Abstract

We have demonstrated a short fluorescence lifetime of the substituted phenyl/vinyl compound, 1,4-bis[2-[4-[N,N-di(p-tolyl)amino]phenyl]vinyl]benzene (DSB). The fluorescence lifetime of the 0.5 mol.% DSB-doped 4,4-bis(9-carbazolyl)biphenyl film is 1.2ns, which is desirable for organic light-emitting diode (OLED) light sources for optical interconnect applications. We have also examined frequency dependences on the electroluminescence (EL) intensity of the OLED and the photoluminescence (PL) intensity of the DSB film. The 3dB cutoff frequency of the EL intensity is about 3MHz for the optimized device, and the 3dB cutoff frequency of the PL intensity is about 160MHz for the optically pumping DSB film.

© 2007 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
    [CrossRef]
  2. T. Morimune, H. Kajii, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 45, 546 (2006).
    [CrossRef]
  3. B. Wei, T. Fukuda, N. Kobayashi, M. Ichikawa, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Opt. Express 14, 9436 (2006).
    [CrossRef] [PubMed]
  4. R. Shinar, B. Choudhury, Z. Zhou, H.-S. Wu, L. Tabatabai, and J. Shinar, Proc. SPIE 5588, 59 (2005).
    [CrossRef]
  5. C. Hosokawa, N. Kawasaki, S. Sakamoto, and T. Kusumoto, Appl. Phys. Lett. 61, 2503 (1992).
    [CrossRef]
  6. I. D. Parker, Q. Pei, and M. Marrocco, Appl. Phys. Lett. 65, 1272 (1994).
    [CrossRef]
  7. Y. Yang, Q. Pei, and A. J. Heeger, J. Appl. Phys. 79, 934 (1996).
    [CrossRef]
  8. A. W. Grice, D. D. C. Bradley, M. T. Bernius, M. Inbasekaran, W. W. Wu, and E. P. Woo, Appl. Phys. Lett. 73, 629 (1998).
    [CrossRef]
  9. S. E. Shaheen, G. E. Jabbour, M. M. Morrell, Y. Kawabe, B. Kippelen, N. Peyghambarian, M.-F. Nabor, R. Schlaf, E. A. Mash, and N. R. Armstrong, Appl. Phys. Lett. 84, 2324 (1998).
  10. B. J. Chen, X. W. Sun, K. S. Wong, and X. Hu, Opt. Express 13, 26 (2005).
    [CrossRef] [PubMed]
  11. L. C. Palilis, A. Makinen, M. Uchida, and Z. H. Kafafi, Appl. Phys. Lett. 82, 2209 (2003).
    [CrossRef]
  12. C. Hosokawa, H. Higashi, H. Nakamura, and T. Kusumoto, Appl. Phys. Lett. 67, 3853 (1995).
    [CrossRef]
  13. Y. Z. Wu, X. Y. Zheng, W. Q. Zhu, R. G. Sun, X. Y. Jiang, Z. L. Zhang, and S. H. Xu, Appl. Phys. Lett. 83, 5077 (2003).
    [CrossRef]
  14. R. J. Tseng, R. C. Chiechi, F. Wudl, and Y. Yang, Appl. Phys. Lett. 88, 093512 (2006).
    [CrossRef]
  15. Z. H. Kafafi, H. Murata, L. C. Picciolo, H. Mattoussi, C. D. Merritt, Y. Lizimu, and J. Kido, Pure Appl. Chem. 71, 2085 (1999).
    [CrossRef]
  16. K. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, and Y. Omori, IEICE Trans. Electron. E85-C, 1245 (2002).
  17. B. Wei, K. Furukawa, J. Amagai, M. Ichikawa, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Semicond. Sci. Technol. 19, L56 (2004).
    [CrossRef]

2006 (3)

T. Morimune, H. Kajii, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 45, 546 (2006).
[CrossRef]

B. Wei, T. Fukuda, N. Kobayashi, M. Ichikawa, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Opt. Express 14, 9436 (2006).
[CrossRef] [PubMed]

R. J. Tseng, R. C. Chiechi, F. Wudl, and Y. Yang, Appl. Phys. Lett. 88, 093512 (2006).
[CrossRef]

2005 (2)

B. J. Chen, X. W. Sun, K. S. Wong, and X. Hu, Opt. Express 13, 26 (2005).
[CrossRef] [PubMed]

R. Shinar, B. Choudhury, Z. Zhou, H.-S. Wu, L. Tabatabai, and J. Shinar, Proc. SPIE 5588, 59 (2005).
[CrossRef]

2004 (1)

B. Wei, K. Furukawa, J. Amagai, M. Ichikawa, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Semicond. Sci. Technol. 19, L56 (2004).
[CrossRef]

2003 (2)

L. C. Palilis, A. Makinen, M. Uchida, and Z. H. Kafafi, Appl. Phys. Lett. 82, 2209 (2003).
[CrossRef]

Y. Z. Wu, X. Y. Zheng, W. Q. Zhu, R. G. Sun, X. Y. Jiang, Z. L. Zhang, and S. H. Xu, Appl. Phys. Lett. 83, 5077 (2003).
[CrossRef]

2002 (2)

K. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, and Y. Omori, IEICE Trans. Electron. E85-C, 1245 (2002).

H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
[CrossRef]

1999 (1)

Z. H. Kafafi, H. Murata, L. C. Picciolo, H. Mattoussi, C. D. Merritt, Y. Lizimu, and J. Kido, Pure Appl. Chem. 71, 2085 (1999).
[CrossRef]

1998 (2)

A. W. Grice, D. D. C. Bradley, M. T. Bernius, M. Inbasekaran, W. W. Wu, and E. P. Woo, Appl. Phys. Lett. 73, 629 (1998).
[CrossRef]

S. E. Shaheen, G. E. Jabbour, M. M. Morrell, Y. Kawabe, B. Kippelen, N. Peyghambarian, M.-F. Nabor, R. Schlaf, E. A. Mash, and N. R. Armstrong, Appl. Phys. Lett. 84, 2324 (1998).

1996 (1)

Y. Yang, Q. Pei, and A. J. Heeger, J. Appl. Phys. 79, 934 (1996).
[CrossRef]

1995 (1)

C. Hosokawa, H. Higashi, H. Nakamura, and T. Kusumoto, Appl. Phys. Lett. 67, 3853 (1995).
[CrossRef]

1994 (1)

I. D. Parker, Q. Pei, and M. Marrocco, Appl. Phys. Lett. 65, 1272 (1994).
[CrossRef]

1992 (1)

C. Hosokawa, N. Kawasaki, S. Sakamoto, and T. Kusumoto, Appl. Phys. Lett. 61, 2503 (1992).
[CrossRef]

Amagai, J.

B. Wei, K. Furukawa, J. Amagai, M. Ichikawa, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Semicond. Sci. Technol. 19, L56 (2004).
[CrossRef]

Armstrong, N. R.

S. E. Shaheen, G. E. Jabbour, M. M. Morrell, Y. Kawabe, B. Kippelen, N. Peyghambarian, M.-F. Nabor, R. Schlaf, E. A. Mash, and N. R. Armstrong, Appl. Phys. Lett. 84, 2324 (1998).

Bernius, M. T.

A. W. Grice, D. D. C. Bradley, M. T. Bernius, M. Inbasekaran, W. W. Wu, and E. P. Woo, Appl. Phys. Lett. 73, 629 (1998).
[CrossRef]

Bradley, D. D. C.

A. W. Grice, D. D. C. Bradley, M. T. Bernius, M. Inbasekaran, W. W. Wu, and E. P. Woo, Appl. Phys. Lett. 73, 629 (1998).
[CrossRef]

Chen, B. J.

Chiechi, R. C.

R. J. Tseng, R. C. Chiechi, F. Wudl, and Y. Yang, Appl. Phys. Lett. 88, 093512 (2006).
[CrossRef]

Choudhury, B.

R. Shinar, B. Choudhury, Z. Zhou, H.-S. Wu, L. Tabatabai, and J. Shinar, Proc. SPIE 5588, 59 (2005).
[CrossRef]

Fujii, A.

H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
[CrossRef]

Fukuda, T.

Furukawa, K.

B. Wei, K. Furukawa, J. Amagai, M. Ichikawa, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Semicond. Sci. Technol. 19, L56 (2004).
[CrossRef]

Grice, A. W.

A. W. Grice, D. D. C. Bradley, M. T. Bernius, M. Inbasekaran, W. W. Wu, and E. P. Woo, Appl. Phys. Lett. 73, 629 (1998).
[CrossRef]

Heeger, A. J.

Y. Yang, Q. Pei, and A. J. Heeger, J. Appl. Phys. 79, 934 (1996).
[CrossRef]

Higashi, H.

C. Hosokawa, H. Higashi, H. Nakamura, and T. Kusumoto, Appl. Phys. Lett. 67, 3853 (1995).
[CrossRef]

Hikita, M.

H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
[CrossRef]

Hosokawa, C.

C. Hosokawa, H. Higashi, H. Nakamura, and T. Kusumoto, Appl. Phys. Lett. 67, 3853 (1995).
[CrossRef]

C. Hosokawa, N. Kawasaki, S. Sakamoto, and T. Kusumoto, Appl. Phys. Lett. 61, 2503 (1992).
[CrossRef]

Hu, X.

Ichikawa, M.

B. Wei, T. Fukuda, N. Kobayashi, M. Ichikawa, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Opt. Express 14, 9436 (2006).
[CrossRef] [PubMed]

B. Wei, K. Furukawa, J. Amagai, M. Ichikawa, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Semicond. Sci. Technol. 19, L56 (2004).
[CrossRef]

Imamura, S.

H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
[CrossRef]

Inbasekaran, M.

A. W. Grice, D. D. C. Bradley, M. T. Bernius, M. Inbasekaran, W. W. Wu, and E. P. Woo, Appl. Phys. Lett. 73, 629 (1998).
[CrossRef]

Jabbour, G. E.

S. E. Shaheen, G. E. Jabbour, M. M. Morrell, Y. Kawabe, B. Kippelen, N. Peyghambarian, M.-F. Nabor, R. Schlaf, E. A. Mash, and N. R. Armstrong, Appl. Phys. Lett. 84, 2324 (1998).

Jiang, X. Y.

Y. Z. Wu, X. Y. Zheng, W. Q. Zhu, R. G. Sun, X. Y. Jiang, Z. L. Zhang, and S. H. Xu, Appl. Phys. Lett. 83, 5077 (2003).
[CrossRef]

Kafafi, Z. H.

L. C. Palilis, A. Makinen, M. Uchida, and Z. H. Kafafi, Appl. Phys. Lett. 82, 2209 (2003).
[CrossRef]

Z. H. Kafafi, H. Murata, L. C. Picciolo, H. Mattoussi, C. D. Merritt, Y. Lizimu, and J. Kido, Pure Appl. Chem. 71, 2085 (1999).
[CrossRef]

Kajii, H.

T. Morimune, H. Kajii, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 45, 546 (2006).
[CrossRef]

H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
[CrossRef]

Kajii, K.

K. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, and Y. Omori, IEICE Trans. Electron. E85-C, 1245 (2002).

Kawabe, Y.

S. E. Shaheen, G. E. Jabbour, M. M. Morrell, Y. Kawabe, B. Kippelen, N. Peyghambarian, M.-F. Nabor, R. Schlaf, E. A. Mash, and N. R. Armstrong, Appl. Phys. Lett. 84, 2324 (1998).

Kawasaki, N.

C. Hosokawa, N. Kawasaki, S. Sakamoto, and T. Kusumoto, Appl. Phys. Lett. 61, 2503 (1992).
[CrossRef]

Kido, J.

Z. H. Kafafi, H. Murata, L. C. Picciolo, H. Mattoussi, C. D. Merritt, Y. Lizimu, and J. Kido, Pure Appl. Chem. 71, 2085 (1999).
[CrossRef]

Kippelen, B.

S. E. Shaheen, G. E. Jabbour, M. M. Morrell, Y. Kawabe, B. Kippelen, N. Peyghambarian, M.-F. Nabor, R. Schlaf, E. A. Mash, and N. R. Armstrong, Appl. Phys. Lett. 84, 2324 (1998).

Kobayashi, J.

H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
[CrossRef]

Kobayashi, N.

Koyama, T.

B. Wei, T. Fukuda, N. Kobayashi, M. Ichikawa, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Opt. Express 14, 9436 (2006).
[CrossRef] [PubMed]

B. Wei, K. Furukawa, J. Amagai, M. Ichikawa, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Semicond. Sci. Technol. 19, L56 (2004).
[CrossRef]

Kusumoto, T.

C. Hosokawa, H. Higashi, H. Nakamura, and T. Kusumoto, Appl. Phys. Lett. 67, 3853 (1995).
[CrossRef]

C. Hosokawa, N. Kawasaki, S. Sakamoto, and T. Kusumoto, Appl. Phys. Lett. 61, 2503 (1992).
[CrossRef]

Lizimu, Y.

Z. H. Kafafi, H. Murata, L. C. Picciolo, H. Mattoussi, C. D. Merritt, Y. Lizimu, and J. Kido, Pure Appl. Chem. 71, 2085 (1999).
[CrossRef]

Makinen, A.

L. C. Palilis, A. Makinen, M. Uchida, and Z. H. Kafafi, Appl. Phys. Lett. 82, 2209 (2003).
[CrossRef]

Marrocco, M.

I. D. Parker, Q. Pei, and M. Marrocco, Appl. Phys. Lett. 65, 1272 (1994).
[CrossRef]

Mash, E. A.

S. E. Shaheen, G. E. Jabbour, M. M. Morrell, Y. Kawabe, B. Kippelen, N. Peyghambarian, M.-F. Nabor, R. Schlaf, E. A. Mash, and N. R. Armstrong, Appl. Phys. Lett. 84, 2324 (1998).

Mattoussi, H.

Z. H. Kafafi, H. Murata, L. C. Picciolo, H. Mattoussi, C. D. Merritt, Y. Lizimu, and J. Kido, Pure Appl. Chem. 71, 2085 (1999).
[CrossRef]

Merritt, C. D.

Z. H. Kafafi, H. Murata, L. C. Picciolo, H. Mattoussi, C. D. Merritt, Y. Lizimu, and J. Kido, Pure Appl. Chem. 71, 2085 (1999).
[CrossRef]

Morimune, T.

T. Morimune, H. Kajii, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 45, 546 (2006).
[CrossRef]

Morrell, M. M.

S. E. Shaheen, G. E. Jabbour, M. M. Morrell, Y. Kawabe, B. Kippelen, N. Peyghambarian, M.-F. Nabor, R. Schlaf, E. A. Mash, and N. R. Armstrong, Appl. Phys. Lett. 84, 2324 (1998).

Murata, H.

Z. H. Kafafi, H. Murata, L. C. Picciolo, H. Mattoussi, C. D. Merritt, Y. Lizimu, and J. Kido, Pure Appl. Chem. 71, 2085 (1999).
[CrossRef]

Nabor, M.-F.

S. E. Shaheen, G. E. Jabbour, M. M. Morrell, Y. Kawabe, B. Kippelen, N. Peyghambarian, M.-F. Nabor, R. Schlaf, E. A. Mash, and N. R. Armstrong, Appl. Phys. Lett. 84, 2324 (1998).

Nakamura, H.

C. Hosokawa, H. Higashi, H. Nakamura, and T. Kusumoto, Appl. Phys. Lett. 67, 3853 (1995).
[CrossRef]

Omori, Y.

T. Morimune, H. Kajii, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 45, 546 (2006).
[CrossRef]

H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
[CrossRef]

K. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, and Y. Omori, IEICE Trans. Electron. E85-C, 1245 (2002).

Ozaki, O.

H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
[CrossRef]

Palilis, L. C.

L. C. Palilis, A. Makinen, M. Uchida, and Z. H. Kafafi, Appl. Phys. Lett. 82, 2209 (2003).
[CrossRef]

Parker, I. D.

I. D. Parker, Q. Pei, and M. Marrocco, Appl. Phys. Lett. 65, 1272 (1994).
[CrossRef]

Pei, Q.

Y. Yang, Q. Pei, and A. J. Heeger, J. Appl. Phys. 79, 934 (1996).
[CrossRef]

I. D. Parker, Q. Pei, and M. Marrocco, Appl. Phys. Lett. 65, 1272 (1994).
[CrossRef]

Peyghambarian, N.

S. E. Shaheen, G. E. Jabbour, M. M. Morrell, Y. Kawabe, B. Kippelen, N. Peyghambarian, M.-F. Nabor, R. Schlaf, E. A. Mash, and N. R. Armstrong, Appl. Phys. Lett. 84, 2324 (1998).

Picciolo, L. C.

Z. H. Kafafi, H. Murata, L. C. Picciolo, H. Mattoussi, C. D. Merritt, Y. Lizimu, and J. Kido, Pure Appl. Chem. 71, 2085 (1999).
[CrossRef]

Sakamoto, S.

C. Hosokawa, N. Kawasaki, S. Sakamoto, and T. Kusumoto, Appl. Phys. Lett. 61, 2503 (1992).
[CrossRef]

Schlaf, R.

S. E. Shaheen, G. E. Jabbour, M. M. Morrell, Y. Kawabe, B. Kippelen, N. Peyghambarian, M.-F. Nabor, R. Schlaf, E. A. Mash, and N. R. Armstrong, Appl. Phys. Lett. 84, 2324 (1998).

Shaheen, S. E.

S. E. Shaheen, G. E. Jabbour, M. M. Morrell, Y. Kawabe, B. Kippelen, N. Peyghambarian, M.-F. Nabor, R. Schlaf, E. A. Mash, and N. R. Armstrong, Appl. Phys. Lett. 84, 2324 (1998).

Shinar, J.

R. Shinar, B. Choudhury, Z. Zhou, H.-S. Wu, L. Tabatabai, and J. Shinar, Proc. SPIE 5588, 59 (2005).
[CrossRef]

Shinar, R.

R. Shinar, B. Choudhury, Z. Zhou, H.-S. Wu, L. Tabatabai, and J. Shinar, Proc. SPIE 5588, 59 (2005).
[CrossRef]

Sun, R. G.

Y. Z. Wu, X. Y. Zheng, W. Q. Zhu, R. G. Sun, X. Y. Jiang, Z. L. Zhang, and S. H. Xu, Appl. Phys. Lett. 83, 5077 (2003).
[CrossRef]

Sun, X. W.

Tabatabai, L.

R. Shinar, B. Choudhury, Z. Zhou, H.-S. Wu, L. Tabatabai, and J. Shinar, Proc. SPIE 5588, 59 (2005).
[CrossRef]

Takenaka, H.

H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
[CrossRef]

Taneda, T.

H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
[CrossRef]

K. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, and Y. Omori, IEICE Trans. Electron. E85-C, 1245 (2002).

Taniguchi, Y.

B. Wei, T. Fukuda, N. Kobayashi, M. Ichikawa, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Opt. Express 14, 9436 (2006).
[CrossRef] [PubMed]

B. Wei, K. Furukawa, J. Amagai, M. Ichikawa, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Semicond. Sci. Technol. 19, L56 (2004).
[CrossRef]

Tomaru, S.

H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
[CrossRef]

Tseng, R. J.

R. J. Tseng, R. C. Chiechi, F. Wudl, and Y. Yang, Appl. Phys. Lett. 88, 093512 (2006).
[CrossRef]

Tsukagawa, T.

K. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, and Y. Omori, IEICE Trans. Electron. E85-C, 1245 (2002).

H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
[CrossRef]

Uchida, M.

L. C. Palilis, A. Makinen, M. Uchida, and Z. H. Kafafi, Appl. Phys. Lett. 82, 2209 (2003).
[CrossRef]

Wei, B.

B. Wei, T. Fukuda, N. Kobayashi, M. Ichikawa, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Opt. Express 14, 9436 (2006).
[CrossRef] [PubMed]

B. Wei, K. Furukawa, J. Amagai, M. Ichikawa, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Semicond. Sci. Technol. 19, L56 (2004).
[CrossRef]

Wong, K. S.

Woo, E. P.

A. W. Grice, D. D. C. Bradley, M. T. Bernius, M. Inbasekaran, W. W. Wu, and E. P. Woo, Appl. Phys. Lett. 73, 629 (1998).
[CrossRef]

Wu, H.-S.

R. Shinar, B. Choudhury, Z. Zhou, H.-S. Wu, L. Tabatabai, and J. Shinar, Proc. SPIE 5588, 59 (2005).
[CrossRef]

Wu, W. W.

A. W. Grice, D. D. C. Bradley, M. T. Bernius, M. Inbasekaran, W. W. Wu, and E. P. Woo, Appl. Phys. Lett. 73, 629 (1998).
[CrossRef]

Wu, Y. Z.

Y. Z. Wu, X. Y. Zheng, W. Q. Zhu, R. G. Sun, X. Y. Jiang, Z. L. Zhang, and S. H. Xu, Appl. Phys. Lett. 83, 5077 (2003).
[CrossRef]

Wudl, F.

R. J. Tseng, R. C. Chiechi, F. Wudl, and Y. Yang, Appl. Phys. Lett. 88, 093512 (2006).
[CrossRef]

Xu, S. H.

Y. Z. Wu, X. Y. Zheng, W. Q. Zhu, R. G. Sun, X. Y. Jiang, Z. L. Zhang, and S. H. Xu, Appl. Phys. Lett. 83, 5077 (2003).
[CrossRef]

Yamamoto, F.

H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
[CrossRef]

Yang, Y.

R. J. Tseng, R. C. Chiechi, F. Wudl, and Y. Yang, Appl. Phys. Lett. 88, 093512 (2006).
[CrossRef]

Y. Yang, Q. Pei, and A. J. Heeger, J. Appl. Phys. 79, 934 (1996).
[CrossRef]

Yoshino, K.

H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
[CrossRef]

Zhang, Z. L.

Y. Z. Wu, X. Y. Zheng, W. Q. Zhu, R. G. Sun, X. Y. Jiang, Z. L. Zhang, and S. H. Xu, Appl. Phys. Lett. 83, 5077 (2003).
[CrossRef]

Zheng, X. Y.

Y. Z. Wu, X. Y. Zheng, W. Q. Zhu, R. G. Sun, X. Y. Jiang, Z. L. Zhang, and S. H. Xu, Appl. Phys. Lett. 83, 5077 (2003).
[CrossRef]

Zhou, Z.

R. Shinar, B. Choudhury, Z. Zhou, H.-S. Wu, L. Tabatabai, and J. Shinar, Proc. SPIE 5588, 59 (2005).
[CrossRef]

Zhu, W. Q.

Y. Z. Wu, X. Y. Zheng, W. Q. Zhu, R. G. Sun, X. Y. Jiang, Z. L. Zhang, and S. H. Xu, Appl. Phys. Lett. 83, 5077 (2003).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett. (8)

C. Hosokawa, N. Kawasaki, S. Sakamoto, and T. Kusumoto, Appl. Phys. Lett. 61, 2503 (1992).
[CrossRef]

I. D. Parker, Q. Pei, and M. Marrocco, Appl. Phys. Lett. 65, 1272 (1994).
[CrossRef]

A. W. Grice, D. D. C. Bradley, M. T. Bernius, M. Inbasekaran, W. W. Wu, and E. P. Woo, Appl. Phys. Lett. 73, 629 (1998).
[CrossRef]

S. E. Shaheen, G. E. Jabbour, M. M. Morrell, Y. Kawabe, B. Kippelen, N. Peyghambarian, M.-F. Nabor, R. Schlaf, E. A. Mash, and N. R. Armstrong, Appl. Phys. Lett. 84, 2324 (1998).

L. C. Palilis, A. Makinen, M. Uchida, and Z. H. Kafafi, Appl. Phys. Lett. 82, 2209 (2003).
[CrossRef]

C. Hosokawa, H. Higashi, H. Nakamura, and T. Kusumoto, Appl. Phys. Lett. 67, 3853 (1995).
[CrossRef]

Y. Z. Wu, X. Y. Zheng, W. Q. Zhu, R. G. Sun, X. Y. Jiang, Z. L. Zhang, and S. H. Xu, Appl. Phys. Lett. 83, 5077 (2003).
[CrossRef]

R. J. Tseng, R. C. Chiechi, F. Wudl, and Y. Yang, Appl. Phys. Lett. 88, 093512 (2006).
[CrossRef]

IEICE Trans. Electron. (1)

K. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, and Y. Omori, IEICE Trans. Electron. E85-C, 1245 (2002).

J. Appl. Phys. (1)

Y. Yang, Q. Pei, and A. J. Heeger, J. Appl. Phys. 79, 934 (1996).
[CrossRef]

Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 (2)

H. Kajii, T. Tsukagawa, T. Taneda, K. Yoshino, O. Ozaki, A. Fujii, M. Hikita, S. Tomaru, S. Imamura, H. Takenaka, J. Kobayashi, F. Yamamoto, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 2746 (2002).
[CrossRef]

T. Morimune, H. Kajii, and Y. Omori, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 45, 546 (2006).
[CrossRef]

Opt. Express (2)

Proc. SPIE (1)

R. Shinar, B. Choudhury, Z. Zhou, H.-S. Wu, L. Tabatabai, and J. Shinar, Proc. SPIE 5588, 59 (2005).
[CrossRef]

Pure Appl. Chem. (1)

Z. H. Kafafi, H. Murata, L. C. Picciolo, H. Mattoussi, C. D. Merritt, Y. Lizimu, and J. Kido, Pure Appl. Chem. 71, 2085 (1999).
[CrossRef]

Semicond. Sci. Technol. (1)

B. Wei, K. Furukawa, J. Amagai, M. Ichikawa, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Semicond. Sci. Technol. 19, L56 (2004).
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (4)

Fig. 1
Fig. 1

Energy diagrams and device structures for devices (a) A and (b) B.

Fig. 2
Fig. 2

Influence of the concentration of DSB in CBP on the FL and the current efficiency at the current density of 100 mA cm 2 .

Fig. 3
Fig. 3

(a) Current density–voltage–luminance characteristics of devices A and B and (b) their EL spectra and the PL spectrum of the Alq 3 film.

Fig. 4
Fig. 4

Logarithmic plot of the EL intensity of OLED devices versus the frequency of the applied sine-wave voltage at the amplitude of 8 V with a bias voltage of 8 V , and the frequency dependence on the PL intensity pumped by the blue laser diode.

Metrics