Abstract

We report what is believed to be the first experimental demonstration of silver coating by a wet chemical process on tapered fiber tips used in near-field scanning optical microscopy. The process occurs at room temperature and pressure and takes only a few minutes to complete. Many tips can be coated simultaneously.

© 1999 Optical Society of America

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. M. A. Paesler and P. J. Moyer, Near-Field Optics: Theory, Instrumentation, and Applications (Wiley, New York, 1996).
  2. D. Courjon and C. Bainier, Rep. Prog. Phys. 57, 989 (1994).
  3. G. A. Valaskovic, M. Holton, and G. H. Morrison, Appl. Opt. 34, 1215 (1995).
  4. S. McCulloch and D. Uttamchandani, Meas. Sci. Technol. 6, 1157 (1995).
  5. X. Xiao, J. Nieto, J. Siqueiros, and R. Machorro, Rev. Sci. Instrum. 68, 2787 (1997).
  6. T. Pangaribuan, S. Jiang, and M. Ohtsu, Scanning 16, 362 (1994).
  7. S. Mononobe and M. Ohtsu, J. Lightwave Technol. 14, 2231 (1996) ; 15, 162 (1997).
  8. S. Mononobe, M. Naya, T. Saiki, and M. Ohtsu, Appl. Opt. 36, 1496 (1997).
  9. H. Muramatsu, N. Chiba, and M. Fujihira, Appl. Phys. Lett. 71, 2061 (1997).
  10. T. Pagnot and C. Pierali, Opt. Commun. 132, 161 (1996).
  11. P. Hoffman, B. Dutoit, and R.-P. Salathé, Ultramicroscopy 61, 165 (1995).
  12. S. J. Bukofsky and R. D. Grober, Appl. Phys. Lett. 71, 2749 (1997).
  13. M. N. Islam, X. K. Zhao, A. A. Said, S. S. Mickel, and C. V. Vail, Appl. Phys. Lett. 71, 2886 (1997).
  14. S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).
  15. Y.-H. Chuang, K.-G. Sun, C.-J. Wang, J. Y. Huang, and C.-L. Pan, Rev. Sci. Instrum. 69, 437 (1998).
  16. M. Ashino and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 72, 1299 (1998).
  17. N. Essaidi, Y. Chen, V. Kottler, E. Cambril, C. Mayeux, N. Ronarch, and C. Vieu, Appl. Opt. 37, 609 (1998).
  18. M. A. Unger, D. A. Kossakovski, R. Kongovi, J. L. Beauchamp, J. D. Baldeschwieler, and D. V. Palanker, Rev. Sci. Instrum. 69, 2988 (1998).
  19. T. Yatsui, M. Kourogi, and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 73, 2090 (1998).
  20. G. von Freymann, Th. Schimmel, M. Wegener, B. Hanewinkel, A. Knorr, and S. W. Koch, Appl. Phys. Lett. 73, 1170 (1998).
  21. H. Furukawa and S. Kawata, Opt. Commun. 148, 221 (1998).
  22. G. Wurtz, R. Bachelot, and P. Royer, Rev. Sci. Instrum. 69, 1735 (1998).
  23. P.-M. Adam, P. Royer, R. Laddada, and J.-L. Bijeon, Appl. Opt. 37, 1814 (1998).
  24. H. F. Hamann, A. Gallagher, and D. J. Nesbitt, Appl. Phys. Lett. 73, 1469 (1998).
  25. K. Luo, Z. Shi, J. Lai, and A. Majumdar, Appl. Phys. Lett. 68, 325 (1996).
  26. D. Mulin, D. Courjon, J.-P. Malugani, and B. Gauthier-Manuel, Appl. Phys. Lett. 71, 437 (1997).
  27. S. Pilevar, K. Edinger, W. Atia, I. Smolyaninov, and C. Davis, Appl. Phys. Lett. 72, 3133 (1998).
  28. J. Koglin, U. C. Fischer, and H. Fuchs, J. Biomed. Opt. 1, 75 (1996).
  29. T. Yatsui, M. Kourogi, and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 71, 1756 (1997).
  30. T. Sugiura, T. Okada, Y. Inouye, O. Nakamura, and S. Kawata, Opt. Lett. 22, 1663 (1997).
  31. S. Munster, S. Werner, C. Mihalcea, W. Scholz, and E. Oesterschulze, J. Microsc. (Oxford) 186, Pt. 1, 17 (1997).
  32. A. Roberts, J. Appl. Phys. 70, 4045 (1991).
  33. G. A. Valaskovic, M. Holton, and G. H. Morrison, J. Microsc. (Oxford) 179, Pt. 1, 29 (1995).
  34. D. Barchiesi, Opt. Commun. 126, 7 (1996).
  35. M. Stahelin, M. A. Bopp, G. Tarrach, A. J. Meixner, and I. Zschokke-Granacher, Appl. Phys. Lett. 68, 2603 (1996).
  36. A. J. Ward and J. B. Pendry, J. Mod. Opt. 44, 1703 (1997).
  37. C. W. Hollars and R. C. Dunn, Rev. Sci. Instrum. 69, 1747 (1998).
  38. Jema-America, Inc., Box 206, Dunellen, N.J. 08812.
  39. Model P-2000 Micropipette Puller; Sutter Instrument Company, 40 Leveroni Court, Novato, Calif. 94949.
  40. K. D. Weston, J. A. DeAro, and S. K. Buratto, Rev. Sci. Instrum. 67, 2924 (1996).
  41. P. A. Crowell, D. K. Young, S. Keller, E. L. Hu, and D. D. Awschalom, Appl. Phys. Lett. 72, 927 (1998).
  42. K. Dickmann, F. Demming, and J. Jersch, Rev. Sci. Instrum. 67, 845 (1996).

1998

S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).

Y.-H. Chuang, K.-G. Sun, C.-J. Wang, J. Y. Huang, and C.-L. Pan, Rev. Sci. Instrum. 69, 437 (1998).

M. Ashino and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 72, 1299 (1998).

M. A. Unger, D. A. Kossakovski, R. Kongovi, J. L. Beauchamp, J. D. Baldeschwieler, and D. V. Palanker, Rev. Sci. Instrum. 69, 2988 (1998).

T. Yatsui, M. Kourogi, and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 73, 2090 (1998).

G. von Freymann, Th. Schimmel, M. Wegener, B. Hanewinkel, A. Knorr, and S. W. Koch, Appl. Phys. Lett. 73, 1170 (1998).

H. Furukawa and S. Kawata, Opt. Commun. 148, 221 (1998).

G. Wurtz, R. Bachelot, and P. Royer, Rev. Sci. Instrum. 69, 1735 (1998).

C. W. Hollars and R. C. Dunn, Rev. Sci. Instrum. 69, 1747 (1998).

P. A. Crowell, D. K. Young, S. Keller, E. L. Hu, and D. D. Awschalom, Appl. Phys. Lett. 72, 927 (1998).

H. F. Hamann, A. Gallagher, and D. J. Nesbitt, Appl. Phys. Lett. 73, 1469 (1998).

S. Pilevar, K. Edinger, W. Atia, I. Smolyaninov, and C. Davis, Appl. Phys. Lett. 72, 3133 (1998).

N. Essaidi, Y. Chen, V. Kottler, E. Cambril, C. Mayeux, N. Ronarch, and C. Vieu, Appl. Opt. 37, 609 (1998).

P.-M. Adam, P. Royer, R. Laddada, and J.-L. Bijeon, Appl. Opt. 37, 1814 (1998).

1997

A. J. Ward and J. B. Pendry, J. Mod. Opt. 44, 1703 (1997).

D. Mulin, D. Courjon, J.-P. Malugani, and B. Gauthier-Manuel, Appl. Phys. Lett. 71, 437 (1997).

T. Yatsui, M. Kourogi, and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 71, 1756 (1997).

T. Sugiura, T. Okada, Y. Inouye, O. Nakamura, and S. Kawata, Opt. Lett. 22, 1663 (1997).

S. Mononobe, M. Naya, T. Saiki, and M. Ohtsu, Appl. Opt. 36, 1496 (1997).

S. Munster, S. Werner, C. Mihalcea, W. Scholz, and E. Oesterschulze, J. Microsc. (Oxford) 186, Pt. 1, 17 (1997).

X. Xiao, J. Nieto, J. Siqueiros, and R. Machorro, Rev. Sci. Instrum. 68, 2787 (1997).

H. Muramatsu, N. Chiba, and M. Fujihira, Appl. Phys. Lett. 71, 2061 (1997).

S. J. Bukofsky and R. D. Grober, Appl. Phys. Lett. 71, 2749 (1997).

M. N. Islam, X. K. Zhao, A. A. Said, S. S. Mickel, and C. V. Vail, Appl. Phys. Lett. 71, 2886 (1997).

1996

T. Pagnot and C. Pierali, Opt. Commun. 132, 161 (1996).

S. Mononobe and M. Ohtsu, J. Lightwave Technol. 14, 2231 (1996) ; 15, 162 (1997).

J. Koglin, U. C. Fischer, and H. Fuchs, J. Biomed. Opt. 1, 75 (1996).

K. Luo, Z. Shi, J. Lai, and A. Majumdar, Appl. Phys. Lett. 68, 325 (1996).

K. Dickmann, F. Demming, and J. Jersch, Rev. Sci. Instrum. 67, 845 (1996).

K. D. Weston, J. A. DeAro, and S. K. Buratto, Rev. Sci. Instrum. 67, 2924 (1996).

D. Barchiesi, Opt. Commun. 126, 7 (1996).

M. Stahelin, M. A. Bopp, G. Tarrach, A. J. Meixner, and I. Zschokke-Granacher, Appl. Phys. Lett. 68, 2603 (1996).

1995

G. A. Valaskovic, M. Holton, and G. H. Morrison, J. Microsc. (Oxford) 179, Pt. 1, 29 (1995).

P. Hoffman, B. Dutoit, and R.-P. Salathé, Ultramicroscopy 61, 165 (1995).

S. McCulloch and D. Uttamchandani, Meas. Sci. Technol. 6, 1157 (1995).

G. A. Valaskovic, M. Holton, and G. H. Morrison, Appl. Opt. 34, 1215 (1995).

1994

T. Pangaribuan, S. Jiang, and M. Ohtsu, Scanning 16, 362 (1994).

D. Courjon and C. Bainier, Rep. Prog. Phys. 57, 989 (1994).

1991

A. Roberts, J. Appl. Phys. 70, 4045 (1991).

Adam, P.-M.

Ashino, M.

M. Ashino and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 72, 1299 (1998).

Atia, W.

S. Pilevar, K. Edinger, W. Atia, I. Smolyaninov, and C. Davis, Appl. Phys. Lett. 72, 3133 (1998).

Awschalom, D. D.

P. A. Crowell, D. K. Young, S. Keller, E. L. Hu, and D. D. Awschalom, Appl. Phys. Lett. 72, 927 (1998).

Bachelot, R.

G. Wurtz, R. Bachelot, and P. Royer, Rev. Sci. Instrum. 69, 1735 (1998).

Bainier, C.

D. Courjon and C. Bainier, Rep. Prog. Phys. 57, 989 (1994).

Baldeschwieler, J. D.

M. A. Unger, D. A. Kossakovski, R. Kongovi, J. L. Beauchamp, J. D. Baldeschwieler, and D. V. Palanker, Rev. Sci. Instrum. 69, 2988 (1998).

Barchiesi, D.

D. Barchiesi, Opt. Commun. 126, 7 (1996).

Beauchamp, J. L.

M. A. Unger, D. A. Kossakovski, R. Kongovi, J. L. Beauchamp, J. D. Baldeschwieler, and D. V. Palanker, Rev. Sci. Instrum. 69, 2988 (1998).

Bijeon, J.-L.

Bopp, M. A.

M. Stahelin, M. A. Bopp, G. Tarrach, A. J. Meixner, and I. Zschokke-Granacher, Appl. Phys. Lett. 68, 2603 (1996).

Bukofsky, S. J.

S. J. Bukofsky and R. D. Grober, Appl. Phys. Lett. 71, 2749 (1997).

Buratto, S. K.

K. D. Weston, J. A. DeAro, and S. K. Buratto, Rev. Sci. Instrum. 67, 2924 (1996).

Cambril, E.

Chen, Y.

Chiba, N.

H. Muramatsu, N. Chiba, and M. Fujihira, Appl. Phys. Lett. 71, 2061 (1997).

Chuang, Y.-H.

Y.-H. Chuang, K.-G. Sun, C.-J. Wang, J. Y. Huang, and C.-L. Pan, Rev. Sci. Instrum. 69, 437 (1998).

Courjon, D.

D. Mulin, D. Courjon, J.-P. Malugani, and B. Gauthier-Manuel, Appl. Phys. Lett. 71, 437 (1997).

D. Courjon and C. Bainier, Rep. Prog. Phys. 57, 989 (1994).

Crowell, P. A.

P. A. Crowell, D. K. Young, S. Keller, E. L. Hu, and D. D. Awschalom, Appl. Phys. Lett. 72, 927 (1998).

Davis, C.

S. Pilevar, K. Edinger, W. Atia, I. Smolyaninov, and C. Davis, Appl. Phys. Lett. 72, 3133 (1998).

DeAro, J. A.

K. D. Weston, J. A. DeAro, and S. K. Buratto, Rev. Sci. Instrum. 67, 2924 (1996).

Demming, F.

K. Dickmann, F. Demming, and J. Jersch, Rev. Sci. Instrum. 67, 845 (1996).

Dickmann, K.

K. Dickmann, F. Demming, and J. Jersch, Rev. Sci. Instrum. 67, 845 (1996).

Dunn, R. C.

C. W. Hollars and R. C. Dunn, Rev. Sci. Instrum. 69, 1747 (1998).

Dutoit, B.

P. Hoffman, B. Dutoit, and R.-P. Salathé, Ultramicroscopy 61, 165 (1995).

Edinger, K.

S. Pilevar, K. Edinger, W. Atia, I. Smolyaninov, and C. Davis, Appl. Phys. Lett. 72, 3133 (1998).

Essaidi, N.

Fischer, U. C.

J. Koglin, U. C. Fischer, and H. Fuchs, J. Biomed. Opt. 1, 75 (1996).

Fuchs, H.

J. Koglin, U. C. Fischer, and H. Fuchs, J. Biomed. Opt. 1, 75 (1996).

Fujihira, M.

H. Muramatsu, N. Chiba, and M. Fujihira, Appl. Phys. Lett. 71, 2061 (1997).

Furukawa, H.

H. Furukawa and S. Kawata, Opt. Commun. 148, 221 (1998).

Gallagher, A.

H. F. Hamann, A. Gallagher, and D. J. Nesbitt, Appl. Phys. Lett. 73, 1469 (1998).

Gauthier-Manuel, B.

D. Mulin, D. Courjon, J.-P. Malugani, and B. Gauthier-Manuel, Appl. Phys. Lett. 71, 437 (1997).

Grober, R. D.

S. J. Bukofsky and R. D. Grober, Appl. Phys. Lett. 71, 2749 (1997).

Hamann, H. F.

H. F. Hamann, A. Gallagher, and D. J. Nesbitt, Appl. Phys. Lett. 73, 1469 (1998).

Hanewinkel, B.

G. von Freymann, Th. Schimmel, M. Wegener, B. Hanewinkel, A. Knorr, and S. W. Koch, Appl. Phys. Lett. 73, 1170 (1998).

Hoffman, P.

P. Hoffman, B. Dutoit, and R.-P. Salathé, Ultramicroscopy 61, 165 (1995).

Hollars, C. W.

C. W. Hollars and R. C. Dunn, Rev. Sci. Instrum. 69, 1747 (1998).

Holton, M.

G. A. Valaskovic, M. Holton, and G. H. Morrison, J. Microsc. (Oxford) 179, Pt. 1, 29 (1995).

G. A. Valaskovic, M. Holton, and G. H. Morrison, Appl. Opt. 34, 1215 (1995).

Hu, E. L.

P. A. Crowell, D. K. Young, S. Keller, E. L. Hu, and D. D. Awschalom, Appl. Phys. Lett. 72, 927 (1998).

Huang, J. Y.

Y.-H. Chuang, K.-G. Sun, C.-J. Wang, J. Y. Huang, and C.-L. Pan, Rev. Sci. Instrum. 69, 437 (1998).

Inouye, Y.

Islam, M. N.

M. N. Islam, X. K. Zhao, A. A. Said, S. S. Mickel, and C. V. Vail, Appl. Phys. Lett. 71, 2886 (1997).

Jersch, J.

K. Dickmann, F. Demming, and J. Jersch, Rev. Sci. Instrum. 67, 845 (1996).

Jiang, S.

T. Pangaribuan, S. Jiang, and M. Ohtsu, Scanning 16, 362 (1994).

Kawata, S.

Keller, S.

P. A. Crowell, D. K. Young, S. Keller, E. L. Hu, and D. D. Awschalom, Appl. Phys. Lett. 72, 927 (1998).

Knorr, A.

G. von Freymann, Th. Schimmel, M. Wegener, B. Hanewinkel, A. Knorr, and S. W. Koch, Appl. Phys. Lett. 73, 1170 (1998).

Koch, S. W.

G. von Freymann, Th. Schimmel, M. Wegener, B. Hanewinkel, A. Knorr, and S. W. Koch, Appl. Phys. Lett. 73, 1170 (1998).

Koglin, J.

J. Koglin, U. C. Fischer, and H. Fuchs, J. Biomed. Opt. 1, 75 (1996).

Kongovi, R.

M. A. Unger, D. A. Kossakovski, R. Kongovi, J. L. Beauchamp, J. D. Baldeschwieler, and D. V. Palanker, Rev. Sci. Instrum. 69, 2988 (1998).

Koshihara, S.

S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).

Kossakovski, D. A.

M. A. Unger, D. A. Kossakovski, R. Kongovi, J. L. Beauchamp, J. D. Baldeschwieler, and D. V. Palanker, Rev. Sci. Instrum. 69, 2988 (1998).

Kottler, V.

Kourogi, M.

T. Yatsui, M. Kourogi, and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 73, 2090 (1998).

T. Yatsui, M. Kourogi, and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 71, 1756 (1997).

Laddada, R.

Lai, J.

K. Luo, Z. Shi, J. Lai, and A. Majumdar, Appl. Phys. Lett. 68, 325 (1996).

Luo, K.

K. Luo, Z. Shi, J. Lai, and A. Majumdar, Appl. Phys. Lett. 68, 325 (1996).

Machorro, R.

X. Xiao, J. Nieto, J. Siqueiros, and R. Machorro, Rev. Sci. Instrum. 68, 2787 (1997).

Majumdar, A.

K. Luo, Z. Shi, J. Lai, and A. Majumdar, Appl. Phys. Lett. 68, 325 (1996).

Malugani, J.-P.

D. Mulin, D. Courjon, J.-P. Malugani, and B. Gauthier-Manuel, Appl. Phys. Lett. 71, 437 (1997).

Mayeux, C.

McCulloch, S.

S. McCulloch and D. Uttamchandani, Meas. Sci. Technol. 6, 1157 (1995).

Meixner, A. J.

M. Stahelin, M. A. Bopp, G. Tarrach, A. J. Meixner, and I. Zschokke-Granacher, Appl. Phys. Lett. 68, 2603 (1996).

Mickel, S. S.

M. N. Islam, X. K. Zhao, A. A. Said, S. S. Mickel, and C. V. Vail, Appl. Phys. Lett. 71, 2886 (1997).

Mihalcea, C.

S. Munster, S. Werner, C. Mihalcea, W. Scholz, and E. Oesterschulze, J. Microsc. (Oxford) 186, Pt. 1, 17 (1997).

Mononobe, S.

S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).

S. Mononobe, M. Naya, T. Saiki, and M. Ohtsu, Appl. Opt. 36, 1496 (1997).

S. Mononobe and M. Ohtsu, J. Lightwave Technol. 14, 2231 (1996) ; 15, 162 (1997).

Morrison, G. H.

G. A. Valaskovic, M. Holton, and G. H. Morrison, Appl. Opt. 34, 1215 (1995).

G. A. Valaskovic, M. Holton, and G. H. Morrison, J. Microsc. (Oxford) 179, Pt. 1, 29 (1995).

Moyer, P. J.

M. A. Paesler and P. J. Moyer, Near-Field Optics: Theory, Instrumentation, and Applications (Wiley, New York, 1996).

Mulin, D.

D. Mulin, D. Courjon, J.-P. Malugani, and B. Gauthier-Manuel, Appl. Phys. Lett. 71, 437 (1997).

Munster, S.

S. Munster, S. Werner, C. Mihalcea, W. Scholz, and E. Oesterschulze, J. Microsc. (Oxford) 186, Pt. 1, 17 (1997).

Muramatsu, H.

H. Muramatsu, N. Chiba, and M. Fujihira, Appl. Phys. Lett. 71, 2061 (1997).

Nakamura, O.

Naya, M.

Nesbitt, D. J.

H. F. Hamann, A. Gallagher, and D. J. Nesbitt, Appl. Phys. Lett. 73, 1469 (1998).

Nieto, J.

X. Xiao, J. Nieto, J. Siqueiros, and R. Machorro, Rev. Sci. Instrum. 68, 2787 (1997).

Oesterschulze, E.

S. Munster, S. Werner, C. Mihalcea, W. Scholz, and E. Oesterschulze, J. Microsc. (Oxford) 186, Pt. 1, 17 (1997).

Ohtsu, M.

T. Yatsui, M. Kourogi, and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 73, 2090 (1998).

S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).

M. Ashino and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 72, 1299 (1998).

T. Yatsui, M. Kourogi, and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 71, 1756 (1997).

S. Mononobe, M. Naya, T. Saiki, and M. Ohtsu, Appl. Opt. 36, 1496 (1997).

S. Mononobe and M. Ohtsu, J. Lightwave Technol. 14, 2231 (1996) ; 15, 162 (1997).

T. Pangaribuan, S. Jiang, and M. Ohtsu, Scanning 16, 362 (1994).

Okada, T.

Paesler, M. A.

M. A. Paesler and P. J. Moyer, Near-Field Optics: Theory, Instrumentation, and Applications (Wiley, New York, 1996).

Pagnot, T.

T. Pagnot and C. Pierali, Opt. Commun. 132, 161 (1996).

Palanker, D. V.

M. A. Unger, D. A. Kossakovski, R. Kongovi, J. L. Beauchamp, J. D. Baldeschwieler, and D. V. Palanker, Rev. Sci. Instrum. 69, 2988 (1998).

Pan, C.-L.

Y.-H. Chuang, K.-G. Sun, C.-J. Wang, J. Y. Huang, and C.-L. Pan, Rev. Sci. Instrum. 69, 437 (1998).

Pangaribuan, T.

T. Pangaribuan, S. Jiang, and M. Ohtsu, Scanning 16, 362 (1994).

Pendry, J. B.

A. J. Ward and J. B. Pendry, J. Mod. Opt. 44, 1703 (1997).

Pierali, C.

T. Pagnot and C. Pierali, Opt. Commun. 132, 161 (1996).

Pilevar, S.

S. Pilevar, K. Edinger, W. Atia, I. Smolyaninov, and C. Davis, Appl. Phys. Lett. 72, 3133 (1998).

Roberts, A.

A. Roberts, J. Appl. Phys. 70, 4045 (1991).

Ronarch, N.

Royer, P.

P.-M. Adam, P. Royer, R. Laddada, and J.-L. Bijeon, Appl. Opt. 37, 1814 (1998).

G. Wurtz, R. Bachelot, and P. Royer, Rev. Sci. Instrum. 69, 1735 (1998).

Said, A. A.

M. N. Islam, X. K. Zhao, A. A. Said, S. S. Mickel, and C. V. Vail, Appl. Phys. Lett. 71, 2886 (1997).

Saiki, T.

S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).

S. Mononobe, M. Naya, T. Saiki, and M. Ohtsu, Appl. Opt. 36, 1496 (1997).

Salathé, R.-P.

P. Hoffman, B. Dutoit, and R.-P. Salathé, Ultramicroscopy 61, 165 (1995).

Schimmel, Th.

G. von Freymann, Th. Schimmel, M. Wegener, B. Hanewinkel, A. Knorr, and S. W. Koch, Appl. Phys. Lett. 73, 1170 (1998).

Scholz, W.

S. Munster, S. Werner, C. Mihalcea, W. Scholz, and E. Oesterschulze, J. Microsc. (Oxford) 186, Pt. 1, 17 (1997).

Shi, Z.

K. Luo, Z. Shi, J. Lai, and A. Majumdar, Appl. Phys. Lett. 68, 325 (1996).

Siqueiros, J.

X. Xiao, J. Nieto, J. Siqueiros, and R. Machorro, Rev. Sci. Instrum. 68, 2787 (1997).

Smolyaninov, I.

S. Pilevar, K. Edinger, W. Atia, I. Smolyaninov, and C. Davis, Appl. Phys. Lett. 72, 3133 (1998).

Stahelin, M.

M. Stahelin, M. A. Bopp, G. Tarrach, A. J. Meixner, and I. Zschokke-Granacher, Appl. Phys. Lett. 68, 2603 (1996).

Sugiura, T.

Sun, K.-G.

Y.-H. Chuang, K.-G. Sun, C.-J. Wang, J. Y. Huang, and C.-L. Pan, Rev. Sci. Instrum. 69, 437 (1998).

Suzuki, T.

S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).

Tarrach, G.

M. Stahelin, M. A. Bopp, G. Tarrach, A. J. Meixner, and I. Zschokke-Granacher, Appl. Phys. Lett. 68, 2603 (1996).

Unger, M. A.

M. A. Unger, D. A. Kossakovski, R. Kongovi, J. L. Beauchamp, J. D. Baldeschwieler, and D. V. Palanker, Rev. Sci. Instrum. 69, 2988 (1998).

Uttamchandani, D.

S. McCulloch and D. Uttamchandani, Meas. Sci. Technol. 6, 1157 (1995).

Vail, C. V.

M. N. Islam, X. K. Zhao, A. A. Said, S. S. Mickel, and C. V. Vail, Appl. Phys. Lett. 71, 2886 (1997).

Valaskovic, G. A.

G. A. Valaskovic, M. Holton, and G. H. Morrison, J. Microsc. (Oxford) 179, Pt. 1, 29 (1995).

G. A. Valaskovic, M. Holton, and G. H. Morrison, Appl. Opt. 34, 1215 (1995).

Vieu, C.

von Freymann, G.

G. von Freymann, Th. Schimmel, M. Wegener, B. Hanewinkel, A. Knorr, and S. W. Koch, Appl. Phys. Lett. 73, 1170 (1998).

Wang, C.-J.

Y.-H. Chuang, K.-G. Sun, C.-J. Wang, J. Y. Huang, and C.-L. Pan, Rev. Sci. Instrum. 69, 437 (1998).

Ward, A. J.

A. J. Ward and J. B. Pendry, J. Mod. Opt. 44, 1703 (1997).

Wegener, M.

G. von Freymann, Th. Schimmel, M. Wegener, B. Hanewinkel, A. Knorr, and S. W. Koch, Appl. Phys. Lett. 73, 1170 (1998).

Werner, S.

S. Munster, S. Werner, C. Mihalcea, W. Scholz, and E. Oesterschulze, J. Microsc. (Oxford) 186, Pt. 1, 17 (1997).

Weston, K. D.

K. D. Weston, J. A. DeAro, and S. K. Buratto, Rev. Sci. Instrum. 67, 2924 (1996).

Wurtz, G.

G. Wurtz, R. Bachelot, and P. Royer, Rev. Sci. Instrum. 69, 1735 (1998).

Xiao, X.

X. Xiao, J. Nieto, J. Siqueiros, and R. Machorro, Rev. Sci. Instrum. 68, 2787 (1997).

Yatsui, T.

T. Yatsui, M. Kourogi, and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 73, 2090 (1998).

T. Yatsui, M. Kourogi, and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 71, 1756 (1997).

Young, D. K.

P. A. Crowell, D. K. Young, S. Keller, E. L. Hu, and D. D. Awschalom, Appl. Phys. Lett. 72, 927 (1998).

Zhao, X. K.

M. N. Islam, X. K. Zhao, A. A. Said, S. S. Mickel, and C. V. Vail, Appl. Phys. Lett. 71, 2886 (1997).

Zschokke-Granacher, I.

M. Stahelin, M. A. Bopp, G. Tarrach, A. J. Meixner, and I. Zschokke-Granacher, Appl. Phys. Lett. 68, 2603 (1996).

Appl. Phys. Lett.

H. Muramatsu, N. Chiba, and M. Fujihira, Appl. Phys. Lett. 71, 2061 (1997).

Appl. Opt.

Appl. Phys. Lett.

T. Yatsui, M. Kourogi, and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 73, 2090 (1998).

G. von Freymann, Th. Schimmel, M. Wegener, B. Hanewinkel, A. Knorr, and S. W. Koch, Appl. Phys. Lett. 73, 1170 (1998).

S. J. Bukofsky and R. D. Grober, Appl. Phys. Lett. 71, 2749 (1997).

M. N. Islam, X. K. Zhao, A. A. Said, S. S. Mickel, and C. V. Vail, Appl. Phys. Lett. 71, 2886 (1997).

M. Ashino and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 72, 1299 (1998).

M. Stahelin, M. A. Bopp, G. Tarrach, A. J. Meixner, and I. Zschokke-Granacher, Appl. Phys. Lett. 68, 2603 (1996).

H. F. Hamann, A. Gallagher, and D. J. Nesbitt, Appl. Phys. Lett. 73, 1469 (1998).

K. Luo, Z. Shi, J. Lai, and A. Majumdar, Appl. Phys. Lett. 68, 325 (1996).

D. Mulin, D. Courjon, J.-P. Malugani, and B. Gauthier-Manuel, Appl. Phys. Lett. 71, 437 (1997).

S. Pilevar, K. Edinger, W. Atia, I. Smolyaninov, and C. Davis, Appl. Phys. Lett. 72, 3133 (1998).

P. A. Crowell, D. K. Young, S. Keller, E. L. Hu, and D. D. Awschalom, Appl. Phys. Lett. 72, 927 (1998).

T. Yatsui, M. Kourogi, and M. Ohtsu, Appl. Phys. Lett. 71, 1756 (1997).

J. Appl. Phys.

A. Roberts, J. Appl. Phys. 70, 4045 (1991).

J. Biomed. Opt.

J. Koglin, U. C. Fischer, and H. Fuchs, J. Biomed. Opt. 1, 75 (1996).

J. Lightwave Technol.

S. Mononobe and M. Ohtsu, J. Lightwave Technol. 14, 2231 (1996) ; 15, 162 (1997).

J. Microsc. (Oxford)

G. A. Valaskovic, M. Holton, and G. H. Morrison, J. Microsc. (Oxford) 179, Pt. 1, 29 (1995).

S. Munster, S. Werner, C. Mihalcea, W. Scholz, and E. Oesterschulze, J. Microsc. (Oxford) 186, Pt. 1, 17 (1997).

J. Mod. Opt.

A. J. Ward and J. B. Pendry, J. Mod. Opt. 44, 1703 (1997).

Meas. Sci. Technol.

S. McCulloch and D. Uttamchandani, Meas. Sci. Technol. 6, 1157 (1995).

Opt. Commun.

S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).

T. Pagnot and C. Pierali, Opt. Commun. 132, 161 (1996).

H. Furukawa and S. Kawata, Opt. Commun. 148, 221 (1998).

D. Barchiesi, Opt. Commun. 126, 7 (1996).

Opt. Lett.

Rep. Prog. Phys.

D. Courjon and C. Bainier, Rep. Prog. Phys. 57, 989 (1994).

Rev. Sci. Instrum.

K. Dickmann, F. Demming, and J. Jersch, Rev. Sci. Instrum. 67, 845 (1996).

Rev. Sci. Instrum.

K. D. Weston, J. A. DeAro, and S. K. Buratto, Rev. Sci. Instrum. 67, 2924 (1996).

C. W. Hollars and R. C. Dunn, Rev. Sci. Instrum. 69, 1747 (1998).

G. Wurtz, R. Bachelot, and P. Royer, Rev. Sci. Instrum. 69, 1735 (1998).

M. A. Unger, D. A. Kossakovski, R. Kongovi, J. L. Beauchamp, J. D. Baldeschwieler, and D. V. Palanker, Rev. Sci. Instrum. 69, 2988 (1998).

Y.-H. Chuang, K.-G. Sun, C.-J. Wang, J. Y. Huang, and C.-L. Pan, Rev. Sci. Instrum. 69, 437 (1998).

X. Xiao, J. Nieto, J. Siqueiros, and R. Machorro, Rev. Sci. Instrum. 68, 2787 (1997).

Scanning

T. Pangaribuan, S. Jiang, and M. Ohtsu, Scanning 16, 362 (1994).

Ultramicroscopy

P. Hoffman, B. Dutoit, and R.-P. Salathé, Ultramicroscopy 61, 165 (1995).

Other

Jema-America, Inc., Box 206, Dunellen, N.J. 08812.

Model P-2000 Micropipette Puller; Sutter Instrument Company, 40 Leveroni Court, Novato, Calif. 94949.

M. A. Paesler and P. J. Moyer, Near-Field Optics: Theory, Instrumentation, and Applications (Wiley, New York, 1996).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Metrics