Abstract

Ferroelectric domain inversion has been demonstrated in BaMgF4. Transparency has been measured to <140 nm, and no change in transmission was measured under 157-nm irradiation for >1.1×109 shots at 2 mJ/cm2 per pulse. First-order quasi-phase-matched generation of 157  nm is predicted by use of grating periods as long as 1.5 μm. This material should permit shorter-wavelength χ2 frequency-mixing processes than with any other crystalline material.

© 2001 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. N. Umezu, T. Fukui, T. Okamoto, H. Wada, K. Tatsuki, K. Kondo, and S. Kubota, Proc. SPIE 3244, 124 (1998).
    [CrossRef]
  2. J. G. Bergman, G. R. Crane, and H. Guggenheim, J. Appl. Phys. 46, 4645 (1975).
    [CrossRef]
  3. F. S. Bechthold and S. Hassueh, Appl. Phys. 14, 403 (1977).
  4. D. A. Roberts, IEEE J. Quantum Electron. 28, 2057 (1992).
    [CrossRef]
  5. E. T. Keve, S. C. Abrahams, and J. L. Bernstein, J. Chem. Phys. 51, 4928 (1969).
  6. K. Recker, F. Wallerafen, and S. Haussueh, J. Cryst. Growth 26, 97 (1974).
    [CrossRef]
  7. V. Liberman, M. Rothschild, J. H. C. Sedlacek, R. S. Uttaro, A. K. Bates, and K. Orvek, Proc. SPIE 4000, 488 (2000).
    [CrossRef]
  8. J. H. Burnett, R. Gupta, and U. Griesmann, Proc. SPIE 4000, 1503 (2000).
    [CrossRef]
  9. L. E. Myers, R. E. Eckardt, M. M. Fejer, and R. L. Byer, J. Opt. Soc. Am. B 12, 2102 (1995).
    [CrossRef]
  10. J.-P. Meyn and M. M. Fejer, Opt. Lett. 22, 1214 (1997).
    [CrossRef] [PubMed]
  11. M. Eibschutz, H. J. Guggenheim, S. H. Wemple, I. Camlibel, and M. Didomenico, Phys. Lett. A 29, 409 (1969).
    [CrossRef]

2000 (2)

V. Liberman, M. Rothschild, J. H. C. Sedlacek, R. S. Uttaro, A. K. Bates, and K. Orvek, Proc. SPIE 4000, 488 (2000).
[CrossRef]

J. H. Burnett, R. Gupta, and U. Griesmann, Proc. SPIE 4000, 1503 (2000).
[CrossRef]

1998 (1)

N. Umezu, T. Fukui, T. Okamoto, H. Wada, K. Tatsuki, K. Kondo, and S. Kubota, Proc. SPIE 3244, 124 (1998).
[CrossRef]

1997 (1)

1995 (1)

1992 (1)

D. A. Roberts, IEEE J. Quantum Electron. 28, 2057 (1992).
[CrossRef]

1977 (1)

F. S. Bechthold and S. Hassueh, Appl. Phys. 14, 403 (1977).

1975 (1)

J. G. Bergman, G. R. Crane, and H. Guggenheim, J. Appl. Phys. 46, 4645 (1975).
[CrossRef]

1974 (1)

K. Recker, F. Wallerafen, and S. Haussueh, J. Cryst. Growth 26, 97 (1974).
[CrossRef]

1969 (2)

M. Eibschutz, H. J. Guggenheim, S. H. Wemple, I. Camlibel, and M. Didomenico, Phys. Lett. A 29, 409 (1969).
[CrossRef]

E. T. Keve, S. C. Abrahams, and J. L. Bernstein, J. Chem. Phys. 51, 4928 (1969).

Abrahams, S. C.

E. T. Keve, S. C. Abrahams, and J. L. Bernstein, J. Chem. Phys. 51, 4928 (1969).

Bates, A. K.

V. Liberman, M. Rothschild, J. H. C. Sedlacek, R. S. Uttaro, A. K. Bates, and K. Orvek, Proc. SPIE 4000, 488 (2000).
[CrossRef]

Bechthold, F. S.

F. S. Bechthold and S. Hassueh, Appl. Phys. 14, 403 (1977).

Bergman, J. G.

J. G. Bergman, G. R. Crane, and H. Guggenheim, J. Appl. Phys. 46, 4645 (1975).
[CrossRef]

Bernstein, J. L.

E. T. Keve, S. C. Abrahams, and J. L. Bernstein, J. Chem. Phys. 51, 4928 (1969).

Burnett, J. H.

J. H. Burnett, R. Gupta, and U. Griesmann, Proc. SPIE 4000, 1503 (2000).
[CrossRef]

Byer, R. L.

Camlibel, I.

M. Eibschutz, H. J. Guggenheim, S. H. Wemple, I. Camlibel, and M. Didomenico, Phys. Lett. A 29, 409 (1969).
[CrossRef]

Crane, G. R.

J. G. Bergman, G. R. Crane, and H. Guggenheim, J. Appl. Phys. 46, 4645 (1975).
[CrossRef]

Didomenico, M.

M. Eibschutz, H. J. Guggenheim, S. H. Wemple, I. Camlibel, and M. Didomenico, Phys. Lett. A 29, 409 (1969).
[CrossRef]

Eckardt, R. E.

Eibschutz, M.

M. Eibschutz, H. J. Guggenheim, S. H. Wemple, I. Camlibel, and M. Didomenico, Phys. Lett. A 29, 409 (1969).
[CrossRef]

Fejer, M. M.

Fukui, T.

N. Umezu, T. Fukui, T. Okamoto, H. Wada, K. Tatsuki, K. Kondo, and S. Kubota, Proc. SPIE 3244, 124 (1998).
[CrossRef]

Griesmann, U.

J. H. Burnett, R. Gupta, and U. Griesmann, Proc. SPIE 4000, 1503 (2000).
[CrossRef]

Guggenheim, H.

J. G. Bergman, G. R. Crane, and H. Guggenheim, J. Appl. Phys. 46, 4645 (1975).
[CrossRef]

Guggenheim, H. J.

M. Eibschutz, H. J. Guggenheim, S. H. Wemple, I. Camlibel, and M. Didomenico, Phys. Lett. A 29, 409 (1969).
[CrossRef]

Gupta, R.

J. H. Burnett, R. Gupta, and U. Griesmann, Proc. SPIE 4000, 1503 (2000).
[CrossRef]

Hassueh, S.

F. S. Bechthold and S. Hassueh, Appl. Phys. 14, 403 (1977).

Haussueh, S.

K. Recker, F. Wallerafen, and S. Haussueh, J. Cryst. Growth 26, 97 (1974).
[CrossRef]

Keve, E. T.

E. T. Keve, S. C. Abrahams, and J. L. Bernstein, J. Chem. Phys. 51, 4928 (1969).

Kondo, K.

N. Umezu, T. Fukui, T. Okamoto, H. Wada, K. Tatsuki, K. Kondo, and S. Kubota, Proc. SPIE 3244, 124 (1998).
[CrossRef]

Kubota, S.

N. Umezu, T. Fukui, T. Okamoto, H. Wada, K. Tatsuki, K. Kondo, and S. Kubota, Proc. SPIE 3244, 124 (1998).
[CrossRef]

Liberman, V.

V. Liberman, M. Rothschild, J. H. C. Sedlacek, R. S. Uttaro, A. K. Bates, and K. Orvek, Proc. SPIE 4000, 488 (2000).
[CrossRef]

Meyn, J.-P.

Myers, L. E.

Okamoto, T.

N. Umezu, T. Fukui, T. Okamoto, H. Wada, K. Tatsuki, K. Kondo, and S. Kubota, Proc. SPIE 3244, 124 (1998).
[CrossRef]

Orvek, K.

V. Liberman, M. Rothschild, J. H. C. Sedlacek, R. S. Uttaro, A. K. Bates, and K. Orvek, Proc. SPIE 4000, 488 (2000).
[CrossRef]

Recker, K.

K. Recker, F. Wallerafen, and S. Haussueh, J. Cryst. Growth 26, 97 (1974).
[CrossRef]

Roberts, D. A.

D. A. Roberts, IEEE J. Quantum Electron. 28, 2057 (1992).
[CrossRef]

Rothschild, M.

V. Liberman, M. Rothschild, J. H. C. Sedlacek, R. S. Uttaro, A. K. Bates, and K. Orvek, Proc. SPIE 4000, 488 (2000).
[CrossRef]

Sedlacek, J. H. C.

V. Liberman, M. Rothschild, J. H. C. Sedlacek, R. S. Uttaro, A. K. Bates, and K. Orvek, Proc. SPIE 4000, 488 (2000).
[CrossRef]

Tatsuki, K.

N. Umezu, T. Fukui, T. Okamoto, H. Wada, K. Tatsuki, K. Kondo, and S. Kubota, Proc. SPIE 3244, 124 (1998).
[CrossRef]

Umezu, N.

N. Umezu, T. Fukui, T. Okamoto, H. Wada, K. Tatsuki, K. Kondo, and S. Kubota, Proc. SPIE 3244, 124 (1998).
[CrossRef]

Uttaro, R. S.

V. Liberman, M. Rothschild, J. H. C. Sedlacek, R. S. Uttaro, A. K. Bates, and K. Orvek, Proc. SPIE 4000, 488 (2000).
[CrossRef]

Wada, H.

N. Umezu, T. Fukui, T. Okamoto, H. Wada, K. Tatsuki, K. Kondo, and S. Kubota, Proc. SPIE 3244, 124 (1998).
[CrossRef]

Wallerafen, F.

K. Recker, F. Wallerafen, and S. Haussueh, J. Cryst. Growth 26, 97 (1974).
[CrossRef]

Wemple, S. H.

M. Eibschutz, H. J. Guggenheim, S. H. Wemple, I. Camlibel, and M. Didomenico, Phys. Lett. A 29, 409 (1969).
[CrossRef]

Appl. Phys. (1)

F. S. Bechthold and S. Hassueh, Appl. Phys. 14, 403 (1977).

IEEE J. Quantum Electron. (1)

D. A. Roberts, IEEE J. Quantum Electron. 28, 2057 (1992).
[CrossRef]

J. Appl. Phys. (1)

J. G. Bergman, G. R. Crane, and H. Guggenheim, J. Appl. Phys. 46, 4645 (1975).
[CrossRef]

J. Chem. Phys. (1)

E. T. Keve, S. C. Abrahams, and J. L. Bernstein, J. Chem. Phys. 51, 4928 (1969).

J. Cryst. Growth (1)

K. Recker, F. Wallerafen, and S. Haussueh, J. Cryst. Growth 26, 97 (1974).
[CrossRef]

J. Opt. Soc. Am. B (1)

Opt. Lett. (1)

Phys. Lett. A (1)

M. Eibschutz, H. J. Guggenheim, S. H. Wemple, I. Camlibel, and M. Didomenico, Phys. Lett. A 29, 409 (1969).
[CrossRef]

Proc. SPIE (3)

N. Umezu, T. Fukui, T. Okamoto, H. Wada, K. Tatsuki, K. Kondo, and S. Kubota, Proc. SPIE 3244, 124 (1998).
[CrossRef]

V. Liberman, M. Rothschild, J. H. C. Sedlacek, R. S. Uttaro, A. K. Bates, and K. Orvek, Proc. SPIE 4000, 488 (2000).
[CrossRef]

J. H. Burnett, R. Gupta, and U. Griesmann, Proc. SPIE 4000, 1503 (2000).
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (3)

Fig. 1
Fig. 1

Short-wavelength transmission and absorption coefficient.

Fig. 2
Fig. 2

Grating periods for first-order QPM (a) second-harmonic generation with d33 and d32 and (b) sum-frequency generation to 193 and 157  nm with d32.

Fig. 3
Fig. 3

Image of periodically inverted domains in BMF, obtained with an environmental scanning electron microscope. The white calibration bar near the bottom of the image is 50 μm in length.

Tables (1)

Tables Icon

Table 1 Measured and Calculated Refractive Indices in BaMgF4

Equations (2)

Equations on this page are rendered with MathJax. Learn more.

nb2=2.07971+0.006897λ2-0.00914,
nc2=2.12832+0.0075537λ2-0.008979,

Metrics