infrared Phys. Technol. 44, 427 (2003).
[CrossRef]

2001 (2)

H. Jiang, G. Y. Zhao, H. Ishikawa, T. Egawa, T. Jimbo, and M. Umeno, J. Appl. Phys. 89, 1046 (2001).
[CrossRef]

L. Chernyak, A. Osinsky, and A. Schultea, Solid-State Electron. 45, 1687 (2001).
[CrossRef]

2000 (1)

H. C. Liu, C. Y. Song, A. Shen, M. Gao, Z. R. Wasilewski, and M. Buchanan, Appl. Phys. Lett. 77, 2437 (2000).
[CrossRef]

1997 (1)

W. Z. Shen, A. G. U. Perera, H. C. Liu, M. Buchanan, and W. J. Schaff, Appl. Phys. Lett. 71, 2677 (1997).
[CrossRef]

1996 (1)

D. Walker, X. Zhang, P. Kung, A. Saxler, S. Javadpour, J. Xu, and M. Razeghi, Appl. Phys. Lett. 68, 2100 (1996).
[CrossRef]

1993 (1)

M. A. Khan, J. N. Kuznia, D. T. Olson, M. Blasingame, and A. R. Bhattarai, Appl. Phys. Lett. 63, 2455 (1993).
[CrossRef]

Alevli, M.

A. G. U. Perera, G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Stevens, M. Alevli, N. Dietz, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Infrared Phys. Technol. 50, 142 (2007).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Alevli, M. Strassburg, N. Dietz, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 89, 091113 (2006).
[CrossRef]

Ariyawansa, G.

A. G. U. Perera, G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Stevens, M. Alevli, N. Dietz, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Infrared Phys. Technol. 50, 142 (2007).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Alevli, M. Strassburg, N. Dietz, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 89, 091113 (2006).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, D. G. Esaev, S. G. Matsik, G. Hastings, A. G. U. Perera, H. C. Liu, B. N. Zvonkov, and V. I. Gavrilenko, Appl. Phys. Lett. 86, 143510 (2005).
[CrossRef]

Asghar, A.

A. G. U. Perera, G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Stevens, M. Alevli, N. Dietz, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Infrared Phys. Technol. 50, 142 (2007).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Alevli, M. Strassburg, N. Dietz, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 89, 091113 (2006).
[CrossRef]

Bensaoula, A.

D. Starikov, C. Boney, R. Pillai, and A. Bensaoula, in Proceedings of the ISA/IEEE Sensors for Industry Conference (IEEE, 2004), pp. 36-40.
[CrossRef]

Bezinger, A.

A. G. U. Perera, G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Stevens, M. Alevli, N. Dietz, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Infrared Phys. Technol. 50, 142 (2007).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Alevli, M. Strassburg, N. Dietz, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 89, 091113 (2006).
[CrossRef]

Bhattarai, A. R.

M. A. Khan, J. N. Kuznia, D. T. Olson, M. Blasingame, and A. R. Bhattarai, Appl. Phys. Lett. 63, 2455 (1993).
[CrossRef]

Blasingame, M.

M. A. Khan, J. N. Kuznia, D. T. Olson, M. Blasingame, and A. R. Bhattarai, Appl. Phys. Lett. 63, 2455 (1993).
[CrossRef]

Boney, C.

D. Starikov, C. Boney, R. Pillai, and A. Bensaoula, in Proceedings of the ISA/IEEE Sensors for Industry Conference (IEEE, 2004), pp. 36-40.
[CrossRef]

Buchanan, M.

H. C. Liu, C. Y. Song, A. Shen, M. Gao, Z. R. Wasilewski, and M. Buchanan, Appl. Phys. Lett. 77, 2437 (2000).
[CrossRef]

W. Z. Shen, A. G. U. Perera, H. C. Liu, M. Buchanan, and W. J. Schaff, Appl. Phys. Lett. 71, 2677 (1997).
[CrossRef]

Chernyak, L.

L. Chernyak, A. Osinsky, and A. Schultea, Solid-State Electron. 45, 1687 (2001).
[CrossRef]

Dietz, N.

A. G. U. Perera, G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Stevens, M. Alevli, N. Dietz, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Infrared Phys. Technol. 50, 142 (2007).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Alevli, M. Strassburg, N. Dietz, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 89, 091113 (2006).
[CrossRef]

Egawa, T.

H. Jiang, G. Y. Zhao, H. Ishikawa, T. Egawa, T. Jimbo, and M. Umeno, J. Appl. Phys. 89, 1046 (2001).
[CrossRef]

Esaev, D. G.

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, D. G. Esaev, S. G. Matsik, G. Hastings, A. G. U. Perera, H. C. Liu, B. N. Zvonkov, and V. I. Gavrilenko, Appl. Phys. Lett. 86, 143510 (2005).
[CrossRef]

D. G. Esaev, M. B. M. Rinzan, S. G. Matsik, and A. G. U. Perera, J. Appl. Phys. 96, 4588 (2004).
[CrossRef]

Ferguson, I. T.

A. G. U. Perera, G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Stevens, M. Alevli, N. Dietz, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Infrared Phys. Technol. 50, 142 (2007).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Alevli, M. Strassburg, N. Dietz, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 89, 091113 (2006).
[CrossRef]

Gao, M.

H. C. Liu, C. Y. Song, A. Shen, M. Gao, Z. R. Wasilewski, and M. Buchanan, Appl. Phys. Lett. 77, 2437 (2000).
[CrossRef]

Gavrilenko, V. I.

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, D. G. Esaev, S. G. Matsik, G. Hastings, A. G. U. Perera, H. C. Liu, B. N. Zvonkov, and V. I. Gavrilenko, Appl. Phys. Lett. 86, 143510 (2005).
[CrossRef]

Goldberg, A.

A. Goldberg, P. N. Uppal, and M. Winn, Infrared Phys. Technol. 44, 427 (2003).
[CrossRef]

Hastings, G.

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, D. G. Esaev, S. G. Matsik, G. Hastings, A. G. U. Perera, H. C. Liu, B. N. Zvonkov, and V. I. Gavrilenko, Appl. Phys. Lett. 86, 143510 (2005).
[CrossRef]

Ishikawa, H.

H. Jiang, G. Y. Zhao, H. Ishikawa, T. Egawa, T. Jimbo, and M. Umeno, J. Appl. Phys. 89, 1046 (2001).
[CrossRef]

Javadpour, S.

D. Walker, X. Zhang, P. Kung, A. Saxler, S. Javadpour, J. Xu, and M. Razeghi, Appl. Phys. Lett. 68, 2100 (1996).
[CrossRef]

Jiang, H.

H. Jiang, G. Y. Zhao, H. Ishikawa, T. Egawa, T. Jimbo, and M. Umeno, J. Appl. Phys. 89, 1046 (2001).
[CrossRef]

Jimbo, T.

H. Jiang, G. Y. Zhao, H. Ishikawa, T. Egawa, T. Jimbo, and M. Umeno, J. Appl. Phys. 89, 1046 (2001).
[CrossRef]

Karunasiri, G.

M. P. Touse, G. Karunasiri, K. R. Lantz, H. Li, and T. Mei, Appl. Phys. Lett. 86, 093501 (2005).
[CrossRef]

Khan, M. A.

M. A. Khan, J. N. Kuznia, D. T. Olson, M. Blasingame, and A. R. Bhattarai, Appl. Phys. Lett. 63, 2455 (1993).
[CrossRef]

Kung, P.

D. Walker, X. Zhang, P. Kung, A. Saxler, S. Javadpour, J. Xu, and M. Razeghi, Appl. Phys. Lett. 68, 2100 (1996).
[CrossRef]

Kuznia, J. N.

M. A. Khan, J. N. Kuznia, D. T. Olson, M. Blasingame, and A. R. Bhattarai, Appl. Phys. Lett. 63, 2455 (1993).
[CrossRef]

Lantz, K. R.

M. P. Touse, G. Karunasiri, K. R. Lantz, H. Li, and T. Mei, Appl. Phys. Lett. 86, 093501 (2005).
[CrossRef]

Li, H.

M. P. Touse, G. Karunasiri, K. R. Lantz, H. Li, and T. Mei, Appl. Phys. Lett. 86, 093501 (2005).
[CrossRef]

Liu, H. C.

A. G. U. Perera, G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Stevens, M. Alevli, N. Dietz, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Infrared Phys. Technol. 50, 142 (2007).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Alevli, M. Strassburg, N. Dietz, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 89, 091113 (2006).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, D. G. Esaev, S. G. Matsik, G. Hastings, A. G. U. Perera, H. C. Liu, B. N. Zvonkov, and V. I. Gavrilenko, Appl. Phys. Lett. 86, 143510 (2005).
[CrossRef]

H. C. Liu, C. Y. Song, A. Shen, M. Gao, Z. R. Wasilewski, and M. Buchanan, Appl. Phys. Lett. 77, 2437 (2000).
[CrossRef]

W. Z. Shen, A. G. U. Perera, H. C. Liu, M. Buchanan, and W. J. Schaff, Appl. Phys. Lett. 71, 2677 (1997).
[CrossRef]

Luo, H.

A. G. U. Perera, G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Stevens, M. Alevli, N. Dietz, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Infrared Phys. Technol. 50, 142 (2007).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Alevli, M. Strassburg, N. Dietz, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 89, 091113 (2006).
[CrossRef]

Matsik, S. G.

A. G. U. Perera, G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Stevens, M. Alevli, N. Dietz, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Infrared Phys. Technol. 50, 142 (2007).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Alevli, M. Strassburg, N. Dietz, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 89, 091113 (2006).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, D. G. Esaev, S. G. Matsik, G. Hastings, A. G. U. Perera, H. C. Liu, B. N. Zvonkov, and V. I. Gavrilenko, Appl. Phys. Lett. 86, 143510 (2005).
[CrossRef]

D. G. Esaev, M. B. M. Rinzan, S. G. Matsik, and A. G. U. Perera, J. Appl. Phys. 96, 4588 (2004).
[CrossRef]

Mei, T.

M. P. Touse, G. Karunasiri, K. R. Lantz, H. Li, and T. Mei, Appl. Phys. Lett. 86, 093501 (2005).
[CrossRef]

Olson, D. T.

M. A. Khan, J. N. Kuznia, D. T. Olson, M. Blasingame, and A. R. Bhattarai, Appl. Phys. Lett. 63, 2455 (1993).
[CrossRef]

Osinsky, A.

L. Chernyak, A. Osinsky, and A. Schultea, Solid-State Electron. 45, 1687 (2001).
[CrossRef]

Perera, A. G. U.

A. G. U. Perera, G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Stevens, M. Alevli, N. Dietz, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Infrared Phys. Technol. 50, 142 (2007).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Alevli, M. Strassburg, N. Dietz, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 89, 091113 (2006).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, D. G. Esaev, S. G. Matsik, G. Hastings, A. G. U. Perera, H. C. Liu, B. N. Zvonkov, and V. I. Gavrilenko, Appl. Phys. Lett. 86, 143510 (2005).
[CrossRef]

D. G. Esaev, M. B. M. Rinzan, S. G. Matsik, and A. G. U. Perera, J. Appl. Phys. 96, 4588 (2004).
[CrossRef]

W. Z. Shen, A. G. U. Perera, H. C. Liu, M. Buchanan, and W. J. Schaff, Appl. Phys. Lett. 71, 2677 (1997).
[CrossRef]

Pillai, R.

D. Starikov, C. Boney, R. Pillai, and A. Bensaoula, in Proceedings of the ISA/IEEE Sensors for Industry Conference (IEEE, 2004), pp. 36-40.
[CrossRef]

Razeghi, M.

D. Walker, X. Zhang, P. Kung, A. Saxler, S. Javadpour, J. Xu, and M. Razeghi, Appl. Phys. Lett. 68, 2100 (1996).
[CrossRef]

Rinzan, M. B. M.

A. G. U. Perera, G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Stevens, M. Alevli, N. Dietz, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Infrared Phys. Technol. 50, 142 (2007).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Alevli, M. Strassburg, N. Dietz, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 89, 091113 (2006).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, D. G. Esaev, S. G. Matsik, G. Hastings, A. G. U. Perera, H. C. Liu, B. N. Zvonkov, and V. I. Gavrilenko, Appl. Phys. Lett. 86, 143510 (2005).
[CrossRef]

D. G. Esaev, M. B. M. Rinzan, S. G. Matsik, and A. G. U. Perera, J. Appl. Phys. 96, 4588 (2004).
[CrossRef]

Saxler, A.

D. Walker, X. Zhang, P. Kung, A. Saxler, S. Javadpour, J. Xu, and M. Razeghi, Appl. Phys. Lett. 68, 2100 (1996).
[CrossRef]

Schaff, W. J.

W. Z. Shen, A. G. U. Perera, H. C. Liu, M. Buchanan, and W. J. Schaff, Appl. Phys. Lett. 71, 2677 (1997).
[CrossRef]

Schultea, A.

L. Chernyak, A. Osinsky, and A. Schultea, Solid-State Electron. 45, 1687 (2001).
[CrossRef]

Shen, A.

H. C. Liu, C. Y. Song, A. Shen, M. Gao, Z. R. Wasilewski, and M. Buchanan, Appl. Phys. Lett. 77, 2437 (2000).
[CrossRef]

Shen, W. Z.

W. Z. Shen, A. G. U. Perera, H. C. Liu, M. Buchanan, and W. J. Schaff, Appl. Phys. Lett. 71, 2677 (1997).
[CrossRef]

Song, C. Y.

H. C. Liu, C. Y. Song, A. Shen, M. Gao, Z. R. Wasilewski, and M. Buchanan, Appl. Phys. Lett. 77, 2437 (2000).
[CrossRef]

Starikov, D.

D. Starikov, C. Boney, R. Pillai, and A. Bensaoula, in Proceedings of the ISA/IEEE Sensors for Industry Conference (IEEE, 2004), pp. 36-40.
[CrossRef]

Stevens, M.

A. G. U. Perera, G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Stevens, M. Alevli, N. Dietz, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Infrared Phys. Technol. 50, 142 (2007).
[CrossRef]

Strassburg, M.

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Alevli, M. Strassburg, N. Dietz, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 89, 091113 (2006).
[CrossRef]

Touse, M. P.

M. P. Touse, G. Karunasiri, K. R. Lantz, H. Li, and T. Mei, Appl. Phys. Lett. 86, 093501 (2005).
[CrossRef]

Umeno, M.

H. Jiang, G. Y. Zhao, H. Ishikawa, T. Egawa, T. Jimbo, and M. Umeno, J. Appl. Phys. 89, 1046 (2001).
[CrossRef]

Uppal, P. N.

A. Goldberg, P. N. Uppal, and M. Winn, Infrared Phys. Technol. 44, 427 (2003).
[CrossRef]

Walker, D.

D. Walker, X. Zhang, P. Kung, A. Saxler, S. Javadpour, J. Xu, and M. Razeghi, Appl. Phys. Lett. 68, 2100 (1996).
[CrossRef]

Wasilewski, Z. R.

H. C. Liu, C. Y. Song, A. Shen, M. Gao, Z. R. Wasilewski, and M. Buchanan, Appl. Phys. Lett. 77, 2437 (2000).
[CrossRef]

Winn, M.

A. Goldberg, P. N. Uppal, and M. Winn, Infrared Phys. Technol. 44, 427 (2003).
[CrossRef]

Xu, J.

D. Walker, X. Zhang, P. Kung, A. Saxler, S. Javadpour, J. Xu, and M. Razeghi, Appl. Phys. Lett. 68, 2100 (1996).
[CrossRef]

Zhang, X.

D. Walker, X. Zhang, P. Kung, A. Saxler, S. Javadpour, J. Xu, and M. Razeghi, Appl. Phys. Lett. 68, 2100 (1996).
[CrossRef]

Zhao, G. Y.

H. Jiang, G. Y. Zhao, H. Ishikawa, T. Egawa, T. Jimbo, and M. Umeno, J. Appl. Phys. 89, 1046 (2001).
[CrossRef]

Zvonkov, B. N.

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, D. G. Esaev, S. G. Matsik, G. Hastings, A. G. U. Perera, H. C. Liu, B. N. Zvonkov, and V. I. Gavrilenko, Appl. Phys. Lett. 86, 143510 (2005).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett. (7)

M. A. Khan, J. N. Kuznia, D. T. Olson, M. Blasingame, and A. R. Bhattarai, Appl. Phys. Lett. 63, 2455 (1993).
[CrossRef]

D. Walker, X. Zhang, P. Kung, A. Saxler, S. Javadpour, J. Xu, and M. Razeghi, Appl. Phys. Lett. 68, 2100 (1996).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, D. G. Esaev, S. G. Matsik, G. Hastings, A. G. U. Perera, H. C. Liu, B. N. Zvonkov, and V. I. Gavrilenko, Appl. Phys. Lett. 86, 143510 (2005).
[CrossRef]

H. C. Liu, C. Y. Song, A. Shen, M. Gao, Z. R. Wasilewski, and M. Buchanan, Appl. Phys. Lett. 77, 2437 (2000).
[CrossRef]

M. P. Touse, G. Karunasiri, K. R. Lantz, H. Li, and T. Mei, Appl. Phys. Lett. 86, 093501 (2005).
[CrossRef]

G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Alevli, M. Strassburg, N. Dietz, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 89, 091113 (2006).
[CrossRef]

W. Z. Shen, A. G. U. Perera, H. C. Liu, M. Buchanan, and W. J. Schaff, Appl. Phys. Lett. 71, 2677 (1997).
[CrossRef]

Infrared Phys. Technol. (2)

A. G. U. Perera, G. Ariyawansa, M. B. M. Rinzan, M. Stevens, M. Alevli, N. Dietz, S. G. Matsik, A. Asghar, I. T. Ferguson, H. Luo, A. Bezinger, and H. C. Liu, Infrared Phys. Technol. 50, 142 (2007).
[CrossRef]

A. Goldberg, P. N. Uppal, and M. Winn, Infrared Phys. Technol. 44, 427 (2003).
[CrossRef]

J. Appl. Phys. (2)

D. G. Esaev, M. B. M. Rinzan, S. G. Matsik, and A. G. U. Perera, J. Appl. Phys. 96, 4588 (2004).
[CrossRef]

H. Jiang, G. Y. Zhao, H. Ishikawa, T. Egawa, T. Jimbo, and M. Umeno, J. Appl. Phys. 89, 1046 (2001).
[CrossRef]

Solid-State Electron. (1)

L. Chernyak, A. Osinsky, and A. Schultea, Solid-State Electron. 45, 1687 (2001).
[CrossRef]

Other (1)

D. Starikov, C. Boney, R. Pillai, and A. Bensaoula, in Proceedings of the ISA/IEEE Sensors for Industry Conference (IEEE, 2004), pp. 36-40.
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (4)

Fig. 1
Fig. 1

Three contact structure for simultaneous dual-band response measurements showing (a) separate active regions for UV and IR measurements and (b) the corresponding band diagram (CB and VB are the conduction and valence bands, respectively) under reverse bias configuration. The labels TC, MC, and BC indicate the top, middle, and bottom contacts, respectively; and (+) or (−) show the relative potential at which the device was operated. A 200 μ m aperture was used to block the radiation leakage through the outer openings to the IR-active region.

Fig. 2
Fig. 2

Experimental setup for measuring the UV and IR components simultaneously. A single optical chopper is used to modulate the incoming radiation, as in a typical application.

Fig. 3
Fig. 3

Simultaneously measured photocurrents (solid curves) from (a) the UV-active region (TC-MC) and (b) the IR-active region (MC-BC) at 77 K when both UV and IR radiations were incident onto the detector. The UV wavelength was varied between 250 400 nm , while IR was fixed at 9.3 μ m (using a C O 2 laser). The dashed curve in (a) represents the photocurrent when only UV radiation was incident and the dashed line in (b) indicates the level of the IR-active region response when only IR radiation was incident.

Fig. 4
Fig. 4

IR response from IR- and UV-active regions at 77 K . The UV-active region showed almost zero response for IR radiation under reverse bias configuration as expected.

Tables (1)

Tables Icon

Table 1 Response for Different Combinations of Incident Radiation a

Metrics