Abstract

In apertureless scanning near-field optical microscopy (ASNOM), the probe vibration is often used to increase the detected signal. The useful signal is detected at the probe-vibration frequency by a lock-in amplifier. By comparing two-dimensional numerical results with an experimental scan, we show numerically that, to explain or predict the detected signal, a realistic model of ASNOM should take into account the scan of the probe as well as the probe vibration and the material properties.

© 2003 Optical Society of America

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. C. Girard and D. Courjon, Surf. Sci. 382, 9 (1997).
  2. R. Hillenbrand and F. Keilmann, Appl. Phys. Lett. 80, 25 (2002).
  3. G. Wurtz, R. Bachelot, and P. Royer, Rev. Sci. Instrum. 69, 1735 (1998).
  4. A. Madrazo, R. Carminati, M. Nieto-Vesperinas, and J.-J. Greffet, J. Opt. Soc. Am. A 15, 109 (1998).
  5. P. Adam, J. L. Bijeon, G. Viardot, and P. Royer, Opt. Commun. 174, 91 (2000).
  6. J. N. Walford, J. A. Porto, R. Carminati, J. J. Greffet, P. M. Adam, S. Hudlet, J. L. Bijeon, A. Stashkevitch, and P. Royer, J. Appl. Phys. 89, 5159 (2001).
  7. S. Kawata and Y. Inouye, Ultramicroscopy 57, 313 (1995).
  8. R. Fikri, D. Barchiesi, F. H'Dhili, R. Bachelot, A. Vial, and P. Royer, Opt. Commun. 221, 13 (2003).
  9. S. Benrezzak, P. Adam, J. L. Bijeon, and P. Royer, Surf. Sci. 491, 195 (2001).
  10. R. Laddada, S. Benrezzak, P. Adam, G. Viradot, J.-L. Bijeon, and P. Royer, Eur. J. Appl. Phys. 6, 171 (1999).
  11. Y. C. Martin, H. F. Hamann, and H. K. Wickramasinghe, J. Appl. Phys. 89, 5774 (2001).
  12. J. Jin, The Finite Element Method in Electromagnetics (Wiley, New York, 1993).

2003 (1)

R. Fikri, D. Barchiesi, F. H'Dhili, R. Bachelot, A. Vial, and P. Royer, Opt. Commun. 221, 13 (2003).

2002 (1)

R. Hillenbrand and F. Keilmann, Appl. Phys. Lett. 80, 25 (2002).

2001 (3)

S. Benrezzak, P. Adam, J. L. Bijeon, and P. Royer, Surf. Sci. 491, 195 (2001).

J. N. Walford, J. A. Porto, R. Carminati, J. J. Greffet, P. M. Adam, S. Hudlet, J. L. Bijeon, A. Stashkevitch, and P. Royer, J. Appl. Phys. 89, 5159 (2001).

Y. C. Martin, H. F. Hamann, and H. K. Wickramasinghe, J. Appl. Phys. 89, 5774 (2001).

2000 (1)

P. Adam, J. L. Bijeon, G. Viardot, and P. Royer, Opt. Commun. 174, 91 (2000).

1999 (1)

R. Laddada, S. Benrezzak, P. Adam, G. Viradot, J.-L. Bijeon, and P. Royer, Eur. J. Appl. Phys. 6, 171 (1999).

1998 (2)

G. Wurtz, R. Bachelot, and P. Royer, Rev. Sci. Instrum. 69, 1735 (1998).

A. Madrazo, R. Carminati, M. Nieto-Vesperinas, and J.-J. Greffet, J. Opt. Soc. Am. A 15, 109 (1998).

1997 (1)

C. Girard and D. Courjon, Surf. Sci. 382, 9 (1997).

1995 (1)

S. Kawata and Y. Inouye, Ultramicroscopy 57, 313 (1995).

1993 (1)

J. Jin, The Finite Element Method in Electromagnetics (Wiley, New York, 1993).

Adam, P.

S. Benrezzak, P. Adam, J. L. Bijeon, and P. Royer, Surf. Sci. 491, 195 (2001).

P. Adam, J. L. Bijeon, G. Viardot, and P. Royer, Opt. Commun. 174, 91 (2000).

R. Laddada, S. Benrezzak, P. Adam, G. Viradot, J.-L. Bijeon, and P. Royer, Eur. J. Appl. Phys. 6, 171 (1999).

Adam, P. M.

J. N. Walford, J. A. Porto, R. Carminati, J. J. Greffet, P. M. Adam, S. Hudlet, J. L. Bijeon, A. Stashkevitch, and P. Royer, J. Appl. Phys. 89, 5159 (2001).

Bachelot, R.

R. Fikri, D. Barchiesi, F. H'Dhili, R. Bachelot, A. Vial, and P. Royer, Opt. Commun. 221, 13 (2003).

G. Wurtz, R. Bachelot, and P. Royer, Rev. Sci. Instrum. 69, 1735 (1998).

Barchiesi, D.

R. Fikri, D. Barchiesi, F. H'Dhili, R. Bachelot, A. Vial, and P. Royer, Opt. Commun. 221, 13 (2003).

Benrezzak, S.

S. Benrezzak, P. Adam, J. L. Bijeon, and P. Royer, Surf. Sci. 491, 195 (2001).

R. Laddada, S. Benrezzak, P. Adam, G. Viradot, J.-L. Bijeon, and P. Royer, Eur. J. Appl. Phys. 6, 171 (1999).

Bijeon, J. L.

S. Benrezzak, P. Adam, J. L. Bijeon, and P. Royer, Surf. Sci. 491, 195 (2001).

J. N. Walford, J. A. Porto, R. Carminati, J. J. Greffet, P. M. Adam, S. Hudlet, J. L. Bijeon, A. Stashkevitch, and P. Royer, J. Appl. Phys. 89, 5159 (2001).

P. Adam, J. L. Bijeon, G. Viardot, and P. Royer, Opt. Commun. 174, 91 (2000).

Bijeon, J.-L.

R. Laddada, S. Benrezzak, P. Adam, G. Viradot, J.-L. Bijeon, and P. Royer, Eur. J. Appl. Phys. 6, 171 (1999).

Carminati, R.

J. N. Walford, J. A. Porto, R. Carminati, J. J. Greffet, P. M. Adam, S. Hudlet, J. L. Bijeon, A. Stashkevitch, and P. Royer, J. Appl. Phys. 89, 5159 (2001).

A. Madrazo, R. Carminati, M. Nieto-Vesperinas, and J.-J. Greffet, J. Opt. Soc. Am. A 15, 109 (1998).

Courjon, D.

C. Girard and D. Courjon, Surf. Sci. 382, 9 (1997).

Fikri, R.

R. Fikri, D. Barchiesi, F. H'Dhili, R. Bachelot, A. Vial, and P. Royer, Opt. Commun. 221, 13 (2003).

Girard, C.

C. Girard and D. Courjon, Surf. Sci. 382, 9 (1997).

Greffet, J. J.

J. N. Walford, J. A. Porto, R. Carminati, J. J. Greffet, P. M. Adam, S. Hudlet, J. L. Bijeon, A. Stashkevitch, and P. Royer, J. Appl. Phys. 89, 5159 (2001).

Greffet, J.-J.

Hamann, H. F.

Y. C. Martin, H. F. Hamann, and H. K. Wickramasinghe, J. Appl. Phys. 89, 5774 (2001).

H'Dhili, F.

R. Fikri, D. Barchiesi, F. H'Dhili, R. Bachelot, A. Vial, and P. Royer, Opt. Commun. 221, 13 (2003).

Hillenbrand, R.

R. Hillenbrand and F. Keilmann, Appl. Phys. Lett. 80, 25 (2002).

Hudlet, S.

J. N. Walford, J. A. Porto, R. Carminati, J. J. Greffet, P. M. Adam, S. Hudlet, J. L. Bijeon, A. Stashkevitch, and P. Royer, J. Appl. Phys. 89, 5159 (2001).

Inouye, Y.

S. Kawata and Y. Inouye, Ultramicroscopy 57, 313 (1995).

Jin, J.

J. Jin, The Finite Element Method in Electromagnetics (Wiley, New York, 1993).

Kawata, S.

S. Kawata and Y. Inouye, Ultramicroscopy 57, 313 (1995).

Keilmann, F.

R. Hillenbrand and F. Keilmann, Appl. Phys. Lett. 80, 25 (2002).

Laddada, R.

R. Laddada, S. Benrezzak, P. Adam, G. Viradot, J.-L. Bijeon, and P. Royer, Eur. J. Appl. Phys. 6, 171 (1999).

Madrazo, A.

Martin, Y. C.

Y. C. Martin, H. F. Hamann, and H. K. Wickramasinghe, J. Appl. Phys. 89, 5774 (2001).

Nieto-Vesperinas, M.

Porto, J. A.

J. N. Walford, J. A. Porto, R. Carminati, J. J. Greffet, P. M. Adam, S. Hudlet, J. L. Bijeon, A. Stashkevitch, and P. Royer, J. Appl. Phys. 89, 5159 (2001).

Royer, P.

R. Fikri, D. Barchiesi, F. H'Dhili, R. Bachelot, A. Vial, and P. Royer, Opt. Commun. 221, 13 (2003).

S. Benrezzak, P. Adam, J. L. Bijeon, and P. Royer, Surf. Sci. 491, 195 (2001).

J. N. Walford, J. A. Porto, R. Carminati, J. J. Greffet, P. M. Adam, S. Hudlet, J. L. Bijeon, A. Stashkevitch, and P. Royer, J. Appl. Phys. 89, 5159 (2001).

P. Adam, J. L. Bijeon, G. Viardot, and P. Royer, Opt. Commun. 174, 91 (2000).

R. Laddada, S. Benrezzak, P. Adam, G. Viradot, J.-L. Bijeon, and P. Royer, Eur. J. Appl. Phys. 6, 171 (1999).

G. Wurtz, R. Bachelot, and P. Royer, Rev. Sci. Instrum. 69, 1735 (1998).

Stashkevitch, A.

J. N. Walford, J. A. Porto, R. Carminati, J. J. Greffet, P. M. Adam, S. Hudlet, J. L. Bijeon, A. Stashkevitch, and P. Royer, J. Appl. Phys. 89, 5159 (2001).

Vial, A.

R. Fikri, D. Barchiesi, F. H'Dhili, R. Bachelot, A. Vial, and P. Royer, Opt. Commun. 221, 13 (2003).

Viardot, G.

P. Adam, J. L. Bijeon, G. Viardot, and P. Royer, Opt. Commun. 174, 91 (2000).

Viradot, G.

R. Laddada, S. Benrezzak, P. Adam, G. Viradot, J.-L. Bijeon, and P. Royer, Eur. J. Appl. Phys. 6, 171 (1999).

Walford, J. N.

J. N. Walford, J. A. Porto, R. Carminati, J. J. Greffet, P. M. Adam, S. Hudlet, J. L. Bijeon, A. Stashkevitch, and P. Royer, J. Appl. Phys. 89, 5159 (2001).

Wickramasinghe, H. K.

Y. C. Martin, H. F. Hamann, and H. K. Wickramasinghe, J. Appl. Phys. 89, 5774 (2001).

Wurtz, G.

G. Wurtz, R. Bachelot, and P. Royer, Rev. Sci. Instrum. 69, 1735 (1998).

Appl. Phys. Lett. (1)

R. Hillenbrand and F. Keilmann, Appl. Phys. Lett. 80, 25 (2002).

Eur. J. Appl. Phys. (1)

R. Laddada, S. Benrezzak, P. Adam, G. Viradot, J.-L. Bijeon, and P. Royer, Eur. J. Appl. Phys. 6, 171 (1999).

J. Appl. Phys. (2)

Y. C. Martin, H. F. Hamann, and H. K. Wickramasinghe, J. Appl. Phys. 89, 5774 (2001).

J. N. Walford, J. A. Porto, R. Carminati, J. J. Greffet, P. M. Adam, S. Hudlet, J. L. Bijeon, A. Stashkevitch, and P. Royer, J. Appl. Phys. 89, 5159 (2001).

J. Opt. Soc. Am. A (1)

Opt. Commun. (2)

R. Fikri, D. Barchiesi, F. H'Dhili, R. Bachelot, A. Vial, and P. Royer, Opt. Commun. 221, 13 (2003).

P. Adam, J. L. Bijeon, G. Viardot, and P. Royer, Opt. Commun. 174, 91 (2000).

Rev. Sci. Instrum. (1)

G. Wurtz, R. Bachelot, and P. Royer, Rev. Sci. Instrum. 69, 1735 (1998).

Surf. Sci. (2)

C. Girard and D. Courjon, Surf. Sci. 382, 9 (1997).

S. Benrezzak, P. Adam, J. L. Bijeon, and P. Royer, Surf. Sci. 491, 195 (2001).

Ultramicroscopy (1)

S. Kawata and Y. Inouye, Ultramicroscopy 57, 313 (1995).

Other (1)

J. Jin, The Finite Element Method in Electromagnetics (Wiley, New York, 1993).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Metrics