Abstract

We present a multimodal diode-laser-based terahertz (THz) spectroscopy system. In contrast to other laser-based THz setups that provide either cw or broadband THz generation, our configuration combines the advantages of both approaches. Our low complexity setup enables fast switching from cw difference frequency generation to broadband THz emission, enabling sophisticated data analysis like much more complex time domain spectroscopy systems.

© 2010 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. W. B. Colson, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 475, 397 (2001).
    [CrossRef]
  2. R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
    [CrossRef] [PubMed]
  3. A. Barkan, F. Tittel, D. Mittleman, R. Dengler, P. Siegel, G. Scalari, P. Siegel, G. Scalari, L. Ajili, J. Faist, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, and D. Ritchie, Opt. Lett. 29, 575(2004).
    [CrossRef] [PubMed]
  4. M. van Exter, C. Fattinger, and D. Grischkowsky, Opt. Lett. 14, 1128 (1989).
    [CrossRef]
  5. P. U. Jepsen, R. H. Jacobsen, and S. R. Keiding, J. Opt. Soc. Am. B 13, 2424 (1996).
    [CrossRef]
  6. A. J. L. Adam, J. M. Brok, M. A. Seo, K. J. Ahn, D. S. Kim, J. H. Kang, Q. H. Park, M. Nagel, and P. C. Planken, Opt. Express 16, 7407 (2008).
    [CrossRef] [PubMed]
  7. C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
    [CrossRef]
  8. N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
    [CrossRef]
  9. K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
    [CrossRef]
  10. S. Matsuura, M. Tani, and K. Sakai, Appl. Phys. Lett. 70, 559 (1997).
    [CrossRef]
  11. K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
    [CrossRef]
  12. M. Tani, O. Morikawa, S. Matsuura, and M. Hangyo, Semicond. Sci. Technol. 20, S151 (2005).
    [CrossRef]
  13. R. Wilk, F. Breitfeld, M. Mikulics, and M. Koch, Appl. Opt. 47, 3023 (2008).
    [CrossRef] [PubMed]
  14. M. Scheller and M. Koch, Opt. Express 17, 17723 (2009).
    [CrossRef] [PubMed]
  15. M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
    [CrossRef]
  16. S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
    [CrossRef]
  17. I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
    [CrossRef]
  18. I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
    [CrossRef]
  19. T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
    [CrossRef]
  20. M. Matus, M. Kolesik, J. Moloney, M. Hofmann, and S. Koch, J. Opt. Soc. Am. B 21, 1758 (2004).
    [CrossRef]
  21. N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
    [CrossRef]
  22. M. Scheller and M. Koch, J. Infrared Milli. Terahz. Waves 30, 762 (2009).
    [CrossRef]

2009

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

M. Scheller and M. Koch, J. Infrared Milli. Terahz. Waves 30, 762 (2009).
[CrossRef]

M. Scheller and M. Koch, Opt. Express 17, 17723 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

2008

2007

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

2006

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

2005

M. Tani, O. Morikawa, S. Matsuura, and M. Hangyo, Semicond. Sci. Technol. 20, S151 (2005).
[CrossRef]

2004

2002

R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
[CrossRef] [PubMed]

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

2001

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

W. B. Colson, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 475, 397 (2001).
[CrossRef]

1998

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

1997

S. Matsuura, M. Tani, and K. Sakai, Appl. Phys. Lett. 70, 559 (1997).
[CrossRef]

1996

1995

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

1989

Adam, A. J. L.

Ahn, K. J.

Ajili, L.

Barkan, A.

Bastian, M.

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

Bauer, T.

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

Beere, H.

Beltram, F.

R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
[CrossRef] [PubMed]

Bieler, M.

C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
[CrossRef]

Breede, M.

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Breitfeld, F.

Brok, J. M.

Brown, E.

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

Calawa, S.

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

Colson, W. B.

W. B. Colson, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 475, 397 (2001).
[CrossRef]

Davies, A.

Dengler, R.

Dewald, A.

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

DiNatale, W.

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

Dinatale, W. F.

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

Donhuijsen, K.

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Duerr, E. K.

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

Faist, J.

Fattinger, C.

Gerlach, K.

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

Grischkowsky, D.

Güsten, R.

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Hangyo, M.

M. Tani, O. Morikawa, S. Matsuura, and M. Hangyo, Semicond. Sci. Technol. 20, S151 (2005).
[CrossRef]

Hasek, T.

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

Hein, G.

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Hochrein, T.

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

Hoffmann, S.

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Hofmann, M.

M. Matus, M. Kolesik, J. Moloney, M. Hofmann, and S. Koch, J. Opt. Soc. Am. B 21, 1758 (2004).
[CrossRef]

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Hofmann, M. R.

C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
[CrossRef]

Iotti, R.

R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
[CrossRef] [PubMed]

Jacobs, K.

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Jacobsen, R. H.

Jepsen, P. U.

Jördens, C.

C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
[CrossRef]

Kang, J. H.

Kaseman, C.

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Keiding, S. R.

Kim, D. S.

Kleine-Ostmann, T.

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Knobloch, P.

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Koch, M.

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

M. Scheller and M. Koch, J. Infrared Milli. Terahz. Waves 30, 762 (2009).
[CrossRef]

M. Scheller and M. Koch, Opt. Express 17, 17723 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
[CrossRef]

R. Wilk, F. Breitfeld, M. Mikulics, and M. Koch, Appl. Opt. 47, 3023 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Koch, S.

M. Matus, M. Kolesik, J. Moloney, M. Hofmann, and S. Koch, J. Opt. Soc. Am. B 21, 1758 (2004).
[CrossRef]

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

Köhler, R.

R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
[CrossRef] [PubMed]

Kolesik, M.

Kordoš, P.

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Kretschmer, K.

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

Krumbholz, N.

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

Kürner, T.

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

Leonhardt, R.

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

Li, M.

C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
[CrossRef]

Linfield, E.

Löffler, T.

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

Lüth, H.

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Lyszczarz, T.

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

Maier, K.

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

Marso, M.

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Matsuura, S.

M. Tani, O. Morikawa, S. Matsuura, and M. Hangyo, Semicond. Sci. Technol. 20, S151 (2005).
[CrossRef]

S. Matsuura, M. Tani, and K. Sakai, Appl. Phys. Lett. 70, 559 (1997).
[CrossRef]

Matus, M.

M. Matus, M. Kolesik, J. Moloney, M. Hofmann, and S. Koch, J. Opt. Soc. Am. B 21, 1758 (2004).
[CrossRef]

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

Mayorga, I. C.

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

Mayorga, I. Cámara

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

McIntosh, K.

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

McIntosh, K. A.

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

McMahon, O.

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

Meyn, J.

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

Michael, E. A.

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Mikulics, M.

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

R. Wilk, F. Breitfeld, M. Mikulics, and M. Koch, Appl. Opt. 47, 3023 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Mittleman, D.

Moloney, J.

M. Matus, M. Kolesik, J. Moloney, M. Hofmann, and S. Koch, J. Opt. Soc. Am. B 21, 1758 (2004).
[CrossRef]

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

Molvar, K. A.

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

Morikawa, O.

M. Tani, O. Morikawa, S. Matsuura, and M. Hangyo, Semicond. Sci. Technol. 20, S151 (2005).
[CrossRef]

Nagel, M.

Nichols, K.

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

Park, Q. H.

Pierz, K.

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Piesiewicz, R.

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

Planken, P. C.

Pradas, P. Muñoz

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Quast, H.

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

Ritchie, D.

Roskos, H. G.

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

Rossi, F.

R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
[CrossRef] [PubMed]

Rutz, F.

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

Sakai, K.

S. Matsuura, M. Tani, and K. Sakai, Appl. Phys. Lett. 70, 559 (1997).
[CrossRef]

Scalari, G.

Scheller, M.

M. Scheller and M. Koch, Opt. Express 17, 17723 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

M. Scheller and M. Koch, J. Infrared Milli. Terahz. Waves 30, 762 (2009).
[CrossRef]

Schlauch, T.

C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
[CrossRef]

Schmitz, A.

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

Seo, M. A.

Siebert, K. J.

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

Siegel, P.

Sperling, M.

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

Struckmeier, J.

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

Tani, M.

M. Tani, O. Morikawa, S. Matsuura, and M. Hangyo, Semicond. Sci. Technol. 20, S151 (2005).
[CrossRef]

S. Matsuura, M. Tani, and K. Sakai, Appl. Phys. Lett. 70, 559 (1997).
[CrossRef]

Thomson, M.

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

Tittel, F.

Tredicucci, A.

R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
[CrossRef] [PubMed]

van der Wal, P.

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

van Exter, M.

Verghese, S.

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

Vieweg, N.

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

Wilk, R.

Zimmermann, J.

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

Appl. Opt.

Appl. Phys. B

C. Jördens, T. Schlauch, M. R. Hofmann, M. Li, M. Bieler, and M. Koch, Appl. Phys. B 93, 515 (2008).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett.

K. McIntosh, E. Brown, K. Nichols, O. McMahon, W. DiNatale, and T. Lyszczarz, Appl. Phys. Lett. 67, 3844 (1995).
[CrossRef]

S. Matsuura, M. Tani, and K. Sakai, Appl. Phys. Lett. 70, 559 (1997).
[CrossRef]

K. J. Siebert, H. Quast, R. Leonhardt, T. Löffler, M. Thomson, T. Bauer, and H. G. Roskos, Appl. Phys. Lett. 80, 3003 (2002).
[CrossRef]

S. Verghese, K. A. McIntosh, S. Calawa, W. F. Dinatale, E. K. Duerr, and K. A. Molvar, Appl. Phys. Lett. 73, 3824 (1998).
[CrossRef]

I. C. Mayorga, E. A. Michael, A. Schmitz, P. van der Wal, R. Güsten, K. Maier, and A. Dewald, Appl. Phys. Lett. 91, 031107 (2007).
[CrossRef]

N. Krumbholz, K. Gerlach, F. Rutz, M. Koch, R. Piesiewicz, T. Kürner, and D. Mittleman, Appl. Phys. Lett. 88, 202905(2006).
[CrossRef]

Electron. Lett.

T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, S. Hoffmann, M. Breede, M. Hofmann, G. Hein, K. Pierz, M. Sperling, and K. Donhuijsen, Electron. Lett. 37, 1461 (2001).
[CrossRef]

J. Appl. Phys.

I. Cámara Mayorga, P. Muñoz Pradas, E. A. Michael, M. Mikulics, A. Schmitz, P. van der Wal, C. Kaseman, R. Güsten, K. Jacobs, M. Marso, H. Lüth, and P. Kordoš, J. Appl. Phys. 100, 043116 (2006).
[CrossRef]

J. Infrared Milli. Terahz. Waves

M. Scheller and M. Koch, J. Infrared Milli. Terahz. Waves 30, 762 (2009).
[CrossRef]

J. Opt. Soc. Am. B

Nature

R. Köhler, A. Tredicucci, F. Beltram, H. Beere, E. Linfield, A. Davies, D. Ritchie, R. Iotti, and F. Rossi, Nature 417, 156 (2002).
[CrossRef] [PubMed]

Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A

W. B. Colson, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 475, 397 (2001).
[CrossRef]

Opt. Commun.

M. Breede, S. Hoffmann, J. Zimmermann, J. Struckmeier, M. Hofmann, T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, M. Koch, J. Meyn, M. Matus, S. Koch, and J. Moloney, Opt. Commun. 207, 261 (2002).
[CrossRef]

Opt. Express

Opt. Lett.

Polymer Testing

N. Krumbholz, T. Hochrein, N. Vieweg, T. Hasek, K. Kretschmer, M. Bastian, M. Mikulics, and M. Koch, Polymer Testing 28, 30 (2009).
[CrossRef]

Semicond. Sci. Technol.

M. Tani, O. Morikawa, S. Matsuura, and M. Hangyo, Semicond. Sci. Technol. 20, S151 (2005).
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (5)

Fig. 1
Fig. 1

FTECAL and scheme for THz homodyne detection.

Fig. 2
Fig. 2

Two-color operation of the FTECAL with (a) experimental setup, (b) optical spectrum, (c) THz transient, and (d) THz spectrum.

Fig. 3
Fig. 3

Multimode operation of the FTECAL. (a) Experimental setup, (b) optical spectrum, (c) THz transient, and (d) corresponding THz spectrum.

Fig. 4
Fig. 4

Comparison of standard TDS (red dashed curve) and QTDS (black solid curve).

Fig. 5
Fig. 5

Comparison of two-color cw operation and QTDS operation.

Metrics