Abstract

Second-harmonic generation, one of the second-order nonlinear optical properties of thermally and electrically poled WO3TeO2 glasses, has been examined. We poled glass samples with two thicknesses (0.60 and 0.86 mm) at various temperatures to explore the effects of external electric field strength and poling temperature on second-order nonlinearity. The dependence of second-harmonic intensity on the poling temperature is maximum at a specific poling temperature. A second-order nonlinear susceptibility of 2.1 pm/V was attained for the 0.60-mm-thick glass poled at 250 °C. This value is fairly large compared with those for poled silica and tellurite glasses reported thus far. We speculate that the large third-order nonlinear susceptibility of WO3TeO2 glasses gives rise to the large second-order nonlinearity by means of a χ2=3χ3Edc process.

© 2000 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. U. Österberg and W. Margulis, Opt. Lett. 11, 516 (1986).
    [CrossRef]
  2. R. A. Myers, N. Mukherjee, and S. R. J. Brueck, Opt. Lett. 16, 1732 (1991).
    [CrossRef] [PubMed]
  3. A. Okada, K. Ishii, K. Mito, and K. Sasaki, Appl. Phys. Lett. 60, 2853 (1992).
    [CrossRef]
  4. H. Nasu, H. Okamoto, A. Mito, J. Matsuoka, and K. Kamiya, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L406 (1993).
    [CrossRef]
  5. P. G. Kazansky, L. Dong, and P. St. J. Russell, Electron. Lett. 30, 1345 (1994).
    [CrossRef]
  6. T. Fujiwara, D. Wong, Y. Zhao, S. Fleming, S. Poole, and M. Sceats, Electron. Lett. 31, 573 (1995).
    [CrossRef]
  7. K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L843 (1993).
    [CrossRef]
  8. K. Tanaka, K. Kashima, K. Kajihara, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Proc. SPIE 2289, 167 (1994).
    [CrossRef]
  9. K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, J. Non-Cryst. Solids 185, 123 (1995).
    [CrossRef]
  10. K. Tanaka, A. Narazaki, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 79, 3798 (1996).
    [CrossRef]
  11. K. Tanaka, A. Narazaki, K. Hirao, and N. Soga, J. Non-Cryst. Solids 203, 49 (1996).
    [CrossRef]
  12. A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 83, 3986 (1998).
    [CrossRef]
  13. A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Am. Ceram. Soc. 81, 2735 (1998).
    [CrossRef]
  14. A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 85, 2046 (1999).
    [CrossRef]
  15. T. Fujiwara, M. Takahashi, and A. J. Ikushima, Appl. Phys. Lett. 71, 1032 (1997).
    [CrossRef]
  16. M. Qiu, F. Pi, and G. Orriols, Appl. Phys. Lett. 73, 3040 (1998).
    [CrossRef]
  17. V. Pruneri, P. G. Kazansky, D. Hewak, J. Wang, H. Takebe, and D. N. Payne, Appl. Phys. Lett. 70, 155 (1997).
    [CrossRef]
  18. A. Narazaki, K. Tanaka, and K. Hirao, Appl. Phys. Lett. 75, 3399 (1999).
    [CrossRef]
  19. P. D. Maker, R. W. Terhune, M. Nisenoff, and C. M. Savage, Phys. Rev. Lett. 8, 21 (1962).
    [CrossRef]
  20. R. A. Myers, X. Long, and S. R. J. Brueck, Proc. SPIE 2289, 98 (1994).
    [CrossRef]
  21. H. Nasu, New Glass 14, 12 (1999; in Japanese).
  22. K. D. Singer, M. G. Kuzyk, and J. E. Sohn, J. Opt. Soc. Am. B 4, 968 (1987).
    [CrossRef]
  23. D. A. Kleinman, Phys. Rev. 126, 1977 (1962).
    [CrossRef]
  24. G. Ghosh, J. Am. Ceram. Soc. 78, 2828 (1995).
    [CrossRef]
  25. A. Berthereau, Y. Le Luyer, R. Olazcuaga, G. Le Flem, M. Couzi, L. Canioni, P. Segonds, L. Sarger, and A. Ducasse, Mater. Res. Bull. 29, 933 (1994).
    [CrossRef]

1999

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 85, 2046 (1999).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, and K. Hirao, Appl. Phys. Lett. 75, 3399 (1999).
[CrossRef]

H. Nasu, New Glass 14, 12 (1999; in Japanese).

1998

M. Qiu, F. Pi, and G. Orriols, Appl. Phys. Lett. 73, 3040 (1998).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 83, 3986 (1998).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Am. Ceram. Soc. 81, 2735 (1998).
[CrossRef]

1997

V. Pruneri, P. G. Kazansky, D. Hewak, J. Wang, H. Takebe, and D. N. Payne, Appl. Phys. Lett. 70, 155 (1997).
[CrossRef]

T. Fujiwara, M. Takahashi, and A. J. Ikushima, Appl. Phys. Lett. 71, 1032 (1997).
[CrossRef]

1996

K. Tanaka, A. Narazaki, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 79, 3798 (1996).
[CrossRef]

K. Tanaka, A. Narazaki, K. Hirao, and N. Soga, J. Non-Cryst. Solids 203, 49 (1996).
[CrossRef]

1995

T. Fujiwara, D. Wong, Y. Zhao, S. Fleming, S. Poole, and M. Sceats, Electron. Lett. 31, 573 (1995).
[CrossRef]

G. Ghosh, J. Am. Ceram. Soc. 78, 2828 (1995).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, J. Non-Cryst. Solids 185, 123 (1995).
[CrossRef]

1994

R. A. Myers, X. Long, and S. R. J. Brueck, Proc. SPIE 2289, 98 (1994).
[CrossRef]

A. Berthereau, Y. Le Luyer, R. Olazcuaga, G. Le Flem, M. Couzi, L. Canioni, P. Segonds, L. Sarger, and A. Ducasse, Mater. Res. Bull. 29, 933 (1994).
[CrossRef]

P. G. Kazansky, L. Dong, and P. St. J. Russell, Electron. Lett. 30, 1345 (1994).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Kajihara, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Proc. SPIE 2289, 167 (1994).
[CrossRef]

1993

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L843 (1993).
[CrossRef]

H. Nasu, H. Okamoto, A. Mito, J. Matsuoka, and K. Kamiya, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L406 (1993).
[CrossRef]

1992

A. Okada, K. Ishii, K. Mito, and K. Sasaki, Appl. Phys. Lett. 60, 2853 (1992).
[CrossRef]

1991

1987

1986

1962

D. A. Kleinman, Phys. Rev. 126, 1977 (1962).
[CrossRef]

P. D. Maker, R. W. Terhune, M. Nisenoff, and C. M. Savage, Phys. Rev. Lett. 8, 21 (1962).
[CrossRef]

Berthereau, A.

A. Berthereau, Y. Le Luyer, R. Olazcuaga, G. Le Flem, M. Couzi, L. Canioni, P. Segonds, L. Sarger, and A. Ducasse, Mater. Res. Bull. 29, 933 (1994).
[CrossRef]

Brueck, S. R. J.

R. A. Myers, X. Long, and S. R. J. Brueck, Proc. SPIE 2289, 98 (1994).
[CrossRef]

R. A. Myers, N. Mukherjee, and S. R. J. Brueck, Opt. Lett. 16, 1732 (1991).
[CrossRef] [PubMed]

Canioni, L.

A. Berthereau, Y. Le Luyer, R. Olazcuaga, G. Le Flem, M. Couzi, L. Canioni, P. Segonds, L. Sarger, and A. Ducasse, Mater. Res. Bull. 29, 933 (1994).
[CrossRef]

Couzi, M.

A. Berthereau, Y. Le Luyer, R. Olazcuaga, G. Le Flem, M. Couzi, L. Canioni, P. Segonds, L. Sarger, and A. Ducasse, Mater. Res. Bull. 29, 933 (1994).
[CrossRef]

Dong, L.

P. G. Kazansky, L. Dong, and P. St. J. Russell, Electron. Lett. 30, 1345 (1994).
[CrossRef]

Ducasse, A.

A. Berthereau, Y. Le Luyer, R. Olazcuaga, G. Le Flem, M. Couzi, L. Canioni, P. Segonds, L. Sarger, and A. Ducasse, Mater. Res. Bull. 29, 933 (1994).
[CrossRef]

Fleming, S.

T. Fujiwara, D. Wong, Y. Zhao, S. Fleming, S. Poole, and M. Sceats, Electron. Lett. 31, 573 (1995).
[CrossRef]

Fujiwara, T.

T. Fujiwara, M. Takahashi, and A. J. Ikushima, Appl. Phys. Lett. 71, 1032 (1997).
[CrossRef]

T. Fujiwara, D. Wong, Y. Zhao, S. Fleming, S. Poole, and M. Sceats, Electron. Lett. 31, 573 (1995).
[CrossRef]

Ghosh, G.

G. Ghosh, J. Am. Ceram. Soc. 78, 2828 (1995).
[CrossRef]

Hewak, D.

V. Pruneri, P. G. Kazansky, D. Hewak, J. Wang, H. Takebe, and D. N. Payne, Appl. Phys. Lett. 70, 155 (1997).
[CrossRef]

Hirao, K.

A. Narazaki, K. Tanaka, and K. Hirao, Appl. Phys. Lett. 75, 3399 (1999).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 85, 2046 (1999).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Am. Ceram. Soc. 81, 2735 (1998).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 83, 3986 (1998).
[CrossRef]

K. Tanaka, A. Narazaki, K. Hirao, and N. Soga, J. Non-Cryst. Solids 203, 49 (1996).
[CrossRef]

K. Tanaka, A. Narazaki, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 79, 3798 (1996).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, J. Non-Cryst. Solids 185, 123 (1995).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Kajihara, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Proc. SPIE 2289, 167 (1994).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L843 (1993).
[CrossRef]

Ikushima, A. J.

T. Fujiwara, M. Takahashi, and A. J. Ikushima, Appl. Phys. Lett. 71, 1032 (1997).
[CrossRef]

Ishii, K.

A. Okada, K. Ishii, K. Mito, and K. Sasaki, Appl. Phys. Lett. 60, 2853 (1992).
[CrossRef]

Kajihara, K.

K. Tanaka, K. Kashima, K. Kajihara, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Proc. SPIE 2289, 167 (1994).
[CrossRef]

Kamiya, K.

H. Nasu, H. Okamoto, A. Mito, J. Matsuoka, and K. Kamiya, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L406 (1993).
[CrossRef]

Kashima, K.

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, J. Non-Cryst. Solids 185, 123 (1995).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Kajihara, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Proc. SPIE 2289, 167 (1994).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L843 (1993).
[CrossRef]

Kazansky, P. G.

V. Pruneri, P. G. Kazansky, D. Hewak, J. Wang, H. Takebe, and D. N. Payne, Appl. Phys. Lett. 70, 155 (1997).
[CrossRef]

P. G. Kazansky, L. Dong, and P. St. J. Russell, Electron. Lett. 30, 1345 (1994).
[CrossRef]

Kleinman, D. A.

D. A. Kleinman, Phys. Rev. 126, 1977 (1962).
[CrossRef]

Kuzyk, M. G.

Le Flem, G.

A. Berthereau, Y. Le Luyer, R. Olazcuaga, G. Le Flem, M. Couzi, L. Canioni, P. Segonds, L. Sarger, and A. Ducasse, Mater. Res. Bull. 29, 933 (1994).
[CrossRef]

Le Luyer, Y.

A. Berthereau, Y. Le Luyer, R. Olazcuaga, G. Le Flem, M. Couzi, L. Canioni, P. Segonds, L. Sarger, and A. Ducasse, Mater. Res. Bull. 29, 933 (1994).
[CrossRef]

Long, X.

R. A. Myers, X. Long, and S. R. J. Brueck, Proc. SPIE 2289, 98 (1994).
[CrossRef]

Maker, P. D.

P. D. Maker, R. W. Terhune, M. Nisenoff, and C. M. Savage, Phys. Rev. Lett. 8, 21 (1962).
[CrossRef]

Margulis, W.

Matsuoka, J.

H. Nasu, H. Okamoto, A. Mito, J. Matsuoka, and K. Kamiya, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L406 (1993).
[CrossRef]

Mito, A.

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, J. Non-Cryst. Solids 185, 123 (1995).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Kajihara, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Proc. SPIE 2289, 167 (1994).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L843 (1993).
[CrossRef]

H. Nasu, H. Okamoto, A. Mito, J. Matsuoka, and K. Kamiya, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L406 (1993).
[CrossRef]

Mito, K.

A. Okada, K. Ishii, K. Mito, and K. Sasaki, Appl. Phys. Lett. 60, 2853 (1992).
[CrossRef]

Mukherjee, N.

Myers, R. A.

R. A. Myers, X. Long, and S. R. J. Brueck, Proc. SPIE 2289, 98 (1994).
[CrossRef]

R. A. Myers, N. Mukherjee, and S. R. J. Brueck, Opt. Lett. 16, 1732 (1991).
[CrossRef] [PubMed]

Narazaki, A.

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 85, 2046 (1999).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, and K. Hirao, Appl. Phys. Lett. 75, 3399 (1999).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Am. Ceram. Soc. 81, 2735 (1998).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 83, 3986 (1998).
[CrossRef]

K. Tanaka, A. Narazaki, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 79, 3798 (1996).
[CrossRef]

K. Tanaka, A. Narazaki, K. Hirao, and N. Soga, J. Non-Cryst. Solids 203, 49 (1996).
[CrossRef]

Nasu, H.

H. Nasu, New Glass 14, 12 (1999; in Japanese).

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, J. Non-Cryst. Solids 185, 123 (1995).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Kajihara, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Proc. SPIE 2289, 167 (1994).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L843 (1993).
[CrossRef]

H. Nasu, H. Okamoto, A. Mito, J. Matsuoka, and K. Kamiya, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L406 (1993).
[CrossRef]

Nisenoff, M.

P. D. Maker, R. W. Terhune, M. Nisenoff, and C. M. Savage, Phys. Rev. Lett. 8, 21 (1962).
[CrossRef]

Okada, A.

A. Okada, K. Ishii, K. Mito, and K. Sasaki, Appl. Phys. Lett. 60, 2853 (1992).
[CrossRef]

Okamoto, H.

H. Nasu, H. Okamoto, A. Mito, J. Matsuoka, and K. Kamiya, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L406 (1993).
[CrossRef]

Olazcuaga, R.

A. Berthereau, Y. Le Luyer, R. Olazcuaga, G. Le Flem, M. Couzi, L. Canioni, P. Segonds, L. Sarger, and A. Ducasse, Mater. Res. Bull. 29, 933 (1994).
[CrossRef]

Orriols, G.

M. Qiu, F. Pi, and G. Orriols, Appl. Phys. Lett. 73, 3040 (1998).
[CrossRef]

Österberg, U.

Payne, D. N.

V. Pruneri, P. G. Kazansky, D. Hewak, J. Wang, H. Takebe, and D. N. Payne, Appl. Phys. Lett. 70, 155 (1997).
[CrossRef]

Pi, F.

M. Qiu, F. Pi, and G. Orriols, Appl. Phys. Lett. 73, 3040 (1998).
[CrossRef]

Poole, S.

T. Fujiwara, D. Wong, Y. Zhao, S. Fleming, S. Poole, and M. Sceats, Electron. Lett. 31, 573 (1995).
[CrossRef]

Pruneri, V.

V. Pruneri, P. G. Kazansky, D. Hewak, J. Wang, H. Takebe, and D. N. Payne, Appl. Phys. Lett. 70, 155 (1997).
[CrossRef]

Qiu, M.

M. Qiu, F. Pi, and G. Orriols, Appl. Phys. Lett. 73, 3040 (1998).
[CrossRef]

Russell, P. St. J.

P. G. Kazansky, L. Dong, and P. St. J. Russell, Electron. Lett. 30, 1345 (1994).
[CrossRef]

Sarger, L.

A. Berthereau, Y. Le Luyer, R. Olazcuaga, G. Le Flem, M. Couzi, L. Canioni, P. Segonds, L. Sarger, and A. Ducasse, Mater. Res. Bull. 29, 933 (1994).
[CrossRef]

Sasaki, K.

A. Okada, K. Ishii, K. Mito, and K. Sasaki, Appl. Phys. Lett. 60, 2853 (1992).
[CrossRef]

Savage, C. M.

P. D. Maker, R. W. Terhune, M. Nisenoff, and C. M. Savage, Phys. Rev. Lett. 8, 21 (1962).
[CrossRef]

Sceats, M.

T. Fujiwara, D. Wong, Y. Zhao, S. Fleming, S. Poole, and M. Sceats, Electron. Lett. 31, 573 (1995).
[CrossRef]

Segonds, P.

A. Berthereau, Y. Le Luyer, R. Olazcuaga, G. Le Flem, M. Couzi, L. Canioni, P. Segonds, L. Sarger, and A. Ducasse, Mater. Res. Bull. 29, 933 (1994).
[CrossRef]

Singer, K. D.

Soga, N.

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 85, 2046 (1999).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Am. Ceram. Soc. 81, 2735 (1998).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 83, 3986 (1998).
[CrossRef]

K. Tanaka, A. Narazaki, K. Hirao, and N. Soga, J. Non-Cryst. Solids 203, 49 (1996).
[CrossRef]

K. Tanaka, A. Narazaki, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 79, 3798 (1996).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, J. Non-Cryst. Solids 185, 123 (1995).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Kajihara, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Proc. SPIE 2289, 167 (1994).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L843 (1993).
[CrossRef]

Sohn, J. E.

Takahashi, M.

T. Fujiwara, M. Takahashi, and A. J. Ikushima, Appl. Phys. Lett. 71, 1032 (1997).
[CrossRef]

Takebe, H.

V. Pruneri, P. G. Kazansky, D. Hewak, J. Wang, H. Takebe, and D. N. Payne, Appl. Phys. Lett. 70, 155 (1997).
[CrossRef]

Tanaka, K.

A. Narazaki, K. Tanaka, and K. Hirao, Appl. Phys. Lett. 75, 3399 (1999).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 85, 2046 (1999).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Am. Ceram. Soc. 81, 2735 (1998).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 83, 3986 (1998).
[CrossRef]

K. Tanaka, A. Narazaki, K. Hirao, and N. Soga, J. Non-Cryst. Solids 203, 49 (1996).
[CrossRef]

K. Tanaka, A. Narazaki, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 79, 3798 (1996).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, J. Non-Cryst. Solids 185, 123 (1995).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Kajihara, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Proc. SPIE 2289, 167 (1994).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L843 (1993).
[CrossRef]

Terhune, R. W.

P. D. Maker, R. W. Terhune, M. Nisenoff, and C. M. Savage, Phys. Rev. Lett. 8, 21 (1962).
[CrossRef]

Wang, J.

V. Pruneri, P. G. Kazansky, D. Hewak, J. Wang, H. Takebe, and D. N. Payne, Appl. Phys. Lett. 70, 155 (1997).
[CrossRef]

Wong, D.

T. Fujiwara, D. Wong, Y. Zhao, S. Fleming, S. Poole, and M. Sceats, Electron. Lett. 31, 573 (1995).
[CrossRef]

Zhao, Y.

T. Fujiwara, D. Wong, Y. Zhao, S. Fleming, S. Poole, and M. Sceats, Electron. Lett. 31, 573 (1995).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett.

A. Okada, K. Ishii, K. Mito, and K. Sasaki, Appl. Phys. Lett. 60, 2853 (1992).
[CrossRef]

T. Fujiwara, M. Takahashi, and A. J. Ikushima, Appl. Phys. Lett. 71, 1032 (1997).
[CrossRef]

M. Qiu, F. Pi, and G. Orriols, Appl. Phys. Lett. 73, 3040 (1998).
[CrossRef]

V. Pruneri, P. G. Kazansky, D. Hewak, J. Wang, H. Takebe, and D. N. Payne, Appl. Phys. Lett. 70, 155 (1997).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, and K. Hirao, Appl. Phys. Lett. 75, 3399 (1999).
[CrossRef]

Electron. Lett.

P. G. Kazansky, L. Dong, and P. St. J. Russell, Electron. Lett. 30, 1345 (1994).
[CrossRef]

T. Fujiwara, D. Wong, Y. Zhao, S. Fleming, S. Poole, and M. Sceats, Electron. Lett. 31, 573 (1995).
[CrossRef]

J. Am. Ceram. Soc.

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Am. Ceram. Soc. 81, 2735 (1998).
[CrossRef]

G. Ghosh, J. Am. Ceram. Soc. 78, 2828 (1995).
[CrossRef]

J. Appl. Phys.

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 85, 2046 (1999).
[CrossRef]

K. Tanaka, A. Narazaki, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 79, 3798 (1996).
[CrossRef]

A. Narazaki, K. Tanaka, K. Hirao, and N. Soga, J. Appl. Phys. 83, 3986 (1998).
[CrossRef]

J. Non-Cryst. Solids

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, J. Non-Cryst. Solids 185, 123 (1995).
[CrossRef]

K. Tanaka, A. Narazaki, K. Hirao, and N. Soga, J. Non-Cryst. Solids 203, 49 (1996).
[CrossRef]

J. Opt. Soc. Am. B

Jpn. J. Appl. Phys.

K. Tanaka, K. Kashima, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L843 (1993).
[CrossRef]

H. Nasu, H. Okamoto, A. Mito, J. Matsuoka, and K. Kamiya, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L406 (1993).
[CrossRef]

Mater. Res. Bull.

A. Berthereau, Y. Le Luyer, R. Olazcuaga, G. Le Flem, M. Couzi, L. Canioni, P. Segonds, L. Sarger, and A. Ducasse, Mater. Res. Bull. 29, 933 (1994).
[CrossRef]

New Glass

H. Nasu, New Glass 14, 12 (1999; in Japanese).

Opt. Lett.

Phys. Rev.

D. A. Kleinman, Phys. Rev. 126, 1977 (1962).
[CrossRef]

Phys. Rev. Lett.

P. D. Maker, R. W. Terhune, M. Nisenoff, and C. M. Savage, Phys. Rev. Lett. 8, 21 (1962).
[CrossRef]

Proc. SPIE

R. A. Myers, X. Long, and S. R. J. Brueck, Proc. SPIE 2289, 98 (1994).
[CrossRef]

K. Tanaka, K. Kashima, K. Kajihara, K. Hirao, N. Soga, A. Mito, and H. Nasu, Proc. SPIE 2289, 167 (1994).
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (3)

Fig. 1
Fig. 1

Dependence of SH intensity on poling temperature for 20WO3·80TeO2 glass samples 0.60 mm (filled circles) and 0.86 mm (open circles) thick.

Fig. 2
Fig. 2

Variation of SH intensity with angle of incidence (Maker fringe pattern) for a 0.60-mm-thick 20WO3·80TeO2 glass sample poled at 250 °C for 20 min. The applied voltage is 3 kV.

Fig. 3
Fig. 3

Dependence of SH intensity on etched thickness for a 0.60-mm-thick 20WO3·80TeO2 glass sample poled at 250 °C for 20 min. The anode-side glass surface was mechanically etched.

Equations (1)

Equations on this page are rendered with MathJax. Learn more.

deff=d332 sin θω cos θω cos θ2ω+cos2 θω+3 sin2 θωsin θ2ω/3,

Metrics