Abstract

We report on the fabrication of in-fiber moiré filters by dual exposure of a nondedicated chirped phase mask. This simple technique produces broadband filters whose structure depends only on an intermediate stretch between two identical UV exposures. We demonstrate moiré filters with as many as four narrow passbands within a 2-nm stopband.

© 1997 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. D. C. J. Reid, C. M. Ragdale, I. Bennion, D. J. Robbins, and W. J. Stewart, Electron. Lett. 26, 12 (1990).
    [CrossRef]
  2. S. Legoubin, E. Fertein, M. Douay, P. Bernage, P. Niay, F. Bayon, and T. Georges, Electron. Lett. 27, 1945 (1991).
    [CrossRef]
  3. L. Zhang, K. Sugden, I. Bennion, and A. Molony, Electron. Lett. 31, 477 (1995).
    [CrossRef]
  4. J. Canning and M. G. Sceats, Electron. Lett. 30, 1344 (1994).
    [CrossRef]
  5. D. Uttamchandani and A. Othonos, Opt. Commun. 127, 200 (1996).
    [CrossRef]
  6. K. O. Hill, B. Malo, F. Bilodeau, D. C. Johnson, and J. Albert, Appl. Phys. Lett. 62, 10 (1993).
    [CrossRef]
  7. W. H. Loh, M. J. Cole, M. N. Zervas, S. Barcelos, and R. J. Laming, Opt. Lett. 20, 2051 (1995).
    [CrossRef] [PubMed]
  8. R. Kashyap, P. F. McKee, and D. Armes, Electron. Lett. 30, 1977 (1994).
    [CrossRef]
  9. J. Albert, K. O. Hill, D. C. Johnson, F. Bilodeau, and M. J. Rooks, Electron. Lett. 32, 2260 (1996).
    [CrossRef]
  10. Q. Zhang, D. A. Brown, L. Reinhart, T. F. Morse, J. Q. Wang, and G. Xiao, Electron. Lett. 6, 839 (1994).
  11. S. Radic, N. George, and G. P. Agrawal, IEEE J. Quantum Electron. 31, 1326 (1995).
    [CrossRef]
  12. D. M. Tennant, T. L. Koch, P. P. Mulgrew, and R. P. Gnall, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 2530 (1992).
    [CrossRef]
  13. X. Liu, J. S. Aitchison, R. M. De La Rue, S. Thoms, L. Zhang, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Microelectron. Eng. 35, 345 (1997).
    [CrossRef]
  14. K. Sugden, L. A. Everall, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Proc. SPIE 2998, 29 (1997).
    [CrossRef]

1997 (2)

X. Liu, J. S. Aitchison, R. M. De La Rue, S. Thoms, L. Zhang, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Microelectron. Eng. 35, 345 (1997).
[CrossRef]

K. Sugden, L. A. Everall, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Proc. SPIE 2998, 29 (1997).
[CrossRef]

1996 (2)

D. Uttamchandani and A. Othonos, Opt. Commun. 127, 200 (1996).
[CrossRef]

J. Albert, K. O. Hill, D. C. Johnson, F. Bilodeau, and M. J. Rooks, Electron. Lett. 32, 2260 (1996).
[CrossRef]

1995 (3)

L. Zhang, K. Sugden, I. Bennion, and A. Molony, Electron. Lett. 31, 477 (1995).
[CrossRef]

W. H. Loh, M. J. Cole, M. N. Zervas, S. Barcelos, and R. J. Laming, Opt. Lett. 20, 2051 (1995).
[CrossRef] [PubMed]

S. Radic, N. George, and G. P. Agrawal, IEEE J. Quantum Electron. 31, 1326 (1995).
[CrossRef]

1994 (3)

R. Kashyap, P. F. McKee, and D. Armes, Electron. Lett. 30, 1977 (1994).
[CrossRef]

J. Canning and M. G. Sceats, Electron. Lett. 30, 1344 (1994).
[CrossRef]

Q. Zhang, D. A. Brown, L. Reinhart, T. F. Morse, J. Q. Wang, and G. Xiao, Electron. Lett. 6, 839 (1994).

1993 (1)

K. O. Hill, B. Malo, F. Bilodeau, D. C. Johnson, and J. Albert, Appl. Phys. Lett. 62, 10 (1993).
[CrossRef]

1992 (1)

D. M. Tennant, T. L. Koch, P. P. Mulgrew, and R. P. Gnall, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 2530 (1992).
[CrossRef]

1991 (1)

S. Legoubin, E. Fertein, M. Douay, P. Bernage, P. Niay, F. Bayon, and T. Georges, Electron. Lett. 27, 1945 (1991).
[CrossRef]

1990 (1)

D. C. J. Reid, C. M. Ragdale, I. Bennion, D. J. Robbins, and W. J. Stewart, Electron. Lett. 26, 12 (1990).
[CrossRef]

Agrawal, G. P.

S. Radic, N. George, and G. P. Agrawal, IEEE J. Quantum Electron. 31, 1326 (1995).
[CrossRef]

Aitchison, J. S.

X. Liu, J. S. Aitchison, R. M. De La Rue, S. Thoms, L. Zhang, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Microelectron. Eng. 35, 345 (1997).
[CrossRef]

Albert, J.

J. Albert, K. O. Hill, D. C. Johnson, F. Bilodeau, and M. J. Rooks, Electron. Lett. 32, 2260 (1996).
[CrossRef]

K. O. Hill, B. Malo, F. Bilodeau, D. C. Johnson, and J. Albert, Appl. Phys. Lett. 62, 10 (1993).
[CrossRef]

Armes, D.

R. Kashyap, P. F. McKee, and D. Armes, Electron. Lett. 30, 1977 (1994).
[CrossRef]

Barcelos, S.

Bayon, F.

S. Legoubin, E. Fertein, M. Douay, P. Bernage, P. Niay, F. Bayon, and T. Georges, Electron. Lett. 27, 1945 (1991).
[CrossRef]

Bennion, I.

X. Liu, J. S. Aitchison, R. M. De La Rue, S. Thoms, L. Zhang, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Microelectron. Eng. 35, 345 (1997).
[CrossRef]

K. Sugden, L. A. Everall, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Proc. SPIE 2998, 29 (1997).
[CrossRef]

L. Zhang, K. Sugden, I. Bennion, and A. Molony, Electron. Lett. 31, 477 (1995).
[CrossRef]

D. C. J. Reid, C. M. Ragdale, I. Bennion, D. J. Robbins, and W. J. Stewart, Electron. Lett. 26, 12 (1990).
[CrossRef]

Bernage, P.

S. Legoubin, E. Fertein, M. Douay, P. Bernage, P. Niay, F. Bayon, and T. Georges, Electron. Lett. 27, 1945 (1991).
[CrossRef]

Bilodeau, F.

J. Albert, K. O. Hill, D. C. Johnson, F. Bilodeau, and M. J. Rooks, Electron. Lett. 32, 2260 (1996).
[CrossRef]

K. O. Hill, B. Malo, F. Bilodeau, D. C. Johnson, and J. Albert, Appl. Phys. Lett. 62, 10 (1993).
[CrossRef]

Brown, D. A.

Q. Zhang, D. A. Brown, L. Reinhart, T. F. Morse, J. Q. Wang, and G. Xiao, Electron. Lett. 6, 839 (1994).

Canning, J.

J. Canning and M. G. Sceats, Electron. Lett. 30, 1344 (1994).
[CrossRef]

Cole, M. J.

De La Rue, R. M.

X. Liu, J. S. Aitchison, R. M. De La Rue, S. Thoms, L. Zhang, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Microelectron. Eng. 35, 345 (1997).
[CrossRef]

Douay, M.

S. Legoubin, E. Fertein, M. Douay, P. Bernage, P. Niay, F. Bayon, and T. Georges, Electron. Lett. 27, 1945 (1991).
[CrossRef]

Everall, L. A.

K. Sugden, L. A. Everall, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Proc. SPIE 2998, 29 (1997).
[CrossRef]

Fertein, E.

S. Legoubin, E. Fertein, M. Douay, P. Bernage, P. Niay, F. Bayon, and T. Georges, Electron. Lett. 27, 1945 (1991).
[CrossRef]

George, N.

S. Radic, N. George, and G. P. Agrawal, IEEE J. Quantum Electron. 31, 1326 (1995).
[CrossRef]

Georges, T.

S. Legoubin, E. Fertein, M. Douay, P. Bernage, P. Niay, F. Bayon, and T. Georges, Electron. Lett. 27, 1945 (1991).
[CrossRef]

Gnall, R. P.

D. M. Tennant, T. L. Koch, P. P. Mulgrew, and R. P. Gnall, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 2530 (1992).
[CrossRef]

Hill, K. O.

J. Albert, K. O. Hill, D. C. Johnson, F. Bilodeau, and M. J. Rooks, Electron. Lett. 32, 2260 (1996).
[CrossRef]

K. O. Hill, B. Malo, F. Bilodeau, D. C. Johnson, and J. Albert, Appl. Phys. Lett. 62, 10 (1993).
[CrossRef]

Johnson, D. C.

J. Albert, K. O. Hill, D. C. Johnson, F. Bilodeau, and M. J. Rooks, Electron. Lett. 32, 2260 (1996).
[CrossRef]

K. O. Hill, B. Malo, F. Bilodeau, D. C. Johnson, and J. Albert, Appl. Phys. Lett. 62, 10 (1993).
[CrossRef]

Kashyap, R.

R. Kashyap, P. F. McKee, and D. Armes, Electron. Lett. 30, 1977 (1994).
[CrossRef]

Koch, T. L.

D. M. Tennant, T. L. Koch, P. P. Mulgrew, and R. P. Gnall, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 2530 (1992).
[CrossRef]

Laming, R. J.

Legoubin, S.

S. Legoubin, E. Fertein, M. Douay, P. Bernage, P. Niay, F. Bayon, and T. Georges, Electron. Lett. 27, 1945 (1991).
[CrossRef]

Liu, X.

X. Liu, J. S. Aitchison, R. M. De La Rue, S. Thoms, L. Zhang, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Microelectron. Eng. 35, 345 (1997).
[CrossRef]

Loh, W. H.

Malo, B.

K. O. Hill, B. Malo, F. Bilodeau, D. C. Johnson, and J. Albert, Appl. Phys. Lett. 62, 10 (1993).
[CrossRef]

McKee, P. F.

R. Kashyap, P. F. McKee, and D. Armes, Electron. Lett. 30, 1977 (1994).
[CrossRef]

Molony, A.

L. Zhang, K. Sugden, I. Bennion, and A. Molony, Electron. Lett. 31, 477 (1995).
[CrossRef]

Morse, T. F.

Q. Zhang, D. A. Brown, L. Reinhart, T. F. Morse, J. Q. Wang, and G. Xiao, Electron. Lett. 6, 839 (1994).

Mulgrew, P. P.

D. M. Tennant, T. L. Koch, P. P. Mulgrew, and R. P. Gnall, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 2530 (1992).
[CrossRef]

Niay, P.

S. Legoubin, E. Fertein, M. Douay, P. Bernage, P. Niay, F. Bayon, and T. Georges, Electron. Lett. 27, 1945 (1991).
[CrossRef]

Othonos, A.

D. Uttamchandani and A. Othonos, Opt. Commun. 127, 200 (1996).
[CrossRef]

Radic, S.

S. Radic, N. George, and G. P. Agrawal, IEEE J. Quantum Electron. 31, 1326 (1995).
[CrossRef]

Ragdale, C. M.

D. C. J. Reid, C. M. Ragdale, I. Bennion, D. J. Robbins, and W. J. Stewart, Electron. Lett. 26, 12 (1990).
[CrossRef]

Reid, D. C. J.

D. C. J. Reid, C. M. Ragdale, I. Bennion, D. J. Robbins, and W. J. Stewart, Electron. Lett. 26, 12 (1990).
[CrossRef]

Reinhart, L.

Q. Zhang, D. A. Brown, L. Reinhart, T. F. Morse, J. Q. Wang, and G. Xiao, Electron. Lett. 6, 839 (1994).

Robbins, D. J.

D. C. J. Reid, C. M. Ragdale, I. Bennion, D. J. Robbins, and W. J. Stewart, Electron. Lett. 26, 12 (1990).
[CrossRef]

Rooks, M. J.

J. Albert, K. O. Hill, D. C. Johnson, F. Bilodeau, and M. J. Rooks, Electron. Lett. 32, 2260 (1996).
[CrossRef]

Sceats, M. G.

J. Canning and M. G. Sceats, Electron. Lett. 30, 1344 (1994).
[CrossRef]

Stewart, W. J.

D. C. J. Reid, C. M. Ragdale, I. Bennion, D. J. Robbins, and W. J. Stewart, Electron. Lett. 26, 12 (1990).
[CrossRef]

Sugden, K.

K. Sugden, L. A. Everall, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Proc. SPIE 2998, 29 (1997).
[CrossRef]

L. Zhang, K. Sugden, I. Bennion, and A. Molony, Electron. Lett. 31, 477 (1995).
[CrossRef]

Tennant, D. M.

D. M. Tennant, T. L. Koch, P. P. Mulgrew, and R. P. Gnall, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 2530 (1992).
[CrossRef]

Thoms, S.

X. Liu, J. S. Aitchison, R. M. De La Rue, S. Thoms, L. Zhang, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Microelectron. Eng. 35, 345 (1997).
[CrossRef]

Uttamchandani, D.

D. Uttamchandani and A. Othonos, Opt. Commun. 127, 200 (1996).
[CrossRef]

Wang, J. Q.

Q. Zhang, D. A. Brown, L. Reinhart, T. F. Morse, J. Q. Wang, and G. Xiao, Electron. Lett. 6, 839 (1994).

Williams, J. A. R.

X. Liu, J. S. Aitchison, R. M. De La Rue, S. Thoms, L. Zhang, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Microelectron. Eng. 35, 345 (1997).
[CrossRef]

K. Sugden, L. A. Everall, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Proc. SPIE 2998, 29 (1997).
[CrossRef]

Xiao, G.

Q. Zhang, D. A. Brown, L. Reinhart, T. F. Morse, J. Q. Wang, and G. Xiao, Electron. Lett. 6, 839 (1994).

Zervas, M. N.

Zhang, L.

X. Liu, J. S. Aitchison, R. M. De La Rue, S. Thoms, L. Zhang, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Microelectron. Eng. 35, 345 (1997).
[CrossRef]

L. Zhang, K. Sugden, I. Bennion, and A. Molony, Electron. Lett. 31, 477 (1995).
[CrossRef]

Zhang, Q.

Q. Zhang, D. A. Brown, L. Reinhart, T. F. Morse, J. Q. Wang, and G. Xiao, Electron. Lett. 6, 839 (1994).

Appl. Phys. Lett. (1)

K. O. Hill, B. Malo, F. Bilodeau, D. C. Johnson, and J. Albert, Appl. Phys. Lett. 62, 10 (1993).
[CrossRef]

Electron. Lett. (7)

R. Kashyap, P. F. McKee, and D. Armes, Electron. Lett. 30, 1977 (1994).
[CrossRef]

J. Albert, K. O. Hill, D. C. Johnson, F. Bilodeau, and M. J. Rooks, Electron. Lett. 32, 2260 (1996).
[CrossRef]

Q. Zhang, D. A. Brown, L. Reinhart, T. F. Morse, J. Q. Wang, and G. Xiao, Electron. Lett. 6, 839 (1994).

D. C. J. Reid, C. M. Ragdale, I. Bennion, D. J. Robbins, and W. J. Stewart, Electron. Lett. 26, 12 (1990).
[CrossRef]

S. Legoubin, E. Fertein, M. Douay, P. Bernage, P. Niay, F. Bayon, and T. Georges, Electron. Lett. 27, 1945 (1991).
[CrossRef]

L. Zhang, K. Sugden, I. Bennion, and A. Molony, Electron. Lett. 31, 477 (1995).
[CrossRef]

J. Canning and M. G. Sceats, Electron. Lett. 30, 1344 (1994).
[CrossRef]

IEEE J. Quantum Electron. (1)

S. Radic, N. George, and G. P. Agrawal, IEEE J. Quantum Electron. 31, 1326 (1995).
[CrossRef]

J. Vac. Sci. Technol. B (1)

D. M. Tennant, T. L. Koch, P. P. Mulgrew, and R. P. Gnall, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 2530 (1992).
[CrossRef]

Microelectron. Eng. (1)

X. Liu, J. S. Aitchison, R. M. De La Rue, S. Thoms, L. Zhang, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Microelectron. Eng. 35, 345 (1997).
[CrossRef]

Opt. Commun. (1)

D. Uttamchandani and A. Othonos, Opt. Commun. 127, 200 (1996).
[CrossRef]

Opt. Lett. (1)

Proc. SPIE (1)

K. Sugden, L. A. Everall, J. A. R. Williams, and I. Bennion, Proc. SPIE 2998, 29 (1997).
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (4)

Fig. 1
Fig. 1

Fabrication of moiré gratings with a chirped phase mask; the fiber is stretched between UV exposures.

Fig. 2
Fig. 2

Modeled responses of moiré gratings: (a) superposition of two 1-cm-long gratings of wavelengths 1550 and 1550.4  nm; amplitude of the refractive index, Δn=2×10-4; bandwidth, 3  nm; (b) Δn increased to 5×10-4; (c) bandwidth decreased to 1.5  nm; (d) wavelength of the second grating reduced to 1550.2  nm.

Fig. 3
Fig. 3

Direct comparison between a modeled and an experimentally obtained moiré resonator containing two passbands. Solid curve, modeled data; dotted curve, experimental result.

Fig. 4
Fig. 4

Chirped moiré filters: (a) three-passband device from a 0.24-nm wavelength shift, (b) four-passband filter with a 0.28-nm shift between exposures.

Equations (2)

Equations on this page are rendered with MathJax. Learn more.

Δnz=Δn2+2 cos 2πzΛc cos 2πzΛs,
Δλλ=ΔΛΛ+Δnn,

Metrics