Abstract

We have fabricated photorefractive InGaAs/GaAs multiple quantum wells that are sensitive at wavelengths near 1.06 μm for what is believed to be the first time. We have measured four-wave-mixing diffraction efficiency, using a Nd:YAG laser. A maximum diffraction efficiency of 7×10-4 and a cutoff grating period of 2 μm are obtained.

© 2001 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. D. D. Nolte and M. R. Melloch, in Photorefractive Effects and Materials, D. D. Nolte, ed. (Kluwer, Dordrecht, The Netherlands, 1995), Chap.  7.
    [CrossRef]
  2. A. M. Glass, D. D. Nolte, D. H. Olson, G. E. Doran, D. S. Chemla, and W. H. Knox, Opt. Lett. 15, 264 (1990).
    [CrossRef] [PubMed]
  3. I. Lahiri, L. J. Pyrak-Nolte, D. D. Nolte, M. R. Melloch, R. A. Kruger, G. D. Bacjer, and M. B. Klein, Appl. Phys. Lett. 73, 1041 (1998).
    [CrossRef]
  4. Y. Ding, R. M. Brubaker, D. D. Nolte, M. R. Melloch, and A. M. Weiner, Opt. Lett. 22, 718 (1997).
    [CrossRef] [PubMed]
  5. R. Jones, S. C. W. Hyde, M. J. Lynn, N. P. Barry, J. C. Dainty, P. M. W. French, K. M. Kwolek, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, Appl. Phys. Lett. 69, 1837 (1996).
    [CrossRef]
  6. A. Partovi, A. M. Glass, D. H. Olson, G. J. Zydzik, K. T. Short, R. D. Feldman, and R. F. Austin, Appl. Phys. Lett. 59, 1832 (1991).
    [CrossRef]
  7. C. D. Matos, A. L. Corre, H. L’Haridon, B. Lambert, S. Salaum, J. Pleumeekers, and S. Gosselin, Appl. Phys. Lett. 68, 3576 (1996).
    [CrossRef]
  8. S. Iwamoto, H. Kageshima, T. Yuasa, M. Nishioka, T. Someya, Y. Arakawa, K. Fukutani, T. Shimura, and K. Kuroda, Opt. Lett. 24, 321 (1999).
    [CrossRef]
  9. T. K. Woodward, T-H. Chiu, and T. Sizer, Appl. Phys. Lett. 60, 2846 (1992).
    [CrossRef]
  10. K. W. Goosesen, J. E. Cunningham, M. B. Santos, and W. Y. Jan, IEEE Electron. Lett. 29, 1985 (1993).
    [CrossRef]
  11. T. K. Woodward, T. Sizer, D. L. Sivco, and A. Y. Cho, Appl. Phys. Lett. 57, 548 (1990).
    [CrossRef]
  12. S. Niki, C. L. Lin, W. S. C. Chang, and H. H. Wieder, Appl. Phys. Lett. 55, 1339 (1989).
    [CrossRef]
  13. I. J. Fritz, D. R. Myers, G. A. Vawter, T. M. Brennan, and B. E. Hammons, Appl. Phys. Lett. 58, 1608 (1991).
    [CrossRef]
  14. Q. Wang, R. M. Brubaker, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, J. Opt. Soc. Am. B 9, 1626 (1992).
    [CrossRef]
  15. Q. N. Wang, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, J. Appl. Phys. 74, 4254 (1993).
    [CrossRef]
  16. Q. N. Wang, R. M. Brubaker, and D. D. Nolte, J. Opt. Soc. Am. B 11, 1773 (1994).
    [CrossRef]
  17. F. Vachss and L. Hesselink, J. Opt. Soc. Am. B 5, 690 (1988).
    [CrossRef]
  18. S. Balasubramanian, I. Lahiri, Y. Ding, M. R. Melloch, and D. D. Nolte, Appl. Phys. B 68, 863 (1999).
    [CrossRef]

1999 (2)

1998 (1)

I. Lahiri, L. J. Pyrak-Nolte, D. D. Nolte, M. R. Melloch, R. A. Kruger, G. D. Bacjer, and M. B. Klein, Appl. Phys. Lett. 73, 1041 (1998).
[CrossRef]

1997 (1)

1996 (2)

R. Jones, S. C. W. Hyde, M. J. Lynn, N. P. Barry, J. C. Dainty, P. M. W. French, K. M. Kwolek, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, Appl. Phys. Lett. 69, 1837 (1996).
[CrossRef]

C. D. Matos, A. L. Corre, H. L’Haridon, B. Lambert, S. Salaum, J. Pleumeekers, and S. Gosselin, Appl. Phys. Lett. 68, 3576 (1996).
[CrossRef]

1994 (1)

1993 (2)

Q. N. Wang, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, J. Appl. Phys. 74, 4254 (1993).
[CrossRef]

K. W. Goosesen, J. E. Cunningham, M. B. Santos, and W. Y. Jan, IEEE Electron. Lett. 29, 1985 (1993).
[CrossRef]

1992 (2)

T. K. Woodward, T-H. Chiu, and T. Sizer, Appl. Phys. Lett. 60, 2846 (1992).
[CrossRef]

Q. Wang, R. M. Brubaker, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, J. Opt. Soc. Am. B 9, 1626 (1992).
[CrossRef]

1991 (2)

I. J. Fritz, D. R. Myers, G. A. Vawter, T. M. Brennan, and B. E. Hammons, Appl. Phys. Lett. 58, 1608 (1991).
[CrossRef]

A. Partovi, A. M. Glass, D. H. Olson, G. J. Zydzik, K. T. Short, R. D. Feldman, and R. F. Austin, Appl. Phys. Lett. 59, 1832 (1991).
[CrossRef]

1990 (2)

1989 (1)

S. Niki, C. L. Lin, W. S. C. Chang, and H. H. Wieder, Appl. Phys. Lett. 55, 1339 (1989).
[CrossRef]

1988 (1)

Arakawa, Y.

Austin, R. F.

A. Partovi, A. M. Glass, D. H. Olson, G. J. Zydzik, K. T. Short, R. D. Feldman, and R. F. Austin, Appl. Phys. Lett. 59, 1832 (1991).
[CrossRef]

Bacjer, G. D.

I. Lahiri, L. J. Pyrak-Nolte, D. D. Nolte, M. R. Melloch, R. A. Kruger, G. D. Bacjer, and M. B. Klein, Appl. Phys. Lett. 73, 1041 (1998).
[CrossRef]

Balasubramanian, S.

S. Balasubramanian, I. Lahiri, Y. Ding, M. R. Melloch, and D. D. Nolte, Appl. Phys. B 68, 863 (1999).
[CrossRef]

Barry, N. P.

R. Jones, S. C. W. Hyde, M. J. Lynn, N. P. Barry, J. C. Dainty, P. M. W. French, K. M. Kwolek, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, Appl. Phys. Lett. 69, 1837 (1996).
[CrossRef]

Brennan, T. M.

I. J. Fritz, D. R. Myers, G. A. Vawter, T. M. Brennan, and B. E. Hammons, Appl. Phys. Lett. 58, 1608 (1991).
[CrossRef]

Brubaker, R. M.

Chang, W. S. C.

S. Niki, C. L. Lin, W. S. C. Chang, and H. H. Wieder, Appl. Phys. Lett. 55, 1339 (1989).
[CrossRef]

Chemla, D. S.

Chiu, T-H.

T. K. Woodward, T-H. Chiu, and T. Sizer, Appl. Phys. Lett. 60, 2846 (1992).
[CrossRef]

Cho, A. Y.

T. K. Woodward, T. Sizer, D. L. Sivco, and A. Y. Cho, Appl. Phys. Lett. 57, 548 (1990).
[CrossRef]

Corre, A. L.

C. D. Matos, A. L. Corre, H. L’Haridon, B. Lambert, S. Salaum, J. Pleumeekers, and S. Gosselin, Appl. Phys. Lett. 68, 3576 (1996).
[CrossRef]

Cunningham, J. E.

K. W. Goosesen, J. E. Cunningham, M. B. Santos, and W. Y. Jan, IEEE Electron. Lett. 29, 1985 (1993).
[CrossRef]

Dainty, J. C.

R. Jones, S. C. W. Hyde, M. J. Lynn, N. P. Barry, J. C. Dainty, P. M. W. French, K. M. Kwolek, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, Appl. Phys. Lett. 69, 1837 (1996).
[CrossRef]

Ding, Y.

S. Balasubramanian, I. Lahiri, Y. Ding, M. R. Melloch, and D. D. Nolte, Appl. Phys. B 68, 863 (1999).
[CrossRef]

Y. Ding, R. M. Brubaker, D. D. Nolte, M. R. Melloch, and A. M. Weiner, Opt. Lett. 22, 718 (1997).
[CrossRef] [PubMed]

Doran, G. E.

Feldman, R. D.

A. Partovi, A. M. Glass, D. H. Olson, G. J. Zydzik, K. T. Short, R. D. Feldman, and R. F. Austin, Appl. Phys. Lett. 59, 1832 (1991).
[CrossRef]

French, P. M. W.

R. Jones, S. C. W. Hyde, M. J. Lynn, N. P. Barry, J. C. Dainty, P. M. W. French, K. M. Kwolek, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, Appl. Phys. Lett. 69, 1837 (1996).
[CrossRef]

Fritz, I. J.

I. J. Fritz, D. R. Myers, G. A. Vawter, T. M. Brennan, and B. E. Hammons, Appl. Phys. Lett. 58, 1608 (1991).
[CrossRef]

Fukutani, K.

Glass, A. M.

A. Partovi, A. M. Glass, D. H. Olson, G. J. Zydzik, K. T. Short, R. D. Feldman, and R. F. Austin, Appl. Phys. Lett. 59, 1832 (1991).
[CrossRef]

A. M. Glass, D. D. Nolte, D. H. Olson, G. E. Doran, D. S. Chemla, and W. H. Knox, Opt. Lett. 15, 264 (1990).
[CrossRef] [PubMed]

Goosesen, K. W.

K. W. Goosesen, J. E. Cunningham, M. B. Santos, and W. Y. Jan, IEEE Electron. Lett. 29, 1985 (1993).
[CrossRef]

Gosselin, S.

C. D. Matos, A. L. Corre, H. L’Haridon, B. Lambert, S. Salaum, J. Pleumeekers, and S. Gosselin, Appl. Phys. Lett. 68, 3576 (1996).
[CrossRef]

Hammons, B. E.

I. J. Fritz, D. R. Myers, G. A. Vawter, T. M. Brennan, and B. E. Hammons, Appl. Phys. Lett. 58, 1608 (1991).
[CrossRef]

Hesselink, L.

Hyde, S. C. W.

R. Jones, S. C. W. Hyde, M. J. Lynn, N. P. Barry, J. C. Dainty, P. M. W. French, K. M. Kwolek, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, Appl. Phys. Lett. 69, 1837 (1996).
[CrossRef]

Iwamoto, S.

Jan, W. Y.

K. W. Goosesen, J. E. Cunningham, M. B. Santos, and W. Y. Jan, IEEE Electron. Lett. 29, 1985 (1993).
[CrossRef]

Jones, R.

R. Jones, S. C. W. Hyde, M. J. Lynn, N. P. Barry, J. C. Dainty, P. M. W. French, K. M. Kwolek, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, Appl. Phys. Lett. 69, 1837 (1996).
[CrossRef]

Kageshima, H.

Klein, M. B.

I. Lahiri, L. J. Pyrak-Nolte, D. D. Nolte, M. R. Melloch, R. A. Kruger, G. D. Bacjer, and M. B. Klein, Appl. Phys. Lett. 73, 1041 (1998).
[CrossRef]

Knox, W. H.

Kruger, R. A.

I. Lahiri, L. J. Pyrak-Nolte, D. D. Nolte, M. R. Melloch, R. A. Kruger, G. D. Bacjer, and M. B. Klein, Appl. Phys. Lett. 73, 1041 (1998).
[CrossRef]

Kuroda, K.

Kwolek, K. M.

R. Jones, S. C. W. Hyde, M. J. Lynn, N. P. Barry, J. C. Dainty, P. M. W. French, K. M. Kwolek, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, Appl. Phys. Lett. 69, 1837 (1996).
[CrossRef]

L’Haridon, H.

C. D. Matos, A. L. Corre, H. L’Haridon, B. Lambert, S. Salaum, J. Pleumeekers, and S. Gosselin, Appl. Phys. Lett. 68, 3576 (1996).
[CrossRef]

Lahiri, I.

S. Balasubramanian, I. Lahiri, Y. Ding, M. R. Melloch, and D. D. Nolte, Appl. Phys. B 68, 863 (1999).
[CrossRef]

I. Lahiri, L. J. Pyrak-Nolte, D. D. Nolte, M. R. Melloch, R. A. Kruger, G. D. Bacjer, and M. B. Klein, Appl. Phys. Lett. 73, 1041 (1998).
[CrossRef]

Lambert, B.

C. D. Matos, A. L. Corre, H. L’Haridon, B. Lambert, S. Salaum, J. Pleumeekers, and S. Gosselin, Appl. Phys. Lett. 68, 3576 (1996).
[CrossRef]

Lin, C. L.

S. Niki, C. L. Lin, W. S. C. Chang, and H. H. Wieder, Appl. Phys. Lett. 55, 1339 (1989).
[CrossRef]

Lynn, M. J.

R. Jones, S. C. W. Hyde, M. J. Lynn, N. P. Barry, J. C. Dainty, P. M. W. French, K. M. Kwolek, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, Appl. Phys. Lett. 69, 1837 (1996).
[CrossRef]

Matos, C. D.

C. D. Matos, A. L. Corre, H. L’Haridon, B. Lambert, S. Salaum, J. Pleumeekers, and S. Gosselin, Appl. Phys. Lett. 68, 3576 (1996).
[CrossRef]

Melloch, M. R.

S. Balasubramanian, I. Lahiri, Y. Ding, M. R. Melloch, and D. D. Nolte, Appl. Phys. B 68, 863 (1999).
[CrossRef]

I. Lahiri, L. J. Pyrak-Nolte, D. D. Nolte, M. R. Melloch, R. A. Kruger, G. D. Bacjer, and M. B. Klein, Appl. Phys. Lett. 73, 1041 (1998).
[CrossRef]

Y. Ding, R. M. Brubaker, D. D. Nolte, M. R. Melloch, and A. M. Weiner, Opt. Lett. 22, 718 (1997).
[CrossRef] [PubMed]

R. Jones, S. C. W. Hyde, M. J. Lynn, N. P. Barry, J. C. Dainty, P. M. W. French, K. M. Kwolek, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, Appl. Phys. Lett. 69, 1837 (1996).
[CrossRef]

Q. N. Wang, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, J. Appl. Phys. 74, 4254 (1993).
[CrossRef]

Q. Wang, R. M. Brubaker, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, J. Opt. Soc. Am. B 9, 1626 (1992).
[CrossRef]

D. D. Nolte and M. R. Melloch, in Photorefractive Effects and Materials, D. D. Nolte, ed. (Kluwer, Dordrecht, The Netherlands, 1995), Chap.  7.
[CrossRef]

Myers, D. R.

I. J. Fritz, D. R. Myers, G. A. Vawter, T. M. Brennan, and B. E. Hammons, Appl. Phys. Lett. 58, 1608 (1991).
[CrossRef]

Niki, S.

S. Niki, C. L. Lin, W. S. C. Chang, and H. H. Wieder, Appl. Phys. Lett. 55, 1339 (1989).
[CrossRef]

Nishioka, M.

Nolte, D. D.

S. Balasubramanian, I. Lahiri, Y. Ding, M. R. Melloch, and D. D. Nolte, Appl. Phys. B 68, 863 (1999).
[CrossRef]

I. Lahiri, L. J. Pyrak-Nolte, D. D. Nolte, M. R. Melloch, R. A. Kruger, G. D. Bacjer, and M. B. Klein, Appl. Phys. Lett. 73, 1041 (1998).
[CrossRef]

Y. Ding, R. M. Brubaker, D. D. Nolte, M. R. Melloch, and A. M. Weiner, Opt. Lett. 22, 718 (1997).
[CrossRef] [PubMed]

R. Jones, S. C. W. Hyde, M. J. Lynn, N. P. Barry, J. C. Dainty, P. M. W. French, K. M. Kwolek, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, Appl. Phys. Lett. 69, 1837 (1996).
[CrossRef]

Q. N. Wang, R. M. Brubaker, and D. D. Nolte, J. Opt. Soc. Am. B 11, 1773 (1994).
[CrossRef]

Q. N. Wang, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, J. Appl. Phys. 74, 4254 (1993).
[CrossRef]

Q. Wang, R. M. Brubaker, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, J. Opt. Soc. Am. B 9, 1626 (1992).
[CrossRef]

A. M. Glass, D. D. Nolte, D. H. Olson, G. E. Doran, D. S. Chemla, and W. H. Knox, Opt. Lett. 15, 264 (1990).
[CrossRef] [PubMed]

D. D. Nolte and M. R. Melloch, in Photorefractive Effects and Materials, D. D. Nolte, ed. (Kluwer, Dordrecht, The Netherlands, 1995), Chap.  7.
[CrossRef]

Olson, D. H.

A. Partovi, A. M. Glass, D. H. Olson, G. J. Zydzik, K. T. Short, R. D. Feldman, and R. F. Austin, Appl. Phys. Lett. 59, 1832 (1991).
[CrossRef]

A. M. Glass, D. D. Nolte, D. H. Olson, G. E. Doran, D. S. Chemla, and W. H. Knox, Opt. Lett. 15, 264 (1990).
[CrossRef] [PubMed]

Partovi, A.

A. Partovi, A. M. Glass, D. H. Olson, G. J. Zydzik, K. T. Short, R. D. Feldman, and R. F. Austin, Appl. Phys. Lett. 59, 1832 (1991).
[CrossRef]

Pleumeekers, J.

C. D. Matos, A. L. Corre, H. L’Haridon, B. Lambert, S. Salaum, J. Pleumeekers, and S. Gosselin, Appl. Phys. Lett. 68, 3576 (1996).
[CrossRef]

Pyrak-Nolte, L. J.

I. Lahiri, L. J. Pyrak-Nolte, D. D. Nolte, M. R. Melloch, R. A. Kruger, G. D. Bacjer, and M. B. Klein, Appl. Phys. Lett. 73, 1041 (1998).
[CrossRef]

Salaum, S.

C. D. Matos, A. L. Corre, H. L’Haridon, B. Lambert, S. Salaum, J. Pleumeekers, and S. Gosselin, Appl. Phys. Lett. 68, 3576 (1996).
[CrossRef]

Santos, M. B.

K. W. Goosesen, J. E. Cunningham, M. B. Santos, and W. Y. Jan, IEEE Electron. Lett. 29, 1985 (1993).
[CrossRef]

Shimura, T.

Short, K. T.

A. Partovi, A. M. Glass, D. H. Olson, G. J. Zydzik, K. T. Short, R. D. Feldman, and R. F. Austin, Appl. Phys. Lett. 59, 1832 (1991).
[CrossRef]

Sivco, D. L.

T. K. Woodward, T. Sizer, D. L. Sivco, and A. Y. Cho, Appl. Phys. Lett. 57, 548 (1990).
[CrossRef]

Sizer, T.

T. K. Woodward, T-H. Chiu, and T. Sizer, Appl. Phys. Lett. 60, 2846 (1992).
[CrossRef]

T. K. Woodward, T. Sizer, D. L. Sivco, and A. Y. Cho, Appl. Phys. Lett. 57, 548 (1990).
[CrossRef]

Someya, T.

Vachss, F.

Vawter, G. A.

I. J. Fritz, D. R. Myers, G. A. Vawter, T. M. Brennan, and B. E. Hammons, Appl. Phys. Lett. 58, 1608 (1991).
[CrossRef]

Wang, Q.

Wang, Q. N.

Q. N. Wang, R. M. Brubaker, and D. D. Nolte, J. Opt. Soc. Am. B 11, 1773 (1994).
[CrossRef]

Q. N. Wang, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, J. Appl. Phys. 74, 4254 (1993).
[CrossRef]

Weiner, A. M.

Wieder, H. H.

S. Niki, C. L. Lin, W. S. C. Chang, and H. H. Wieder, Appl. Phys. Lett. 55, 1339 (1989).
[CrossRef]

Woodward, T. K.

T. K. Woodward, T-H. Chiu, and T. Sizer, Appl. Phys. Lett. 60, 2846 (1992).
[CrossRef]

T. K. Woodward, T. Sizer, D. L. Sivco, and A. Y. Cho, Appl. Phys. Lett. 57, 548 (1990).
[CrossRef]

Yuasa, T.

Zydzik, G. J.

A. Partovi, A. M. Glass, D. H. Olson, G. J. Zydzik, K. T. Short, R. D. Feldman, and R. F. Austin, Appl. Phys. Lett. 59, 1832 (1991).
[CrossRef]

Appl. Phys. B (1)

S. Balasubramanian, I. Lahiri, Y. Ding, M. R. Melloch, and D. D. Nolte, Appl. Phys. B 68, 863 (1999).
[CrossRef]

Appl. Phys. Lett. (8)

I. Lahiri, L. J. Pyrak-Nolte, D. D. Nolte, M. R. Melloch, R. A. Kruger, G. D. Bacjer, and M. B. Klein, Appl. Phys. Lett. 73, 1041 (1998).
[CrossRef]

R. Jones, S. C. W. Hyde, M. J. Lynn, N. P. Barry, J. C. Dainty, P. M. W. French, K. M. Kwolek, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, Appl. Phys. Lett. 69, 1837 (1996).
[CrossRef]

A. Partovi, A. M. Glass, D. H. Olson, G. J. Zydzik, K. T. Short, R. D. Feldman, and R. F. Austin, Appl. Phys. Lett. 59, 1832 (1991).
[CrossRef]

C. D. Matos, A. L. Corre, H. L’Haridon, B. Lambert, S. Salaum, J. Pleumeekers, and S. Gosselin, Appl. Phys. Lett. 68, 3576 (1996).
[CrossRef]

T. K. Woodward, T-H. Chiu, and T. Sizer, Appl. Phys. Lett. 60, 2846 (1992).
[CrossRef]

T. K. Woodward, T. Sizer, D. L. Sivco, and A. Y. Cho, Appl. Phys. Lett. 57, 548 (1990).
[CrossRef]

S. Niki, C. L. Lin, W. S. C. Chang, and H. H. Wieder, Appl. Phys. Lett. 55, 1339 (1989).
[CrossRef]

I. J. Fritz, D. R. Myers, G. A. Vawter, T. M. Brennan, and B. E. Hammons, Appl. Phys. Lett. 58, 1608 (1991).
[CrossRef]

IEEE Electron. Lett. (1)

K. W. Goosesen, J. E. Cunningham, M. B. Santos, and W. Y. Jan, IEEE Electron. Lett. 29, 1985 (1993).
[CrossRef]

J. Appl. Phys. (1)

Q. N. Wang, D. D. Nolte, and M. R. Melloch, J. Appl. Phys. 74, 4254 (1993).
[CrossRef]

J. Opt. Soc. Am. B (3)

Opt. Lett. (3)

Other (1)

D. D. Nolte and M. R. Melloch, in Photorefractive Effects and Materials, D. D. Nolte, ed. (Kluwer, Dordrecht, The Netherlands, 1995), Chap.  7.
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (4)

Fig. 1
Fig. 1

Sample structure. The indium fractions of the well layers x and the strain-relief buffer y are 0.25 and 0.164, respectively.

Fig. 2
Fig. 2

Optical density and differential transmission ΔT/T as functions of wavelength. ΔT/T is measured by application of a unipolar square-wave ac electric field of 12  kV/cm at a frequency of 70  Hz.

Fig. 3
Fig. 3

(a) Diffraction efficiency with optical fringe modulation of 1 (filled circles) and differential transmission (filled triangles) as functions of applied electric field. The grating period and the total incident intensity are 8.2 μm and 10 mW/cm2, respectively. The differential transmission is measured under uniform illumination. (b) Electric field dependence of diffraction efficiency at different modulation depths m. The grating period and the incident intensity are the same as in (a).

Fig. 4
Fig. 4

Grating-period dependence of diffraction efficiency under an applied electric field of 12  kV/cm. The total intensity is 6.5 mW/cm2. The solid line indicates the fitting curve to the theoretical expression.

Metrics