Abstract

We present a demonstration of near-field scanning optical microscopy of single molecules based on ultrafast two-photon-induced fluorescence. Measurements were performed by use of 100-fs pulses at 800 nm from a Ti:sapphire laser to excite the two-photon transition in Rhodamine B molecules. Although near-field probes are normally metal coated to achieve superresolution, we used uncoated tips to achieve sufficiently high optical powers to generate acceptable fluorescence emission rates. Images of single molecules demonstrate a resolution of ~175nm(< λ/4) on a topographically smooth surface, which surpasses the apparent λ/2 resolution limit for uncoated tips operating in the linear response regime.

© 1998 Optical Society of America

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984).
  2. A. Lewis, M. Isaacson, A. Harootunian, and A. Muray, Ultramicroscopy 13, 227 (1984).
  3. M. A. Paesler and P. J. Moyer, Near-Field Optics (Wiley, New York, 1996), p. 288.
  4. R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).
  5. E. Betzig and R. J. Chichester, Science 262, 1422 (1993); X. S. Xie and R. C. Dunn, Science 265, 361 (1994); W. P. Ambrose, P. M. Goodwin, J. C. Martin, and R. A. Keller, Science 265, 364 (1994).
  6. W. Denk, J. H. Strickler, and W. W. Webb, Science 248, 73 (1990).
  7. B. Hecht, H. Bielefeldt, Y. Inouye, and D. W. Pohl, J. Appl. Phys. 81, 2492 (1997).
  8. V. Sandoghdar, S. Wegscheider, G. Krausch, and J. Mlynek, J. Appl. Phys. 81, 2499 (1997).
  9. C. Xu and W. W. Web, J. Opt. Soc. Am. B 13, 481 (1996).
  10. E. Betzig, P. L. Finn, and J. S. Weiner, Appl. Phys. Lett. 60, 2484 (1992).
  11. R. Toledo-Crow, P. C. Yang, Y. Chen, and M. Vaez-Iravani, Appl. Phys. Lett. 60, 2957 (1992).
  12. E. B. Treacy, IEEE J. Quantum Electron. QE-5, 454 (1969).
  13. E. L. Buckland, P. J. Moyer, and M. A. Paesler, J. Appl. Phys. 73, 1018 (1993).
  14. L. Novotny, D. W. Pohl, and B. Hecht, Ultramicroscopy 61, 1 (1995).
  15. E. J. Sanchez, L. Novotny, G. R. Holtom, and X. S. Xie, J. Phys. Chem. A 101, 7019 (1997).
  16. L. Brand, C. Eggeling, C. Zander, K. H. Drexhage, and C. A. M. Seidel, J. Phys. Chem. A 101, 4313 (1997).

1997

B. Hecht, H. Bielefeldt, Y. Inouye, and D. W. Pohl, J. Appl. Phys. 81, 2492 (1997).

V. Sandoghdar, S. Wegscheider, G. Krausch, and J. Mlynek, J. Appl. Phys. 81, 2499 (1997).

1996

M. A. Paesler and P. J. Moyer, Near-Field Optics (Wiley, New York, 1996), p. 288.

C. Xu and W. W. Web, J. Opt. Soc. Am. B 13, 481 (1996).

1993

E. Betzig and R. J. Chichester, Science 262, 1422 (1993); X. S. Xie and R. C. Dunn, Science 265, 361 (1994); W. P. Ambrose, P. M. Goodwin, J. C. Martin, and R. A. Keller, Science 265, 364 (1994).

E. L. Buckland, P. J. Moyer, and M. A. Paesler, J. Appl. Phys. 73, 1018 (1993).

1992

E. Betzig, P. L. Finn, and J. S. Weiner, Appl. Phys. Lett. 60, 2484 (1992).

R. Toledo-Crow, P. C. Yang, Y. Chen, and M. Vaez-Iravani, Appl. Phys. Lett. 60, 2957 (1992).

1990

W. Denk, J. H. Strickler, and W. W. Webb, Science 248, 73 (1990).

1984

D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984).

Allen, E. V.

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Ambrose, W. P.

E. Betzig and R. J. Chichester, Science 262, 1422 (1993); X. S. Xie and R. C. Dunn, Science 265, 361 (1994); W. P. Ambrose, P. M. Goodwin, J. C. Martin, and R. A. Keller, Science 265, 364 (1994).

Anderson, G. A.

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Betzig, E.

E. Betzig and R. J. Chichester, Science 262, 1422 (1993); X. S. Xie and R. C. Dunn, Science 265, 361 (1994); W. P. Ambrose, P. M. Goodwin, J. C. Martin, and R. A. Keller, Science 265, 364 (1994).

E. Betzig, P. L. Finn, and J. S. Weiner, Appl. Phys. Lett. 60, 2484 (1992).

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Bielefeldt, H.

B. Hecht, H. Bielefeldt, Y. Inouye, and D. W. Pohl, J. Appl. Phys. 81, 2492 (1997).

Bohm, C.

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Brand, L.

L. Brand, C. Eggeling, C. Zander, K. H. Drexhage, and C. A. M. Seidel, J. Phys. Chem. A 101, 4313 (1997).

Buckland, E. L.

E. L. Buckland, P. J. Moyer, and M. A. Paesler, J. Appl. Phys. 73, 1018 (1993).

Chemla, D. S.

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Chen, Y.

R. Toledo-Crow, P. C. Yang, Y. Chen, and M. Vaez-Iravani, Appl. Phys. Lett. 60, 2957 (1992).

Chichester, R. J.

E. Betzig and R. J. Chichester, Science 262, 1422 (1993); X. S. Xie and R. C. Dunn, Science 265, 361 (1994); W. P. Ambrose, P. M. Goodwin, J. C. Martin, and R. A. Keller, Science 265, 364 (1994).

Denk, W.

W. Denk, J. H. Strickler, and W. W. Webb, Science 248, 73 (1990).

D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984).

Drexhage, K. H.

L. Brand, C. Eggeling, C. Zander, K. H. Drexhage, and C. A. M. Seidel, J. Phys. Chem. A 101, 4313 (1997).

Dunn, R. C.

E. Betzig and R. J. Chichester, Science 262, 1422 (1993); X. S. Xie and R. C. Dunn, Science 265, 361 (1994); W. P. Ambrose, P. M. Goodwin, J. C. Martin, and R. A. Keller, Science 265, 364 (1994).

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Edidin, M.

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Eggeling, C.

L. Brand, C. Eggeling, C. Zander, K. H. Drexhage, and C. A. M. Seidel, J. Phys. Chem. A 101, 4313 (1997).

Enderle, T.

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Finn, P. L.

E. Betzig, P. L. Finn, and J. S. Weiner, Appl. Phys. Lett. 60, 2484 (1992).

Goodwin, P. M.

E. Betzig and R. J. Chichester, Science 262, 1422 (1993); X. S. Xie and R. C. Dunn, Science 265, 361 (1994); W. P. Ambrose, P. M. Goodwin, J. C. Martin, and R. A. Keller, Science 265, 364 (1994).

Ha, T.

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Harootunian, A.

A. Lewis, M. Isaacson, A. Harootunian, and A. Muray, Ultramicroscopy 13, 227 (1984).

Hecht, B.

B. Hecht, H. Bielefeldt, Y. Inouye, and D. W. Pohl, J. Appl. Phys. 81, 2492 (1997).

L. Novotny, D. W. Pohl, and B. Hecht, Ultramicroscopy 61, 1 (1995).

Holtom, G. R.

E. J. Sanchez, L. Novotny, G. R. Holtom, and X. S. Xie, J. Phys. Chem. A 101, 7019 (1997).

Hwang, J.

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Inouye, Y.

B. Hecht, H. Bielefeldt, Y. Inouye, and D. W. Pohl, J. Appl. Phys. 81, 2492 (1997).

Isaacson, M.

A. Lewis, M. Isaacson, A. Harootunian, and A. Muray, Ultramicroscopy 13, 227 (1984).

Joyce, S. A.

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Keller, R. A.

E. Betzig and R. J. Chichester, Science 262, 1422 (1993); X. S. Xie and R. C. Dunn, Science 265, 361 (1994); W. P. Ambrose, P. M. Goodwin, J. C. Martin, and R. A. Keller, Science 265, 364 (1994).

Krausch, G.

V. Sandoghdar, S. Wegscheider, G. Krausch, and J. Mlynek, J. Appl. Phys. 81, 2499 (1997).

Lanz, M.

D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984).

Lewis, A.

A. Lewis, M. Isaacson, A. Harootunian, and A. Muray, Ultramicroscopy 13, 227 (1984).

Magowan, C.

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Martin, J. C.

E. Betzig and R. J. Chichester, Science 262, 1422 (1993); X. S. Xie and R. C. Dunn, Science 265, 361 (1994); W. P. Ambrose, P. M. Goodwin, J. C. Martin, and R. A. Keller, Science 265, 364 (1994).

Mlynek, J.

V. Sandoghdar, S. Wegscheider, G. Krausch, and J. Mlynek, J. Appl. Phys. 81, 2499 (1997).

Moyer, P. J.

M. A. Paesler and P. J. Moyer, Near-Field Optics (Wiley, New York, 1996), p. 288.

E. L. Buckland, P. J. Moyer, and M. A. Paesler, J. Appl. Phys. 73, 1018 (1993).

Muray, A.

A. Lewis, M. Isaacson, A. Harootunian, and A. Muray, Ultramicroscopy 13, 227 (1984).

Novotny, L.

E. J. Sanchez, L. Novotny, G. R. Holtom, and X. S. Xie, J. Phys. Chem. A 101, 7019 (1997).

L. Novotny, D. W. Pohl, and B. Hecht, Ultramicroscopy 61, 1 (1995).

Ogletree, D. F.

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Paesler, M. A.

M. A. Paesler and P. J. Moyer, Near-Field Optics (Wiley, New York, 1996), p. 288.

E. L. Buckland, P. J. Moyer, and M. A. Paesler, J. Appl. Phys. 73, 1018 (1993).

Pohl, D. W.

B. Hecht, H. Bielefeldt, Y. Inouye, and D. W. Pohl, J. Appl. Phys. 81, 2492 (1997).

D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984).

L. Novotny, D. W. Pohl, and B. Hecht, Ultramicroscopy 61, 1 (1995).

Ramalingam, T. S.

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Sanchez, E. J.

E. J. Sanchez, L. Novotny, G. R. Holtom, and X. S. Xie, J. Phys. Chem. A 101, 7019 (1997).

Sandoghdar, V.

V. Sandoghdar, S. Wegscheider, G. Krausch, and J. Mlynek, J. Appl. Phys. 81, 2499 (1997).

Seidel, C. A. M.

L. Brand, C. Eggeling, C. Zander, K. H. Drexhage, and C. A. M. Seidel, J. Phys. Chem. A 101, 4313 (1997).

Strickler, J. H.

W. Denk, J. H. Strickler, and W. W. Webb, Science 248, 73 (1990).

Tamm, L. K.

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Toledo-Crow, R.

R. Toledo-Crow, P. C. Yang, Y. Chen, and M. Vaez-Iravani, Appl. Phys. Lett. 60, 2957 (1992).

Treacy, E. B.

E. B. Treacy, IEEE J. Quantum Electron. QE-5, 454 (1969).

Vaez-Iravani, M.

R. Toledo-Crow, P. C. Yang, Y. Chen, and M. Vaez-Iravani, Appl. Phys. Lett. 60, 2957 (1992).

Web, W. W.

Webb, W. W.

W. Denk, J. H. Strickler, and W. W. Webb, Science 248, 73 (1990).

Wegscheider, S.

V. Sandoghdar, S. Wegscheider, G. Krausch, and J. Mlynek, J. Appl. Phys. 81, 2499 (1997).

Weiner, J. S.

E. Betzig, P. L. Finn, and J. S. Weiner, Appl. Phys. Lett. 60, 2484 (1992).

Weiss, S.

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Xie, X. S.

E. Betzig and R. J. Chichester, Science 262, 1422 (1993); X. S. Xie and R. C. Dunn, Science 265, 361 (1994); W. P. Ambrose, P. M. Goodwin, J. C. Martin, and R. A. Keller, Science 265, 364 (1994).

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

E. J. Sanchez, L. Novotny, G. R. Holtom, and X. S. Xie, J. Phys. Chem. A 101, 7019 (1997).

Xu, C.

Yang, P. C.

R. Toledo-Crow, P. C. Yang, Y. Chen, and M. Vaez-Iravani, Appl. Phys. Lett. 60, 2957 (1992).

Zander, C.

L. Brand, C. Eggeling, C. Zander, K. H. Drexhage, and C. A. M. Seidel, J. Phys. Chem. A 101, 4313 (1997).

Appl. Phys. Lett.

D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984).

E. Betzig, P. L. Finn, and J. S. Weiner, Appl. Phys. Lett. 60, 2484 (1992).

R. Toledo-Crow, P. C. Yang, Y. Chen, and M. Vaez-Iravani, Appl. Phys. Lett. 60, 2957 (1992).

IEEE J. Quantum Electron.

E. B. Treacy, IEEE J. Quantum Electron. QE-5, 454 (1969).

J. Appl. Phys.

E. L. Buckland, P. J. Moyer, and M. A. Paesler, J. Appl. Phys. 73, 1018 (1993).

B. Hecht, H. Bielefeldt, Y. Inouye, and D. W. Pohl, J. Appl. Phys. 81, 2492 (1997).

V. Sandoghdar, S. Wegscheider, G. Krausch, and J. Mlynek, J. Appl. Phys. 81, 2499 (1997).

J. Opt. Soc. Am. B

J. Phys. Chem. A

E. J. Sanchez, L. Novotny, G. R. Holtom, and X. S. Xie, J. Phys. Chem. A 101, 7019 (1997).

L. Brand, C. Eggeling, C. Zander, K. H. Drexhage, and C. A. M. Seidel, J. Phys. Chem. A 101, 4313 (1997).

Science

E. Betzig and R. J. Chichester, Science 262, 1422 (1993); X. S. Xie and R. C. Dunn, Science 265, 361 (1994); W. P. Ambrose, P. M. Goodwin, J. C. Martin, and R. A. Keller, Science 265, 364 (1994).

W. Denk, J. H. Strickler, and W. W. Webb, Science 248, 73 (1990).

Ultramicroscopy

A. Lewis, M. Isaacson, A. Harootunian, and A. Muray, Ultramicroscopy 13, 227 (1984).

L. Novotny, D. W. Pohl, and B. Hecht, Ultramicroscopy 61, 1 (1995).

R. C. Dunn, E. V. Allen, S. A. Joyce, G. A. Anderson, and X. S. Xie, Ultramicroscopy 57, 113 (1995) ; J. Hwang, L. K. Tamm, C. Bohm, T. S. Ramalingam, E. Betzig, and M. Edidin, Science 270, 610 (1995) ; T. Enderle, T. Ha, D. F. Ogletree, D. S. Chemla, C. Magowan, and S. Weiss, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 94, 520 (1997).

Other

M. A. Paesler and P. J. Moyer, Near-Field Optics (Wiley, New York, 1996), p. 288.

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Metrics