Abstract

An ellipsometer with 3μm×5μm spot size constructed with a single focusing and imaging element is used to measure the layer number of exfoliated graphene on glass and expitaxial graphene on SiC. Ellipsometric sensitivity to graphene layer number increases with decreasing layer number and decreasing substrate refractive index. Single-atomic-layer sensitivity has been achieved. High spatial resolution imaging and ellipsometry is useful for rapid characterization of epitaxially grown graphene films.

© 2010 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. J. T. Grant and T. W. Haas, Surf. Sci. 21, 76 (1970).
    [CrossRef]
  2. W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92(2007).
    [CrossRef]
  3. A. Reina, X. Jia, J. Ho, D. Nezich, H. Son, V. Bulovic, M. S. Dresselhaus, and J. Kong, Nano Lett. 9, 30 (2009).
    [CrossRef]
  4. K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J.-H. Ahn, P. Kim, J.-Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457, 706 (2009).
    [CrossRef] [PubMed]
  5. X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
    [CrossRef] [PubMed]
  6. L. M. Malard, M. A. Pimenta, G. Dresselhaus, and M. S. Dresselhaus, Phys. Rep. 473, 51 (2009).
    [CrossRef]
  7. A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3, 210 (2008).
    [CrossRef] [PubMed]
  8. T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
    [CrossRef]
  9. P. Blake, E. Hill, A. Neto, K. Novoselov, and D. Jiang, Appl. Phys. Lett. 91, 063124 (2007).
    [CrossRef]
  10. P. E. Gaskell, H. S. Skulason, C. Rodenchuk, and T. Szkopek, Appl. Phys. Lett. 94, 143101 (2009).
    [CrossRef]
  11. V. Meera and G. S. Setlur, J. Appl. Phys. 107, 033525 (2010).
    [CrossRef]
  12. V. G. Kravets, A. N. Grigorenko, R. R. Nair, P. Blake, S. Anissimova, K. S. Novoselov, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 81, 155413 (2010).
    [CrossRef]
  13. D. S. L. Abergel, A. Russell, and V. I. Fal’ko, Appl. Phys. Lett. 91, 063125 (2007).
    [CrossRef]
  14. L. Falkovsky and A. Varlamov, Eur. Phys. J. B 56, 281(2007).
    [CrossRef]
  15. T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 78, 085432 (2008).
    [CrossRef]
  16. R. R. Nair, P. Blake, A. N. Grigorenko, K. S. Novoselov, T. J. Booth, T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Science 320, 1308 (2008).
    [CrossRef] [PubMed]
  17. K. F. Mak, M. Y. Sfeir, Y. Wu, C. H. Lui, J. A. Misewich, and T. F. Heinz, Phys. Rev. Lett. 101, 196405 (2008).
    [CrossRef] [PubMed]
  18. U. Neuschaefer-Rube, W. Holzapfel, and F. Wirth, Measurement 33, 163 (2003).
    [CrossRef]
  19. J. Krupka and W. Strupinski, Appl. Phys. Lett. 96, 082101(2010).
    [CrossRef]
  20. K. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. Booth, V. Khotkevich, S. Morozov, and A. Geim, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 102, 10451 (2005).
    [CrossRef] [PubMed]
  21. D. Teweldebrhan, V. Goyal, M. Rahman, and A. A. Balandin, Appl. Phys. Lett. 96, 053107 (2010).
    [CrossRef]

2010 (4)

V. Meera and G. S. Setlur, J. Appl. Phys. 107, 033525 (2010).
[CrossRef]

V. G. Kravets, A. N. Grigorenko, R. R. Nair, P. Blake, S. Anissimova, K. S. Novoselov, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 81, 155413 (2010).
[CrossRef]

J. Krupka and W. Strupinski, Appl. Phys. Lett. 96, 082101(2010).
[CrossRef]

D. Teweldebrhan, V. Goyal, M. Rahman, and A. A. Balandin, Appl. Phys. Lett. 96, 053107 (2010).
[CrossRef]

2009 (6)

P. E. Gaskell, H. S. Skulason, C. Rodenchuk, and T. Szkopek, Appl. Phys. Lett. 94, 143101 (2009).
[CrossRef]

A. Reina, X. Jia, J. Ho, D. Nezich, H. Son, V. Bulovic, M. S. Dresselhaus, and J. Kong, Nano Lett. 9, 30 (2009).
[CrossRef]

K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J.-H. Ahn, P. Kim, J.-Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457, 706 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

L. M. Malard, M. A. Pimenta, G. Dresselhaus, and M. S. Dresselhaus, Phys. Rep. 473, 51 (2009).
[CrossRef]

T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
[CrossRef]

2008 (4)

A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3, 210 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 78, 085432 (2008).
[CrossRef]

R. R. Nair, P. Blake, A. N. Grigorenko, K. S. Novoselov, T. J. Booth, T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Science 320, 1308 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

K. F. Mak, M. Y. Sfeir, Y. Wu, C. H. Lui, J. A. Misewich, and T. F. Heinz, Phys. Rev. Lett. 101, 196405 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

2007 (4)

D. S. L. Abergel, A. Russell, and V. I. Fal’ko, Appl. Phys. Lett. 91, 063125 (2007).
[CrossRef]

L. Falkovsky and A. Varlamov, Eur. Phys. J. B 56, 281(2007).
[CrossRef]

P. Blake, E. Hill, A. Neto, K. Novoselov, and D. Jiang, Appl. Phys. Lett. 91, 063124 (2007).
[CrossRef]

W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92(2007).
[CrossRef]

2005 (1)

K. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. Booth, V. Khotkevich, S. Morozov, and A. Geim, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 102, 10451 (2005).
[CrossRef] [PubMed]

2003 (1)

U. Neuschaefer-Rube, W. Holzapfel, and F. Wirth, Measurement 33, 163 (2003).
[CrossRef]

1970 (1)

J. T. Grant and T. W. Haas, Surf. Sci. 21, 76 (1970).
[CrossRef]

Abergel, D. S. L.

D. S. L. Abergel, A. Russell, and V. I. Fal’ko, Appl. Phys. Lett. 91, 063125 (2007).
[CrossRef]

Ahn, J.-H.

K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J.-H. Ahn, P. Kim, J.-Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457, 706 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

An, J.

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Anissimova, S.

V. G. Kravets, A. N. Grigorenko, R. R. Nair, P. Blake, S. Anissimova, K. S. Novoselov, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 81, 155413 (2010).
[CrossRef]

Balandin, A. A.

D. Teweldebrhan, V. Goyal, M. Rahman, and A. A. Balandin, Appl. Phys. Lett. 96, 053107 (2010).
[CrossRef]

Banerjee, S.

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Basko, D.

T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
[CrossRef]

Berger, C.

W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92(2007).
[CrossRef]

Blake, P.

V. G. Kravets, A. N. Grigorenko, R. R. Nair, P. Blake, S. Anissimova, K. S. Novoselov, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 81, 155413 (2010).
[CrossRef]

R. R. Nair, P. Blake, A. N. Grigorenko, K. S. Novoselov, T. J. Booth, T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Science 320, 1308 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

P. Blake, E. Hill, A. Neto, K. Novoselov, and D. Jiang, Appl. Phys. Lett. 91, 063124 (2007).
[CrossRef]

Bonetti, A.

T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
[CrossRef]

Bonini, N.

T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
[CrossRef]

Booth, T.

K. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. Booth, V. Khotkevich, S. Morozov, and A. Geim, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 102, 10451 (2005).
[CrossRef] [PubMed]

Booth, T. J.

R. R. Nair, P. Blake, A. N. Grigorenko, K. S. Novoselov, T. J. Booth, T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Science 320, 1308 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Bulovic, V.

A. Reina, X. Jia, J. Ho, D. Nezich, H. Son, V. Bulovic, M. S. Dresselhaus, and J. Kong, Nano Lett. 9, 30 (2009).
[CrossRef]

Cai, W.

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Chakraborty, B.

A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3, 210 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Choi, J.-Y.

K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J.-H. Ahn, P. Kim, J.-Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457, 706 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Colombo, L.

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Conrad, E. H.

W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92(2007).
[CrossRef]

Das, A.

A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3, 210 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

de Heer, W. A.

W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92(2007).
[CrossRef]

Dresselhaus, G.

L. M. Malard, M. A. Pimenta, G. Dresselhaus, and M. S. Dresselhaus, Phys. Rep. 473, 51 (2009).
[CrossRef]

Dresselhaus, M. S.

L. M. Malard, M. A. Pimenta, G. Dresselhaus, and M. S. Dresselhaus, Phys. Rep. 473, 51 (2009).
[CrossRef]

A. Reina, X. Jia, J. Ho, D. Nezich, H. Son, V. Bulovic, M. S. Dresselhaus, and J. Kong, Nano Lett. 9, 30 (2009).
[CrossRef]

Fal’ko, V. I.

D. S. L. Abergel, A. Russell, and V. I. Fal’ko, Appl. Phys. Lett. 91, 063125 (2007).
[CrossRef]

Falkovsky, L.

L. Falkovsky and A. Varlamov, Eur. Phys. J. B 56, 281(2007).
[CrossRef]

Ferrari, A.

T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
[CrossRef]

Ferrari, A. C.

A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3, 210 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

First, P. N.

W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92(2007).
[CrossRef]

Galiotis, C.

T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
[CrossRef]

Gaskell, P. E.

P. E. Gaskell, H. S. Skulason, C. Rodenchuk, and T. Szkopek, Appl. Phys. Lett. 94, 143101 (2009).
[CrossRef]

Geim, A.

T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
[CrossRef]

K. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. Booth, V. Khotkevich, S. Morozov, and A. Geim, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 102, 10451 (2005).
[CrossRef] [PubMed]

Geim, A. K.

V. G. Kravets, A. N. Grigorenko, R. R. Nair, P. Blake, S. Anissimova, K. S. Novoselov, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 81, 155413 (2010).
[CrossRef]

T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 78, 085432 (2008).
[CrossRef]

R. R. Nair, P. Blake, A. N. Grigorenko, K. S. Novoselov, T. J. Booth, T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Science 320, 1308 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3, 210 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Goyal, V.

D. Teweldebrhan, V. Goyal, M. Rahman, and A. A. Balandin, Appl. Phys. Lett. 96, 053107 (2010).
[CrossRef]

Grant, J. T.

J. T. Grant and T. W. Haas, Surf. Sci. 21, 76 (1970).
[CrossRef]

Grigorenko, A. N.

V. G. Kravets, A. N. Grigorenko, R. R. Nair, P. Blake, S. Anissimova, K. S. Novoselov, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 81, 155413 (2010).
[CrossRef]

R. R. Nair, P. Blake, A. N. Grigorenko, K. S. Novoselov, T. J. Booth, T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Science 320, 1308 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Haas, T. W.

J. T. Grant and T. W. Haas, Surf. Sci. 21, 76 (1970).
[CrossRef]

Hass, J.

W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92(2007).
[CrossRef]

Heinz, T. F.

K. F. Mak, M. Y. Sfeir, Y. Wu, C. H. Lui, J. A. Misewich, and T. F. Heinz, Phys. Rev. Lett. 101, 196405 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Hill, E.

P. Blake, E. Hill, A. Neto, K. Novoselov, and D. Jiang, Appl. Phys. Lett. 91, 063124 (2007).
[CrossRef]

Ho, J.

A. Reina, X. Jia, J. Ho, D. Nezich, H. Son, V. Bulovic, M. S. Dresselhaus, and J. Kong, Nano Lett. 9, 30 (2009).
[CrossRef]

Holzapfel, W.

U. Neuschaefer-Rube, W. Holzapfel, and F. Wirth, Measurement 33, 163 (2003).
[CrossRef]

Hong, B. H.

K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J.-H. Ahn, P. Kim, J.-Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457, 706 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Jalil, R.

T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
[CrossRef]

Jang, H.

K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J.-H. Ahn, P. Kim, J.-Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457, 706 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Jia, X.

A. Reina, X. Jia, J. Ho, D. Nezich, H. Son, V. Bulovic, M. S. Dresselhaus, and J. Kong, Nano Lett. 9, 30 (2009).
[CrossRef]

Jiang, D.

P. Blake, E. Hill, A. Neto, K. Novoselov, and D. Jiang, Appl. Phys. Lett. 91, 063124 (2007).
[CrossRef]

K. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. Booth, V. Khotkevich, S. Morozov, and A. Geim, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 102, 10451 (2005).
[CrossRef] [PubMed]

Jung, I.

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Khotkevich, V.

K. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. Booth, V. Khotkevich, S. Morozov, and A. Geim, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 102, 10451 (2005).
[CrossRef] [PubMed]

Kim, J. M.

K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J.-H. Ahn, P. Kim, J.-Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457, 706 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Kim, K. S.

K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J.-H. Ahn, P. Kim, J.-Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457, 706 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J.-H. Ahn, P. Kim, J.-Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457, 706 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Kim, P.

K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J.-H. Ahn, P. Kim, J.-Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457, 706 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Kim, S.

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Kong, J.

A. Reina, X. Jia, J. Ho, D. Nezich, H. Son, V. Bulovic, M. S. Dresselhaus, and J. Kong, Nano Lett. 9, 30 (2009).
[CrossRef]

Kravets, V. G.

V. G. Kravets, A. N. Grigorenko, R. R. Nair, P. Blake, S. Anissimova, K. S. Novoselov, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 81, 155413 (2010).
[CrossRef]

Krishnamurthy, H. R.

A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3, 210 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Krupka, J.

J. Krupka and W. Strupinski, Appl. Phys. Lett. 96, 082101(2010).
[CrossRef]

Lee, S. Y.

K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J.-H. Ahn, P. Kim, J.-Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457, 706 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Li, T.

W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92(2007).
[CrossRef]

Li, X.

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92(2007).
[CrossRef]

Lombardo, A.

T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
[CrossRef]

Lui, C. H.

K. F. Mak, M. Y. Sfeir, Y. Wu, C. H. Lui, J. A. Misewich, and T. F. Heinz, Phys. Rev. Lett. 101, 196405 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Mak, K. F.

K. F. Mak, M. Y. Sfeir, Y. Wu, C. H. Lui, J. A. Misewich, and T. F. Heinz, Phys. Rev. Lett. 101, 196405 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Malard, L. M.

L. M. Malard, M. A. Pimenta, G. Dresselhaus, and M. S. Dresselhaus, Phys. Rep. 473, 51 (2009).
[CrossRef]

Martinez, G.

W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92(2007).
[CrossRef]

Marzari, N.

T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
[CrossRef]

Meera, V.

V. Meera and G. S. Setlur, J. Appl. Phys. 107, 033525 (2010).
[CrossRef]

Misewich, J. A.

K. F. Mak, M. Y. Sfeir, Y. Wu, C. H. Lui, J. A. Misewich, and T. F. Heinz, Phys. Rev. Lett. 101, 196405 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Mohiuddin, T.

T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
[CrossRef]

Morozov, S.

K. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. Booth, V. Khotkevich, S. Morozov, and A. Geim, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 102, 10451 (2005).
[CrossRef] [PubMed]

Nah, J.

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Nair, R.

T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
[CrossRef]

Nair, R. R.

V. G. Kravets, A. N. Grigorenko, R. R. Nair, P. Blake, S. Anissimova, K. S. Novoselov, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 81, 155413 (2010).
[CrossRef]

R. R. Nair, P. Blake, A. N. Grigorenko, K. S. Novoselov, T. J. Booth, T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Science 320, 1308 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Neto, A.

P. Blake, E. Hill, A. Neto, K. Novoselov, and D. Jiang, Appl. Phys. Lett. 91, 063124 (2007).
[CrossRef]

Neuschaefer-Rube, U.

U. Neuschaefer-Rube, W. Holzapfel, and F. Wirth, Measurement 33, 163 (2003).
[CrossRef]

Nezich, D.

A. Reina, X. Jia, J. Ho, D. Nezich, H. Son, V. Bulovic, M. S. Dresselhaus, and J. Kong, Nano Lett. 9, 30 (2009).
[CrossRef]

Novoselov, K.

T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
[CrossRef]

P. Blake, E. Hill, A. Neto, K. Novoselov, and D. Jiang, Appl. Phys. Lett. 91, 063124 (2007).
[CrossRef]

K. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. Booth, V. Khotkevich, S. Morozov, and A. Geim, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 102, 10451 (2005).
[CrossRef] [PubMed]

Novoselov, K. S.

V. G. Kravets, A. N. Grigorenko, R. R. Nair, P. Blake, S. Anissimova, K. S. Novoselov, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 81, 155413 (2010).
[CrossRef]

R. R. Nair, P. Blake, A. N. Grigorenko, K. S. Novoselov, T. J. Booth, T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Science 320, 1308 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3, 210 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Peres, N. M. R.

T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 78, 085432 (2008).
[CrossRef]

R. R. Nair, P. Blake, A. N. Grigorenko, K. S. Novoselov, T. J. Booth, T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Science 320, 1308 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Pimenta, M. A.

L. M. Malard, M. A. Pimenta, G. Dresselhaus, and M. S. Dresselhaus, Phys. Rep. 473, 51 (2009).
[CrossRef]

Piner, R.

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Pisana, S.

A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3, 210 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Piscanec, S.

A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3, 210 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Potemski, M.

W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92(2007).
[CrossRef]

Rahman, M.

D. Teweldebrhan, V. Goyal, M. Rahman, and A. A. Balandin, Appl. Phys. Lett. 96, 053107 (2010).
[CrossRef]

Reina, A.

A. Reina, X. Jia, J. Ho, D. Nezich, H. Son, V. Bulovic, M. S. Dresselhaus, and J. Kong, Nano Lett. 9, 30 (2009).
[CrossRef]

Rodenchuk, C.

P. E. Gaskell, H. S. Skulason, C. Rodenchuk, and T. Szkopek, Appl. Phys. Lett. 94, 143101 (2009).
[CrossRef]

Ruoff, R.

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Russell, A.

D. S. L. Abergel, A. Russell, and V. I. Fal’ko, Appl. Phys. Lett. 91, 063125 (2007).
[CrossRef]

Sadowski, M. L.

W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92(2007).
[CrossRef]

Saha, S. K.

A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3, 210 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Savini, G.

T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
[CrossRef]

Schedin, F.

K. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. Booth, V. Khotkevich, S. Morozov, and A. Geim, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 102, 10451 (2005).
[CrossRef] [PubMed]

Setlur, G. S.

V. Meera and G. S. Setlur, J. Appl. Phys. 107, 033525 (2010).
[CrossRef]

Sfeir, M. Y.

K. F. Mak, M. Y. Sfeir, Y. Wu, C. H. Lui, J. A. Misewich, and T. F. Heinz, Phys. Rev. Lett. 101, 196405 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Skulason, H. S.

P. E. Gaskell, H. S. Skulason, C. Rodenchuk, and T. Szkopek, Appl. Phys. Lett. 94, 143101 (2009).
[CrossRef]

Son, H.

A. Reina, X. Jia, J. Ho, D. Nezich, H. Son, V. Bulovic, M. S. Dresselhaus, and J. Kong, Nano Lett. 9, 30 (2009).
[CrossRef]

Sood, A. K.

A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3, 210 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Sprinkle, M.

W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92(2007).
[CrossRef]

Stauber, T.

T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 78, 085432 (2008).
[CrossRef]

R. R. Nair, P. Blake, A. N. Grigorenko, K. S. Novoselov, T. J. Booth, T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Science 320, 1308 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Strupinski, W.

J. Krupka and W. Strupinski, Appl. Phys. Lett. 96, 082101(2010).
[CrossRef]

Szkopek, T.

P. E. Gaskell, H. S. Skulason, C. Rodenchuk, and T. Szkopek, Appl. Phys. Lett. 94, 143101 (2009).
[CrossRef]

Teweldebrhan, D.

D. Teweldebrhan, V. Goyal, M. Rahman, and A. A. Balandin, Appl. Phys. Lett. 96, 053107 (2010).
[CrossRef]

Tutuc, E.

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Varlamov, A.

L. Falkovsky and A. Varlamov, Eur. Phys. J. B 56, 281(2007).
[CrossRef]

Velamakanni, A.

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Waghmare, U. V.

A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3, 210 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Wirth, F.

U. Neuschaefer-Rube, W. Holzapfel, and F. Wirth, Measurement 33, 163 (2003).
[CrossRef]

Wu, X.

W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92(2007).
[CrossRef]

Wu, Y.

K. F. Mak, M. Y. Sfeir, Y. Wu, C. H. Lui, J. A. Misewich, and T. F. Heinz, Phys. Rev. Lett. 101, 196405 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Yang, D.

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Zhao, Y.

K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J.-H. Ahn, P. Kim, J.-Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457, 706 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Appl. Phys. Lett. (5)

P. Blake, E. Hill, A. Neto, K. Novoselov, and D. Jiang, Appl. Phys. Lett. 91, 063124 (2007).
[CrossRef]

P. E. Gaskell, H. S. Skulason, C. Rodenchuk, and T. Szkopek, Appl. Phys. Lett. 94, 143101 (2009).
[CrossRef]

D. S. L. Abergel, A. Russell, and V. I. Fal’ko, Appl. Phys. Lett. 91, 063125 (2007).
[CrossRef]

J. Krupka and W. Strupinski, Appl. Phys. Lett. 96, 082101(2010).
[CrossRef]

D. Teweldebrhan, V. Goyal, M. Rahman, and A. A. Balandin, Appl. Phys. Lett. 96, 053107 (2010).
[CrossRef]

Eur. Phys. J. B (1)

L. Falkovsky and A. Varlamov, Eur. Phys. J. B 56, 281(2007).
[CrossRef]

J. Appl. Phys. (1)

V. Meera and G. S. Setlur, J. Appl. Phys. 107, 033525 (2010).
[CrossRef]

Measurement (1)

U. Neuschaefer-Rube, W. Holzapfel, and F. Wirth, Measurement 33, 163 (2003).
[CrossRef]

Nano Lett. (1)

A. Reina, X. Jia, J. Ho, D. Nezich, H. Son, V. Bulovic, M. S. Dresselhaus, and J. Kong, Nano Lett. 9, 30 (2009).
[CrossRef]

Nat. Nanotechnol. (1)

A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3, 210 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Nature (1)

K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J.-H. Ahn, P. Kim, J.-Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457, 706 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Phys. Rep. (1)

L. M. Malard, M. A. Pimenta, G. Dresselhaus, and M. S. Dresselhaus, Phys. Rep. 473, 51 (2009).
[CrossRef]

Phys. Rev. B (3)

T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
[CrossRef]

T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 78, 085432 (2008).
[CrossRef]

V. G. Kravets, A. N. Grigorenko, R. R. Nair, P. Blake, S. Anissimova, K. S. Novoselov, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 81, 155413 (2010).
[CrossRef]

Phys. Rev. Lett. (1)

K. F. Mak, M. Y. Sfeir, Y. Wu, C. H. Lui, J. A. Misewich, and T. F. Heinz, Phys. Rev. Lett. 101, 196405 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

Proc. Natl. Acad. Sci. USA (1)

K. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. Booth, V. Khotkevich, S. Morozov, and A. Geim, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 102, 10451 (2005).
[CrossRef] [PubMed]

Science (2)

R. R. Nair, P. Blake, A. N. Grigorenko, K. S. Novoselov, T. J. Booth, T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Science 320, 1308 (2008).
[CrossRef] [PubMed]

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
[CrossRef] [PubMed]

Solid State Commun. (1)

W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92(2007).
[CrossRef]

Surf. Sci. (1)

J. T. Grant and T. W. Haas, Surf. Sci. 21, 76 (1970).
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (5)

Fig. 1
Fig. 1

Theoretical rotation in ellipsometric angle Ψ relative to bare substrate for a monolayer on glass and SiC versus incident angle with a linear 45 ° incident polarization.

Fig. 2
Fig. 2

Schematic of the single-reflection objective ellipsometer, which can operate in either imaging or spot ellipsometry mode. The angle of incidence is adjusted using a beam steering mirror, which can laterally displace the beam with respect to the entrance pupil of the microscope objective.

Fig. 3
Fig. 3

Plot of ellipsometry measurements taken of mechanically exfoliated graphene on glass n 2 = 1.522 . The number of layers was verified using the contrast method. The curves represent theoretical values from Eqs. (1, 2, 3).

Fig. 4
Fig. 4

Typical microscope image and plot of ellipsometry measurements of graphene grown on carbon face [ 000 1 ¯ ] SiC at various locations on the 1 cm 2 substrate. The yellow circle shows the location of one of the measurements. The light regions are areas of thicker graphene terraces.

Fig. 5
Fig. 5

Typical microscope image of plot of ellipsometry measurements of graphene grown on silicon face [ 0001 ] SiC at various locations on the 1 cm 2 substrate. The yellow circle shows the location of one of the measurements. The dark line is a terrace boundary on the surface of the SiC substrate.

Equations (4)

Equations on this page are rendered with MathJax. Learn more.

r s = n 1 cos θ i n 2 cos θ t m π α n 1 cos θ i + n 2 cos θ t + m π α ,
r p = n 1 cos θ t n 2 ( θ t ) cos θ i m π α cos θ i cos θ t n 1 cos θ t + n 2 ( θ t ) cos θ i + m π α cos θ i cos θ t ,
ρ = r p r s = tan Ψ e i Δ .
P ( β ) = C + A cos ( 2 ( β ϕ ) ) ,

Metrics