Abstract

We demonstrate an optical fiber refractometer based on a cladding-mode Bragg grating. It consists of a long-period grating (LPG) followed by a fiber Bragg grating (FBG). The LPG partially couples light from the core mode to a cladding mode, both of which are reflected by the FBG. Part of the cladding mode reflection is coupled back to the core mode through the original LPG and used for refractive index sensing. The core mode reflection is used to compensate for the temperature cross sensitivity of the refractometer. The sensors operate in the reflection mode and can be multiplexed on a fiber in wavelength domain.

© 2010 Optical Society of America

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. S. W. James and R. P. Tatam, Meas. Sci. Technol. 14, R49 (2003).
    [CrossRef]
  2. L. Rindorf, J. B. Jensen, M. Dufva, L. H. Pedersen, P. E. Hoiby, and O. Bang, Opt. Express 14, 8224 (2006).
    [CrossRef]
  3. V. Bhatia and A. M. Vengsarkar, Opt. Lett. 21, 692 (1996).
    [CrossRef]
  4. M. P. DeLisa, Z. Zhang, M. Shiloach, S. Pilevar, C. C. Davis, J. S. Sirkis, and W. E. Bentley, Anal. Chem. 72, 2895 (2000).
    [CrossRef]
  5. Z. H. He, Y. N. Zhu, and H. Du, Appl. Phys. Lett. 92, 044105 (2008).
    [CrossRef]
  6. K. Zhou, X. Chen, L. Zhang, and I. Bennion, Electron. Lett. 40, 232 (2004).
    [CrossRef]
  7. W. Ecke, K. Usbeck, V. Hagemann, R. Mueller, and R. Willsch, Proc. SPIE 3555, 457 (1998).
    [CrossRef]
  8. A. Asseh, S. Sandgren, H. Ahlfeldt, B. Sahlgren, R. Stubbe, and G. Edwall, Fiber Integr. Opt. 17, 51 (1998).
    [CrossRef]
  9. G. Meltz, S. J. Hewlett, and J. D. Love, Proc. SPIE 2836, 342 (1996).
    [CrossRef]
  10. G. Laffont and P. Ferdinand, Meas. Sci. Technol. 12, 765 (2001).
    [CrossRef]
  11. C. F. Chan, C. K. Chen, A. Jafari, A. Laronche, D. J. Thomson, and J. Albert, Appl. Opt. 46, 1142 (2007).
    [CrossRef]
  12. D. D. Davis, T. K. Gaylord, E. N. Glytsis, and S. C. Mettler, Electron. Lett. 34, 1416 (1998).
    [CrossRef]
  13. Y. J. Rao, Y. P. Wang, Z. L. Ran, and T. Zhu, J. Lightwave Technol. 21, 1320 (2003).
    [CrossRef]
  14. K. S. Chiang, Y. Q. Liu, M. N. Ng, and X. Y. Dong, Electron. Lett. 36, 966 (2000).
    [CrossRef]
  15. I. Del Villar, I. R. Matias, and F. J. Arregui, Opt. Express 13, 56 (2005).
    [CrossRef]
  16. Z. Y. Wang, J. R. Heflin, R. H. Stolen, and S. Ramachandran, Appl. Phys. Lett. 86, 223104 (2005).
    [CrossRef]
  17. Z. Y. Wang, J. R. Heflin, R. H. Stolen, and S. Ramachandran, Opt. Express 13, 2808 (2005).
    [CrossRef]

2008 (1)

Z. H. He, Y. N. Zhu, and H. Du, Appl. Phys. Lett. 92, 044105 (2008).
[CrossRef]

2007 (1)

2006 (1)

2005 (3)

2004 (1)

K. Zhou, X. Chen, L. Zhang, and I. Bennion, Electron. Lett. 40, 232 (2004).
[CrossRef]

2003 (2)

2001 (1)

G. Laffont and P. Ferdinand, Meas. Sci. Technol. 12, 765 (2001).
[CrossRef]

2000 (2)

M. P. DeLisa, Z. Zhang, M. Shiloach, S. Pilevar, C. C. Davis, J. S. Sirkis, and W. E. Bentley, Anal. Chem. 72, 2895 (2000).
[CrossRef]

K. S. Chiang, Y. Q. Liu, M. N. Ng, and X. Y. Dong, Electron. Lett. 36, 966 (2000).
[CrossRef]

1998 (3)

D. D. Davis, T. K. Gaylord, E. N. Glytsis, and S. C. Mettler, Electron. Lett. 34, 1416 (1998).
[CrossRef]

W. Ecke, K. Usbeck, V. Hagemann, R. Mueller, and R. Willsch, Proc. SPIE 3555, 457 (1998).
[CrossRef]

A. Asseh, S. Sandgren, H. Ahlfeldt, B. Sahlgren, R. Stubbe, and G. Edwall, Fiber Integr. Opt. 17, 51 (1998).
[CrossRef]

1996 (2)

G. Meltz, S. J. Hewlett, and J. D. Love, Proc. SPIE 2836, 342 (1996).
[CrossRef]

V. Bhatia and A. M. Vengsarkar, Opt. Lett. 21, 692 (1996).
[CrossRef]

Ahlfeldt, H.

A. Asseh, S. Sandgren, H. Ahlfeldt, B. Sahlgren, R. Stubbe, and G. Edwall, Fiber Integr. Opt. 17, 51 (1998).
[CrossRef]

Albert, J.

Arregui, F. J.

Asseh, A.

A. Asseh, S. Sandgren, H. Ahlfeldt, B. Sahlgren, R. Stubbe, and G. Edwall, Fiber Integr. Opt. 17, 51 (1998).
[CrossRef]

Bang, O.

Bennion, I.

K. Zhou, X. Chen, L. Zhang, and I. Bennion, Electron. Lett. 40, 232 (2004).
[CrossRef]

Bentley, W. E.

M. P. DeLisa, Z. Zhang, M. Shiloach, S. Pilevar, C. C. Davis, J. S. Sirkis, and W. E. Bentley, Anal. Chem. 72, 2895 (2000).
[CrossRef]

Bhatia, V.

Chan, C. F.

Chen, C. K.

Chen, X.

K. Zhou, X. Chen, L. Zhang, and I. Bennion, Electron. Lett. 40, 232 (2004).
[CrossRef]

Chiang, K. S.

K. S. Chiang, Y. Q. Liu, M. N. Ng, and X. Y. Dong, Electron. Lett. 36, 966 (2000).
[CrossRef]

Davis, C. C.

M. P. DeLisa, Z. Zhang, M. Shiloach, S. Pilevar, C. C. Davis, J. S. Sirkis, and W. E. Bentley, Anal. Chem. 72, 2895 (2000).
[CrossRef]

Davis, D. D.

D. D. Davis, T. K. Gaylord, E. N. Glytsis, and S. C. Mettler, Electron. Lett. 34, 1416 (1998).
[CrossRef]

Del Villar, I.

DeLisa, M. P.

M. P. DeLisa, Z. Zhang, M. Shiloach, S. Pilevar, C. C. Davis, J. S. Sirkis, and W. E. Bentley, Anal. Chem. 72, 2895 (2000).
[CrossRef]

Dong, X. Y.

K. S. Chiang, Y. Q. Liu, M. N. Ng, and X. Y. Dong, Electron. Lett. 36, 966 (2000).
[CrossRef]

Du, H.

Z. H. He, Y. N. Zhu, and H. Du, Appl. Phys. Lett. 92, 044105 (2008).
[CrossRef]

Dufva, M.

Ecke, W.

W. Ecke, K. Usbeck, V. Hagemann, R. Mueller, and R. Willsch, Proc. SPIE 3555, 457 (1998).
[CrossRef]

Edwall, G.

A. Asseh, S. Sandgren, H. Ahlfeldt, B. Sahlgren, R. Stubbe, and G. Edwall, Fiber Integr. Opt. 17, 51 (1998).
[CrossRef]

Ferdinand, P.

G. Laffont and P. Ferdinand, Meas. Sci. Technol. 12, 765 (2001).
[CrossRef]

Gaylord, T. K.

D. D. Davis, T. K. Gaylord, E. N. Glytsis, and S. C. Mettler, Electron. Lett. 34, 1416 (1998).
[CrossRef]

Glytsis, E. N.

D. D. Davis, T. K. Gaylord, E. N. Glytsis, and S. C. Mettler, Electron. Lett. 34, 1416 (1998).
[CrossRef]

Hagemann, V.

W. Ecke, K. Usbeck, V. Hagemann, R. Mueller, and R. Willsch, Proc. SPIE 3555, 457 (1998).
[CrossRef]

He, Z. H.

Z. H. He, Y. N. Zhu, and H. Du, Appl. Phys. Lett. 92, 044105 (2008).
[CrossRef]

Heflin, J. R.

Z. Y. Wang, J. R. Heflin, R. H. Stolen, and S. Ramachandran, Appl. Phys. Lett. 86, 223104 (2005).
[CrossRef]

Z. Y. Wang, J. R. Heflin, R. H. Stolen, and S. Ramachandran, Opt. Express 13, 2808 (2005).
[CrossRef]

Hewlett, S. J.

G. Meltz, S. J. Hewlett, and J. D. Love, Proc. SPIE 2836, 342 (1996).
[CrossRef]

Hoiby, P. E.

Jafari, A.

James, S. W.

S. W. James and R. P. Tatam, Meas. Sci. Technol. 14, R49 (2003).
[CrossRef]

Jensen, J. B.

Laffont, G.

G. Laffont and P. Ferdinand, Meas. Sci. Technol. 12, 765 (2001).
[CrossRef]

Laronche, A.

Liu, Y. Q.

K. S. Chiang, Y. Q. Liu, M. N. Ng, and X. Y. Dong, Electron. Lett. 36, 966 (2000).
[CrossRef]

Love, J. D.

G. Meltz, S. J. Hewlett, and J. D. Love, Proc. SPIE 2836, 342 (1996).
[CrossRef]

Matias, I. R.

Meltz, G.

G. Meltz, S. J. Hewlett, and J. D. Love, Proc. SPIE 2836, 342 (1996).
[CrossRef]

Mettler, S. C.

D. D. Davis, T. K. Gaylord, E. N. Glytsis, and S. C. Mettler, Electron. Lett. 34, 1416 (1998).
[CrossRef]

Mueller, R.

W. Ecke, K. Usbeck, V. Hagemann, R. Mueller, and R. Willsch, Proc. SPIE 3555, 457 (1998).
[CrossRef]

Ng, M. N.

K. S. Chiang, Y. Q. Liu, M. N. Ng, and X. Y. Dong, Electron. Lett. 36, 966 (2000).
[CrossRef]

Pedersen, L. H.

Pilevar, S.

M. P. DeLisa, Z. Zhang, M. Shiloach, S. Pilevar, C. C. Davis, J. S. Sirkis, and W. E. Bentley, Anal. Chem. 72, 2895 (2000).
[CrossRef]

Ramachandran, S.

Z. Y. Wang, J. R. Heflin, R. H. Stolen, and S. Ramachandran, Appl. Phys. Lett. 86, 223104 (2005).
[CrossRef]

Z. Y. Wang, J. R. Heflin, R. H. Stolen, and S. Ramachandran, Opt. Express 13, 2808 (2005).
[CrossRef]

Ran, Z. L.

Rao, Y. J.

Rindorf, L.

Sahlgren, B.

A. Asseh, S. Sandgren, H. Ahlfeldt, B. Sahlgren, R. Stubbe, and G. Edwall, Fiber Integr. Opt. 17, 51 (1998).
[CrossRef]

Sandgren, S.

A. Asseh, S. Sandgren, H. Ahlfeldt, B. Sahlgren, R. Stubbe, and G. Edwall, Fiber Integr. Opt. 17, 51 (1998).
[CrossRef]

Shiloach, M.

M. P. DeLisa, Z. Zhang, M. Shiloach, S. Pilevar, C. C. Davis, J. S. Sirkis, and W. E. Bentley, Anal. Chem. 72, 2895 (2000).
[CrossRef]

Sirkis, J. S.

M. P. DeLisa, Z. Zhang, M. Shiloach, S. Pilevar, C. C. Davis, J. S. Sirkis, and W. E. Bentley, Anal. Chem. 72, 2895 (2000).
[CrossRef]

Stolen, R. H.

Z. Y. Wang, J. R. Heflin, R. H. Stolen, and S. Ramachandran, Opt. Express 13, 2808 (2005).
[CrossRef]

Z. Y. Wang, J. R. Heflin, R. H. Stolen, and S. Ramachandran, Appl. Phys. Lett. 86, 223104 (2005).
[CrossRef]

Stubbe, R.

A. Asseh, S. Sandgren, H. Ahlfeldt, B. Sahlgren, R. Stubbe, and G. Edwall, Fiber Integr. Opt. 17, 51 (1998).
[CrossRef]

Tatam, R. P.

S. W. James and R. P. Tatam, Meas. Sci. Technol. 14, R49 (2003).
[CrossRef]

Thomson, D. J.

Usbeck, K.

W. Ecke, K. Usbeck, V. Hagemann, R. Mueller, and R. Willsch, Proc. SPIE 3555, 457 (1998).
[CrossRef]

Vengsarkar, A. M.

Wang, Y. P.

Wang, Z. Y.

Z. Y. Wang, J. R. Heflin, R. H. Stolen, and S. Ramachandran, Opt. Express 13, 2808 (2005).
[CrossRef]

Z. Y. Wang, J. R. Heflin, R. H. Stolen, and S. Ramachandran, Appl. Phys. Lett. 86, 223104 (2005).
[CrossRef]

Willsch, R.

W. Ecke, K. Usbeck, V. Hagemann, R. Mueller, and R. Willsch, Proc. SPIE 3555, 457 (1998).
[CrossRef]

Zhang, L.

K. Zhou, X. Chen, L. Zhang, and I. Bennion, Electron. Lett. 40, 232 (2004).
[CrossRef]

Zhang, Z.

M. P. DeLisa, Z. Zhang, M. Shiloach, S. Pilevar, C. C. Davis, J. S. Sirkis, and W. E. Bentley, Anal. Chem. 72, 2895 (2000).
[CrossRef]

Zhou, K.

K. Zhou, X. Chen, L. Zhang, and I. Bennion, Electron. Lett. 40, 232 (2004).
[CrossRef]

Zhu, T.

Zhu, Y. N.

Z. H. He, Y. N. Zhu, and H. Du, Appl. Phys. Lett. 92, 044105 (2008).
[CrossRef]

Anal. Chem. (1)

M. P. DeLisa, Z. Zhang, M. Shiloach, S. Pilevar, C. C. Davis, J. S. Sirkis, and W. E. Bentley, Anal. Chem. 72, 2895 (2000).
[CrossRef]

Appl. Opt. (1)

Appl. Phys. Lett. (2)

Z. H. He, Y. N. Zhu, and H. Du, Appl. Phys. Lett. 92, 044105 (2008).
[CrossRef]

Z. Y. Wang, J. R. Heflin, R. H. Stolen, and S. Ramachandran, Appl. Phys. Lett. 86, 223104 (2005).
[CrossRef]

Electron. Lett. (3)

D. D. Davis, T. K. Gaylord, E. N. Glytsis, and S. C. Mettler, Electron. Lett. 34, 1416 (1998).
[CrossRef]

K. S. Chiang, Y. Q. Liu, M. N. Ng, and X. Y. Dong, Electron. Lett. 36, 966 (2000).
[CrossRef]

K. Zhou, X. Chen, L. Zhang, and I. Bennion, Electron. Lett. 40, 232 (2004).
[CrossRef]

Fiber Integr. Opt. (1)

A. Asseh, S. Sandgren, H. Ahlfeldt, B. Sahlgren, R. Stubbe, and G. Edwall, Fiber Integr. Opt. 17, 51 (1998).
[CrossRef]

J. Lightwave Technol. (1)

Meas. Sci. Technol. (2)

G. Laffont and P. Ferdinand, Meas. Sci. Technol. 12, 765 (2001).
[CrossRef]

S. W. James and R. P. Tatam, Meas. Sci. Technol. 14, R49 (2003).
[CrossRef]

Opt. Express (3)

Opt. Lett. (1)

Proc. SPIE (2)

G. Meltz, S. J. Hewlett, and J. D. Love, Proc. SPIE 2836, 342 (1996).
[CrossRef]

W. Ecke, K. Usbeck, V. Hagemann, R. Mueller, and R. Willsch, Proc. SPIE 3555, 457 (1998).
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Metrics