Abstract

Although the leakage radiation (LR) image intensity is considered to be in proportion to the surface plasmon polariton (SPP) intensity at the metal–air interface, it has not been proven experimentally, to the best of our knowledge. Here we investigate the relationship between the measured LR intensity profile of SPP interference fringes, which are produced by two SPP launching gratings, and the simulated SPP intensity. The experimental modulation depths agree well with the simulation result of the in-plane electric field component of SPPs, which demonstrates that the image intensity in LR microscopy provides the intensity profile of the in-plane component.

© 2010 Optical Society of America

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Other

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Cited By

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Figures (4)

Fig. 1
Fig. 1

Schematic of the two SPP launching gratings. The inset shows the scanning electron micrograph image of a sample with tilt angle α = 50 ° .

Fig. 2
Fig. 2

Numerical simulations of (a) the out-of-plane and (b) the in-plane electric field intensities along the x axis for α = 40 ° , 45 ° , 50 ° , and 60 ° . (c) and (d) Fourier transforms of the intensity profiles in (a) and (b), respectively.

Fig. 3
Fig. 3

Leakage radiation images when (a) α = 60 ° and (b) 45 ° . (c) and (d) Magnified areas in the boxes from (a) and (b), respectively.

Fig. 4
Fig. 4

(a) LR image intensity profiles along the x axis for α = 40 ° , 45 ° , 50 ° , and 60 ° . (b) Fourier transforms of the intensity profiles in (a). The inset is the magnified view for spatial frequency from 2.5 to 1.4 μm 1 .

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