Abstract

We designed and fabricated multilayer metal/metal-oxide surface relief diffractive grating structures by growing alternating Pt and SnOx layers. Optical interrogation at 633nm reveals the temperature dependence of their reflection and transmission diffractive effects. This function is explored here in the context of a remote, spatially localized, photonic temperature sensing operation, achieving sensitivity of 10% per °C for the zeroth-order in the transmission mode. The experimental demonstration is found to be in good agreement with the results of rigorous coupled wave analysis of the composite metal/metal-oxide element.

© 2010 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. A. Meristoudi, L. Athanasekos, M. Vasileiadis, S. Pispas, G. Mousdis, E. Karoutsos, D. Alexandropoulos, H. Du, A. Tsigara, K. Kibasi, A. Perrone, and N. A. Vainos, J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 11, 034005 (2009).
    [CrossRef]
  2. M. Vasileiadis, L. Athanasekos, A. Meristoudi, D. Alexandropoulos, G. Mousdis, E. Karoutsos, A. Botsialas, and N. A. Vainos, Opt. Lett. 35, 1476 (2010).
    [CrossRef] [PubMed]
  3. A. Tsigara, G. Mountrichas, K. Gatsouli, A. Nichelatti, S. Pispas, N. Madamopoulos, N. A. Vainos, H. L. Du, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Sens. Actuators B Chem. 120, 481 (2007).
    [CrossRef]
  4. D. Owens, C. Fuentes-Hernandez, and B. Kippelen, Thin Solid Films 517, 2736 (2009).
    [CrossRef]
  5. C. Min, P. Wang, C. Chen, Y. Deng, Y. Lu, H. Ming, T. Ning, Y. Zhou, and G. Yang, Opt. Lett. 33, 869 (2008).
    [CrossRef] [PubMed]
  6. R. J. Blaikie, L. Lin, R. J. Reeves, and J. Roger, Int. J. Nanotechnol. 6, 222 (2009).
    [CrossRef]
  7. N. A. Vainos, A. Tsigara, J. Manasis, A. Giannoudakos, G. Mousdis, N. Vakakis, M. Kompitsas, A. Klini, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Appl. Phys. A 79, 1395 (2004).
    [CrossRef]
  8. L. Michalski, K. Eckersdorf, J. Kucharski, and J. McGhee, Temperature Measurement (Wiley, 2001).
    [CrossRef]
  9. W. Ross McCluney, Introduction to Radiometry and Photometry (Artech, 1994).
  10. L. Gang-Chih, L. Wang, C. C. Yang, M. C. Shih, and T. J. Chuang, IEEE Photon. Technol. Lett. 10, 406 (1998).
    [CrossRef]
  11. X. C. Li, F. Prinz, and J. Seim, Smart Mater. Struct. 10, 575 (2001).
    [CrossRef]
  12. G. Brambilla, “High-temperature fiber Bragg grating thermometer,” Electron. Lett. 38, 954 (2002).
    [CrossRef]
  13. E. D. Palik, Handbook of Optical Constants of Solids(Academic, 1998).
  14. G. Koundourakis, C. Rockstuhl, D. Papazoglou, A. Klini, I. Zergioti, N. A. Vainos, and C. Fotakis, Appl. Phys. Lett. 78, 868 (2001).
    [CrossRef]

2010

2009

D. Owens, C. Fuentes-Hernandez, and B. Kippelen, Thin Solid Films 517, 2736 (2009).
[CrossRef]

R. J. Blaikie, L. Lin, R. J. Reeves, and J. Roger, Int. J. Nanotechnol. 6, 222 (2009).
[CrossRef]

A. Meristoudi, L. Athanasekos, M. Vasileiadis, S. Pispas, G. Mousdis, E. Karoutsos, D. Alexandropoulos, H. Du, A. Tsigara, K. Kibasi, A. Perrone, and N. A. Vainos, J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 11, 034005 (2009).
[CrossRef]

2008

2007

A. Tsigara, G. Mountrichas, K. Gatsouli, A. Nichelatti, S. Pispas, N. Madamopoulos, N. A. Vainos, H. L. Du, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Sens. Actuators B Chem. 120, 481 (2007).
[CrossRef]

2004

N. A. Vainos, A. Tsigara, J. Manasis, A. Giannoudakos, G. Mousdis, N. Vakakis, M. Kompitsas, A. Klini, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Appl. Phys. A 79, 1395 (2004).
[CrossRef]

2002

G. Brambilla, “High-temperature fiber Bragg grating thermometer,” Electron. Lett. 38, 954 (2002).
[CrossRef]

2001

G. Koundourakis, C. Rockstuhl, D. Papazoglou, A. Klini, I. Zergioti, N. A. Vainos, and C. Fotakis, Appl. Phys. Lett. 78, 868 (2001).
[CrossRef]

X. C. Li, F. Prinz, and J. Seim, Smart Mater. Struct. 10, 575 (2001).
[CrossRef]

1998

L. Gang-Chih, L. Wang, C. C. Yang, M. C. Shih, and T. J. Chuang, IEEE Photon. Technol. Lett. 10, 406 (1998).
[CrossRef]

Alexandropoulos, D.

M. Vasileiadis, L. Athanasekos, A. Meristoudi, D. Alexandropoulos, G. Mousdis, E. Karoutsos, A. Botsialas, and N. A. Vainos, Opt. Lett. 35, 1476 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

A. Meristoudi, L. Athanasekos, M. Vasileiadis, S. Pispas, G. Mousdis, E. Karoutsos, D. Alexandropoulos, H. Du, A. Tsigara, K. Kibasi, A. Perrone, and N. A. Vainos, J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 11, 034005 (2009).
[CrossRef]

Athanasekos, L.

M. Vasileiadis, L. Athanasekos, A. Meristoudi, D. Alexandropoulos, G. Mousdis, E. Karoutsos, A. Botsialas, and N. A. Vainos, Opt. Lett. 35, 1476 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

A. Meristoudi, L. Athanasekos, M. Vasileiadis, S. Pispas, G. Mousdis, E. Karoutsos, D. Alexandropoulos, H. Du, A. Tsigara, K. Kibasi, A. Perrone, and N. A. Vainos, J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 11, 034005 (2009).
[CrossRef]

Blaikie, R. J.

R. J. Blaikie, L. Lin, R. J. Reeves, and J. Roger, Int. J. Nanotechnol. 6, 222 (2009).
[CrossRef]

Botsialas, A.

Brambilla, G.

G. Brambilla, “High-temperature fiber Bragg grating thermometer,” Electron. Lett. 38, 954 (2002).
[CrossRef]

Chen, C.

Chuang, T. J.

L. Gang-Chih, L. Wang, C. C. Yang, M. C. Shih, and T. J. Chuang, IEEE Photon. Technol. Lett. 10, 406 (1998).
[CrossRef]

Deng, Y.

Du, H.

A. Meristoudi, L. Athanasekos, M. Vasileiadis, S. Pispas, G. Mousdis, E. Karoutsos, D. Alexandropoulos, H. Du, A. Tsigara, K. Kibasi, A. Perrone, and N. A. Vainos, J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 11, 034005 (2009).
[CrossRef]

Du, H. L.

A. Tsigara, G. Mountrichas, K. Gatsouli, A. Nichelatti, S. Pispas, N. Madamopoulos, N. A. Vainos, H. L. Du, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Sens. Actuators B Chem. 120, 481 (2007).
[CrossRef]

Eckersdorf, K.

L. Michalski, K. Eckersdorf, J. Kucharski, and J. McGhee, Temperature Measurement (Wiley, 2001).
[CrossRef]

Fotakis, C.

G. Koundourakis, C. Rockstuhl, D. Papazoglou, A. Klini, I. Zergioti, N. A. Vainos, and C. Fotakis, Appl. Phys. Lett. 78, 868 (2001).
[CrossRef]

Fuentes-Hernandez, C.

D. Owens, C. Fuentes-Hernandez, and B. Kippelen, Thin Solid Films 517, 2736 (2009).
[CrossRef]

Gang-Chih, L.

L. Gang-Chih, L. Wang, C. C. Yang, M. C. Shih, and T. J. Chuang, IEEE Photon. Technol. Lett. 10, 406 (1998).
[CrossRef]

Gatsouli, K.

A. Tsigara, G. Mountrichas, K. Gatsouli, A. Nichelatti, S. Pispas, N. Madamopoulos, N. A. Vainos, H. L. Du, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Sens. Actuators B Chem. 120, 481 (2007).
[CrossRef]

Giannoudakos, A.

N. A. Vainos, A. Tsigara, J. Manasis, A. Giannoudakos, G. Mousdis, N. Vakakis, M. Kompitsas, A. Klini, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Appl. Phys. A 79, 1395 (2004).
[CrossRef]

Karoutsos, E.

M. Vasileiadis, L. Athanasekos, A. Meristoudi, D. Alexandropoulos, G. Mousdis, E. Karoutsos, A. Botsialas, and N. A. Vainos, Opt. Lett. 35, 1476 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

A. Meristoudi, L. Athanasekos, M. Vasileiadis, S. Pispas, G. Mousdis, E. Karoutsos, D. Alexandropoulos, H. Du, A. Tsigara, K. Kibasi, A. Perrone, and N. A. Vainos, J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 11, 034005 (2009).
[CrossRef]

Kibasi, K.

A. Meristoudi, L. Athanasekos, M. Vasileiadis, S. Pispas, G. Mousdis, E. Karoutsos, D. Alexandropoulos, H. Du, A. Tsigara, K. Kibasi, A. Perrone, and N. A. Vainos, J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 11, 034005 (2009).
[CrossRef]

Kippelen, B.

D. Owens, C. Fuentes-Hernandez, and B. Kippelen, Thin Solid Films 517, 2736 (2009).
[CrossRef]

Klini, A.

N. A. Vainos, A. Tsigara, J. Manasis, A. Giannoudakos, G. Mousdis, N. Vakakis, M. Kompitsas, A. Klini, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Appl. Phys. A 79, 1395 (2004).
[CrossRef]

G. Koundourakis, C. Rockstuhl, D. Papazoglou, A. Klini, I. Zergioti, N. A. Vainos, and C. Fotakis, Appl. Phys. Lett. 78, 868 (2001).
[CrossRef]

Kompitsas, M.

N. A. Vainos, A. Tsigara, J. Manasis, A. Giannoudakos, G. Mousdis, N. Vakakis, M. Kompitsas, A. Klini, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Appl. Phys. A 79, 1395 (2004).
[CrossRef]

Koundourakis, G.

G. Koundourakis, C. Rockstuhl, D. Papazoglou, A. Klini, I. Zergioti, N. A. Vainos, and C. Fotakis, Appl. Phys. Lett. 78, 868 (2001).
[CrossRef]

Kucharski, J.

L. Michalski, K. Eckersdorf, J. Kucharski, and J. McGhee, Temperature Measurement (Wiley, 2001).
[CrossRef]

Li, X. C.

X. C. Li, F. Prinz, and J. Seim, Smart Mater. Struct. 10, 575 (2001).
[CrossRef]

Lin, L.

R. J. Blaikie, L. Lin, R. J. Reeves, and J. Roger, Int. J. Nanotechnol. 6, 222 (2009).
[CrossRef]

Lu, Y.

Madamopoulos, N.

A. Tsigara, G. Mountrichas, K. Gatsouli, A. Nichelatti, S. Pispas, N. Madamopoulos, N. A. Vainos, H. L. Du, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Sens. Actuators B Chem. 120, 481 (2007).
[CrossRef]

Manasis, J.

N. A. Vainos, A. Tsigara, J. Manasis, A. Giannoudakos, G. Mousdis, N. Vakakis, M. Kompitsas, A. Klini, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Appl. Phys. A 79, 1395 (2004).
[CrossRef]

McCluney, W. Ross

W. Ross McCluney, Introduction to Radiometry and Photometry (Artech, 1994).

McGhee, J.

L. Michalski, K. Eckersdorf, J. Kucharski, and J. McGhee, Temperature Measurement (Wiley, 2001).
[CrossRef]

Meristoudi, A.

M. Vasileiadis, L. Athanasekos, A. Meristoudi, D. Alexandropoulos, G. Mousdis, E. Karoutsos, A. Botsialas, and N. A. Vainos, Opt. Lett. 35, 1476 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

A. Meristoudi, L. Athanasekos, M. Vasileiadis, S. Pispas, G. Mousdis, E. Karoutsos, D. Alexandropoulos, H. Du, A. Tsigara, K. Kibasi, A. Perrone, and N. A. Vainos, J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 11, 034005 (2009).
[CrossRef]

Michalski, L.

L. Michalski, K. Eckersdorf, J. Kucharski, and J. McGhee, Temperature Measurement (Wiley, 2001).
[CrossRef]

Min, C.

Ming, H.

Mountrichas, G.

A. Tsigara, G. Mountrichas, K. Gatsouli, A. Nichelatti, S. Pispas, N. Madamopoulos, N. A. Vainos, H. L. Du, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Sens. Actuators B Chem. 120, 481 (2007).
[CrossRef]

Mousdis, G.

M. Vasileiadis, L. Athanasekos, A. Meristoudi, D. Alexandropoulos, G. Mousdis, E. Karoutsos, A. Botsialas, and N. A. Vainos, Opt. Lett. 35, 1476 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

A. Meristoudi, L. Athanasekos, M. Vasileiadis, S. Pispas, G. Mousdis, E. Karoutsos, D. Alexandropoulos, H. Du, A. Tsigara, K. Kibasi, A. Perrone, and N. A. Vainos, J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 11, 034005 (2009).
[CrossRef]

N. A. Vainos, A. Tsigara, J. Manasis, A. Giannoudakos, G. Mousdis, N. Vakakis, M. Kompitsas, A. Klini, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Appl. Phys. A 79, 1395 (2004).
[CrossRef]

Nichelatti, A.

A. Tsigara, G. Mountrichas, K. Gatsouli, A. Nichelatti, S. Pispas, N. Madamopoulos, N. A. Vainos, H. L. Du, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Sens. Actuators B Chem. 120, 481 (2007).
[CrossRef]

Ning, T.

Owens, D.

D. Owens, C. Fuentes-Hernandez, and B. Kippelen, Thin Solid Films 517, 2736 (2009).
[CrossRef]

Palik, E. D.

E. D. Palik, Handbook of Optical Constants of Solids(Academic, 1998).

Papazoglou, D.

G. Koundourakis, C. Rockstuhl, D. Papazoglou, A. Klini, I. Zergioti, N. A. Vainos, and C. Fotakis, Appl. Phys. Lett. 78, 868 (2001).
[CrossRef]

Perrone, A.

A. Meristoudi, L. Athanasekos, M. Vasileiadis, S. Pispas, G. Mousdis, E. Karoutsos, D. Alexandropoulos, H. Du, A. Tsigara, K. Kibasi, A. Perrone, and N. A. Vainos, J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 11, 034005 (2009).
[CrossRef]

Pispas, S.

A. Meristoudi, L. Athanasekos, M. Vasileiadis, S. Pispas, G. Mousdis, E. Karoutsos, D. Alexandropoulos, H. Du, A. Tsigara, K. Kibasi, A. Perrone, and N. A. Vainos, J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 11, 034005 (2009).
[CrossRef]

A. Tsigara, G. Mountrichas, K. Gatsouli, A. Nichelatti, S. Pispas, N. Madamopoulos, N. A. Vainos, H. L. Du, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Sens. Actuators B Chem. 120, 481 (2007).
[CrossRef]

Prinz, F.

X. C. Li, F. Prinz, and J. Seim, Smart Mater. Struct. 10, 575 (2001).
[CrossRef]

Reeves, R. J.

R. J. Blaikie, L. Lin, R. J. Reeves, and J. Roger, Int. J. Nanotechnol. 6, 222 (2009).
[CrossRef]

Rockstuhl, C.

G. Koundourakis, C. Rockstuhl, D. Papazoglou, A. Klini, I. Zergioti, N. A. Vainos, and C. Fotakis, Appl. Phys. Lett. 78, 868 (2001).
[CrossRef]

Roger, J.

R. J. Blaikie, L. Lin, R. J. Reeves, and J. Roger, Int. J. Nanotechnol. 6, 222 (2009).
[CrossRef]

Roubani-Kalantzopoulou, F.

A. Tsigara, G. Mountrichas, K. Gatsouli, A. Nichelatti, S. Pispas, N. Madamopoulos, N. A. Vainos, H. L. Du, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Sens. Actuators B Chem. 120, 481 (2007).
[CrossRef]

N. A. Vainos, A. Tsigara, J. Manasis, A. Giannoudakos, G. Mousdis, N. Vakakis, M. Kompitsas, A. Klini, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Appl. Phys. A 79, 1395 (2004).
[CrossRef]

Seim, J.

X. C. Li, F. Prinz, and J. Seim, Smart Mater. Struct. 10, 575 (2001).
[CrossRef]

Shih, M. C.

L. Gang-Chih, L. Wang, C. C. Yang, M. C. Shih, and T. J. Chuang, IEEE Photon. Technol. Lett. 10, 406 (1998).
[CrossRef]

Tsigara, A.

A. Meristoudi, L. Athanasekos, M. Vasileiadis, S. Pispas, G. Mousdis, E. Karoutsos, D. Alexandropoulos, H. Du, A. Tsigara, K. Kibasi, A. Perrone, and N. A. Vainos, J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 11, 034005 (2009).
[CrossRef]

A. Tsigara, G. Mountrichas, K. Gatsouli, A. Nichelatti, S. Pispas, N. Madamopoulos, N. A. Vainos, H. L. Du, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Sens. Actuators B Chem. 120, 481 (2007).
[CrossRef]

N. A. Vainos, A. Tsigara, J. Manasis, A. Giannoudakos, G. Mousdis, N. Vakakis, M. Kompitsas, A. Klini, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Appl. Phys. A 79, 1395 (2004).
[CrossRef]

Vainos, N. A.

M. Vasileiadis, L. Athanasekos, A. Meristoudi, D. Alexandropoulos, G. Mousdis, E. Karoutsos, A. Botsialas, and N. A. Vainos, Opt. Lett. 35, 1476 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

A. Meristoudi, L. Athanasekos, M. Vasileiadis, S. Pispas, G. Mousdis, E. Karoutsos, D. Alexandropoulos, H. Du, A. Tsigara, K. Kibasi, A. Perrone, and N. A. Vainos, J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 11, 034005 (2009).
[CrossRef]

A. Tsigara, G. Mountrichas, K. Gatsouli, A. Nichelatti, S. Pispas, N. Madamopoulos, N. A. Vainos, H. L. Du, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Sens. Actuators B Chem. 120, 481 (2007).
[CrossRef]

N. A. Vainos, A. Tsigara, J. Manasis, A. Giannoudakos, G. Mousdis, N. Vakakis, M. Kompitsas, A. Klini, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Appl. Phys. A 79, 1395 (2004).
[CrossRef]

G. Koundourakis, C. Rockstuhl, D. Papazoglou, A. Klini, I. Zergioti, N. A. Vainos, and C. Fotakis, Appl. Phys. Lett. 78, 868 (2001).
[CrossRef]

Vakakis, N.

N. A. Vainos, A. Tsigara, J. Manasis, A. Giannoudakos, G. Mousdis, N. Vakakis, M. Kompitsas, A. Klini, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Appl. Phys. A 79, 1395 (2004).
[CrossRef]

Vasileiadis, M.

M. Vasileiadis, L. Athanasekos, A. Meristoudi, D. Alexandropoulos, G. Mousdis, E. Karoutsos, A. Botsialas, and N. A. Vainos, Opt. Lett. 35, 1476 (2010).
[CrossRef] [PubMed]

A. Meristoudi, L. Athanasekos, M. Vasileiadis, S. Pispas, G. Mousdis, E. Karoutsos, D. Alexandropoulos, H. Du, A. Tsigara, K. Kibasi, A. Perrone, and N. A. Vainos, J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 11, 034005 (2009).
[CrossRef]

Wang, L.

L. Gang-Chih, L. Wang, C. C. Yang, M. C. Shih, and T. J. Chuang, IEEE Photon. Technol. Lett. 10, 406 (1998).
[CrossRef]

Wang, P.

Yang, C. C.

L. Gang-Chih, L. Wang, C. C. Yang, M. C. Shih, and T. J. Chuang, IEEE Photon. Technol. Lett. 10, 406 (1998).
[CrossRef]

Yang, G.

Zergioti, I.

G. Koundourakis, C. Rockstuhl, D. Papazoglou, A. Klini, I. Zergioti, N. A. Vainos, and C. Fotakis, Appl. Phys. Lett. 78, 868 (2001).
[CrossRef]

Zhou, Y.

Appl. Phys. A

N. A. Vainos, A. Tsigara, J. Manasis, A. Giannoudakos, G. Mousdis, N. Vakakis, M. Kompitsas, A. Klini, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Appl. Phys. A 79, 1395 (2004).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett.

G. Koundourakis, C. Rockstuhl, D. Papazoglou, A. Klini, I. Zergioti, N. A. Vainos, and C. Fotakis, Appl. Phys. Lett. 78, 868 (2001).
[CrossRef]

Electron. Lett.

G. Brambilla, “High-temperature fiber Bragg grating thermometer,” Electron. Lett. 38, 954 (2002).
[CrossRef]

IEEE Photon. Technol. Lett.

L. Gang-Chih, L. Wang, C. C. Yang, M. C. Shih, and T. J. Chuang, IEEE Photon. Technol. Lett. 10, 406 (1998).
[CrossRef]

Int. J. Nanotechnol.

R. J. Blaikie, L. Lin, R. J. Reeves, and J. Roger, Int. J. Nanotechnol. 6, 222 (2009).
[CrossRef]

J. Opt. A: Pure Appl. Opt.

A. Meristoudi, L. Athanasekos, M. Vasileiadis, S. Pispas, G. Mousdis, E. Karoutsos, D. Alexandropoulos, H. Du, A. Tsigara, K. Kibasi, A. Perrone, and N. A. Vainos, J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 11, 034005 (2009).
[CrossRef]

Opt. Lett.

Sens. Actuators B Chem.

A. Tsigara, G. Mountrichas, K. Gatsouli, A. Nichelatti, S. Pispas, N. Madamopoulos, N. A. Vainos, H. L. Du, and F. Roubani-Kalantzopoulou, Sens. Actuators B Chem. 120, 481 (2007).
[CrossRef]

Smart Mater. Struct.

X. C. Li, F. Prinz, and J. Seim, Smart Mater. Struct. 10, 575 (2001).
[CrossRef]

Thin Solid Films

D. Owens, C. Fuentes-Hernandez, and B. Kippelen, Thin Solid Films 517, 2736 (2009).
[CrossRef]

Other

L. Michalski, K. Eckersdorf, J. Kucharski, and J. McGhee, Temperature Measurement (Wiley, 2001).
[CrossRef]

W. Ross McCluney, Introduction to Radiometry and Photometry (Artech, 1994).

E. D. Palik, Handbook of Optical Constants of Solids(Academic, 1998).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (3)

Fig. 1
Fig. 1

(a) Schematic outline of structure design and the interrogation concept. (b) Scanning electron micrograph of a segment of the multilayer diffractive element.

Fig. 2
Fig. 2

Theoretical behavior of the T 0 , R 0 , and R + 1 at the 633 nm wavelength as a function of the refractive index, SnO x , of the nonstoichiometric tin oxide.

Fig. 3
Fig. 3

Experimental behavior of three important parameters R 0 , T 0 , and R + 1 for ascending (↑) and descending (↓) temperatures Θ ° C . The observed crossing of R 0 and R + 1 is in full agreement with theory.

Metrics