Abstract

Microgrid polarimeters operate by integrating a focal plane array with an array of micropolarizers. The Stokes parameters are estimated by comparing polarization measurements from pixels in a neighborhood around the point of interest. The main drawback is that the measurements used to estimate the Stokes vector are made at different locations, leading to a false polarization signature owing to instantaneous field-of-view (IFOV) errors. We demonstrate for the first time, to our knowledge, that spatially band limited polarization images can be ideally reconstructed with no IFOV error by using a linear system framework.

© 2009 Optical Society of America

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. J. S. Tyo, D. H. Goldstein, D. B. Chenault, and J. A. Shaw, Appl. Opt. 45, 5453 (2006).
    [CrossRef]
  2. A. G. Andreou and Z. K. Kalayjian, IEEE Sens. J. 2, 566 (2002).
    [CrossRef]
  3. G. P. Nordin, J. T. Meier, P. C. Deguzman, and M. Jones, Proc. SPIE 3754, 169 (1999).
    [CrossRef]
  4. C. K. Harnett and H. G. Craighead, Appl. Opt. 41, 1291 (2002).
    [CrossRef]
  5. B. M. Ratliff, C. F. Lacasse, and J. S. Tyo, Opt. Express 17, 9112 (2009).
    [CrossRef]
  6. V. Gruev, K. Wu, J. V. der Spiegel, and N. Engheta, Proc. SPIE 6240, 6240O5 (2006).
  7. C. S. L. Chun, D. L. Fleming, and E. J. Torok, Proc. SPIE 2234, 275 (1994).
  8. K. Oka and T. Kaneko, Opt. Express 11, 1510 (2003).
  9. H. Luo, K. Oka, N. Hagen, T. Tkaczyk, and E. L. Dereniak, Appl. Opt. 45, 8400 (2006).
    [CrossRef]
  10. M. W. Kudenov, L. Pezzaniti, E. L. Dereniak, and G. R. Gerhart, Opt. Express 16, 13720 (2008).
    [CrossRef]
  11. J. S. Tyo, E. N. Pugh, and N. Engheta, J. Opt. Soc. Am. A 15, 367 (1998).
    [CrossRef]
  12. D. L. Bowers, J. K. Boger, L. D. Wellems, S. E. Ortega, M. P. Fetrow, J. E. Hubbs, W. T. Black, B. M. Ratliff, and J. S. Tyo, Opt. Eng. 47, 046403 (2008).
    [CrossRef]
  13. B. M. Ratliff, J. S. Tyo, C. F. LaCasse, and W. T. Black, Proc. SPIE 7461, 74610K (2009).

2009

B. M. Ratliff, J. S. Tyo, C. F. LaCasse, and W. T. Black, Proc. SPIE 7461, 74610K (2009).

B. M. Ratliff, C. F. Lacasse, and J. S. Tyo, Opt. Express 17, 9112 (2009).
[CrossRef]

2008

M. W. Kudenov, L. Pezzaniti, E. L. Dereniak, and G. R. Gerhart, Opt. Express 16, 13720 (2008).
[CrossRef]

D. L. Bowers, J. K. Boger, L. D. Wellems, S. E. Ortega, M. P. Fetrow, J. E. Hubbs, W. T. Black, B. M. Ratliff, and J. S. Tyo, Opt. Eng. 47, 046403 (2008).
[CrossRef]

2006

2003

2002

A. G. Andreou and Z. K. Kalayjian, IEEE Sens. J. 2, 566 (2002).
[CrossRef]

C. K. Harnett and H. G. Craighead, Appl. Opt. 41, 1291 (2002).
[CrossRef]

1999

G. P. Nordin, J. T. Meier, P. C. Deguzman, and M. Jones, Proc. SPIE 3754, 169 (1999).
[CrossRef]

1998

1994

C. S. L. Chun, D. L. Fleming, and E. J. Torok, Proc. SPIE 2234, 275 (1994).

Andreou, A. G.

A. G. Andreou and Z. K. Kalayjian, IEEE Sens. J. 2, 566 (2002).
[CrossRef]

Black, W. T.

B. M. Ratliff, J. S. Tyo, C. F. LaCasse, and W. T. Black, Proc. SPIE 7461, 74610K (2009).

D. L. Bowers, J. K. Boger, L. D. Wellems, S. E. Ortega, M. P. Fetrow, J. E. Hubbs, W. T. Black, B. M. Ratliff, and J. S. Tyo, Opt. Eng. 47, 046403 (2008).
[CrossRef]

Boger, J. K.

D. L. Bowers, J. K. Boger, L. D. Wellems, S. E. Ortega, M. P. Fetrow, J. E. Hubbs, W. T. Black, B. M. Ratliff, and J. S. Tyo, Opt. Eng. 47, 046403 (2008).
[CrossRef]

Bowers, D. L.

D. L. Bowers, J. K. Boger, L. D. Wellems, S. E. Ortega, M. P. Fetrow, J. E. Hubbs, W. T. Black, B. M. Ratliff, and J. S. Tyo, Opt. Eng. 47, 046403 (2008).
[CrossRef]

Chenault, D. B.

Chun, C. S. L.

C. S. L. Chun, D. L. Fleming, and E. J. Torok, Proc. SPIE 2234, 275 (1994).

Craighead, H. G.

Deguzman, P. C.

G. P. Nordin, J. T. Meier, P. C. Deguzman, and M. Jones, Proc. SPIE 3754, 169 (1999).
[CrossRef]

der Spiegel, J. V.

V. Gruev, K. Wu, J. V. der Spiegel, and N. Engheta, Proc. SPIE 6240, 6240O5 (2006).

Dereniak, E. L.

Engheta, N.

V. Gruev, K. Wu, J. V. der Spiegel, and N. Engheta, Proc. SPIE 6240, 6240O5 (2006).

J. S. Tyo, E. N. Pugh, and N. Engheta, J. Opt. Soc. Am. A 15, 367 (1998).
[CrossRef]

Fetrow, M. P.

D. L. Bowers, J. K. Boger, L. D. Wellems, S. E. Ortega, M. P. Fetrow, J. E. Hubbs, W. T. Black, B. M. Ratliff, and J. S. Tyo, Opt. Eng. 47, 046403 (2008).
[CrossRef]

Fleming, D. L.

C. S. L. Chun, D. L. Fleming, and E. J. Torok, Proc. SPIE 2234, 275 (1994).

Gerhart, G. R.

Goldstein, D. H.

Gruev, V.

V. Gruev, K. Wu, J. V. der Spiegel, and N. Engheta, Proc. SPIE 6240, 6240O5 (2006).

Hagen, N.

Harnett, C. K.

Hubbs, J. E.

D. L. Bowers, J. K. Boger, L. D. Wellems, S. E. Ortega, M. P. Fetrow, J. E. Hubbs, W. T. Black, B. M. Ratliff, and J. S. Tyo, Opt. Eng. 47, 046403 (2008).
[CrossRef]

Jones, M.

G. P. Nordin, J. T. Meier, P. C. Deguzman, and M. Jones, Proc. SPIE 3754, 169 (1999).
[CrossRef]

Kalayjian, Z. K.

A. G. Andreou and Z. K. Kalayjian, IEEE Sens. J. 2, 566 (2002).
[CrossRef]

Kaneko, T.

Kudenov, M. W.

LaCasse, C. F.

B. M. Ratliff, J. S. Tyo, C. F. LaCasse, and W. T. Black, Proc. SPIE 7461, 74610K (2009).

B. M. Ratliff, C. F. Lacasse, and J. S. Tyo, Opt. Express 17, 9112 (2009).
[CrossRef]

Luo, H.

Meier, J. T.

G. P. Nordin, J. T. Meier, P. C. Deguzman, and M. Jones, Proc. SPIE 3754, 169 (1999).
[CrossRef]

Nordin, G. P.

G. P. Nordin, J. T. Meier, P. C. Deguzman, and M. Jones, Proc. SPIE 3754, 169 (1999).
[CrossRef]

Oka, K.

Ortega, S. E.

D. L. Bowers, J. K. Boger, L. D. Wellems, S. E. Ortega, M. P. Fetrow, J. E. Hubbs, W. T. Black, B. M. Ratliff, and J. S. Tyo, Opt. Eng. 47, 046403 (2008).
[CrossRef]

Pezzaniti, L.

Pugh, E. N.

Ratliff, B. M.

B. M. Ratliff, J. S. Tyo, C. F. LaCasse, and W. T. Black, Proc. SPIE 7461, 74610K (2009).

B. M. Ratliff, C. F. Lacasse, and J. S. Tyo, Opt. Express 17, 9112 (2009).
[CrossRef]

D. L. Bowers, J. K. Boger, L. D. Wellems, S. E. Ortega, M. P. Fetrow, J. E. Hubbs, W. T. Black, B. M. Ratliff, and J. S. Tyo, Opt. Eng. 47, 046403 (2008).
[CrossRef]

Shaw, J. A.

Tkaczyk, T.

Torok, E. J.

C. S. L. Chun, D. L. Fleming, and E. J. Torok, Proc. SPIE 2234, 275 (1994).

Tyo, J. S.

B. M. Ratliff, J. S. Tyo, C. F. LaCasse, and W. T. Black, Proc. SPIE 7461, 74610K (2009).

B. M. Ratliff, C. F. Lacasse, and J. S. Tyo, Opt. Express 17, 9112 (2009).
[CrossRef]

D. L. Bowers, J. K. Boger, L. D. Wellems, S. E. Ortega, M. P. Fetrow, J. E. Hubbs, W. T. Black, B. M. Ratliff, and J. S. Tyo, Opt. Eng. 47, 046403 (2008).
[CrossRef]

J. S. Tyo, D. H. Goldstein, D. B. Chenault, and J. A. Shaw, Appl. Opt. 45, 5453 (2006).
[CrossRef]

J. S. Tyo, E. N. Pugh, and N. Engheta, J. Opt. Soc. Am. A 15, 367 (1998).
[CrossRef]

Wellems, L. D.

D. L. Bowers, J. K. Boger, L. D. Wellems, S. E. Ortega, M. P. Fetrow, J. E. Hubbs, W. T. Black, B. M. Ratliff, and J. S. Tyo, Opt. Eng. 47, 046403 (2008).
[CrossRef]

Wu, K.

V. Gruev, K. Wu, J. V. der Spiegel, and N. Engheta, Proc. SPIE 6240, 6240O5 (2006).

Appl. Opt.

IEEE Sens. J.

A. G. Andreou and Z. K. Kalayjian, IEEE Sens. J. 2, 566 (2002).
[CrossRef]

J. Opt. Soc. Am. A

Opt. Eng.

D. L. Bowers, J. K. Boger, L. D. Wellems, S. E. Ortega, M. P. Fetrow, J. E. Hubbs, W. T. Black, B. M. Ratliff, and J. S. Tyo, Opt. Eng. 47, 046403 (2008).
[CrossRef]

Opt. Express

Proc. SPIE

V. Gruev, K. Wu, J. V. der Spiegel, and N. Engheta, Proc. SPIE 6240, 6240O5 (2006).

C. S. L. Chun, D. L. Fleming, and E. J. Torok, Proc. SPIE 2234, 275 (1994).

G. P. Nordin, J. T. Meier, P. C. Deguzman, and M. Jones, Proc. SPIE 3754, 169 (1999).
[CrossRef]

B. M. Ratliff, J. S. Tyo, C. F. LaCasse, and W. T. Black, Proc. SPIE 7461, 74610K (2009).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Metrics