Abstract

We investigate the laser-induced damage resistance at 355nm in deuterated potassium dihydrogen phosphate (DKDP) crystals grown with varying growth parameters, including speed of growth and temperature. The aim is to explore a new expedited method to study the growth parameters affecting the laser-induced damage resistance in DKDP material to obtain crystals with enhanced performance.

© 2006 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. J. J. De Yoreo, A. K. Burnham, and P. K. Whitman, Int. Mater. Rev. 47, 113 (2002).
    [CrossRef]
  2. R. W. Hopper and D. Uhlmann, J. Appl. Phys. 41, 4023 (1970).
    [CrossRef]
  3. M. D. Feit and A. M. Rubenchik, in Proc. SPIE 5273, 74 (2003).
  4. C. W. Carr, H. B. Radousky, and S. G. Demos, Phys. Rev. Lett. 91, 127402 (2003).
    [CrossRef] [PubMed]
  5. N. Zaitseva and L. Carman, Prog. Cryst. Growth Charact. Mater. 43, 1 (2001).
    [CrossRef]
  6. M. Yan, R. A. Torres, M. J. Runkel, B. W. Woods, I. D. Hutcheon, N. P. Zaitseva, and J. J. De Yoreo, in Proc. SPIE 2966, 11 (1997).
  7. P. DeMange, C. W. Carr, H. B. Radousky, and S. G. Demos, Rev. Sci. Instrum. 75, 3298 (2004).
    [CrossRef]
  8. L. N. Rashkovich, KDP-Family Single Crystals (Hilger, 1991).
  9. H. Endert and M. L. Martin, Cryst. Res. Technol. 16, K65 (1981).
  10. H. Endert and W. Melle, Phys. Status Solidi 74, 141 (1982).
    [CrossRef]
  11. M. J. Runkel, B. W. Woods, M. Yan, J. J. De Yoreo, and M. R. Kozlowski, in Proc. SPIE 2714, 185 (1996).
  12. A. K. Burnham, M. Runkel, M. D. Feit, A. M. Rubenchik, R. L. Floyd, T. A. Land, W. J. Siekhaus, and R. A. Hawley-Fedder, Appl. Opt. 42, 5483 (2003).
    [CrossRef] [PubMed]
  13. A. K. Burnham, M. Runkel, R. A. Hawley-Fedder, M. L. Carman, R. A. Torres, and P. K. Whitman, in Proc. SPIE 4347, 373 (2001).
  14. I. L. Smolsky, A. E. Voloshin, N. P. Zaitseva, E. B. Rudneva, and H. Klapper, Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A 357, 2631 (1999).
    [CrossRef]

2004

P. DeMange, C. W. Carr, H. B. Radousky, and S. G. Demos, Rev. Sci. Instrum. 75, 3298 (2004).
[CrossRef]

2003

2002

J. J. De Yoreo, A. K. Burnham, and P. K. Whitman, Int. Mater. Rev. 47, 113 (2002).
[CrossRef]

2001

N. Zaitseva and L. Carman, Prog. Cryst. Growth Charact. Mater. 43, 1 (2001).
[CrossRef]

1999

I. L. Smolsky, A. E. Voloshin, N. P. Zaitseva, E. B. Rudneva, and H. Klapper, Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A 357, 2631 (1999).
[CrossRef]

1982

H. Endert and W. Melle, Phys. Status Solidi 74, 141 (1982).
[CrossRef]

1981

H. Endert and M. L. Martin, Cryst. Res. Technol. 16, K65 (1981).

1970

R. W. Hopper and D. Uhlmann, J. Appl. Phys. 41, 4023 (1970).
[CrossRef]

Burnham, A. K.

A. K. Burnham, M. Runkel, M. D. Feit, A. M. Rubenchik, R. L. Floyd, T. A. Land, W. J. Siekhaus, and R. A. Hawley-Fedder, Appl. Opt. 42, 5483 (2003).
[CrossRef] [PubMed]

J. J. De Yoreo, A. K. Burnham, and P. K. Whitman, Int. Mater. Rev. 47, 113 (2002).
[CrossRef]

A. K. Burnham, M. Runkel, R. A. Hawley-Fedder, M. L. Carman, R. A. Torres, and P. K. Whitman, in Proc. SPIE 4347, 373 (2001).

Carman, L.

N. Zaitseva and L. Carman, Prog. Cryst. Growth Charact. Mater. 43, 1 (2001).
[CrossRef]

Carman, M. L.

A. K. Burnham, M. Runkel, R. A. Hawley-Fedder, M. L. Carman, R. A. Torres, and P. K. Whitman, in Proc. SPIE 4347, 373 (2001).

Carr, C. W.

P. DeMange, C. W. Carr, H. B. Radousky, and S. G. Demos, Rev. Sci. Instrum. 75, 3298 (2004).
[CrossRef]

C. W. Carr, H. B. Radousky, and S. G. Demos, Phys. Rev. Lett. 91, 127402 (2003).
[CrossRef] [PubMed]

De Yoreo, J. J.

J. J. De Yoreo, A. K. Burnham, and P. K. Whitman, Int. Mater. Rev. 47, 113 (2002).
[CrossRef]

M. Yan, R. A. Torres, M. J. Runkel, B. W. Woods, I. D. Hutcheon, N. P. Zaitseva, and J. J. De Yoreo, in Proc. SPIE 2966, 11 (1997).

M. J. Runkel, B. W. Woods, M. Yan, J. J. De Yoreo, and M. R. Kozlowski, in Proc. SPIE 2714, 185 (1996).

DeMange, P.

P. DeMange, C. W. Carr, H. B. Radousky, and S. G. Demos, Rev. Sci. Instrum. 75, 3298 (2004).
[CrossRef]

Demos, S. G.

P. DeMange, C. W. Carr, H. B. Radousky, and S. G. Demos, Rev. Sci. Instrum. 75, 3298 (2004).
[CrossRef]

C. W. Carr, H. B. Radousky, and S. G. Demos, Phys. Rev. Lett. 91, 127402 (2003).
[CrossRef] [PubMed]

Endert, H.

H. Endert and W. Melle, Phys. Status Solidi 74, 141 (1982).
[CrossRef]

H. Endert and M. L. Martin, Cryst. Res. Technol. 16, K65 (1981).

Feit, M. D.

Floyd, R. L.

Hawley-Fedder, R. A.

A. K. Burnham, M. Runkel, M. D. Feit, A. M. Rubenchik, R. L. Floyd, T. A. Land, W. J. Siekhaus, and R. A. Hawley-Fedder, Appl. Opt. 42, 5483 (2003).
[CrossRef] [PubMed]

A. K. Burnham, M. Runkel, R. A. Hawley-Fedder, M. L. Carman, R. A. Torres, and P. K. Whitman, in Proc. SPIE 4347, 373 (2001).

Hopper, R. W.

R. W. Hopper and D. Uhlmann, J. Appl. Phys. 41, 4023 (1970).
[CrossRef]

Hutcheon, I. D.

M. Yan, R. A. Torres, M. J. Runkel, B. W. Woods, I. D. Hutcheon, N. P. Zaitseva, and J. J. De Yoreo, in Proc. SPIE 2966, 11 (1997).

Klapper, H.

I. L. Smolsky, A. E. Voloshin, N. P. Zaitseva, E. B. Rudneva, and H. Klapper, Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A 357, 2631 (1999).
[CrossRef]

Kozlowski, M. R.

M. J. Runkel, B. W. Woods, M. Yan, J. J. De Yoreo, and M. R. Kozlowski, in Proc. SPIE 2714, 185 (1996).

Land, T. A.

Martin, M. L.

H. Endert and M. L. Martin, Cryst. Res. Technol. 16, K65 (1981).

Melle, W.

H. Endert and W. Melle, Phys. Status Solidi 74, 141 (1982).
[CrossRef]

Radousky, H. B.

P. DeMange, C. W. Carr, H. B. Radousky, and S. G. Demos, Rev. Sci. Instrum. 75, 3298 (2004).
[CrossRef]

C. W. Carr, H. B. Radousky, and S. G. Demos, Phys. Rev. Lett. 91, 127402 (2003).
[CrossRef] [PubMed]

Rashkovich, L. N.

L. N. Rashkovich, KDP-Family Single Crystals (Hilger, 1991).

Rubenchik, A. M.

Rudneva, E. B.

I. L. Smolsky, A. E. Voloshin, N. P. Zaitseva, E. B. Rudneva, and H. Klapper, Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A 357, 2631 (1999).
[CrossRef]

Runkel, M.

A. K. Burnham, M. Runkel, M. D. Feit, A. M. Rubenchik, R. L. Floyd, T. A. Land, W. J. Siekhaus, and R. A. Hawley-Fedder, Appl. Opt. 42, 5483 (2003).
[CrossRef] [PubMed]

A. K. Burnham, M. Runkel, R. A. Hawley-Fedder, M. L. Carman, R. A. Torres, and P. K. Whitman, in Proc. SPIE 4347, 373 (2001).

Runkel, M. J.

M. Yan, R. A. Torres, M. J. Runkel, B. W. Woods, I. D. Hutcheon, N. P. Zaitseva, and J. J. De Yoreo, in Proc. SPIE 2966, 11 (1997).

M. J. Runkel, B. W. Woods, M. Yan, J. J. De Yoreo, and M. R. Kozlowski, in Proc. SPIE 2714, 185 (1996).

Siekhaus, W. J.

Smolsky, I. L.

I. L. Smolsky, A. E. Voloshin, N. P. Zaitseva, E. B. Rudneva, and H. Klapper, Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A 357, 2631 (1999).
[CrossRef]

Torres, R. A.

A. K. Burnham, M. Runkel, R. A. Hawley-Fedder, M. L. Carman, R. A. Torres, and P. K. Whitman, in Proc. SPIE 4347, 373 (2001).

M. Yan, R. A. Torres, M. J. Runkel, B. W. Woods, I. D. Hutcheon, N. P. Zaitseva, and J. J. De Yoreo, in Proc. SPIE 2966, 11 (1997).

Uhlmann, D.

R. W. Hopper and D. Uhlmann, J. Appl. Phys. 41, 4023 (1970).
[CrossRef]

Voloshin, A. E.

I. L. Smolsky, A. E. Voloshin, N. P. Zaitseva, E. B. Rudneva, and H. Klapper, Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A 357, 2631 (1999).
[CrossRef]

Whitman, P. K.

J. J. De Yoreo, A. K. Burnham, and P. K. Whitman, Int. Mater. Rev. 47, 113 (2002).
[CrossRef]

A. K. Burnham, M. Runkel, R. A. Hawley-Fedder, M. L. Carman, R. A. Torres, and P. K. Whitman, in Proc. SPIE 4347, 373 (2001).

Woods, B. W.

M. Yan, R. A. Torres, M. J. Runkel, B. W. Woods, I. D. Hutcheon, N. P. Zaitseva, and J. J. De Yoreo, in Proc. SPIE 2966, 11 (1997).

M. J. Runkel, B. W. Woods, M. Yan, J. J. De Yoreo, and M. R. Kozlowski, in Proc. SPIE 2714, 185 (1996).

Yan, M.

M. J. Runkel, B. W. Woods, M. Yan, J. J. De Yoreo, and M. R. Kozlowski, in Proc. SPIE 2714, 185 (1996).

M. Yan, R. A. Torres, M. J. Runkel, B. W. Woods, I. D. Hutcheon, N. P. Zaitseva, and J. J. De Yoreo, in Proc. SPIE 2966, 11 (1997).

Zaitseva, N.

N. Zaitseva and L. Carman, Prog. Cryst. Growth Charact. Mater. 43, 1 (2001).
[CrossRef]

Zaitseva, N. P.

I. L. Smolsky, A. E. Voloshin, N. P. Zaitseva, E. B. Rudneva, and H. Klapper, Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A 357, 2631 (1999).
[CrossRef]

M. Yan, R. A. Torres, M. J. Runkel, B. W. Woods, I. D. Hutcheon, N. P. Zaitseva, and J. J. De Yoreo, in Proc. SPIE 2966, 11 (1997).

Appl. Opt.

Cryst. Res. Technol.

H. Endert and M. L. Martin, Cryst. Res. Technol. 16, K65 (1981).

Int. Mater. Rev.

J. J. De Yoreo, A. K. Burnham, and P. K. Whitman, Int. Mater. Rev. 47, 113 (2002).
[CrossRef]

J. Appl. Phys.

R. W. Hopper and D. Uhlmann, J. Appl. Phys. 41, 4023 (1970).
[CrossRef]

Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A

I. L. Smolsky, A. E. Voloshin, N. P. Zaitseva, E. B. Rudneva, and H. Klapper, Philos. Trans. R. Soc. London Ser. A 357, 2631 (1999).
[CrossRef]

Phys. Rev. Lett.

C. W. Carr, H. B. Radousky, and S. G. Demos, Phys. Rev. Lett. 91, 127402 (2003).
[CrossRef] [PubMed]

Phys. Status Solidi

H. Endert and W. Melle, Phys. Status Solidi 74, 141 (1982).
[CrossRef]

Prog. Cryst. Growth Charact. Mater.

N. Zaitseva and L. Carman, Prog. Cryst. Growth Charact. Mater. 43, 1 (2001).
[CrossRef]

Rev. Sci. Instrum.

P. DeMange, C. W. Carr, H. B. Radousky, and S. G. Demos, Rev. Sci. Instrum. 75, 3298 (2004).
[CrossRef]

Other

L. N. Rashkovich, KDP-Family Single Crystals (Hilger, 1991).

M. J. Runkel, B. W. Woods, M. Yan, J. J. De Yoreo, and M. R. Kozlowski, in Proc. SPIE 2714, 185 (1996).

M. Yan, R. A. Torres, M. J. Runkel, B. W. Woods, I. D. Hutcheon, N. P. Zaitseva, and J. J. De Yoreo, in Proc. SPIE 2966, 11 (1997).

M. D. Feit and A. M. Rubenchik, in Proc. SPIE 5273, 74 (2003).

A. K. Burnham, M. Runkel, R. A. Hawley-Fedder, M. L. Carman, R. A. Torres, and P. K. Whitman, in Proc. SPIE 4347, 373 (2001).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (3)

Fig. 1
Fig. 1

Crystal growth map of a DKDP plate originating from a boule grown with varied growth rates.

Fig. 2
Fig. 2

Damage density profiles (on a log–log scale) measured at four different locations (a)–(d) in the DKDP sample, as indicated in Fig. 1.

Fig. 3
Fig. 3

Damage pinpoint densities after testing at 8.3 J cm 2 along specific (a) horizontal and (b) vertical lines versus the linear distance from the seed (line-outs shown in Fig. 1). The corresponding average growth rates and temperatures are also shown in Fig. 3a.

Metrics