Abstract

We measure the nonlinear susceptibility of Bi3.25La0.75Ti3O12 (BLT) thin films grown on quartz substrates using the Z-scan technique with picosecond laser pulses at a wavelength of 532nm. The third-order nonlinear refractive index coefficient γ and absorption coefficient β of the BLT thin film are 3.1×1010cm2W and 3×105cmW, respectively, which are much larger than those of most ferroelectric films. The results show that the BLT thin films on quartz substrates are good candidate materials for applications in nonlinear optical devices.

© 2007 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. J. F. Scott and C. A. Paz de Araujo, Science 246, 1400 (1989).
    [CrossRef] [PubMed]
  2. J. Im, O. Auciello, and S. K. Streiffer, Thin Solid Films 413, 243 (2002).
    [CrossRef]
  3. T. Kijima, M. Ushikubo, and H. Matsunaga, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 38, 127 (1999).
    [CrossRef]
  4. A. Hache and M. Bourgeois, Appl. Phys. Lett. 77, 4089 (2000).
    [CrossRef]
  5. B. Gu, Y. Wang, X. Peng, J. Ding, J. He, and H. Wang, Appl. Phys. Lett. 85, 3687 (2004).
    [CrossRef]
  6. W. F. Zhang, M. S. Zhang, Z. Yin, Y. Z. Gu, Z. L. Du, and B. L. Yu, Appl. Phys. Lett. 75, 902 (1999).
    [CrossRef]
  7. Q. Zhao, Y. Liu, W. Shi, W. Ren, L. Zhang, and X. Yao, Appl. Phys. Lett. 69, 458 (1996).
    [CrossRef]
  8. W. Jo, H.-J. Cho, T. W. Noh, B. L. Kim, D.-Y. Kim, Z. G. Khim, and S.-I. Kwun, Appl. Phys. Lett. 63, 2198 (1993).
    [CrossRef]
  9. Y. Lu, D. Iyad, and R. J. Knize, PIERS Online 3, 170 (2007), DOI 10.2529/PIERS060906182948.
  10. H. P. Li, C. H. Kam, Y. L. Lam, and W. Ji, Opt. Mater. (Amsterdam, Neth.) 15, 237 (2001).
    [CrossRef]
  11. Y. Z. Gu, W. F. Zhang, D. H. Gu, and F. X. Gan, Opt. Lett. 26, 1788 (2001).
    [CrossRef]
  12. W. Leng, C. Yang, J. Zhang, H. Chen, W. Hu, H. Ji, J. Tang, W. Qin, J. Li, H. Lin, and L. Gao, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 46, L7 (2007).
    [CrossRef]
  13. P. Shi, X. Yao, L. Zhang, X. Wu, M. Wang, and X. Wan, Solid State Commun. 134, 589 (2005).
    [CrossRef]
  14. B. H. Park, B. S. Kang, S. D. Bu, T. W. Noh, J. Lee, and W. Jo, Nature 401, 682 (1999).
    [CrossRef]
  15. Z. Hu, G. Wang, Z. Huang, and J. Chu, J. Appl. Phys. 93, 3811 (2003).
    [CrossRef]
  16. F. W. Shi, X. J. Meng, G. S. Wang, J. L. Sun, T. Lin, J. H. Ma, Y. W. Li, and J. H. Chu, Thin Solid Films 496, 333 (2006).
    [CrossRef]
  17. J. C. Manifacier, J. Gasiot, and J. P. Fillard, J. Phys. E 9, 1002 (1976).
    [CrossRef]
  18. Y. Du, M. S. Zhang, J. Wu, L. Kang, S. Yang, P. Wu, and Z. Yin, Appl. Phys. A 76, 1105 (2003).
    [CrossRef]
  19. M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
    [CrossRef]
  20. M. Yin, H. P. Li, S. H. Tang, and W. Ji, Appl. Phys. B 70, 587 (2000).
    [CrossRef]
  21. R. W. Boyd, Nonlinear Optics (Academic, 2003), Chap. 4.

2007

W. Leng, C. Yang, J. Zhang, H. Chen, W. Hu, H. Ji, J. Tang, W. Qin, J. Li, H. Lin, and L. Gao, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 46, L7 (2007).
[CrossRef]

2006

F. W. Shi, X. J. Meng, G. S. Wang, J. L. Sun, T. Lin, J. H. Ma, Y. W. Li, and J. H. Chu, Thin Solid Films 496, 333 (2006).
[CrossRef]

2005

P. Shi, X. Yao, L. Zhang, X. Wu, M. Wang, and X. Wan, Solid State Commun. 134, 589 (2005).
[CrossRef]

2004

B. Gu, Y. Wang, X. Peng, J. Ding, J. He, and H. Wang, Appl. Phys. Lett. 85, 3687 (2004).
[CrossRef]

2003

Z. Hu, G. Wang, Z. Huang, and J. Chu, J. Appl. Phys. 93, 3811 (2003).
[CrossRef]

Y. Du, M. S. Zhang, J. Wu, L. Kang, S. Yang, P. Wu, and Z. Yin, Appl. Phys. A 76, 1105 (2003).
[CrossRef]

2002

J. Im, O. Auciello, and S. K. Streiffer, Thin Solid Films 413, 243 (2002).
[CrossRef]

2001

H. P. Li, C. H. Kam, Y. L. Lam, and W. Ji, Opt. Mater. (Amsterdam, Neth.) 15, 237 (2001).
[CrossRef]

Y. Z. Gu, W. F. Zhang, D. H. Gu, and F. X. Gan, Opt. Lett. 26, 1788 (2001).
[CrossRef]

2000

M. Yin, H. P. Li, S. H. Tang, and W. Ji, Appl. Phys. B 70, 587 (2000).
[CrossRef]

A. Hache and M. Bourgeois, Appl. Phys. Lett. 77, 4089 (2000).
[CrossRef]

1999

T. Kijima, M. Ushikubo, and H. Matsunaga, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 38, 127 (1999).
[CrossRef]

W. F. Zhang, M. S. Zhang, Z. Yin, Y. Z. Gu, Z. L. Du, and B. L. Yu, Appl. Phys. Lett. 75, 902 (1999).
[CrossRef]

B. H. Park, B. S. Kang, S. D. Bu, T. W. Noh, J. Lee, and W. Jo, Nature 401, 682 (1999).
[CrossRef]

1996

Q. Zhao, Y. Liu, W. Shi, W. Ren, L. Zhang, and X. Yao, Appl. Phys. Lett. 69, 458 (1996).
[CrossRef]

1993

W. Jo, H.-J. Cho, T. W. Noh, B. L. Kim, D.-Y. Kim, Z. G. Khim, and S.-I. Kwun, Appl. Phys. Lett. 63, 2198 (1993).
[CrossRef]

1990

M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
[CrossRef]

1989

J. F. Scott and C. A. Paz de Araujo, Science 246, 1400 (1989).
[CrossRef] [PubMed]

1976

J. C. Manifacier, J. Gasiot, and J. P. Fillard, J. Phys. E 9, 1002 (1976).
[CrossRef]

Auciello, O.

J. Im, O. Auciello, and S. K. Streiffer, Thin Solid Films 413, 243 (2002).
[CrossRef]

Bourgeois, M.

A. Hache and M. Bourgeois, Appl. Phys. Lett. 77, 4089 (2000).
[CrossRef]

Boyd, R. W.

R. W. Boyd, Nonlinear Optics (Academic, 2003), Chap. 4.

Bu, S. D.

B. H. Park, B. S. Kang, S. D. Bu, T. W. Noh, J. Lee, and W. Jo, Nature 401, 682 (1999).
[CrossRef]

Chen, H.

W. Leng, C. Yang, J. Zhang, H. Chen, W. Hu, H. Ji, J. Tang, W. Qin, J. Li, H. Lin, and L. Gao, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 46, L7 (2007).
[CrossRef]

Cho, H.-J.

W. Jo, H.-J. Cho, T. W. Noh, B. L. Kim, D.-Y. Kim, Z. G. Khim, and S.-I. Kwun, Appl. Phys. Lett. 63, 2198 (1993).
[CrossRef]

Chu, J.

Z. Hu, G. Wang, Z. Huang, and J. Chu, J. Appl. Phys. 93, 3811 (2003).
[CrossRef]

Chu, J. H.

F. W. Shi, X. J. Meng, G. S. Wang, J. L. Sun, T. Lin, J. H. Ma, Y. W. Li, and J. H. Chu, Thin Solid Films 496, 333 (2006).
[CrossRef]

Ding, J.

B. Gu, Y. Wang, X. Peng, J. Ding, J. He, and H. Wang, Appl. Phys. Lett. 85, 3687 (2004).
[CrossRef]

Du, Y.

Y. Du, M. S. Zhang, J. Wu, L. Kang, S. Yang, P. Wu, and Z. Yin, Appl. Phys. A 76, 1105 (2003).
[CrossRef]

Du, Z. L.

W. F. Zhang, M. S. Zhang, Z. Yin, Y. Z. Gu, Z. L. Du, and B. L. Yu, Appl. Phys. Lett. 75, 902 (1999).
[CrossRef]

Fillard, J. P.

J. C. Manifacier, J. Gasiot, and J. P. Fillard, J. Phys. E 9, 1002 (1976).
[CrossRef]

Gan, F. X.

Gao, L.

W. Leng, C. Yang, J. Zhang, H. Chen, W. Hu, H. Ji, J. Tang, W. Qin, J. Li, H. Lin, and L. Gao, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 46, L7 (2007).
[CrossRef]

Gasiot, J.

J. C. Manifacier, J. Gasiot, and J. P. Fillard, J. Phys. E 9, 1002 (1976).
[CrossRef]

Gu, B.

B. Gu, Y. Wang, X. Peng, J. Ding, J. He, and H. Wang, Appl. Phys. Lett. 85, 3687 (2004).
[CrossRef]

Gu, D. H.

Gu, Y. Z.

Y. Z. Gu, W. F. Zhang, D. H. Gu, and F. X. Gan, Opt. Lett. 26, 1788 (2001).
[CrossRef]

W. F. Zhang, M. S. Zhang, Z. Yin, Y. Z. Gu, Z. L. Du, and B. L. Yu, Appl. Phys. Lett. 75, 902 (1999).
[CrossRef]

Hache, A.

A. Hache and M. Bourgeois, Appl. Phys. Lett. 77, 4089 (2000).
[CrossRef]

Hagan, D. J.

M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
[CrossRef]

He, J.

B. Gu, Y. Wang, X. Peng, J. Ding, J. He, and H. Wang, Appl. Phys. Lett. 85, 3687 (2004).
[CrossRef]

Hu, W.

W. Leng, C. Yang, J. Zhang, H. Chen, W. Hu, H. Ji, J. Tang, W. Qin, J. Li, H. Lin, and L. Gao, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 46, L7 (2007).
[CrossRef]

Hu, Z.

Z. Hu, G. Wang, Z. Huang, and J. Chu, J. Appl. Phys. 93, 3811 (2003).
[CrossRef]

Huang, Z.

Z. Hu, G. Wang, Z. Huang, and J. Chu, J. Appl. Phys. 93, 3811 (2003).
[CrossRef]

Im, J.

J. Im, O. Auciello, and S. K. Streiffer, Thin Solid Films 413, 243 (2002).
[CrossRef]

Iyad, D.

Y. Lu, D. Iyad, and R. J. Knize, PIERS Online 3, 170 (2007), DOI 10.2529/PIERS060906182948.

Ji, H.

W. Leng, C. Yang, J. Zhang, H. Chen, W. Hu, H. Ji, J. Tang, W. Qin, J. Li, H. Lin, and L. Gao, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 46, L7 (2007).
[CrossRef]

Ji, W.

H. P. Li, C. H. Kam, Y. L. Lam, and W. Ji, Opt. Mater. (Amsterdam, Neth.) 15, 237 (2001).
[CrossRef]

M. Yin, H. P. Li, S. H. Tang, and W. Ji, Appl. Phys. B 70, 587 (2000).
[CrossRef]

Jo, W.

B. H. Park, B. S. Kang, S. D. Bu, T. W. Noh, J. Lee, and W. Jo, Nature 401, 682 (1999).
[CrossRef]

W. Jo, H.-J. Cho, T. W. Noh, B. L. Kim, D.-Y. Kim, Z. G. Khim, and S.-I. Kwun, Appl. Phys. Lett. 63, 2198 (1993).
[CrossRef]

Kam, C. H.

H. P. Li, C. H. Kam, Y. L. Lam, and W. Ji, Opt. Mater. (Amsterdam, Neth.) 15, 237 (2001).
[CrossRef]

Kang, B. S.

B. H. Park, B. S. Kang, S. D. Bu, T. W. Noh, J. Lee, and W. Jo, Nature 401, 682 (1999).
[CrossRef]

Kang, L.

Y. Du, M. S. Zhang, J. Wu, L. Kang, S. Yang, P. Wu, and Z. Yin, Appl. Phys. A 76, 1105 (2003).
[CrossRef]

Khim, Z. G.

W. Jo, H.-J. Cho, T. W. Noh, B. L. Kim, D.-Y. Kim, Z. G. Khim, and S.-I. Kwun, Appl. Phys. Lett. 63, 2198 (1993).
[CrossRef]

Kijima, T.

T. Kijima, M. Ushikubo, and H. Matsunaga, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 38, 127 (1999).
[CrossRef]

Kim, B. L.

W. Jo, H.-J. Cho, T. W. Noh, B. L. Kim, D.-Y. Kim, Z. G. Khim, and S.-I. Kwun, Appl. Phys. Lett. 63, 2198 (1993).
[CrossRef]

Kim, D.-Y.

W. Jo, H.-J. Cho, T. W. Noh, B. L. Kim, D.-Y. Kim, Z. G. Khim, and S.-I. Kwun, Appl. Phys. Lett. 63, 2198 (1993).
[CrossRef]

Knize, R. J.

Y. Lu, D. Iyad, and R. J. Knize, PIERS Online 3, 170 (2007), DOI 10.2529/PIERS060906182948.

Kwun, S.-I.

W. Jo, H.-J. Cho, T. W. Noh, B. L. Kim, D.-Y. Kim, Z. G. Khim, and S.-I. Kwun, Appl. Phys. Lett. 63, 2198 (1993).
[CrossRef]

Lam, Y. L.

H. P. Li, C. H. Kam, Y. L. Lam, and W. Ji, Opt. Mater. (Amsterdam, Neth.) 15, 237 (2001).
[CrossRef]

Lee, J.

B. H. Park, B. S. Kang, S. D. Bu, T. W. Noh, J. Lee, and W. Jo, Nature 401, 682 (1999).
[CrossRef]

Leng, W.

W. Leng, C. Yang, J. Zhang, H. Chen, W. Hu, H. Ji, J. Tang, W. Qin, J. Li, H. Lin, and L. Gao, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 46, L7 (2007).
[CrossRef]

Li, H. P.

H. P. Li, C. H. Kam, Y. L. Lam, and W. Ji, Opt. Mater. (Amsterdam, Neth.) 15, 237 (2001).
[CrossRef]

M. Yin, H. P. Li, S. H. Tang, and W. Ji, Appl. Phys. B 70, 587 (2000).
[CrossRef]

Li, J.

W. Leng, C. Yang, J. Zhang, H. Chen, W. Hu, H. Ji, J. Tang, W. Qin, J. Li, H. Lin, and L. Gao, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 46, L7 (2007).
[CrossRef]

Li, Y. W.

F. W. Shi, X. J. Meng, G. S. Wang, J. L. Sun, T. Lin, J. H. Ma, Y. W. Li, and J. H. Chu, Thin Solid Films 496, 333 (2006).
[CrossRef]

Lin, H.

W. Leng, C. Yang, J. Zhang, H. Chen, W. Hu, H. Ji, J. Tang, W. Qin, J. Li, H. Lin, and L. Gao, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 46, L7 (2007).
[CrossRef]

Lin, T.

F. W. Shi, X. J. Meng, G. S. Wang, J. L. Sun, T. Lin, J. H. Ma, Y. W. Li, and J. H. Chu, Thin Solid Films 496, 333 (2006).
[CrossRef]

Liu, Y.

Q. Zhao, Y. Liu, W. Shi, W. Ren, L. Zhang, and X. Yao, Appl. Phys. Lett. 69, 458 (1996).
[CrossRef]

Lu, Y.

Y. Lu, D. Iyad, and R. J. Knize, PIERS Online 3, 170 (2007), DOI 10.2529/PIERS060906182948.

Ma, J. H.

F. W. Shi, X. J. Meng, G. S. Wang, J. L. Sun, T. Lin, J. H. Ma, Y. W. Li, and J. H. Chu, Thin Solid Films 496, 333 (2006).
[CrossRef]

Manifacier, J. C.

J. C. Manifacier, J. Gasiot, and J. P. Fillard, J. Phys. E 9, 1002 (1976).
[CrossRef]

Matsunaga, H.

T. Kijima, M. Ushikubo, and H. Matsunaga, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 38, 127 (1999).
[CrossRef]

Meng, X. J.

F. W. Shi, X. J. Meng, G. S. Wang, J. L. Sun, T. Lin, J. H. Ma, Y. W. Li, and J. H. Chu, Thin Solid Films 496, 333 (2006).
[CrossRef]

Noh, T. W.

B. H. Park, B. S. Kang, S. D. Bu, T. W. Noh, J. Lee, and W. Jo, Nature 401, 682 (1999).
[CrossRef]

W. Jo, H.-J. Cho, T. W. Noh, B. L. Kim, D.-Y. Kim, Z. G. Khim, and S.-I. Kwun, Appl. Phys. Lett. 63, 2198 (1993).
[CrossRef]

Park, B. H.

B. H. Park, B. S. Kang, S. D. Bu, T. W. Noh, J. Lee, and W. Jo, Nature 401, 682 (1999).
[CrossRef]

Paz de Araujo, C. A.

J. F. Scott and C. A. Paz de Araujo, Science 246, 1400 (1989).
[CrossRef] [PubMed]

Peng, X.

B. Gu, Y. Wang, X. Peng, J. Ding, J. He, and H. Wang, Appl. Phys. Lett. 85, 3687 (2004).
[CrossRef]

Qin, W.

W. Leng, C. Yang, J. Zhang, H. Chen, W. Hu, H. Ji, J. Tang, W. Qin, J. Li, H. Lin, and L. Gao, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 46, L7 (2007).
[CrossRef]

Ren, W.

Q. Zhao, Y. Liu, W. Shi, W. Ren, L. Zhang, and X. Yao, Appl. Phys. Lett. 69, 458 (1996).
[CrossRef]

Said, A. A.

M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
[CrossRef]

Scott, J. F.

J. F. Scott and C. A. Paz de Araujo, Science 246, 1400 (1989).
[CrossRef] [PubMed]

Sheik-Bahae, M.

M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
[CrossRef]

Shi, F. W.

F. W. Shi, X. J. Meng, G. S. Wang, J. L. Sun, T. Lin, J. H. Ma, Y. W. Li, and J. H. Chu, Thin Solid Films 496, 333 (2006).
[CrossRef]

Shi, P.

P. Shi, X. Yao, L. Zhang, X. Wu, M. Wang, and X. Wan, Solid State Commun. 134, 589 (2005).
[CrossRef]

Shi, W.

Q. Zhao, Y. Liu, W. Shi, W. Ren, L. Zhang, and X. Yao, Appl. Phys. Lett. 69, 458 (1996).
[CrossRef]

Streiffer, S. K.

J. Im, O. Auciello, and S. K. Streiffer, Thin Solid Films 413, 243 (2002).
[CrossRef]

Sun, J. L.

F. W. Shi, X. J. Meng, G. S. Wang, J. L. Sun, T. Lin, J. H. Ma, Y. W. Li, and J. H. Chu, Thin Solid Films 496, 333 (2006).
[CrossRef]

Tang, J.

W. Leng, C. Yang, J. Zhang, H. Chen, W. Hu, H. Ji, J. Tang, W. Qin, J. Li, H. Lin, and L. Gao, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 46, L7 (2007).
[CrossRef]

Tang, S. H.

M. Yin, H. P. Li, S. H. Tang, and W. Ji, Appl. Phys. B 70, 587 (2000).
[CrossRef]

Ushikubo, M.

T. Kijima, M. Ushikubo, and H. Matsunaga, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 38, 127 (1999).
[CrossRef]

Van Stryland, E. W.

M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
[CrossRef]

Wan, X.

P. Shi, X. Yao, L. Zhang, X. Wu, M. Wang, and X. Wan, Solid State Commun. 134, 589 (2005).
[CrossRef]

Wang, G.

Z. Hu, G. Wang, Z. Huang, and J. Chu, J. Appl. Phys. 93, 3811 (2003).
[CrossRef]

Wang, G. S.

F. W. Shi, X. J. Meng, G. S. Wang, J. L. Sun, T. Lin, J. H. Ma, Y. W. Li, and J. H. Chu, Thin Solid Films 496, 333 (2006).
[CrossRef]

Wang, H.

B. Gu, Y. Wang, X. Peng, J. Ding, J. He, and H. Wang, Appl. Phys. Lett. 85, 3687 (2004).
[CrossRef]

Wang, M.

P. Shi, X. Yao, L. Zhang, X. Wu, M. Wang, and X. Wan, Solid State Commun. 134, 589 (2005).
[CrossRef]

Wang, Y.

B. Gu, Y. Wang, X. Peng, J. Ding, J. He, and H. Wang, Appl. Phys. Lett. 85, 3687 (2004).
[CrossRef]

Wei, T.

M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
[CrossRef]

Wu, J.

Y. Du, M. S. Zhang, J. Wu, L. Kang, S. Yang, P. Wu, and Z. Yin, Appl. Phys. A 76, 1105 (2003).
[CrossRef]

Wu, P.

Y. Du, M. S. Zhang, J. Wu, L. Kang, S. Yang, P. Wu, and Z. Yin, Appl. Phys. A 76, 1105 (2003).
[CrossRef]

Wu, X.

P. Shi, X. Yao, L. Zhang, X. Wu, M. Wang, and X. Wan, Solid State Commun. 134, 589 (2005).
[CrossRef]

Yang, C.

W. Leng, C. Yang, J. Zhang, H. Chen, W. Hu, H. Ji, J. Tang, W. Qin, J. Li, H. Lin, and L. Gao, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 46, L7 (2007).
[CrossRef]

Yang, S.

Y. Du, M. S. Zhang, J. Wu, L. Kang, S. Yang, P. Wu, and Z. Yin, Appl. Phys. A 76, 1105 (2003).
[CrossRef]

Yao, X.

P. Shi, X. Yao, L. Zhang, X. Wu, M. Wang, and X. Wan, Solid State Commun. 134, 589 (2005).
[CrossRef]

Q. Zhao, Y. Liu, W. Shi, W. Ren, L. Zhang, and X. Yao, Appl. Phys. Lett. 69, 458 (1996).
[CrossRef]

Yin, M.

M. Yin, H. P. Li, S. H. Tang, and W. Ji, Appl. Phys. B 70, 587 (2000).
[CrossRef]

Yin, Z.

Y. Du, M. S. Zhang, J. Wu, L. Kang, S. Yang, P. Wu, and Z. Yin, Appl. Phys. A 76, 1105 (2003).
[CrossRef]

W. F. Zhang, M. S. Zhang, Z. Yin, Y. Z. Gu, Z. L. Du, and B. L. Yu, Appl. Phys. Lett. 75, 902 (1999).
[CrossRef]

Yu, B. L.

W. F. Zhang, M. S. Zhang, Z. Yin, Y. Z. Gu, Z. L. Du, and B. L. Yu, Appl. Phys. Lett. 75, 902 (1999).
[CrossRef]

Zhang, J.

W. Leng, C. Yang, J. Zhang, H. Chen, W. Hu, H. Ji, J. Tang, W. Qin, J. Li, H. Lin, and L. Gao, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 46, L7 (2007).
[CrossRef]

Zhang, L.

P. Shi, X. Yao, L. Zhang, X. Wu, M. Wang, and X. Wan, Solid State Commun. 134, 589 (2005).
[CrossRef]

Q. Zhao, Y. Liu, W. Shi, W. Ren, L. Zhang, and X. Yao, Appl. Phys. Lett. 69, 458 (1996).
[CrossRef]

Zhang, M. S.

Y. Du, M. S. Zhang, J. Wu, L. Kang, S. Yang, P. Wu, and Z. Yin, Appl. Phys. A 76, 1105 (2003).
[CrossRef]

W. F. Zhang, M. S. Zhang, Z. Yin, Y. Z. Gu, Z. L. Du, and B. L. Yu, Appl. Phys. Lett. 75, 902 (1999).
[CrossRef]

Zhang, W. F.

Y. Z. Gu, W. F. Zhang, D. H. Gu, and F. X. Gan, Opt. Lett. 26, 1788 (2001).
[CrossRef]

W. F. Zhang, M. S. Zhang, Z. Yin, Y. Z. Gu, Z. L. Du, and B. L. Yu, Appl. Phys. Lett. 75, 902 (1999).
[CrossRef]

Zhao, Q.

Q. Zhao, Y. Liu, W. Shi, W. Ren, L. Zhang, and X. Yao, Appl. Phys. Lett. 69, 458 (1996).
[CrossRef]

Appl. Phys. A

Y. Du, M. S. Zhang, J. Wu, L. Kang, S. Yang, P. Wu, and Z. Yin, Appl. Phys. A 76, 1105 (2003).
[CrossRef]

Appl. Phys. B

M. Yin, H. P. Li, S. H. Tang, and W. Ji, Appl. Phys. B 70, 587 (2000).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett.

A. Hache and M. Bourgeois, Appl. Phys. Lett. 77, 4089 (2000).
[CrossRef]

B. Gu, Y. Wang, X. Peng, J. Ding, J. He, and H. Wang, Appl. Phys. Lett. 85, 3687 (2004).
[CrossRef]

W. F. Zhang, M. S. Zhang, Z. Yin, Y. Z. Gu, Z. L. Du, and B. L. Yu, Appl. Phys. Lett. 75, 902 (1999).
[CrossRef]

Q. Zhao, Y. Liu, W. Shi, W. Ren, L. Zhang, and X. Yao, Appl. Phys. Lett. 69, 458 (1996).
[CrossRef]

W. Jo, H.-J. Cho, T. W. Noh, B. L. Kim, D.-Y. Kim, Z. G. Khim, and S.-I. Kwun, Appl. Phys. Lett. 63, 2198 (1993).
[CrossRef]

IEEE J. Quantum Electron.

M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland, IEEE J. Quantum Electron. 26, 760 (1990).
[CrossRef]

J. Appl. Phys.

Z. Hu, G. Wang, Z. Huang, and J. Chu, J. Appl. Phys. 93, 3811 (2003).
[CrossRef]

J. Phys. E

J. C. Manifacier, J. Gasiot, and J. P. Fillard, J. Phys. E 9, 1002 (1976).
[CrossRef]

Jpn. J. Appl. Phys. Part 1

W. Leng, C. Yang, J. Zhang, H. Chen, W. Hu, H. Ji, J. Tang, W. Qin, J. Li, H. Lin, and L. Gao, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 46, L7 (2007).
[CrossRef]

T. Kijima, M. Ushikubo, and H. Matsunaga, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 38, 127 (1999).
[CrossRef]

Nature

B. H. Park, B. S. Kang, S. D. Bu, T. W. Noh, J. Lee, and W. Jo, Nature 401, 682 (1999).
[CrossRef]

Opt. Lett.

Opt. Mater. (Amsterdam, Neth.)

H. P. Li, C. H. Kam, Y. L. Lam, and W. Ji, Opt. Mater. (Amsterdam, Neth.) 15, 237 (2001).
[CrossRef]

Science

J. F. Scott and C. A. Paz de Araujo, Science 246, 1400 (1989).
[CrossRef] [PubMed]

Solid State Commun.

P. Shi, X. Yao, L. Zhang, X. Wu, M. Wang, and X. Wan, Solid State Commun. 134, 589 (2005).
[CrossRef]

Thin Solid Films

F. W. Shi, X. J. Meng, G. S. Wang, J. L. Sun, T. Lin, J. H. Ma, Y. W. Li, and J. H. Chu, Thin Solid Films 496, 333 (2006).
[CrossRef]

J. Im, O. Auciello, and S. K. Streiffer, Thin Solid Films 413, 243 (2002).
[CrossRef]

Other

Y. Lu, D. Iyad, and R. J. Knize, PIERS Online 3, 170 (2007), DOI 10.2529/PIERS060906182948.

R. W. Boyd, Nonlinear Optics (Academic, 2003), Chap. 4.

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (4)

Fig. 1
Fig. 1

(a) X-ray diffraction pattern of the BLT thin film on a quartz substrate. (b) Atomic force microscope image of the BLT thin film pattern.

Fig. 2
Fig. 2

Plot of ( α h ν ) 2 versus photoenergy for the BLT thin films.

Fig. 3
Fig. 3

Experimentally measured (symbols) and theoretically fitted [using Eq. (2), indicated by the lines] open aperture transmittance of the BLT thin film on a quartz substrate versus scan position. The transmittance is normalized, so the dashed horizontal line at the transmission of 1 represents the transmittance where sample is located far from the focal point.

Fig. 4
Fig. 4

Experimentally measured (symbols) and theoretically fitted [using Eq. (3), as indicated by the lines] transmittance variation of the BLT thin fim versus scan position for the closed aperture Z-scan.

Equations (3)

Equations on this page are rendered with MathJax. Learn more.

( α h ν ) 2 = C ( h ν E g ) ,
T ( z ) = 1 1 2 3 2 β I 0 L eff ( 1 + z 2 z 0 2 ) ,
Δ T ( z ) = T ( z ) T ( z ) 2 = 4 Δ ϕ z z 0 ( 1 + z 2 z 0 2 ) ( 9 + z 2 z 0 2 ) ,

Metrics