Abstract

We present a x-ray microscopy technique based on structured illumination in a microscope that characterizes the size of the subresolution-limit features. The technique is effective for characterizing fine structures substantially beyond the Rayleigh resolution of the microscope. We carried out optical experiments to demonstrate the basic principle of this new technique. Experimental results show good agreement with theoretical predictions. This technique should find a wide range of important imaging applications with a feature size down to nanometer scale, such as oil and gas reservoir rocks, advanced composites, and functional nanodevices and materials.

© 2013 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. A. Sakdinawat and D. Attwood, Nat. Photonics 4, 840 (2010).
    [CrossRef]
  2. C. G. Schroer, P. Boye, J. M. Feldkamp, J. Patommel, A. Schropp, A. Schwab, S. Stephan, M. Burghammer, S. Schöder, and C. Riekel, Phys. Rev. Lett. 101, 090801 (2008).
    [CrossRef]
  3. Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
    [CrossRef]
  4. W. Chao, J. Kim, S. Rekawa, P. Fischer, and E. H. Anderson, Opt. Express 17, 17669 (2009).
    [CrossRef]
  5. S. Vogt, H. N. Chapman, C. Jacobsen, and R. Medenwaldt, Ultramicroscopy 87, 25 (2000).
    [CrossRef]
  6. L. H. Xiao, Y. X. Qiao, Y. He, and E. Yeung, Anal. Chem. 82, 5268 (2010).
    [CrossRef]
  7. S. Rehbein, P. Guttmann, S. Werner, and G. Schneider, Opt. Express 20, 5830 (2012).
    [CrossRef]
  8. D. Sayre and H. Chapman, Acta Crystallogr. Sect. A 51, 237 (1995).
    [CrossRef]
  9. J. Kirz, C. Jacobsen, and M. Howells, Q. Rev. Biophys. 28, 33 (1995).
    [CrossRef]
  10. O. Glatter, Modern Methods of Data Analysis in Small-Angle Scattering and Light Scattering (Kluwer Academic, 1995), pp. 107–180.
  11. D. Svergun and M. Koch, Rep. Prog. Phys. 66, 1735 (2003).
    [CrossRef]
  12. O. Rabin, P. Manuel, J. Grimm, G. Wojtkiewicz, and R. Weissleder, Nat. Mater. 5, 118 (2006).
    [CrossRef]
  13. L. Jochum and W. Meyer-Ilse, Appl. Opt. 34, 4944 (1995).
    [CrossRef]
  14. W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. D. Fabrizio, and M. Gentili, Rev. Sci. Instrum. 70, 2238 (1999).
    [CrossRef]
  15. P. Guttmann, X. Zeng, M. Feser, S. Heim, W. Yun, and G. Schneider, J. Phys. Conf. Ser. 186, 012064 (2009).
    [CrossRef]
  16. H. Ade and H. Stoll, Nat. Mater. 8, 281 (2009).
    [CrossRef]

2012 (1)

2010 (2)

L. H. Xiao, Y. X. Qiao, Y. He, and E. Yeung, Anal. Chem. 82, 5268 (2010).
[CrossRef]

A. Sakdinawat and D. Attwood, Nat. Photonics 4, 840 (2010).
[CrossRef]

2009 (3)

W. Chao, J. Kim, S. Rekawa, P. Fischer, and E. H. Anderson, Opt. Express 17, 17669 (2009).
[CrossRef]

P. Guttmann, X. Zeng, M. Feser, S. Heim, W. Yun, and G. Schneider, J. Phys. Conf. Ser. 186, 012064 (2009).
[CrossRef]

H. Ade and H. Stoll, Nat. Mater. 8, 281 (2009).
[CrossRef]

2008 (2)

C. G. Schroer, P. Boye, J. M. Feldkamp, J. Patommel, A. Schropp, A. Schwab, S. Stephan, M. Burghammer, S. Schöder, and C. Riekel, Phys. Rev. Lett. 101, 090801 (2008).
[CrossRef]

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

2006 (1)

O. Rabin, P. Manuel, J. Grimm, G. Wojtkiewicz, and R. Weissleder, Nat. Mater. 5, 118 (2006).
[CrossRef]

2003 (1)

D. Svergun and M. Koch, Rep. Prog. Phys. 66, 1735 (2003).
[CrossRef]

2000 (1)

S. Vogt, H. N. Chapman, C. Jacobsen, and R. Medenwaldt, Ultramicroscopy 87, 25 (2000).
[CrossRef]

1999 (1)

W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. D. Fabrizio, and M. Gentili, Rev. Sci. Instrum. 70, 2238 (1999).
[CrossRef]

1995 (3)

L. Jochum and W. Meyer-Ilse, Appl. Opt. 34, 4944 (1995).
[CrossRef]

D. Sayre and H. Chapman, Acta Crystallogr. Sect. A 51, 237 (1995).
[CrossRef]

J. Kirz, C. Jacobsen, and M. Howells, Q. Rev. Biophys. 28, 33 (1995).
[CrossRef]

Ade, H.

H. Ade and H. Stoll, Nat. Mater. 8, 281 (2009).
[CrossRef]

Anderson, E. H.

Attwood, D.

A. Sakdinawat and D. Attwood, Nat. Photonics 4, 840 (2010).
[CrossRef]

Boye, P.

C. G. Schroer, P. Boye, J. M. Feldkamp, J. Patommel, A. Schropp, A. Schwab, S. Stephan, M. Burghammer, S. Schöder, and C. Riekel, Phys. Rev. Lett. 101, 090801 (2008).
[CrossRef]

Burghammer, M.

C. G. Schroer, P. Boye, J. M. Feldkamp, J. Patommel, A. Schropp, A. Schwab, S. Stephan, M. Burghammer, S. Schöder, and C. Riekel, Phys. Rev. Lett. 101, 090801 (2008).
[CrossRef]

Cai, Z.

W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. D. Fabrizio, and M. Gentili, Rev. Sci. Instrum. 70, 2238 (1999).
[CrossRef]

Cerrina, F.

W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. D. Fabrizio, and M. Gentili, Rev. Sci. Instrum. 70, 2238 (1999).
[CrossRef]

Chao, W.

Chapman, H.

D. Sayre and H. Chapman, Acta Crystallogr. Sect. A 51, 237 (1995).
[CrossRef]

Chapman, H. N.

S. Vogt, H. N. Chapman, C. Jacobsen, and R. Medenwaldt, Ultramicroscopy 87, 25 (2000).
[CrossRef]

Chen, Y. T.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Chen, Z.

W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. D. Fabrizio, and M. Gentili, Rev. Sci. Instrum. 70, 2238 (1999).
[CrossRef]

Chiu, C. W.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Chu, Y. S.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Fabrizio, E. D.

W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. D. Fabrizio, and M. Gentili, Rev. Sci. Instrum. 70, 2238 (1999).
[CrossRef]

Feldkamp, J. M.

C. G. Schroer, P. Boye, J. M. Feldkamp, J. Patommel, A. Schropp, A. Schwab, S. Stephan, M. Burghammer, S. Schöder, and C. Riekel, Phys. Rev. Lett. 101, 090801 (2008).
[CrossRef]

Feser, M.

P. Guttmann, X. Zeng, M. Feser, S. Heim, W. Yun, and G. Schneider, J. Phys. Conf. Ser. 186, 012064 (2009).
[CrossRef]

Fischer, P.

Gentili, M.

W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. D. Fabrizio, and M. Gentili, Rev. Sci. Instrum. 70, 2238 (1999).
[CrossRef]

Glatter, O.

O. Glatter, Modern Methods of Data Analysis in Small-Angle Scattering and Light Scattering (Kluwer Academic, 1995), pp. 107–180.

Gluskin, E.

W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. D. Fabrizio, and M. Gentili, Rev. Sci. Instrum. 70, 2238 (1999).
[CrossRef]

Grimm, J.

O. Rabin, P. Manuel, J. Grimm, G. Wojtkiewicz, and R. Weissleder, Nat. Mater. 5, 118 (2006).
[CrossRef]

Guttmann, P.

S. Rehbein, P. Guttmann, S. Werner, and G. Schneider, Opt. Express 20, 5830 (2012).
[CrossRef]

P. Guttmann, X. Zeng, M. Feser, S. Heim, W. Yun, and G. Schneider, J. Phys. Conf. Ser. 186, 012064 (2009).
[CrossRef]

He, Y.

L. H. Xiao, Y. X. Qiao, Y. He, and E. Yeung, Anal. Chem. 82, 5268 (2010).
[CrossRef]

Heim, S.

P. Guttmann, X. Zeng, M. Feser, S. Heim, W. Yun, and G. Schneider, J. Phys. Conf. Ser. 186, 012064 (2009).
[CrossRef]

Howells, M.

J. Kirz, C. Jacobsen, and M. Howells, Q. Rev. Biophys. 28, 33 (1995).
[CrossRef]

Hua, T. E.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Hwu, Y.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Jacobsen, C.

S. Vogt, H. N. Chapman, C. Jacobsen, and R. Medenwaldt, Ultramicroscopy 87, 25 (2000).
[CrossRef]

J. Kirz, C. Jacobsen, and M. Howells, Q. Rev. Biophys. 28, 33 (1995).
[CrossRef]

Je, J. H.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Jochum, L.

Kim, J.

Kirz, J.

J. Kirz, C. Jacobsen, and M. Howells, Q. Rev. Biophys. 28, 33 (1995).
[CrossRef]

Koch, M.

D. Svergun and M. Koch, Rep. Prog. Phys. 66, 1735 (2003).
[CrossRef]

Krasnoperova, A. A.

W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. D. Fabrizio, and M. Gentili, Rev. Sci. Instrum. 70, 2238 (1999).
[CrossRef]

Lai, B.

W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. D. Fabrizio, and M. Gentili, Rev. Sci. Instrum. 70, 2238 (1999).
[CrossRef]

Legnini, D.

W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. D. Fabrizio, and M. Gentili, Rev. Sci. Instrum. 70, 2238 (1999).
[CrossRef]

Liang, K. S.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Lin, H. M.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Liu, C. J.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Lo, T. N.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Manuel, P.

O. Rabin, P. Manuel, J. Grimm, G. Wojtkiewicz, and R. Weissleder, Nat. Mater. 5, 118 (2006).
[CrossRef]

Margaritondo, G.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Maser, J.

W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. D. Fabrizio, and M. Gentili, Rev. Sci. Instrum. 70, 2238 (1999).
[CrossRef]

Medenwaldt, R.

S. Vogt, H. N. Chapman, C. Jacobsen, and R. Medenwaldt, Ultramicroscopy 87, 25 (2000).
[CrossRef]

Meyer-Ilse, W.

Patommel, J.

C. G. Schroer, P. Boye, J. M. Feldkamp, J. Patommel, A. Schropp, A. Schwab, S. Stephan, M. Burghammer, S. Schöder, and C. Riekel, Phys. Rev. Lett. 101, 090801 (2008).
[CrossRef]

Qiao, Y. X.

L. H. Xiao, Y. X. Qiao, Y. He, and E. Yeung, Anal. Chem. 82, 5268 (2010).
[CrossRef]

Rabin, O.

O. Rabin, P. Manuel, J. Grimm, G. Wojtkiewicz, and R. Weissleder, Nat. Mater. 5, 118 (2006).
[CrossRef]

Rehbein, S.

Rekawa, S.

Riekel, C.

C. G. Schroer, P. Boye, J. M. Feldkamp, J. Patommel, A. Schropp, A. Schwab, S. Stephan, M. Burghammer, S. Schöder, and C. Riekel, Phys. Rev. Lett. 101, 090801 (2008).
[CrossRef]

Sakdinawat, A.

A. Sakdinawat and D. Attwood, Nat. Photonics 4, 840 (2010).
[CrossRef]

Sayre, D.

D. Sayre and H. Chapman, Acta Crystallogr. Sect. A 51, 237 (1995).
[CrossRef]

Schneider, G.

S. Rehbein, P. Guttmann, S. Werner, and G. Schneider, Opt. Express 20, 5830 (2012).
[CrossRef]

P. Guttmann, X. Zeng, M. Feser, S. Heim, W. Yun, and G. Schneider, J. Phys. Conf. Ser. 186, 012064 (2009).
[CrossRef]

Schöder, S.

C. G. Schroer, P. Boye, J. M. Feldkamp, J. Patommel, A. Schropp, A. Schwab, S. Stephan, M. Burghammer, S. Schöder, and C. Riekel, Phys. Rev. Lett. 101, 090801 (2008).
[CrossRef]

Schroer, C. G.

C. G. Schroer, P. Boye, J. M. Feldkamp, J. Patommel, A. Schropp, A. Schwab, S. Stephan, M. Burghammer, S. Schöder, and C. Riekel, Phys. Rev. Lett. 101, 090801 (2008).
[CrossRef]

Schropp, A.

C. G. Schroer, P. Boye, J. M. Feldkamp, J. Patommel, A. Schropp, A. Schwab, S. Stephan, M. Burghammer, S. Schöder, and C. Riekel, Phys. Rev. Lett. 101, 090801 (2008).
[CrossRef]

Schwab, A.

C. G. Schroer, P. Boye, J. M. Feldkamp, J. Patommel, A. Schropp, A. Schwab, S. Stephan, M. Burghammer, S. Schöder, and C. Riekel, Phys. Rev. Lett. 101, 090801 (2008).
[CrossRef]

Shen, Q.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Stephan, S.

C. G. Schroer, P. Boye, J. M. Feldkamp, J. Patommel, A. Schropp, A. Schwab, S. Stephan, M. Burghammer, S. Schöder, and C. Riekel, Phys. Rev. Lett. 101, 090801 (2008).
[CrossRef]

Stoll, H.

H. Ade and H. Stoll, Nat. Mater. 8, 281 (2009).
[CrossRef]

Svergun, D.

D. Svergun and M. Koch, Rep. Prog. Phys. 66, 1735 (2003).
[CrossRef]

Vladimirsky, Y.

W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. D. Fabrizio, and M. Gentili, Rev. Sci. Instrum. 70, 2238 (1999).
[CrossRef]

Vogt, S.

S. Vogt, H. N. Chapman, C. Jacobsen, and R. Medenwaldt, Ultramicroscopy 87, 25 (2000).
[CrossRef]

Wang, C. L.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Wang, J. Y.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Weissleder, R.

O. Rabin, P. Manuel, J. Grimm, G. Wojtkiewicz, and R. Weissleder, Nat. Mater. 5, 118 (2006).
[CrossRef]

Werner, S.

Wojtkiewicz, G.

O. Rabin, P. Manuel, J. Grimm, G. Wojtkiewicz, and R. Weissleder, Nat. Mater. 5, 118 (2006).
[CrossRef]

Xiao, L. H.

L. H. Xiao, Y. X. Qiao, Y. He, and E. Yeung, Anal. Chem. 82, 5268 (2010).
[CrossRef]

Yeung, E.

L. H. Xiao, Y. X. Qiao, Y. He, and E. Yeung, Anal. Chem. 82, 5268 (2010).
[CrossRef]

Yi, J.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Yin, G. C.

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Yun, W.

P. Guttmann, X. Zeng, M. Feser, S. Heim, W. Yun, and G. Schneider, J. Phys. Conf. Ser. 186, 012064 (2009).
[CrossRef]

W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. D. Fabrizio, and M. Gentili, Rev. Sci. Instrum. 70, 2238 (1999).
[CrossRef]

Zeng, X.

P. Guttmann, X. Zeng, M. Feser, S. Heim, W. Yun, and G. Schneider, J. Phys. Conf. Ser. 186, 012064 (2009).
[CrossRef]

Acta Crystallogr. Sect. A (1)

D. Sayre and H. Chapman, Acta Crystallogr. Sect. A 51, 237 (1995).
[CrossRef]

Anal. Chem. (1)

L. H. Xiao, Y. X. Qiao, Y. He, and E. Yeung, Anal. Chem. 82, 5268 (2010).
[CrossRef]

Appl. Opt. (1)

J. Phys. Conf. Ser. (1)

P. Guttmann, X. Zeng, M. Feser, S. Heim, W. Yun, and G. Schneider, J. Phys. Conf. Ser. 186, 012064 (2009).
[CrossRef]

Nanotechnology (1)

Y. T. Chen, T. N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C. J. Liu, J. Y. Wang, C. L. Wang, C. W. Chiu, T. E. Hua, Y. Hwu, Q. Shen, G. C. Yin, K. S. Liang, H. M. Lin, J. H. Je, and G. Margaritondo, Nanotechnology 19, 395302 (2008).
[CrossRef]

Nat. Mater. (2)

H. Ade and H. Stoll, Nat. Mater. 8, 281 (2009).
[CrossRef]

O. Rabin, P. Manuel, J. Grimm, G. Wojtkiewicz, and R. Weissleder, Nat. Mater. 5, 118 (2006).
[CrossRef]

Nat. Photonics (1)

A. Sakdinawat and D. Attwood, Nat. Photonics 4, 840 (2010).
[CrossRef]

Opt. Express (2)

Phys. Rev. Lett. (1)

C. G. Schroer, P. Boye, J. M. Feldkamp, J. Patommel, A. Schropp, A. Schwab, S. Stephan, M. Burghammer, S. Schöder, and C. Riekel, Phys. Rev. Lett. 101, 090801 (2008).
[CrossRef]

Q. Rev. Biophys. (1)

J. Kirz, C. Jacobsen, and M. Howells, Q. Rev. Biophys. 28, 33 (1995).
[CrossRef]

Rep. Prog. Phys. (1)

D. Svergun and M. Koch, Rep. Prog. Phys. 66, 1735 (2003).
[CrossRef]

Rev. Sci. Instrum. (1)

W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. D. Fabrizio, and M. Gentili, Rev. Sci. Instrum. 70, 2238 (1999).
[CrossRef]

Ultramicroscopy (1)

S. Vogt, H. N. Chapman, C. Jacobsen, and R. Medenwaldt, Ultramicroscopy 87, 25 (2000).
[CrossRef]

Other (1)

O. Glatter, Modern Methods of Data Analysis in Small-Angle Scattering and Light Scattering (Kluwer Academic, 1995), pp. 107–180.

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (3)

Fig. 1.
Fig. 1.

Schematic illustration of the structured dark-field imaging. The hollow cones (shown with profile) indicate the path of the illumination beam. The red arrows indicate that the structural illumination consists of multiple hollow cones with increasing opening angles, among which one of the cones is shown in the figure.

Fig. 2.
Fig. 2.

Simulation results with densely populated spherical particle arrays. (a) Sample with three regions for simulation. (b) Bright-field and (c)–(e) dark-field images for different θc equal to (c) 3, (d) 5, and (e) 7 times NAo. The image intensities in (c)–(e) are on a logarithmic scale. (f) Simulated SDFI curves for the three regions.

Fig. 3.
Fig. 3.

(a) Measured optical images at three angular positions. (b) Simulated SDFI curves and corresponding measured intensity values show the effectiveness of the simulation.

Equations (2)

Equations on this page are rendered with MathJax. Learn more.

I(r⃗i)=Σ|1MAzp(r⃗i)*[ts(r⃗iM)·Uc(r⃗cr⃗iM)]|2d2r⃗c,
I(r⃗i;θc)=|Rc(r⃗zd0θc)|2|FT[Azp(r⃗ir⃗)·ts(r⃗M)]rz|2d2r⃗z,

Metrics