Abstract

Amino-functionalized mesoporous silica thin films (MTFs) are produced using surface active agent F127, and then gold nanoparticles are introduced into the pore channels to prepare the Au/SiO2 nanocomposite. After assembling the gold, the amino-functionalized MTF undergoes some shrinkage but remains a periodic structure as demonstrated by X-ray diffraction (XRD) patterns. The nanocomposite shows an acute characteristic diffraction peak assigned to (111) plane of the face-centered-cubic structure of gold, indicating that gold nanoparticles crystallize well and grow in a preferred orientation in the pore channels. The surface plasma resonance (SPR) absorption peak near 570 nm undergoes a red-shift accompanied by a strengthening of intensity when HAuCl4 is used to react with the amino groups on the internal pore surfaces for 4, 6, and 8 h. The simulative results are consistent with the experimental ones shows that the absorption property of the Au/SiO2 nanocomposite is influenced by the dipping time, which affects the size and volume fraction of embedded gold nanoparticles.

© 2011 Chinese Optics Letters

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).
  2. X. C. LeQuan, B. K. Choi, W. P. Kang, and J. L. Davidson, Diam. Relat. Mater. 19, 252 (2010).
  3. U. S. Tandon, Vacuum 43, 241 (1992).
  4. M. Weiser, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 267, 1390 (2009).
  5. G. Binning, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 49, 57 (1982).
  6. T. Osada, N. Zhu, Y. F. Zhang, and T. Komeda, J. Phys. Chem. C 112, 3835 (2008).
  7. G. Kwun, E. Jang, G. Kwon, and H. Lee, Curr. Appl. Phys. 9, 121 (2009).
  8. S. Wegscheider, A. Kirsch, J. Mlynek, and G. Krausch, Thin Solid Films 264, 264 (1995).
  9. O. R. Paul, R. Herz, Y.-M. Lin, A. I. Akinwande, S. B. Cronin, and M. S. Dresselhaus, Adv. Funct. Mater. 13, 631 (2003).
  10. G. Fu, W. Cai, C. Kan, C. Li, and L. Zhang, Appl. Phys. Lett. 83, 36 (2003).
  11. R. Mohammadzadegan, H. Mohabatkar, M. H. Sheikhi, A. Safavi, and M. B. Khajouee, Physica E 41, 142 (2008).
  12. H. Fan, K. Yang, D. M. Boye, T. Sigmon, K. J. Malloy, H. Xu, G. P. L'opez, and C. J. Brinker, Science 304, 567 (2004).
  13. A. Fukuoka, H. Araki, Y. Sakamoto, N. Sugimoto, H. Tsukada, Y. Kumai, Y. Akimoto, and M. Ichikawa, Nano Lett. 2, 793 (2002).
  14. J.-L. Gu, J.-L. Shi, G.-J. You, L.-M. Xiong, S.-X. Qian, Z.-L. Hua, and H.-R. Chen, Adv. Mater. 17, 557 (2005).
  15. M.-S. Hu, H.-L. Chen, C.-H. Shen, L.-S. Hong, B.-R. Huang, K.-H. Chen, and L.-C. Chen, Nature Mater. 5, 102 (2006).
  16. Z. Sun, L. Xiao, L. Cao, X. Song, and D. Sun, Chin. Opt. Lett. 7, 964 (2009).
  17. X. Zhang, J. Wang, W. Wu, S. Qian, and Y. Man, Electrochem. Commun. 9, 2098 (2007).
  18. X. Zhang, W. Wu, J. Wang, and X. Tian, Appl. Surface Science 254, 2893 (2008).
  19. R. Ruppin, Opt. Commun. 182, 273 (2000).
  20. G. L. Hornyak, C. J. Patrissi, C. R. Martin, J.-C Valmalette, J. Dutta, and H. Hofmann, NanoStr. Mater. 9, 575 (1997).
  21. C. F. Bohren and D. R. Huffman, Absorption and Scattering of Light by Small Particles (Wiley Interscience, New York, 1983).
  22. J. H. Hodak, A. Henglein, and G. V. Hartland, J. Chem. Phys. 112, 5942 (2000).
  23. M. Y. Koledintseva, R. E. DuBroff, and R. W. Schwartz, Progress Electromagn. Res. 63, 223 (2006).

2010 (1)

X. C. LeQuan, B. K. Choi, W. P. Kang, and J. L. Davidson, Diam. Relat. Mater. 19, 252 (2010).

2009 (3)

M. Weiser, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 267, 1390 (2009).

G. Kwun, E. Jang, G. Kwon, and H. Lee, Curr. Appl. Phys. 9, 121 (2009).

Z. Sun, L. Xiao, L. Cao, X. Song, and D. Sun, Chin. Opt. Lett. 7, 964 (2009).

2008 (3)

R. Mohammadzadegan, H. Mohabatkar, M. H. Sheikhi, A. Safavi, and M. B. Khajouee, Physica E 41, 142 (2008).

T. Osada, N. Zhu, Y. F. Zhang, and T. Komeda, J. Phys. Chem. C 112, 3835 (2008).

X. Zhang, W. Wu, J. Wang, and X. Tian, Appl. Surface Science 254, 2893 (2008).

2007 (1)

X. Zhang, J. Wang, W. Wu, S. Qian, and Y. Man, Electrochem. Commun. 9, 2098 (2007).

2006 (2)

M.-S. Hu, H.-L. Chen, C.-H. Shen, L.-S. Hong, B.-R. Huang, K.-H. Chen, and L.-C. Chen, Nature Mater. 5, 102 (2006).

M. Y. Koledintseva, R. E. DuBroff, and R. W. Schwartz, Progress Electromagn. Res. 63, 223 (2006).

2005 (1)

J.-L. Gu, J.-L. Shi, G.-J. You, L.-M. Xiong, S.-X. Qian, Z.-L. Hua, and H.-R. Chen, Adv. Mater. 17, 557 (2005).

2004 (1)

H. Fan, K. Yang, D. M. Boye, T. Sigmon, K. J. Malloy, H. Xu, G. P. L'opez, and C. J. Brinker, Science 304, 567 (2004).

2003 (2)

O. R. Paul, R. Herz, Y.-M. Lin, A. I. Akinwande, S. B. Cronin, and M. S. Dresselhaus, Adv. Funct. Mater. 13, 631 (2003).

G. Fu, W. Cai, C. Kan, C. Li, and L. Zhang, Appl. Phys. Lett. 83, 36 (2003).

2002 (1)

A. Fukuoka, H. Araki, Y. Sakamoto, N. Sugimoto, H. Tsukada, Y. Kumai, Y. Akimoto, and M. Ichikawa, Nano Lett. 2, 793 (2002).

2001 (1)

H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).

2000 (2)

J. H. Hodak, A. Henglein, and G. V. Hartland, J. Chem. Phys. 112, 5942 (2000).

R. Ruppin, Opt. Commun. 182, 273 (2000).

1997 (1)

G. L. Hornyak, C. J. Patrissi, C. R. Martin, J.-C Valmalette, J. Dutta, and H. Hofmann, NanoStr. Mater. 9, 575 (1997).

1995 (1)

S. Wegscheider, A. Kirsch, J. Mlynek, and G. Krausch, Thin Solid Films 264, 264 (1995).

1992 (1)

U. S. Tandon, Vacuum 43, 241 (1992).

1982 (1)

G. Binning, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 49, 57 (1982).

Akimoto, Y.

A. Fukuoka, H. Araki, Y. Sakamoto, N. Sugimoto, H. Tsukada, Y. Kumai, Y. Akimoto, and M. Ichikawa, Nano Lett. 2, 793 (2002).

Akinwande, A. I.

O. R. Paul, R. Herz, Y.-M. Lin, A. I. Akinwande, S. B. Cronin, and M. S. Dresselhaus, Adv. Funct. Mater. 13, 631 (2003).

Araki, H.

A. Fukuoka, H. Araki, Y. Sakamoto, N. Sugimoto, H. Tsukada, Y. Kumai, Y. Akimoto, and M. Ichikawa, Nano Lett. 2, 793 (2002).

Binning, G.

G. Binning, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 49, 57 (1982).

Boye, D. M.

H. Fan, K. Yang, D. M. Boye, T. Sigmon, K. J. Malloy, H. Xu, G. P. L'opez, and C. J. Brinker, Science 304, 567 (2004).

Brinker, C. J.

H. Fan, K. Yang, D. M. Boye, T. Sigmon, K. J. Malloy, H. Xu, G. P. L'opez, and C. J. Brinker, Science 304, 567 (2004).

Cai, W.

G. Fu, W. Cai, C. Kan, C. Li, and L. Zhang, Appl. Phys. Lett. 83, 36 (2003).

Cao, L.

Chen, H.-L.

M.-S. Hu, H.-L. Chen, C.-H. Shen, L.-S. Hong, B.-R. Huang, K.-H. Chen, and L.-C. Chen, Nature Mater. 5, 102 (2006).

Chen, H.-R.

J.-L. Gu, J.-L. Shi, G.-J. You, L.-M. Xiong, S.-X. Qian, Z.-L. Hua, and H.-R. Chen, Adv. Mater. 17, 557 (2005).

Chen, K.-H.

M.-S. Hu, H.-L. Chen, C.-H. Shen, L.-S. Hong, B.-R. Huang, K.-H. Chen, and L.-C. Chen, Nature Mater. 5, 102 (2006).

Chen, L.-C.

M.-S. Hu, H.-L. Chen, C.-H. Shen, L.-S. Hong, B.-R. Huang, K.-H. Chen, and L.-C. Chen, Nature Mater. 5, 102 (2006).

Choi, B. K.

X. C. LeQuan, B. K. Choi, W. P. Kang, and J. L. Davidson, Diam. Relat. Mater. 19, 252 (2010).

Cronin, S. B.

O. R. Paul, R. Herz, Y.-M. Lin, A. I. Akinwande, S. B. Cronin, and M. S. Dresselhaus, Adv. Funct. Mater. 13, 631 (2003).

Davidson, J. L.

X. C. LeQuan, B. K. Choi, W. P. Kang, and J. L. Davidson, Diam. Relat. Mater. 19, 252 (2010).

Dhaliwal, R. S.

H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).

Doran, S. K.

H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).

Dresselhaus, M. S.

O. R. Paul, R. Herz, Y.-M. Lin, A. I. Akinwande, S. B. Cronin, and M. S. Dresselhaus, Adv. Funct. Mater. 13, 631 (2003).

DuBroff, R. E.

M. Y. Koledintseva, R. E. DuBroff, and R. W. Schwartz, Progress Electromagn. Res. 63, 223 (2006).

Dutta, J.

G. L. Hornyak, C. J. Patrissi, C. R. Martin, J.-C Valmalette, J. Dutta, and H. Hofmann, NanoStr. Mater. 9, 575 (1997).

Fan, H.

H. Fan, K. Yang, D. M. Boye, T. Sigmon, K. J. Malloy, H. Xu, G. P. L'opez, and C. J. Brinker, Science 304, 567 (2004).

Fu, G.

G. Fu, W. Cai, C. Kan, C. Li, and L. Zhang, Appl. Phys. Lett. 83, 36 (2003).

Fukuoka, A.

A. Fukuoka, H. Araki, Y. Sakamoto, N. Sugimoto, H. Tsukada, Y. Kumai, Y. Akimoto, and M. Ichikawa, Nano Lett. 2, 793 (2002).

Gerber, Ch.

G. Binning, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 49, 57 (1982).

Golladay, S. D.

H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).

Gordon, M. S.

H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).

Gu, J.-L.

J.-L. Gu, J.-L. Shi, G.-J. You, L.-M. Xiong, S.-X. Qian, Z.-L. Hua, and H.-R. Chen, Adv. Mater. 17, 557 (2005).

Hartland, G. V.

J. H. Hodak, A. Henglein, and G. V. Hartland, J. Chem. Phys. 112, 5942 (2000).

Henglein, A.

J. H. Hodak, A. Henglein, and G. V. Hartland, J. Chem. Phys. 112, 5942 (2000).

Herz, R.

O. R. Paul, R. Herz, Y.-M. Lin, A. I. Akinwande, S. B. Cronin, and M. S. Dresselhaus, Adv. Funct. Mater. 13, 631 (2003).

Hodak, J. H.

J. H. Hodak, A. Henglein, and G. V. Hartland, J. Chem. Phys. 112, 5942 (2000).

Hofmann, H.

G. L. Hornyak, C. J. Patrissi, C. R. Martin, J.-C Valmalette, J. Dutta, and H. Hofmann, NanoStr. Mater. 9, 575 (1997).

Hong, L.-S.

M.-S. Hu, H.-L. Chen, C.-H. Shen, L.-S. Hong, B.-R. Huang, K.-H. Chen, and L.-C. Chen, Nature Mater. 5, 102 (2006).

Hornyak, G. L.

G. L. Hornyak, C. J. Patrissi, C. R. Martin, J.-C Valmalette, J. Dutta, and H. Hofmann, NanoStr. Mater. 9, 575 (1997).

Hu, M.-S.

M.-S. Hu, H.-L. Chen, C.-H. Shen, L.-S. Hong, B.-R. Huang, K.-H. Chen, and L.-C. Chen, Nature Mater. 5, 102 (2006).

Hua, Z.-L.

J.-L. Gu, J.-L. Shi, G.-J. You, L.-M. Xiong, S.-X. Qian, Z.-L. Hua, and H.-R. Chen, Adv. Mater. 17, 557 (2005).

Huang, B.-R.

M.-S. Hu, H.-L. Chen, C.-H. Shen, L.-S. Hong, B.-R. Huang, K.-H. Chen, and L.-C. Chen, Nature Mater. 5, 102 (2006).

Ichikawa, M.

A. Fukuoka, H. Araki, Y. Sakamoto, N. Sugimoto, H. Tsukada, Y. Kumai, Y. Akimoto, and M. Ichikawa, Nano Lett. 2, 793 (2002).

Jang, E.

G. Kwun, E. Jang, G. Kwon, and H. Lee, Curr. Appl. Phys. 9, 121 (2009).

Kan, C.

G. Fu, W. Cai, C. Kan, C. Li, and L. Zhang, Appl. Phys. Lett. 83, 36 (2003).

Kang, W. P.

X. C. LeQuan, B. K. Choi, W. P. Kang, and J. L. Davidson, Diam. Relat. Mater. 19, 252 (2010).

Kendall, R. A.

H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).

Khajouee, M. B.

R. Mohammadzadegan, H. Mohabatkar, M. H. Sheikhi, A. Safavi, and M. B. Khajouee, Physica E 41, 142 (2008).

Kirsch, A.

S. Wegscheider, A. Kirsch, J. Mlynek, and G. Krausch, Thin Solid Films 264, 264 (1995).

Koledintseva, M. Y.

M. Y. Koledintseva, R. E. DuBroff, and R. W. Schwartz, Progress Electromagn. Res. 63, 223 (2006).

Komeda, T.

T. Osada, N. Zhu, Y. F. Zhang, and T. Komeda, J. Phys. Chem. C 112, 3835 (2008).

Krausch, G.

S. Wegscheider, A. Kirsch, J. Mlynek, and G. Krausch, Thin Solid Films 264, 264 (1995).

Kumai, Y.

A. Fukuoka, H. Araki, Y. Sakamoto, N. Sugimoto, H. Tsukada, Y. Kumai, Y. Akimoto, and M. Ichikawa, Nano Lett. 2, 793 (2002).

Kwon, G.

G. Kwun, E. Jang, G. Kwon, and H. Lee, Curr. Appl. Phys. 9, 121 (2009).

Kwun, G.

G. Kwun, E. Jang, G. Kwon, and H. Lee, Curr. Appl. Phys. 9, 121 (2009).

Lee, H.

G. Kwun, E. Jang, G. Kwon, and H. Lee, Curr. Appl. Phys. 9, 121 (2009).

LeQuan, X. C.

X. C. LeQuan, B. K. Choi, W. P. Kang, and J. L. Davidson, Diam. Relat. Mater. 19, 252 (2010).

Li, C.

G. Fu, W. Cai, C. Kan, C. Li, and L. Zhang, Appl. Phys. Lett. 83, 36 (2003).

Lieberman, J. E.

H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).

Lin, Y.-M.

O. R. Paul, R. Herz, Y.-M. Lin, A. I. Akinwande, S. B. Cronin, and M. S. Dresselhaus, Adv. Funct. Mater. 13, 631 (2003).

L'opez, G. P.

H. Fan, K. Yang, D. M. Boye, T. Sigmon, K. J. Malloy, H. Xu, G. P. L'opez, and C. J. Brinker, Science 304, 567 (2004).

Malloy, K. J.

H. Fan, K. Yang, D. M. Boye, T. Sigmon, K. J. Malloy, H. Xu, G. P. L'opez, and C. J. Brinker, Science 304, 567 (2004).

Man, Y.

X. Zhang, J. Wang, W. Wu, S. Qian, and Y. Man, Electrochem. Commun. 9, 2098 (2007).

Martin, C. R.

G. L. Hornyak, C. J. Patrissi, C. R. Martin, J.-C Valmalette, J. Dutta, and H. Hofmann, NanoStr. Mater. 9, 575 (1997).

Mlynek, J.

S. Wegscheider, A. Kirsch, J. Mlynek, and G. Krausch, Thin Solid Films 264, 264 (1995).

Mohabatkar, H.

R. Mohammadzadegan, H. Mohabatkar, M. H. Sheikhi, A. Safavi, and M. B. Khajouee, Physica E 41, 142 (2008).

Mohammadzadegan, R.

R. Mohammadzadegan, H. Mohabatkar, M. H. Sheikhi, A. Safavi, and M. B. Khajouee, Physica E 41, 142 (2008).

Osada, T.

T. Osada, N. Zhu, Y. F. Zhang, and T. Komeda, J. Phys. Chem. C 112, 3835 (2008).

Patrissi, C. J.

G. L. Hornyak, C. J. Patrissi, C. R. Martin, J.-C Valmalette, J. Dutta, and H. Hofmann, NanoStr. Mater. 9, 575 (1997).

Paul, O. R.

O. R. Paul, R. Herz, Y.-M. Lin, A. I. Akinwande, S. B. Cronin, and M. S. Dresselhaus, Adv. Funct. Mater. 13, 631 (2003).

Pfeiffer, H. C.

H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).

Pinckney, D. J.

H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).

Qian, S.

X. Zhang, J. Wang, W. Wu, S. Qian, and Y. Man, Electrochem. Commun. 9, 2098 (2007).

Qian, S.-X.

J.-L. Gu, J.-L. Shi, G.-J. You, L.-M. Xiong, S.-X. Qian, Z.-L. Hua, and H.-R. Chen, Adv. Mater. 17, 557 (2005).

Quickle, R. J.

H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).

Robinson, C. F.

H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).

Rockrohr, J. D.

H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).

Rohrer, H.

G. Binning, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 49, 57 (1982).

Ruppin, R.

R. Ruppin, Opt. Commun. 182, 273 (2000).

Safavi, A.

R. Mohammadzadegan, H. Mohabatkar, M. H. Sheikhi, A. Safavi, and M. B. Khajouee, Physica E 41, 142 (2008).

Sakamoto, Y.

A. Fukuoka, H. Araki, Y. Sakamoto, N. Sugimoto, H. Tsukada, Y. Kumai, Y. Akimoto, and M. Ichikawa, Nano Lett. 2, 793 (2002).

Schwartz, R. W.

M. Y. Koledintseva, R. E. DuBroff, and R. W. Schwartz, Progress Electromagn. Res. 63, 223 (2006).

Sheikhi, M. H.

R. Mohammadzadegan, H. Mohabatkar, M. H. Sheikhi, A. Safavi, and M. B. Khajouee, Physica E 41, 142 (2008).

Shen, C.-H.

M.-S. Hu, H.-L. Chen, C.-H. Shen, L.-S. Hong, B.-R. Huang, K.-H. Chen, and L.-C. Chen, Nature Mater. 5, 102 (2006).

Shi, J.-L.

J.-L. Gu, J.-L. Shi, G.-J. You, L.-M. Xiong, S.-X. Qian, Z.-L. Hua, and H.-R. Chen, Adv. Mater. 17, 557 (2005).

Sigmon, T.

H. Fan, K. Yang, D. M. Boye, T. Sigmon, K. J. Malloy, H. Xu, G. P. L'opez, and C. J. Brinker, Science 304, 567 (2004).

Song, X.

Stickel, W.

H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).

Sugimoto, N.

A. Fukuoka, H. Araki, Y. Sakamoto, N. Sugimoto, H. Tsukada, Y. Kumai, Y. Akimoto, and M. Ichikawa, Nano Lett. 2, 793 (2002).

Sun, D.

Sun, Z.

Tandon, U. S.

U. S. Tandon, Vacuum 43, 241 (1992).

Tian, X.

X. Zhang, W. Wu, J. Wang, and X. Tian, Appl. Surface Science 254, 2893 (2008).

Tressler, E. V.

H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).

Tsukada, H.

A. Fukuoka, H. Araki, Y. Sakamoto, N. Sugimoto, H. Tsukada, Y. Kumai, Y. Akimoto, and M. Ichikawa, Nano Lett. 2, 793 (2002).

Valmalette, J.-C

G. L. Hornyak, C. J. Patrissi, C. R. Martin, J.-C Valmalette, J. Dutta, and H. Hofmann, NanoStr. Mater. 9, 575 (1997).

Wang, J.

X. Zhang, W. Wu, J. Wang, and X. Tian, Appl. Surface Science 254, 2893 (2008).

X. Zhang, J. Wang, W. Wu, S. Qian, and Y. Man, Electrochem. Commun. 9, 2098 (2007).

Wegscheider, S.

S. Wegscheider, A. Kirsch, J. Mlynek, and G. Krausch, Thin Solid Films 264, 264 (1995).

Weibel, E.

G. Binning, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 49, 57 (1982).

Weiser, M.

M. Weiser, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 267, 1390 (2009).

Wu, W.

X. Zhang, W. Wu, J. Wang, and X. Tian, Appl. Surface Science 254, 2893 (2008).

X. Zhang, J. Wang, W. Wu, S. Qian, and Y. Man, Electrochem. Commun. 9, 2098 (2007).

Xiao, L.

Xiong, L.-M.

J.-L. Gu, J.-L. Shi, G.-J. You, L.-M. Xiong, S.-X. Qian, Z.-L. Hua, and H.-R. Chen, Adv. Mater. 17, 557 (2005).

Xu, H.

H. Fan, K. Yang, D. M. Boye, T. Sigmon, K. J. Malloy, H. Xu, G. P. L'opez, and C. J. Brinker, Science 304, 567 (2004).

Yang, K.

H. Fan, K. Yang, D. M. Boye, T. Sigmon, K. J. Malloy, H. Xu, G. P. L'opez, and C. J. Brinker, Science 304, 567 (2004).

You, G.-J.

J.-L. Gu, J.-L. Shi, G.-J. You, L.-M. Xiong, S.-X. Qian, Z.-L. Hua, and H.-R. Chen, Adv. Mater. 17, 557 (2005).

Zhang, L.

G. Fu, W. Cai, C. Kan, C. Li, and L. Zhang, Appl. Phys. Lett. 83, 36 (2003).

Zhang, X.

X. Zhang, W. Wu, J. Wang, and X. Tian, Appl. Surface Science 254, 2893 (2008).

X. Zhang, J. Wang, W. Wu, S. Qian, and Y. Man, Electrochem. Commun. 9, 2098 (2007).

Zhang, Y. F.

T. Osada, N. Zhu, Y. F. Zhang, and T. Komeda, J. Phys. Chem. C 112, 3835 (2008).

Zhu, N.

T. Osada, N. Zhu, Y. F. Zhang, and T. Komeda, J. Phys. Chem. C 112, 3835 (2008).

Adv. Funct. Mater. (1)

O. R. Paul, R. Herz, Y.-M. Lin, A. I. Akinwande, S. B. Cronin, and M. S. Dresselhaus, Adv. Funct. Mater. 13, 631 (2003).

Adv. Mater. (1)

J.-L. Gu, J.-L. Shi, G.-J. You, L.-M. Xiong, S.-X. Qian, Z.-L. Hua, and H.-R. Chen, Adv. Mater. 17, 557 (2005).

Appl. Phys. Lett. (1)

G. Fu, W. Cai, C. Kan, C. Li, and L. Zhang, Appl. Phys. Lett. 83, 36 (2003).

Appl. Surface Science (1)

X. Zhang, W. Wu, J. Wang, and X. Tian, Appl. Surface Science 254, 2893 (2008).

Chin. Opt. Lett. (1)

Curr. Appl. Phys. (1)

G. Kwun, E. Jang, G. Kwon, and H. Lee, Curr. Appl. Phys. 9, 121 (2009).

Diam. Relat. Mater. (1)

X. C. LeQuan, B. K. Choi, W. P. Kang, and J. L. Davidson, Diam. Relat. Mater. 19, 252 (2010).

Electrochem. Commun. (1)

X. Zhang, J. Wang, W. Wu, S. Qian, and Y. Man, Electrochem. Commun. 9, 2098 (2007).

J. Chem. Phys. (1)

J. H. Hodak, A. Henglein, and G. V. Hartland, J. Chem. Phys. 112, 5942 (2000).

J. Phys. Chem. C (1)

T. Osada, N. Zhu, Y. F. Zhang, and T. Komeda, J. Phys. Chem. C 112, 3835 (2008).

Nano Lett. (1)

A. Fukuoka, H. Araki, Y. Sakamoto, N. Sugimoto, H. Tsukada, Y. Kumai, Y. Akimoto, and M. Ichikawa, Nano Lett. 2, 793 (2002).

NanoStr. Mater. (1)

G. L. Hornyak, C. J. Patrissi, C. R. Martin, J.-C Valmalette, J. Dutta, and H. Hofmann, NanoStr. Mater. 9, 575 (1997).

Nature Mater. (1)

M.-S. Hu, H.-L. Chen, C.-H. Shen, L.-S. Hong, B.-R. Huang, K.-H. Chen, and L.-C. Chen, Nature Mater. 5, 102 (2006).

Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B (1)

M. Weiser, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 267, 1390 (2009).

Opt. Commun. (1)

R. Ruppin, Opt. Commun. 182, 273 (2000).

Phys. Rev. Lett. (1)

G. Binning, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 49, 57 (1982).

Physica E (1)

R. Mohammadzadegan, H. Mohabatkar, M. H. Sheikhi, A. Safavi, and M. B. Khajouee, Physica E 41, 142 (2008).

Proc. SPIE (1)

H. C. Pfeiffer, R. S. Dhaliwal, S. D. Golladay, S. K. Doran, M. S. Gordon, R. A. Kendall, J. E. Lieberman, D. J. Pinckney, R. J. Quickle, C. F. Robinson, J. D. Rockrohr, W. Stickel, and E. V. Tressler, Proc. SPIE 4343, 70 (2001).

Progress Electromagn. Res. (1)

M. Y. Koledintseva, R. E. DuBroff, and R. W. Schwartz, Progress Electromagn. Res. 63, 223 (2006).

Science (1)

H. Fan, K. Yang, D. M. Boye, T. Sigmon, K. J. Malloy, H. Xu, G. P. L'opez, and C. J. Brinker, Science 304, 567 (2004).

Thin Solid Films (1)

S. Wegscheider, A. Kirsch, J. Mlynek, and G. Krausch, Thin Solid Films 264, 264 (1995).

Vacuum (1)

U. S. Tandon, Vacuum 43, 241 (1992).

Other (1)

C. F. Bohren and D. R. Huffman, Absorption and Scattering of Light by Small Particles (Wiley Interscience, New York, 1983).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.