Abstract

A simple improved structure is designed to trap and launch two cold atomic balls vertically at the same time, which works like "two fountains", but is more compact since most components of the "two fountains" are shared. It is expected to improve the stability of the fountain markedly.

© 2011 Chinese Optics Letters

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. A. Bauch, Metrologia 42, S43 (2005).
  2. D. Lu, B. Wang, T. Li, and L. Liu, Chin. Opt. Lett. 8, 735 (2010).
  3. G. J. Dick, in Proc. 19th Ann. PTTI Systems and Applications Meeting 133 (1987).
  4. G. J. Dick, J. D. Prestage, C. A. Greenhall, and L. Maleki, in Proc. 22th Ann. PTTI Systems and Applications Meeting 497 (1990).
  5. G. Santarelli, Ph. Laurent, P. Lemonde, A. Clairon, A. G. Mann, S. Chang, A. N. Luiten, and C. Salomon, Phys. Rev. Lett. 82, 4619 (1999).
  6. C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).
  7. A. Bartels, C. W. Oates, L. Hollberg, and S. A. Diddams, Opt. Lett. 29, 1081 (2004).
  8. G. Dudle, A. Joyet, P. Berthoud, G. Mileti, and P. Thomann, IEEE Trans. Instrum. Meas. 50, 510 (2001).
  9. C. Fertig and K. Gibble, Proc. SPIE 4087, 803 (2000).
  10. Z.-C. Zhou, R. Wei, C.-Y. Shi, D.-S. Lv, T. Li, and Y.-Z. Wang, Chin. Phys. Lett. 26, 123201 (2009).
  11. A. Rauschenbeutel, H. Schadwinkel, V. Gomer, and D. Meschede, Opt. Commun. 148, 45 (1998).
  12. C. Shi, R. Wei, Z. Zhou, J. Zhao, D. L¨u, T. Li, and Y. Wang, in Proceedings of Time and Frequency Conference in China 2009 29 (2009).
  13. C. Audoin, G. Santarelli, A. Makdissi, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control 45, 877 (1998).
  14. G. Santarelli, C. Audoin, A. Makdissi, P. Laurent, C. J. Dick, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr.Freq. Control 45, 887 (1998).
  15. C. Shi, R. Wei, Z. Zhou, D. L¨u, T. Li, and Y. Wang, Chin. Opt. Lett. 6, 549 (2010).
  16. S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).
  17. M. Kumagai, H. Ito, M. Kajita, and M. Hosokawa,Metrologia 45, 139 (2008).
  18. R. E. Collin, Foundations of Microwave Engineering (1st edn.) (in Chinese) J. L¨u (transl.) (Posts and Telecom Press, Beijing, 1981) pp.121-126.

2010 (2)

C. Shi, R. Wei, Z. Zhou, D. L¨u, T. Li, and Y. Wang, Chin. Opt. Lett. 6, 549 (2010).

D. Lu, B. Wang, T. Li, and L. Liu, Chin. Opt. Lett. 8, 735 (2010).

2009 (1)

Z.-C. Zhou, R. Wei, C.-Y. Shi, D.-S. Lv, T. Li, and Y.-Z. Wang, Chin. Phys. Lett. 26, 123201 (2009).

2008 (1)

M. Kumagai, H. Ito, M. Kajita, and M. Hosokawa,Metrologia 45, 139 (2008).

2005 (2)

A. Bauch, Metrologia 42, S43 (2005).

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

2004 (1)

2002 (1)

S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).

2001 (1)

G. Dudle, A. Joyet, P. Berthoud, G. Mileti, and P. Thomann, IEEE Trans. Instrum. Meas. 50, 510 (2001).

2000 (1)

C. Fertig and K. Gibble, Proc. SPIE 4087, 803 (2000).

1999 (1)

G. Santarelli, Ph. Laurent, P. Lemonde, A. Clairon, A. G. Mann, S. Chang, A. N. Luiten, and C. Salomon, Phys. Rev. Lett. 82, 4619 (1999).

1998 (3)

A. Rauschenbeutel, H. Schadwinkel, V. Gomer, and D. Meschede, Opt. Commun. 148, 45 (1998).

C. Audoin, G. Santarelli, A. Makdissi, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control 45, 877 (1998).

G. Santarelli, C. Audoin, A. Makdissi, P. Laurent, C. J. Dick, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr.Freq. Control 45, 887 (1998).

Abgrall, M.

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

Audoin, C.

G. Santarelli, C. Audoin, A. Makdissi, P. Laurent, C. J. Dick, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr.Freq. Control 45, 887 (1998).

C. Audoin, G. Santarelli, A. Makdissi, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control 45, 877 (1998).

Bartels, A.

Bauch, A.

A. Bauch, Metrologia 42, S43 (2005).

Berthoud, P.

G. Dudle, A. Joyet, P. Berthoud, G. Mileti, and P. Thomann, IEEE Trans. Instrum. Meas. 50, 510 (2001).

Bize, S.

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

Cacciapuoti, L.

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

Chambon, D.

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

Chang, S.

G. Santarelli, Ph. Laurent, P. Lemonde, A. Clairon, A. G. Mann, S. Chang, A. N. Luiten, and C. Salomon, Phys. Rev. Lett. 82, 4619 (1999).

Clairon, A.

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

G. Santarelli, Ph. Laurent, P. Lemonde, A. Clairon, A. G. Mann, S. Chang, A. N. Luiten, and C. Salomon, Phys. Rev. Lett. 82, 4619 (1999).

G. Santarelli, C. Audoin, A. Makdissi, P. Laurent, C. J. Dick, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr.Freq. Control 45, 887 (1998).

C. Audoin, G. Santarelli, A. Makdissi, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control 45, 877 (1998).

Costanzo, G.

S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).

DeMarchi, A.

S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).

Dick, C. J.

G. Santarelli, C. Audoin, A. Makdissi, P. Laurent, C. J. Dick, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr.Freq. Control 45, 887 (1998).

Diddams, S. A.

Drullinger, R.

S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).

Dudle, G.

G. Dudle, A. Joyet, P. Berthoud, G. Mileti, and P. Thomann, IEEE Trans. Instrum. Meas. 50, 510 (2001).

Fertig, C.

C. Fertig and K. Gibble, Proc. SPIE 4087, 803 (2000).

Gibble, K.

C. Fertig and K. Gibble, Proc. SPIE 4087, 803 (2000).

Gomer, V.

A. Rauschenbeutel, H. Schadwinkel, V. Gomer, and D. Meschede, Opt. Commun. 148, 45 (1998).

Heavner, T. P.

S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).

Hollberg, L.

A. Bartels, C. W. Oates, L. Hollberg, and S. A. Diddams, Opt. Lett. 29, 1081 (2004).

S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).

Hosokawa, M.

M. Kumagai, H. Ito, M. Kajita, and M. Hosokawa,Metrologia 45, 139 (2008).

Ito, H.

M. Kumagai, H. Ito, M. Kajita, and M. Hosokawa,Metrologia 45, 139 (2008).

Jefferts, S. R.

S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).

Joyet, A.

G. Dudle, A. Joyet, P. Berthoud, G. Mileti, and P. Thomann, IEEE Trans. Instrum. Meas. 50, 510 (2001).

Kajita, M.

M. Kumagai, H. Ito, M. Kajita, and M. Hosokawa,Metrologia 45, 139 (2008).

Kumagai, M.

M. Kumagai, H. Ito, M. Kajita, and M. Hosokawa,Metrologia 45, 139 (2008).

L¨u, D.

C. Shi, R. Wei, Z. Zhou, D. L¨u, T. Li, and Y. Wang, Chin. Opt. Lett. 6, 549 (2010).

Laurent, P.

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

G. Santarelli, C. Audoin, A. Makdissi, P. Laurent, C. J. Dick, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr.Freq. Control 45, 887 (1998).

Laurent, Ph.

G. Santarelli, Ph. Laurent, P. Lemonde, A. Clairon, A. G. Mann, S. Chang, A. N. Luiten, and C. Salomon, Phys. Rev. Lett. 82, 4619 (1999).

Lee, W. D.

S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).

Lemonde, P.

G. Santarelli, Ph. Laurent, P. Lemonde, A. Clairon, A. G. Mann, S. Chang, A. N. Luiten, and C. Salomon, Phys. Rev. Lett. 82, 4619 (1999).

Levi, F.

S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).

Li, T.

D. Lu, B. Wang, T. Li, and L. Liu, Chin. Opt. Lett. 8, 735 (2010).

C. Shi, R. Wei, Z. Zhou, D. L¨u, T. Li, and Y. Wang, Chin. Opt. Lett. 6, 549 (2010).

Z.-C. Zhou, R. Wei, C.-Y. Shi, D.-S. Lv, T. Li, and Y.-Z. Wang, Chin. Phys. Lett. 26, 123201 (2009).

Liu, L.

Lu, D.

Luiten, A.

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

Luiten, A. N.

G. Santarelli, Ph. Laurent, P. Lemonde, A. Clairon, A. G. Mann, S. Chang, A. N. Luiten, and C. Salomon, Phys. Rev. Lett. 82, 4619 (1999).

Lv, D.-S.

Z.-C. Zhou, R. Wei, C.-Y. Shi, D.-S. Lv, T. Li, and Y.-Z. Wang, Chin. Phys. Lett. 26, 123201 (2009).

Makdissi, A.

G. Santarelli, C. Audoin, A. Makdissi, P. Laurent, C. J. Dick, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr.Freq. Control 45, 887 (1998).

C. Audoin, G. Santarelli, A. Makdissi, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control 45, 877 (1998).

Maksimovic, I.

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

Mann, A. G.

G. Santarelli, Ph. Laurent, P. Lemonde, A. Clairon, A. G. Mann, S. Chang, A. N. Luiten, and C. Salomon, Phys. Rev. Lett. 82, 4619 (1999).

Marion, H.

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

Meekhof, D. M.

S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).

Meschede, D.

A. Rauschenbeutel, H. Schadwinkel, V. Gomer, and D. Meschede, Opt. Commun. 148, 45 (1998).

Mileti, G.

G. Dudle, A. Joyet, P. Berthoud, G. Mileti, and P. Thomann, IEEE Trans. Instrum. Meas. 50, 510 (2001).

Nelson, C.

S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).

Oates, C. W.

Parker, T. E.

S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).

Rauschenbeutel, A.

A. Rauschenbeutel, H. Schadwinkel, V. Gomer, and D. Meschede, Opt. Commun. 148, 45 (1998).

Rosenbusch, P.

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

Salomon, C.

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

G. Santarelli, Ph. Laurent, P. Lemonde, A. Clairon, A. G. Mann, S. Chang, A. N. Luiten, and C. Salomon, Phys. Rev. Lett. 82, 4619 (1999).

Santarelli, G.

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

G. Santarelli, Ph. Laurent, P. Lemonde, A. Clairon, A. G. Mann, S. Chang, A. N. Luiten, and C. Salomon, Phys. Rev. Lett. 82, 4619 (1999).

G. Santarelli, C. Audoin, A. Makdissi, P. Laurent, C. J. Dick, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr.Freq. Control 45, 887 (1998).

C. Audoin, G. Santarelli, A. Makdissi, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control 45, 877 (1998).

Schadwinkel, H.

A. Rauschenbeutel, H. Schadwinkel, V. Gomer, and D. Meschede, Opt. Commun. 148, 45 (1998).

Shi, C.

C. Shi, R. Wei, Z. Zhou, D. L¨u, T. Li, and Y. Wang, Chin. Opt. Lett. 6, 549 (2010).

Shi, C.-Y.

Z.-C. Zhou, R. Wei, C.-Y. Shi, D.-S. Lv, T. Li, and Y.-Z. Wang, Chin. Phys. Lett. 26, 123201 (2009).

Shirley, J.

S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).

Thomann, P.

G. Dudle, A. Joyet, P. Berthoud, G. Mileti, and P. Thomann, IEEE Trans. Instrum. Meas. 50, 510 (2001).

Tobar, M.

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

Vian, C.

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

Walls, F. L.

S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).

Wang, B.

Wang, Y.

C. Shi, R. Wei, Z. Zhou, D. L¨u, T. Li, and Y. Wang, Chin. Opt. Lett. 6, 549 (2010).

Wang, Y.-Z.

Z.-C. Zhou, R. Wei, C.-Y. Shi, D.-S. Lv, T. Li, and Y.-Z. Wang, Chin. Phys. Lett. 26, 123201 (2009).

Wei, R.

C. Shi, R. Wei, Z. Zhou, D. L¨u, T. Li, and Y. Wang, Chin. Opt. Lett. 6, 549 (2010).

Z.-C. Zhou, R. Wei, C.-Y. Shi, D.-S. Lv, T. Li, and Y.-Z. Wang, Chin. Phys. Lett. 26, 123201 (2009).

Zhang, S.

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

Zhou, Z.

C. Shi, R. Wei, Z. Zhou, D. L¨u, T. Li, and Y. Wang, Chin. Opt. Lett. 6, 549 (2010).

Zhou, Z.-C.

Z.-C. Zhou, R. Wei, C.-Y. Shi, D.-S. Lv, T. Li, and Y.-Z. Wang, Chin. Phys. Lett. 26, 123201 (2009).

Chin. Opt. Lett. (2)

C. Shi, R. Wei, Z. Zhou, D. L¨u, T. Li, and Y. Wang, Chin. Opt. Lett. 6, 549 (2010).

D. Lu, B. Wang, T. Li, and L. Liu, Chin. Opt. Lett. 8, 735 (2010).

Chin. Phys. Lett. (1)

Z.-C. Zhou, R. Wei, C.-Y. Shi, D.-S. Lv, T. Li, and Y.-Z. Wang, Chin. Phys. Lett. 26, 123201 (2009).

IEEE Trans. Instrum. Meas. (2)

G. Dudle, A. Joyet, P. Berthoud, G. Mileti, and P. Thomann, IEEE Trans. Instrum. Meas. 50, 510 (2001).

C. Vian, P. Rosenbusch, H. Marion, S. Bize, L. Cacciapuoti, S. Zhang, M. Abgrall, D. Chambon, I. Maksimovic, P. Laurent, G. Santarelli, A. Clairon, A. Luiten, M. Tobar, and C. Salomon, IEEE Trans. Instrum. Meas. 54, 833 (2005).

IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control (1)

C. Audoin, G. Santarelli, A. Makdissi, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control 45, 877 (1998).

IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr.Freq. Control (1)

G. Santarelli, C. Audoin, A. Makdissi, P. Laurent, C. J. Dick, and A. Clairon, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr.Freq. Control 45, 887 (1998).

Metrologia (3)

A. Bauch, Metrologia 42, S43 (2005).

S. R. Jefferts, J. Shirley, T. E. Parker, T. P. Heavner, D. M. Meekhof, C. Nelson, F. Levi, G. Costanzo, A. DeMarchi, R. Drullinger, L. Hollberg, W. D. Lee, and F. L. Walls, Metrologia 39, 321 (2002).

M. Kumagai, H. Ito, M. Kajita, and M. Hosokawa,Metrologia 45, 139 (2008).

Opt. Commun. (1)

A. Rauschenbeutel, H. Schadwinkel, V. Gomer, and D. Meschede, Opt. Commun. 148, 45 (1998).

Opt. Lett. (1)

Phys. Rev. Lett. (1)

G. Santarelli, Ph. Laurent, P. Lemonde, A. Clairon, A. G. Mann, S. Chang, A. N. Luiten, and C. Salomon, Phys. Rev. Lett. 82, 4619 (1999).

Proc. SPIE (1)

C. Fertig and K. Gibble, Proc. SPIE 4087, 803 (2000).

Other (4)

C. Shi, R. Wei, Z. Zhou, J. Zhao, D. L¨u, T. Li, and Y. Wang, in Proceedings of Time and Frequency Conference in China 2009 29 (2009).

R. E. Collin, Foundations of Microwave Engineering (1st edn.) (in Chinese) J. L¨u (transl.) (Posts and Telecom Press, Beijing, 1981) pp.121-126.

G. J. Dick, in Proc. 19th Ann. PTTI Systems and Applications Meeting 133 (1987).

G. J. Dick, J. D. Prestage, C. A. Greenhall, and L. Maleki, in Proc. 22th Ann. PTTI Systems and Applications Meeting 497 (1990).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.