Abstract

The lifetime of optical components in high-fluence ultraviolet (UV) laser applications is typically limited by laser-initiated damage and its subsequent growth. Using 10.6-μm CO<sub>2</sub> laser pulses, we successfully mitigate 355-nm laser induced damage sites on fused silica surface with dimensions less than 200 μm. The damage threshold increases and the damage growth mitigates. However, the growth coefficients of new damage on the CO<sub>2</sub> laser processed area are higher than those of the original sample. The damage grows with crack propagation for residual stress after CO<sub>2</sub> laser irradiation. Furthermore, post-heating is beneficial to the release of residual stress and slows down the damage growth.

© 2011 Chinese Optics Letters

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. L. Gallais, P. Cormont, and J.-L. Rullier, Opt. Express 17, 23488 (2009).
  2. J. Wong, J. L. Ferriera, E. F. Lindsey, D. L. Haupt, I. D. Hutcheon, and J. H. Kinney, J. Non-Cryst. Solids 352, 255 (2006).
  3. S. Xu, X. Zu, X. Jiang, X. Yuan, J. Huang, H. Wang, H. Lv, and W. Zheng, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 266, 2936 (2008).
  4. M. A. Norton, E. E. Donohue, M. D. Feit, R. P. Hackel, W. G. Hollingsworth, A. M. Rubenchik, and M. L. Spaeth, Proc. SPIE 6403, 64030L (2007).
  5. M. A. Norton, L. W. Hrubesh, Z. Wu, E. E. Donohue, M. D. Feit, M. R. Kozlowski, D. Milam, K. P. Neeb, W. A. Molander, A. M. Rubenchik, W. D. Sell, and P. Wegner, LLNL UCRL-JC-139624 (2001).
  6. L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).
  7. R. M. Brusasco, B. M. Penetrante, J. A. Butler, and L. W. Hrubesh, Proc. SPIE 4679, 40 (2002).
  8. I. L. Bass, G. M. Guss, and R. P. Hackel, Proc. SPIE 5991, 59910C (2005).
  9. E. Mendez, K. M. Nowak, H. J. Baker, F. J. Villarreal, and D. R. Hall, Appl. Opt. 45, 5358 (2006).
  10. G. Guss, I. Bass, V. Draggoo, R. Hackel, S. Payne, M. J. Lancaster, and P. Mak, Proc. SPIE 6403, 64030M (2007).
  11. S. Palmier, L. Gallais, M. Commandr'e, P. Cormont, R. Courchinoux, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, and P. Legros, Appl. Surf. Sci. 255, 5532 (2009).
  12. S. T. Yang, M. J. Matthews, S. Elhadj, D. Cooke, G. M. Guss, V. G. Draggoo, and P. J. Wegner, Appl. Opt. 49, 2606 (2010).
  13. M. J. Matthews, I. L. Bass, G. M. Guss, C. C. Widmayer, and F. L. Ravizza, Proc. SPIE 6720, 67200A (2007).
  14. R. N. Raman, M. J. Matthews, J. J. Adams, and S. G. Demos, Opt. Express 18, 15207 (2010).
  15. M. A. Stevens-Kalceff and J. Wong, J. Appl. Phys. 97, 113519 (2005).
  16. P. Cormont, L. Gallais, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, P. Combis, and D. Hebert, Opt. Express 18, 26068 (2010).
  17. J. Yoshiyama, F. Y. G'enin, A. Salleo, I. Thomas, M. R. Kozlowski, L. M. Sheehan, I. D. Hutcheon, and D. W. Camp, Proc. SPIE 3244, 331 (1998).
  18. B. Ma, Z. Shen, P. He, Y. Ji, T. Sang, H. Liu, D. Liu, and Z. Wang, Chin. Opt. Lett. 8, 296 (2010).
  19. W. Dai, X. Xiang, Y. Jiang, H. J. Wang, X. B. Li, X. D. Yuan, W. G. Zheng, H. B. Lv, and X. T. Zu, Opt. Laser Eng. 49, 273 (2011).
  20. J. Huang, S. Zhao, H. Wang, H. L¨u, L. Ye, X. Jiang, X. Yuan, and W. Zheng, Chinese J. Lasers (in Chinese) 36, 1282 (2009).
  21. A. Salleo, R. Chinsio, and F. Y. G'enin, Proc. SPIE 3578, 456 (1999).
  22. M. A. Stevens-Kalceff, A. Stesmans, and J. Wong, Appl. Phys. Lett. 80, 758 (2002).
  23. S. Papernov and A. W. Schmid, Proc. SPIE 7132, 71321J (2008).

2011 (1)

W. Dai, X. Xiang, Y. Jiang, H. J. Wang, X. B. Li, X. D. Yuan, W. G. Zheng, H. B. Lv, and X. T. Zu, Opt. Laser Eng. 49, 273 (2011).

2010 (4)

2009 (3)

L. Gallais, P. Cormont, and J.-L. Rullier, Opt. Express 17, 23488 (2009).

J. Huang, S. Zhao, H. Wang, H. L¨u, L. Ye, X. Jiang, X. Yuan, and W. Zheng, Chinese J. Lasers (in Chinese) 36, 1282 (2009).

S. Palmier, L. Gallais, M. Commandr'e, P. Cormont, R. Courchinoux, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, and P. Legros, Appl. Surf. Sci. 255, 5532 (2009).

2008 (2)

S. Xu, X. Zu, X. Jiang, X. Yuan, J. Huang, H. Wang, H. Lv, and W. Zheng, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 266, 2936 (2008).

S. Papernov and A. W. Schmid, Proc. SPIE 7132, 71321J (2008).

2007 (3)

G. Guss, I. Bass, V. Draggoo, R. Hackel, S. Payne, M. J. Lancaster, and P. Mak, Proc. SPIE 6403, 64030M (2007).

M. A. Norton, E. E. Donohue, M. D. Feit, R. P. Hackel, W. G. Hollingsworth, A. M. Rubenchik, and M. L. Spaeth, Proc. SPIE 6403, 64030L (2007).

M. J. Matthews, I. L. Bass, G. M. Guss, C. C. Widmayer, and F. L. Ravizza, Proc. SPIE 6720, 67200A (2007).

2006 (2)

E. Mendez, K. M. Nowak, H. J. Baker, F. J. Villarreal, and D. R. Hall, Appl. Opt. 45, 5358 (2006).

J. Wong, J. L. Ferriera, E. F. Lindsey, D. L. Haupt, I. D. Hutcheon, and J. H. Kinney, J. Non-Cryst. Solids 352, 255 (2006).

2005 (2)

I. L. Bass, G. M. Guss, and R. P. Hackel, Proc. SPIE 5991, 59910C (2005).

M. A. Stevens-Kalceff and J. Wong, J. Appl. Phys. 97, 113519 (2005).

2002 (3)

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

R. M. Brusasco, B. M. Penetrante, J. A. Butler, and L. W. Hrubesh, Proc. SPIE 4679, 40 (2002).

M. A. Stevens-Kalceff, A. Stesmans, and J. Wong, Appl. Phys. Lett. 80, 758 (2002).

1999 (1)

A. Salleo, R. Chinsio, and F. Y. G'enin, Proc. SPIE 3578, 456 (1999).

1998 (1)

J. Yoshiyama, F. Y. G'enin, A. Salleo, I. Thomas, M. R. Kozlowski, L. M. Sheehan, I. D. Hutcheon, and D. W. Camp, Proc. SPIE 3244, 331 (1998).

Adams, J. J.

Baker, H. J.

Bass, I.

G. Guss, I. Bass, V. Draggoo, R. Hackel, S. Payne, M. J. Lancaster, and P. Mak, Proc. SPIE 6403, 64030M (2007).

Bass, I. L.

M. J. Matthews, I. L. Bass, G. M. Guss, C. C. Widmayer, and F. L. Ravizza, Proc. SPIE 6720, 67200A (2007).

I. L. Bass, G. M. Guss, and R. P. Hackel, Proc. SPIE 5991, 59910C (2005).

Brusasco, R. M.

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

R. M. Brusasco, B. M. Penetrante, J. A. Butler, and L. W. Hrubesh, Proc. SPIE 4679, 40 (2002).

Burnham, A. K.

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

Butler, J. A.

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

R. M. Brusasco, B. M. Penetrante, J. A. Butler, and L. W. Hrubesh, Proc. SPIE 4679, 40 (2002).

Camp, D. W.

J. Yoshiyama, F. Y. G'enin, A. Salleo, I. Thomas, M. R. Kozlowski, L. M. Sheehan, I. D. Hutcheon, and D. W. Camp, Proc. SPIE 3244, 331 (1998).

Carr, J. W.

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

Chinsio, R.

A. Salleo, R. Chinsio, and F. Y. G'enin, Proc. SPIE 3578, 456 (1999).

Combis, P.

Commandr'e, M.

S. Palmier, L. Gallais, M. Commandr'e, P. Cormont, R. Courchinoux, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, and P. Legros, Appl. Surf. Sci. 255, 5532 (2009).

Cooke, D.

Cormont, P.

P. Cormont, L. Gallais, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, P. Combis, and D. Hebert, Opt. Express 18, 26068 (2010).

S. Palmier, L. Gallais, M. Commandr'e, P. Cormont, R. Courchinoux, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, and P. Legros, Appl. Surf. Sci. 255, 5532 (2009).

L. Gallais, P. Cormont, and J.-L. Rullier, Opt. Express 17, 23488 (2009).

Courchinoux, R.

S. Palmier, L. Gallais, M. Commandr'e, P. Cormont, R. Courchinoux, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, and P. Legros, Appl. Surf. Sci. 255, 5532 (2009).

Dai, W.

W. Dai, X. Xiang, Y. Jiang, H. J. Wang, X. B. Li, X. D. Yuan, W. G. Zheng, H. B. Lv, and X. T. Zu, Opt. Laser Eng. 49, 273 (2011).

Demos, S. G.

Donohue, E. E.

M. A. Norton, E. E. Donohue, M. D. Feit, R. P. Hackel, W. G. Hollingsworth, A. M. Rubenchik, and M. L. Spaeth, Proc. SPIE 6403, 64030L (2007).

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

Draggoo, V.

G. Guss, I. Bass, V. Draggoo, R. Hackel, S. Payne, M. J. Lancaster, and P. Mak, Proc. SPIE 6403, 64030M (2007).

Draggoo, V. G.

Elhadj, S.

Feit, M. D.

M. A. Norton, E. E. Donohue, M. D. Feit, R. P. Hackel, W. G. Hollingsworth, A. M. Rubenchik, and M. L. Spaeth, Proc. SPIE 6403, 64030L (2007).

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

Ferriera, J. L.

J. Wong, J. L. Ferriera, E. F. Lindsey, D. L. Haupt, I. D. Hutcheon, and J. H. Kinney, J. Non-Cryst. Solids 352, 255 (2006).

Gallais, L.

P. Cormont, L. Gallais, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, P. Combis, and D. Hebert, Opt. Express 18, 26068 (2010).

S. Palmier, L. Gallais, M. Commandr'e, P. Cormont, R. Courchinoux, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, and P. Legros, Appl. Surf. Sci. 255, 5532 (2009).

L. Gallais, P. Cormont, and J.-L. Rullier, Opt. Express 17, 23488 (2009).

G'enin, F. Y.

A. Salleo, R. Chinsio, and F. Y. G'enin, Proc. SPIE 3578, 456 (1999).

J. Yoshiyama, F. Y. G'enin, A. Salleo, I. Thomas, M. R. Kozlowski, L. M. Sheehan, I. D. Hutcheon, and D. W. Camp, Proc. SPIE 3244, 331 (1998).

Grundler, W.

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

Guss, G.

G. Guss, I. Bass, V. Draggoo, R. Hackel, S. Payne, M. J. Lancaster, and P. Mak, Proc. SPIE 6403, 64030M (2007).

Guss, G. M.

S. T. Yang, M. J. Matthews, S. Elhadj, D. Cooke, G. M. Guss, V. G. Draggoo, and P. J. Wegner, Appl. Opt. 49, 2606 (2010).

M. J. Matthews, I. L. Bass, G. M. Guss, C. C. Widmayer, and F. L. Ravizza, Proc. SPIE 6720, 67200A (2007).

I. L. Bass, G. M. Guss, and R. P. Hackel, Proc. SPIE 5991, 59910C (2005).

Hackel, L. A.

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

Hackel, R.

G. Guss, I. Bass, V. Draggoo, R. Hackel, S. Payne, M. J. Lancaster, and P. Mak, Proc. SPIE 6403, 64030M (2007).

Hackel, R. P.

M. A. Norton, E. E. Donohue, M. D. Feit, R. P. Hackel, W. G. Hollingsworth, A. M. Rubenchik, and M. L. Spaeth, Proc. SPIE 6403, 64030L (2007).

I. L. Bass, G. M. Guss, and R. P. Hackel, Proc. SPIE 5991, 59910C (2005).

Hall, D. R.

Haupt, D. L.

J. Wong, J. L. Ferriera, E. F. Lindsey, D. L. Haupt, I. D. Hutcheon, and J. H. Kinney, J. Non-Cryst. Solids 352, 255 (2006).

He, P.

Hebert, D.

Hill, R. M.

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

Hollingsworth, W. G.

M. A. Norton, E. E. Donohue, M. D. Feit, R. P. Hackel, W. G. Hollingsworth, A. M. Rubenchik, and M. L. Spaeth, Proc. SPIE 6403, 64030L (2007).

Hrubesh, L. W.

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

R. M. Brusasco, B. M. Penetrante, J. A. Butler, and L. W. Hrubesh, Proc. SPIE 4679, 40 (2002).

Huang, J.

J. Huang, S. Zhao, H. Wang, H. L¨u, L. Ye, X. Jiang, X. Yuan, and W. Zheng, Chinese J. Lasers (in Chinese) 36, 1282 (2009).

S. Xu, X. Zu, X. Jiang, X. Yuan, J. Huang, H. Wang, H. Lv, and W. Zheng, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 266, 2936 (2008).

Hutcheon, I. D.

J. Wong, J. L. Ferriera, E. F. Lindsey, D. L. Haupt, I. D. Hutcheon, and J. H. Kinney, J. Non-Cryst. Solids 352, 255 (2006).

J. Yoshiyama, F. Y. G'enin, A. Salleo, I. Thomas, M. R. Kozlowski, L. M. Sheehan, I. D. Hutcheon, and D. W. Camp, Proc. SPIE 3244, 331 (1998).

Ji, Y.

Jiang, X.

J. Huang, S. Zhao, H. Wang, H. L¨u, L. Ye, X. Jiang, X. Yuan, and W. Zheng, Chinese J. Lasers (in Chinese) 36, 1282 (2009).

S. Xu, X. Zu, X. Jiang, X. Yuan, J. Huang, H. Wang, H. Lv, and W. Zheng, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 266, 2936 (2008).

Jiang, Y.

W. Dai, X. Xiang, Y. Jiang, H. J. Wang, X. B. Li, X. D. Yuan, W. G. Zheng, H. B. Lv, and X. T. Zu, Opt. Laser Eng. 49, 273 (2011).

Key, M. H.

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

Kinney, J. H.

J. Wong, J. L. Ferriera, E. F. Lindsey, D. L. Haupt, I. D. Hutcheon, and J. H. Kinney, J. Non-Cryst. Solids 352, 255 (2006).

Kozlowski, M. R.

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

J. Yoshiyama, F. Y. G'enin, A. Salleo, I. Thomas, M. R. Kozlowski, L. M. Sheehan, I. D. Hutcheon, and D. W. Camp, Proc. SPIE 3244, 331 (1998).

L¨u, H.

J. Huang, S. Zhao, H. Wang, H. L¨u, L. Ye, X. Jiang, X. Yuan, and W. Zheng, Chinese J. Lasers (in Chinese) 36, 1282 (2009).

Lamaign`ere, L.

P. Cormont, L. Gallais, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, P. Combis, and D. Hebert, Opt. Express 18, 26068 (2010).

S. Palmier, L. Gallais, M. Commandr'e, P. Cormont, R. Courchinoux, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, and P. Legros, Appl. Surf. Sci. 255, 5532 (2009).

Lancaster, M. J.

G. Guss, I. Bass, V. Draggoo, R. Hackel, S. Payne, M. J. Lancaster, and P. Mak, Proc. SPIE 6403, 64030M (2007).

Legros, P.

S. Palmier, L. Gallais, M. Commandr'e, P. Cormont, R. Courchinoux, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, and P. Legros, Appl. Surf. Sci. 255, 5532 (2009).

Li, X. B.

W. Dai, X. Xiang, Y. Jiang, H. J. Wang, X. B. Li, X. D. Yuan, W. G. Zheng, H. B. Lv, and X. T. Zu, Opt. Laser Eng. 49, 273 (2011).

Lindsey, E. F.

J. Wong, J. L. Ferriera, E. F. Lindsey, D. L. Haupt, I. D. Hutcheon, and J. H. Kinney, J. Non-Cryst. Solids 352, 255 (2006).

Liu, D.

Liu, H.

Lv, H.

S. Xu, X. Zu, X. Jiang, X. Yuan, J. Huang, H. Wang, H. Lv, and W. Zheng, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 266, 2936 (2008).

Lv, H. B.

W. Dai, X. Xiang, Y. Jiang, H. J. Wang, X. B. Li, X. D. Yuan, W. G. Zheng, H. B. Lv, and X. T. Zu, Opt. Laser Eng. 49, 273 (2011).

Ma, B.

Mak, P.

G. Guss, I. Bass, V. Draggoo, R. Hackel, S. Payne, M. J. Lancaster, and P. Mak, Proc. SPIE 6403, 64030M (2007).

Maricle, S. M.

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

Matthews, M. J.

Mendez, E.

Molander, W. A.

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

Norton, M. A.

M. A. Norton, E. E. Donohue, M. D. Feit, R. P. Hackel, W. G. Hollingsworth, A. M. Rubenchik, and M. L. Spaeth, Proc. SPIE 6403, 64030L (2007).

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

Nowak, K. M.

Palmier, S.

S. Palmier, L. Gallais, M. Commandr'e, P. Cormont, R. Courchinoux, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, and P. Legros, Appl. Surf. Sci. 255, 5532 (2009).

Papernov, S.

S. Papernov and A. W. Schmid, Proc. SPIE 7132, 71321J (2008).

Payne, S.

G. Guss, I. Bass, V. Draggoo, R. Hackel, S. Payne, M. J. Lancaster, and P. Mak, Proc. SPIE 6403, 64030M (2007).

Penetrante, B. M.

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

R. M. Brusasco, B. M. Penetrante, J. A. Butler, and L. W. Hrubesh, Proc. SPIE 4679, 40 (2002).

Raman, R. N.

Ravizza, F. L.

M. J. Matthews, I. L. Bass, G. M. Guss, C. C. Widmayer, and F. L. Ravizza, Proc. SPIE 6720, 67200A (2007).

Rubenchik, A.

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

Rubenchik, A. M.

M. A. Norton, E. E. Donohue, M. D. Feit, R. P. Hackel, W. G. Hollingsworth, A. M. Rubenchik, and M. L. Spaeth, Proc. SPIE 6403, 64030L (2007).

Rullier, J. L.

P. Cormont, L. Gallais, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, P. Combis, and D. Hebert, Opt. Express 18, 26068 (2010).

S. Palmier, L. Gallais, M. Commandr'e, P. Cormont, R. Courchinoux, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, and P. Legros, Appl. Surf. Sci. 255, 5532 (2009).

Rullier, J.-L.

Salleo, A.

A. Salleo, R. Chinsio, and F. Y. G'enin, Proc. SPIE 3578, 456 (1999).

J. Yoshiyama, F. Y. G'enin, A. Salleo, I. Thomas, M. R. Kozlowski, L. M. Sheehan, I. D. Hutcheon, and D. W. Camp, Proc. SPIE 3244, 331 (1998).

Sang, T.

Schmid, A. W.

S. Papernov and A. W. Schmid, Proc. SPIE 7132, 71321J (2008).

Sheehan, L. M.

J. Yoshiyama, F. Y. G'enin, A. Salleo, I. Thomas, M. R. Kozlowski, L. M. Sheehan, I. D. Hutcheon, and D. W. Camp, Proc. SPIE 3244, 331 (1998).

Shen, Z.

Spaeth, M. L.

M. A. Norton, E. E. Donohue, M. D. Feit, R. P. Hackel, W. G. Hollingsworth, A. M. Rubenchik, and M. L. Spaeth, Proc. SPIE 6403, 64030L (2007).

Stesmans, A.

M. A. Stevens-Kalceff, A. Stesmans, and J. Wong, Appl. Phys. Lett. 80, 758 (2002).

Stevens-Kalceff, M. A.

M. A. Stevens-Kalceff and J. Wong, J. Appl. Phys. 97, 113519 (2005).

M. A. Stevens-Kalceff, A. Stesmans, and J. Wong, Appl. Phys. Lett. 80, 758 (2002).

Summers, L. J.

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

Thomas, I.

J. Yoshiyama, F. Y. G'enin, A. Salleo, I. Thomas, M. R. Kozlowski, L. M. Sheehan, I. D. Hutcheon, and D. W. Camp, Proc. SPIE 3244, 331 (1998).

Villarreal, F. J.

Wang, H.

J. Huang, S. Zhao, H. Wang, H. L¨u, L. Ye, X. Jiang, X. Yuan, and W. Zheng, Chinese J. Lasers (in Chinese) 36, 1282 (2009).

S. Xu, X. Zu, X. Jiang, X. Yuan, J. Huang, H. Wang, H. Lv, and W. Zheng, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 266, 2936 (2008).

Wang, H. J.

W. Dai, X. Xiang, Y. Jiang, H. J. Wang, X. B. Li, X. D. Yuan, W. G. Zheng, H. B. Lv, and X. T. Zu, Opt. Laser Eng. 49, 273 (2011).

Wang, Z.

Wegner, P. J.

S. T. Yang, M. J. Matthews, S. Elhadj, D. Cooke, G. M. Guss, V. G. Draggoo, and P. J. Wegner, Appl. Opt. 49, 2606 (2010).

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

Widmayer, C. C.

M. J. Matthews, I. L. Bass, G. M. Guss, C. C. Widmayer, and F. L. Ravizza, Proc. SPIE 6720, 67200A (2007).

Wong, J.

J. Wong, J. L. Ferriera, E. F. Lindsey, D. L. Haupt, I. D. Hutcheon, and J. H. Kinney, J. Non-Cryst. Solids 352, 255 (2006).

M. A. Stevens-Kalceff and J. Wong, J. Appl. Phys. 97, 113519 (2005).

M. A. Stevens-Kalceff, A. Stesmans, and J. Wong, Appl. Phys. Lett. 80, 758 (2002).

Xiang, X.

W. Dai, X. Xiang, Y. Jiang, H. J. Wang, X. B. Li, X. D. Yuan, W. G. Zheng, H. B. Lv, and X. T. Zu, Opt. Laser Eng. 49, 273 (2011).

Xu, S.

S. Xu, X. Zu, X. Jiang, X. Yuan, J. Huang, H. Wang, H. Lv, and W. Zheng, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 266, 2936 (2008).

Yang, S. T.

Ye, L.

J. Huang, S. Zhao, H. Wang, H. L¨u, L. Ye, X. Jiang, X. Yuan, and W. Zheng, Chinese J. Lasers (in Chinese) 36, 1282 (2009).

Yoshiyama, J.

J. Yoshiyama, F. Y. G'enin, A. Salleo, I. Thomas, M. R. Kozlowski, L. M. Sheehan, I. D. Hutcheon, and D. W. Camp, Proc. SPIE 3244, 331 (1998).

Yuan, X.

J. Huang, S. Zhao, H. Wang, H. L¨u, L. Ye, X. Jiang, X. Yuan, and W. Zheng, Chinese J. Lasers (in Chinese) 36, 1282 (2009).

S. Xu, X. Zu, X. Jiang, X. Yuan, J. Huang, H. Wang, H. Lv, and W. Zheng, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 266, 2936 (2008).

Yuan, X. D.

W. Dai, X. Xiang, Y. Jiang, H. J. Wang, X. B. Li, X. D. Yuan, W. G. Zheng, H. B. Lv, and X. T. Zu, Opt. Laser Eng. 49, 273 (2011).

Zhao, S.

J. Huang, S. Zhao, H. Wang, H. L¨u, L. Ye, X. Jiang, X. Yuan, and W. Zheng, Chinese J. Lasers (in Chinese) 36, 1282 (2009).

Zheng, W.

J. Huang, S. Zhao, H. Wang, H. L¨u, L. Ye, X. Jiang, X. Yuan, and W. Zheng, Chinese J. Lasers (in Chinese) 36, 1282 (2009).

S. Xu, X. Zu, X. Jiang, X. Yuan, J. Huang, H. Wang, H. Lv, and W. Zheng, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 266, 2936 (2008).

Zheng, W. G.

W. Dai, X. Xiang, Y. Jiang, H. J. Wang, X. B. Li, X. D. Yuan, W. G. Zheng, H. B. Lv, and X. T. Zu, Opt. Laser Eng. 49, 273 (2011).

Zu, X.

S. Xu, X. Zu, X. Jiang, X. Yuan, J. Huang, H. Wang, H. Lv, and W. Zheng, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 266, 2936 (2008).

Zu, X. T.

W. Dai, X. Xiang, Y. Jiang, H. J. Wang, X. B. Li, X. D. Yuan, W. G. Zheng, H. B. Lv, and X. T. Zu, Opt. Laser Eng. 49, 273 (2011).

Appl. Opt. (2)

Appl. Phys. Lett. (1)

M. A. Stevens-Kalceff, A. Stesmans, and J. Wong, Appl. Phys. Lett. 80, 758 (2002).

Appl. Surf. Sci. (1)

S. Palmier, L. Gallais, M. Commandr'e, P. Cormont, R. Courchinoux, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, and P. Legros, Appl. Surf. Sci. 255, 5532 (2009).

Chin. Opt. Lett. (1)

Chinese J. Lasers (in Chinese) (1)

J. Huang, S. Zhao, H. Wang, H. L¨u, L. Ye, X. Jiang, X. Yuan, and W. Zheng, Chinese J. Lasers (in Chinese) 36, 1282 (2009).

J. Appl. Phys. (1)

M. A. Stevens-Kalceff and J. Wong, J. Appl. Phys. 97, 113519 (2005).

J. Non-Cryst. Solids (1)

J. Wong, J. L. Ferriera, E. F. Lindsey, D. L. Haupt, I. D. Hutcheon, and J. H. Kinney, J. Non-Cryst. Solids 352, 255 (2006).

Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B (1)

S. Xu, X. Zu, X. Jiang, X. Yuan, J. Huang, H. Wang, H. Lv, and W. Zheng, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 266, 2936 (2008).

Opt. Express (3)

Opt. Laser Eng. (1)

W. Dai, X. Xiang, Y. Jiang, H. J. Wang, X. B. Li, X. D. Yuan, W. G. Zheng, H. B. Lv, and X. T. Zu, Opt. Laser Eng. 49, 273 (2011).

Proc. SPIE (9)

M. A. Norton, E. E. Donohue, M. D. Feit, R. P. Hackel, W. G. Hollingsworth, A. M. Rubenchik, and M. L. Spaeth, Proc. SPIE 6403, 64030L (2007).

L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).

R. M. Brusasco, B. M. Penetrante, J. A. Butler, and L. W. Hrubesh, Proc. SPIE 4679, 40 (2002).

I. L. Bass, G. M. Guss, and R. P. Hackel, Proc. SPIE 5991, 59910C (2005).

G. Guss, I. Bass, V. Draggoo, R. Hackel, S. Payne, M. J. Lancaster, and P. Mak, Proc. SPIE 6403, 64030M (2007).

J. Yoshiyama, F. Y. G'enin, A. Salleo, I. Thomas, M. R. Kozlowski, L. M. Sheehan, I. D. Hutcheon, and D. W. Camp, Proc. SPIE 3244, 331 (1998).

M. J. Matthews, I. L. Bass, G. M. Guss, C. C. Widmayer, and F. L. Ravizza, Proc. SPIE 6720, 67200A (2007).

A. Salleo, R. Chinsio, and F. Y. G'enin, Proc. SPIE 3578, 456 (1999).

S. Papernov and A. W. Schmid, Proc. SPIE 7132, 71321J (2008).

Other (1)

M. A. Norton, L. W. Hrubesh, Z. Wu, E. E. Donohue, M. D. Feit, M. R. Kozlowski, D. Milam, K. P. Neeb, W. A. Molander, A. M. Rubenchik, W. D. Sell, and P. Wegner, LLNL UCRL-JC-139624 (2001).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.