Abstract

Fiber-optic magnetic sensors based on magnetostriction yield 1/f-type noise, which has typically been limiting the sensors’ resolution at frequencies below 1 Hz. To study the origin of this noise, we devised a new experimental technique that discriminates between the transducer self-noise and various other noise sources and determines under which conditions the limiting noise source is the material’s self-noise.

© 1994 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. D. M. Dagenais, F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, Electron. Lett. 24, 1422 (1988).
    [CrossRef]
  2. F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
    [CrossRef]
  3. F. Bucholtz, in Fiber Optic Sensors, E. Udd, ed. (Wiley, New York, 1990), Chap. 12, Sec. 3.
  4. J. D. Livingston, Phys. Status Solidi 70, 591 (1982).
    [CrossRef]
  5. K. P. Koo, D. M. Dagenais, F. Bucholtz, A. Dandridge, Proc. Soc. Photo-Opt. Instrum. Eng. 1169, 190 (1989).
  6. D. M. Dagenais, F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, J. Lightwave Technol. 7, 881 (1989).
    [CrossRef]
  7. D. M. Dagenais, K. P. Koo, A. Dandridge, IEEE Photon. Technol. Lett. 4, 5 (1992).
    [CrossRef]
  8. D. K. Lottis, R. M. White, Phys. Rev. Lett. 67, 362 (1991).
    [CrossRef] [PubMed]
  9. F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, G. H. Sigel, J. Magn. Magn. Mater. 54-57, 1607 (1986).
    [CrossRef]
  10. F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, J. Lightwave Technol. 6, 4 (1988).
    [CrossRef]
  11. H. Kronmuller, N. Moser, in Amorphous Metallic Alloys, F. E. Luborsky, ed. (Butterworth, London, 1983), Chap. 18.

1993 (1)

F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
[CrossRef]

1992 (1)

D. M. Dagenais, K. P. Koo, A. Dandridge, IEEE Photon. Technol. Lett. 4, 5 (1992).
[CrossRef]

1991 (1)

D. K. Lottis, R. M. White, Phys. Rev. Lett. 67, 362 (1991).
[CrossRef] [PubMed]

1989 (2)

K. P. Koo, D. M. Dagenais, F. Bucholtz, A. Dandridge, Proc. Soc. Photo-Opt. Instrum. Eng. 1169, 190 (1989).

D. M. Dagenais, F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, J. Lightwave Technol. 7, 881 (1989).
[CrossRef]

1988 (2)

D. M. Dagenais, F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, Electron. Lett. 24, 1422 (1988).
[CrossRef]

F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, J. Lightwave Technol. 6, 4 (1988).
[CrossRef]

1986 (1)

F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, G. H. Sigel, J. Magn. Magn. Mater. 54-57, 1607 (1986).
[CrossRef]

1982 (1)

J. D. Livingston, Phys. Status Solidi 70, 591 (1982).
[CrossRef]

Bucholtz, F.

F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
[CrossRef]

K. P. Koo, D. M. Dagenais, F. Bucholtz, A. Dandridge, Proc. Soc. Photo-Opt. Instrum. Eng. 1169, 190 (1989).

D. M. Dagenais, F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, J. Lightwave Technol. 7, 881 (1989).
[CrossRef]

D. M. Dagenais, F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, Electron. Lett. 24, 1422 (1988).
[CrossRef]

F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, J. Lightwave Technol. 6, 4 (1988).
[CrossRef]

F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, G. H. Sigel, J. Magn. Magn. Mater. 54-57, 1607 (1986).
[CrossRef]

F. Bucholtz, in Fiber Optic Sensors, E. Udd, ed. (Wiley, New York, 1990), Chap. 12, Sec. 3.

Dagenais, D. M.

F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
[CrossRef]

D. M. Dagenais, K. P. Koo, A. Dandridge, IEEE Photon. Technol. Lett. 4, 5 (1992).
[CrossRef]

K. P. Koo, D. M. Dagenais, F. Bucholtz, A. Dandridge, Proc. Soc. Photo-Opt. Instrum. Eng. 1169, 190 (1989).

D. M. Dagenais, F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, J. Lightwave Technol. 7, 881 (1989).
[CrossRef]

D. M. Dagenais, F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, Electron. Lett. 24, 1422 (1988).
[CrossRef]

Dandridge, A.

F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
[CrossRef]

D. M. Dagenais, K. P. Koo, A. Dandridge, IEEE Photon. Technol. Lett. 4, 5 (1992).
[CrossRef]

K. P. Koo, D. M. Dagenais, F. Bucholtz, A. Dandridge, Proc. Soc. Photo-Opt. Instrum. Eng. 1169, 190 (1989).

D. M. Dagenais, F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, J. Lightwave Technol. 7, 881 (1989).
[CrossRef]

F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, J. Lightwave Technol. 6, 4 (1988).
[CrossRef]

D. M. Dagenais, F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, Electron. Lett. 24, 1422 (1988).
[CrossRef]

F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, G. H. Sigel, J. Magn. Magn. Mater. 54-57, 1607 (1986).
[CrossRef]

Davis, A. R.

F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
[CrossRef]

Kirkendall, C. K.

F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
[CrossRef]

Koo, K. P.

F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
[CrossRef]

D. M. Dagenais, K. P. Koo, A. Dandridge, IEEE Photon. Technol. Lett. 4, 5 (1992).
[CrossRef]

D. M. Dagenais, F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, J. Lightwave Technol. 7, 881 (1989).
[CrossRef]

K. P. Koo, D. M. Dagenais, F. Bucholtz, A. Dandridge, Proc. Soc. Photo-Opt. Instrum. Eng. 1169, 190 (1989).

D. M. Dagenais, F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, Electron. Lett. 24, 1422 (1988).
[CrossRef]

F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, J. Lightwave Technol. 6, 4 (1988).
[CrossRef]

F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, G. H. Sigel, J. Magn. Magn. Mater. 54-57, 1607 (1986).
[CrossRef]

Kronmuller, H.

H. Kronmuller, N. Moser, in Amorphous Metallic Alloys, F. E. Luborsky, ed. (Butterworth, London, 1983), Chap. 18.

Livingston, J. D.

J. D. Livingston, Phys. Status Solidi 70, 591 (1982).
[CrossRef]

Lottis, D. K.

D. K. Lottis, R. M. White, Phys. Rev. Lett. 67, 362 (1991).
[CrossRef] [PubMed]

Lund, T.

F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
[CrossRef]

McVicker, J. A.

F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
[CrossRef]

Moser, N.

H. Kronmuller, N. Moser, in Amorphous Metallic Alloys, F. E. Luborsky, ed. (Butterworth, London, 1983), Chap. 18.

Patrick, S. S.

F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
[CrossRef]

Sigel, G. H.

F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, G. H. Sigel, J. Magn. Magn. Mater. 54-57, 1607 (1986).
[CrossRef]

Valo, H.

F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
[CrossRef]

Villaruel, C. A.

F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
[CrossRef]

Wang, G.

F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
[CrossRef]

Wathen, K. G.

F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
[CrossRef]

White, R. M.

D. K. Lottis, R. M. White, Phys. Rev. Lett. 67, 362 (1991).
[CrossRef] [PubMed]

Electron. Lett. (2)

D. M. Dagenais, F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, Electron. Lett. 24, 1422 (1988).
[CrossRef]

F. Bucholtz, C. A. Villaruel, C. K. Kirkendall, D. M. Dagenais, J. A. McVicker, A. R. Davis, S. S. Patrick, K. P. Koo, K. G. Wathen, A. Dandridge, G. Wang, T. Lund, H. Valo, Electron. Lett. 29, 1032 (1993).
[CrossRef]

IEEE Photon. Technol. Lett. (1)

D. M. Dagenais, K. P. Koo, A. Dandridge, IEEE Photon. Technol. Lett. 4, 5 (1992).
[CrossRef]

J. Lightwave Technol. (2)

D. M. Dagenais, F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, J. Lightwave Technol. 7, 881 (1989).
[CrossRef]

F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, J. Lightwave Technol. 6, 4 (1988).
[CrossRef]

J. Magn. Magn. Mater. (1)

F. Bucholtz, K. P. Koo, A. Dandridge, G. H. Sigel, J. Magn. Magn. Mater. 54-57, 1607 (1986).
[CrossRef]

Phys. Rev. Lett. (1)

D. K. Lottis, R. M. White, Phys. Rev. Lett. 67, 362 (1991).
[CrossRef] [PubMed]

Phys. Status Solidi (1)

J. D. Livingston, Phys. Status Solidi 70, 591 (1982).
[CrossRef]

Proc. Soc. Photo-Opt. Instrum. Eng. (1)

K. P. Koo, D. M. Dagenais, F. Bucholtz, A. Dandridge, Proc. Soc. Photo-Opt. Instrum. Eng. 1169, 190 (1989).

Other (2)

F. Bucholtz, in Fiber Optic Sensors, E. Udd, ed. (Wiley, New York, 1990), Chap. 12, Sec. 3.

H. Kronmuller, N. Moser, in Amorphous Metallic Alloys, F. E. Luborsky, ed. (Butterworth, London, 1983), Chap. 18.

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (3)

Fig. 1
Fig. 1

Experimental setup: L, diode-pumped Nd:YAG laser; P.C.’s, polarization controllers; Q.C.’s, quadrature controls; X, transducer.

Fig. 2
Fig. 2

Low-frequency noise of both interferometers (hω, = 64 mG rms at 45 kHz; Hdc = null; tone, 0.5 × 10−5 G rms at 1 Hz).

Fig. 3
Fig. 3

Comparison of sideband noise for annealed and unannealed strips under dither (hω = 64 mG rms at 45 kHz and hω = 30 mG rms at 25 kHz). Traces are linear fits.

Metrics