Abstract

We demonstrate that one can seize and translate voids formed by IR femtosecond laser pulses inside silica glass and can also cause two voids to merge into one. We also present clear evidence of a void and its surrounding region by showing scanning electron microscope images of cleaved voids, which we produced by cleaving through the glass along a plane that included a thin laser-ablated line on the surface of the glass and the voids formed inside

© 2000 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. D. Du, X. Liu, G. Korn, J. Squier, and G. Mourou, Appl. Phys. Lett. 64, 3071 (1994).
    [CrossRef]
  2. B. C. Straut, M. D. Feit, A. M. Rubenchik, B. W. Shore, and M. D. Perry, Phys. Rev. Lett. 74, 2248 (1995).
    [CrossRef]
  3. D. von der Linde and H. Schüler, J. Opt. Soc. Am. B 13, 216 (1996).
    [CrossRef]
  4. K. M. Davis, K. Miura, N. Sugimoto, and H. Hirao, Opt. Lett. 21, 1729 (1996).
    [CrossRef] [PubMed]
  5. K. Miura, J. Qiu, H. Inouye, T. Nitsuyu, and K. Hirao, Appl. Phys. Lett. 71, 3329 (1997).
    [CrossRef]
  6. K. Hirao and K. Miura, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L49 (1998).
    [CrossRef]
  7. D. Homoelle, W. Wielandy, A. L. Gaeta, E. F. Borrelli, and C. Smith, Opt. Lett. 24, 1311 (1999).
    [CrossRef]
  8. K. Hirao and K. Miura, Jpn. J. Non-Cryst. Solids 239, 91 (1998).
    [CrossRef]
  9. T. Toma, Y. Furuya, W. Watanabe, J. Nishii, K. Hayashi, and K. Itoh, Opt. Rev. 7, 14 (2000).
    [CrossRef]
  10. H.-B. Sun, Y. Zu, S. Matsuo, and H. Misawa, Opt. Rev. 6, 396 (1999).
    [CrossRef]
  11. E. N. Glezer, M. Milosavljevic, L. Huang, R. J. Finlay, T.-H. Her, J. P. Callan, and E. Mazur, Opt. Lett. 21, 2023 (1996).
    [CrossRef] [PubMed]
  12. E. N. Glezer and E. Mazur, Appl. Phys. Lett. 71, 882 (1997).
    [CrossRef]
  13. J. Qiu, K. Miura, and K. Hirao, Jpn. J. Appl. Phys. 37, 2263 (1998).
    [CrossRef]
  14. M. Watanabe, H. Sun, S. Juodkazis, T. Takahashi, S. Matsuo, Y. Suzuki, J. Nishii, and H. Misawa, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L1527 (1998).
    [CrossRef]
  15. J. A. Squier and M. Müller, Appl. Opt. 38, 5789 (1999).
    [CrossRef]
  16. R. W. Hopper and D. R. Uhlmann, J. Appl. Phys. 41, 4023 (1970).
    [CrossRef]

2000

T. Toma, Y. Furuya, W. Watanabe, J. Nishii, K. Hayashi, and K. Itoh, Opt. Rev. 7, 14 (2000).
[CrossRef]

1999

1998

K. Hirao and K. Miura, Jpn. J. Non-Cryst. Solids 239, 91 (1998).
[CrossRef]

K. Hirao and K. Miura, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L49 (1998).
[CrossRef]

J. Qiu, K. Miura, and K. Hirao, Jpn. J. Appl. Phys. 37, 2263 (1998).
[CrossRef]

M. Watanabe, H. Sun, S. Juodkazis, T. Takahashi, S. Matsuo, Y. Suzuki, J. Nishii, and H. Misawa, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L1527 (1998).
[CrossRef]

1997

E. N. Glezer and E. Mazur, Appl. Phys. Lett. 71, 882 (1997).
[CrossRef]

K. Miura, J. Qiu, H. Inouye, T. Nitsuyu, and K. Hirao, Appl. Phys. Lett. 71, 3329 (1997).
[CrossRef]

1996

1995

B. C. Straut, M. D. Feit, A. M. Rubenchik, B. W. Shore, and M. D. Perry, Phys. Rev. Lett. 74, 2248 (1995).
[CrossRef]

1994

D. Du, X. Liu, G. Korn, J. Squier, and G. Mourou, Appl. Phys. Lett. 64, 3071 (1994).
[CrossRef]

1970

R. W. Hopper and D. R. Uhlmann, J. Appl. Phys. 41, 4023 (1970).
[CrossRef]

Borrelli, E. F.

Callan, J. P.

Davis, K. M.

Du, D.

D. Du, X. Liu, G. Korn, J. Squier, and G. Mourou, Appl. Phys. Lett. 64, 3071 (1994).
[CrossRef]

Feit, M. D.

B. C. Straut, M. D. Feit, A. M. Rubenchik, B. W. Shore, and M. D. Perry, Phys. Rev. Lett. 74, 2248 (1995).
[CrossRef]

Finlay, R. J.

Furuya, Y.

T. Toma, Y. Furuya, W. Watanabe, J. Nishii, K. Hayashi, and K. Itoh, Opt. Rev. 7, 14 (2000).
[CrossRef]

Gaeta, A. L.

Glezer, E. N.

Hayashi, K.

T. Toma, Y. Furuya, W. Watanabe, J. Nishii, K. Hayashi, and K. Itoh, Opt. Rev. 7, 14 (2000).
[CrossRef]

Her, T.-H.

Hirao, H.

Hirao, K.

K. Hirao and K. Miura, Jpn. J. Non-Cryst. Solids 239, 91 (1998).
[CrossRef]

K. Hirao and K. Miura, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L49 (1998).
[CrossRef]

J. Qiu, K. Miura, and K. Hirao, Jpn. J. Appl. Phys. 37, 2263 (1998).
[CrossRef]

K. Miura, J. Qiu, H. Inouye, T. Nitsuyu, and K. Hirao, Appl. Phys. Lett. 71, 3329 (1997).
[CrossRef]

Homoelle, D.

Hopper, R. W.

R. W. Hopper and D. R. Uhlmann, J. Appl. Phys. 41, 4023 (1970).
[CrossRef]

Huang, L.

Inouye, H.

K. Miura, J. Qiu, H. Inouye, T. Nitsuyu, and K. Hirao, Appl. Phys. Lett. 71, 3329 (1997).
[CrossRef]

Itoh, K.

T. Toma, Y. Furuya, W. Watanabe, J. Nishii, K. Hayashi, and K. Itoh, Opt. Rev. 7, 14 (2000).
[CrossRef]

Juodkazis, S.

M. Watanabe, H. Sun, S. Juodkazis, T. Takahashi, S. Matsuo, Y. Suzuki, J. Nishii, and H. Misawa, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L1527 (1998).
[CrossRef]

Korn, G.

D. Du, X. Liu, G. Korn, J. Squier, and G. Mourou, Appl. Phys. Lett. 64, 3071 (1994).
[CrossRef]

Liu, X.

D. Du, X. Liu, G. Korn, J. Squier, and G. Mourou, Appl. Phys. Lett. 64, 3071 (1994).
[CrossRef]

Matsuo, S.

H.-B. Sun, Y. Zu, S. Matsuo, and H. Misawa, Opt. Rev. 6, 396 (1999).
[CrossRef]

M. Watanabe, H. Sun, S. Juodkazis, T. Takahashi, S. Matsuo, Y. Suzuki, J. Nishii, and H. Misawa, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L1527 (1998).
[CrossRef]

Mazur, E.

Milosavljevic, M.

Misawa, H.

H.-B. Sun, Y. Zu, S. Matsuo, and H. Misawa, Opt. Rev. 6, 396 (1999).
[CrossRef]

M. Watanabe, H. Sun, S. Juodkazis, T. Takahashi, S. Matsuo, Y. Suzuki, J. Nishii, and H. Misawa, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L1527 (1998).
[CrossRef]

Miura, K.

J. Qiu, K. Miura, and K. Hirao, Jpn. J. Appl. Phys. 37, 2263 (1998).
[CrossRef]

K. Hirao and K. Miura, Jpn. J. Non-Cryst. Solids 239, 91 (1998).
[CrossRef]

K. Hirao and K. Miura, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L49 (1998).
[CrossRef]

K. Miura, J. Qiu, H. Inouye, T. Nitsuyu, and K. Hirao, Appl. Phys. Lett. 71, 3329 (1997).
[CrossRef]

K. M. Davis, K. Miura, N. Sugimoto, and H. Hirao, Opt. Lett. 21, 1729 (1996).
[CrossRef] [PubMed]

Mourou, G.

D. Du, X. Liu, G. Korn, J. Squier, and G. Mourou, Appl. Phys. Lett. 64, 3071 (1994).
[CrossRef]

Müller, M.

Nishii, J.

T. Toma, Y. Furuya, W. Watanabe, J. Nishii, K. Hayashi, and K. Itoh, Opt. Rev. 7, 14 (2000).
[CrossRef]

M. Watanabe, H. Sun, S. Juodkazis, T. Takahashi, S. Matsuo, Y. Suzuki, J. Nishii, and H. Misawa, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L1527 (1998).
[CrossRef]

Nitsuyu, T.

K. Miura, J. Qiu, H. Inouye, T. Nitsuyu, and K. Hirao, Appl. Phys. Lett. 71, 3329 (1997).
[CrossRef]

Perry, M. D.

B. C. Straut, M. D. Feit, A. M. Rubenchik, B. W. Shore, and M. D. Perry, Phys. Rev. Lett. 74, 2248 (1995).
[CrossRef]

Qiu, J.

J. Qiu, K. Miura, and K. Hirao, Jpn. J. Appl. Phys. 37, 2263 (1998).
[CrossRef]

K. Miura, J. Qiu, H. Inouye, T. Nitsuyu, and K. Hirao, Appl. Phys. Lett. 71, 3329 (1997).
[CrossRef]

Rubenchik, A. M.

B. C. Straut, M. D. Feit, A. M. Rubenchik, B. W. Shore, and M. D. Perry, Phys. Rev. Lett. 74, 2248 (1995).
[CrossRef]

Schüler, H.

Shore, B. W.

B. C. Straut, M. D. Feit, A. M. Rubenchik, B. W. Shore, and M. D. Perry, Phys. Rev. Lett. 74, 2248 (1995).
[CrossRef]

Smith, C.

Squier, J.

D. Du, X. Liu, G. Korn, J. Squier, and G. Mourou, Appl. Phys. Lett. 64, 3071 (1994).
[CrossRef]

Squier, J. A.

Straut, B. C.

B. C. Straut, M. D. Feit, A. M. Rubenchik, B. W. Shore, and M. D. Perry, Phys. Rev. Lett. 74, 2248 (1995).
[CrossRef]

Sugimoto, N.

Sun, H.

M. Watanabe, H. Sun, S. Juodkazis, T. Takahashi, S. Matsuo, Y. Suzuki, J. Nishii, and H. Misawa, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L1527 (1998).
[CrossRef]

Sun, H.-B.

H.-B. Sun, Y. Zu, S. Matsuo, and H. Misawa, Opt. Rev. 6, 396 (1999).
[CrossRef]

Suzuki, Y.

M. Watanabe, H. Sun, S. Juodkazis, T. Takahashi, S. Matsuo, Y. Suzuki, J. Nishii, and H. Misawa, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L1527 (1998).
[CrossRef]

Takahashi, T.

M. Watanabe, H. Sun, S. Juodkazis, T. Takahashi, S. Matsuo, Y. Suzuki, J. Nishii, and H. Misawa, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L1527 (1998).
[CrossRef]

Toma, T.

T. Toma, Y. Furuya, W. Watanabe, J. Nishii, K. Hayashi, and K. Itoh, Opt. Rev. 7, 14 (2000).
[CrossRef]

Uhlmann, D. R.

R. W. Hopper and D. R. Uhlmann, J. Appl. Phys. 41, 4023 (1970).
[CrossRef]

von der Linde, D.

Watanabe, M.

M. Watanabe, H. Sun, S. Juodkazis, T. Takahashi, S. Matsuo, Y. Suzuki, J. Nishii, and H. Misawa, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L1527 (1998).
[CrossRef]

Watanabe, W.

T. Toma, Y. Furuya, W. Watanabe, J. Nishii, K. Hayashi, and K. Itoh, Opt. Rev. 7, 14 (2000).
[CrossRef]

Wielandy, W.

Zu, Y.

H.-B. Sun, Y. Zu, S. Matsuo, and H. Misawa, Opt. Rev. 6, 396 (1999).
[CrossRef]

Appl. Opt.

Appl. Phys. Lett.

E. N. Glezer and E. Mazur, Appl. Phys. Lett. 71, 882 (1997).
[CrossRef]

D. Du, X. Liu, G. Korn, J. Squier, and G. Mourou, Appl. Phys. Lett. 64, 3071 (1994).
[CrossRef]

K. Miura, J. Qiu, H. Inouye, T. Nitsuyu, and K. Hirao, Appl. Phys. Lett. 71, 3329 (1997).
[CrossRef]

J. Appl. Phys.

R. W. Hopper and D. R. Uhlmann, J. Appl. Phys. 41, 4023 (1970).
[CrossRef]

J. Opt. Soc. Am. B

Jpn. J. Appl. Phys.

K. Hirao and K. Miura, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L49 (1998).
[CrossRef]

J. Qiu, K. Miura, and K. Hirao, Jpn. J. Appl. Phys. 37, 2263 (1998).
[CrossRef]

M. Watanabe, H. Sun, S. Juodkazis, T. Takahashi, S. Matsuo, Y. Suzuki, J. Nishii, and H. Misawa, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L1527 (1998).
[CrossRef]

Jpn. J. Non-Cryst. Solids

K. Hirao and K. Miura, Jpn. J. Non-Cryst. Solids 239, 91 (1998).
[CrossRef]

Opt. Lett.

Opt. Rev.

T. Toma, Y. Furuya, W. Watanabe, J. Nishii, K. Hayashi, and K. Itoh, Opt. Rev. 7, 14 (2000).
[CrossRef]

H.-B. Sun, Y. Zu, S. Matsuo, and H. Misawa, Opt. Rev. 6, 396 (1999).
[CrossRef]

Phys. Rev. Lett.

B. C. Straut, M. D. Feit, A. M. Rubenchik, B. W. Shore, and M. D. Perry, Phys. Rev. Lett. 74, 2248 (1995).
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (5)

Fig. 1
Fig. 1

Schematic of the experimental setup for creation by femtosecond laser pulses and in situ observation of voids in silica glass.

Fig. 2
Fig. 2

(a)–(d) Side views of optical seizing and movement of a void. (e) Central void is moved toward the input plane by 5 µm.

Fig. 3
Fig. 3

Optical movement of arbitrary voids: (a) creation of voids, (b) movement of the fourth void, (c) movement of the second void.

Fig. 4
Fig. 4

Optical merging of two voids into one.

Fig. 5
Fig. 5

SEM image of a cleaved void.

Metrics