Abstract

As a component of near-field scanning optical microscope (NSOM), optical fiber probe is an important factor influncing the equipment resolution. Electroless nickel plating is introduced to metallize the optical fiber probe. The optical fibers are etched by 40% HF with Turner etching method. Through pretreatment, the optical fiber probe is coated with Ni-P film by electroless plating in a constant temperature water tank. Atomic absorption spectrometry (AAS), scanning electron microscopy (SEM), and energy dispersive X-ray spectrometry (EDXS) are carried out to characterize the deposition on fiber probe. We have reproducibly fabricated two kinds of fiber probes with a Ni-P film: aperture probe and apertureless probe. In addition, reductive particle transportation on the surface of fiber probe is proposed to explain the cause of these probes.

© 2009 Chinese Optics Letters

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. X. Liu, J. Wang, and D. Li, Chinese J. Lasers (in Chinese) 26, 793 (1999).
  2. T. Matsumoto, T. Shimano, H. Saga, H. Sukeda, and M. Kiguchi, J. Appl. Phys. 95, 3901 (2004).
  3. W. X. Sun and Z. X. Shen, J. Raman Spectrosc. 34, 668 (2003).
  4. L. Aigouy, F. X. Andréani, A. C. Boccara, J. C. Rivoal, J. A. Porto, R. Carminati, J.-J. Greffet, and R. Mégy, Appl. Phys. Lett. 76, 397 (2000).
  5. X. Hong, W. Xu, X. Li, C. Zhao, and X. Tang, Chin. Opt. Lett. 7, 74 (2009).
  6. W. Chen and Q. Zhan, Chin. Opt. Lett. 5, 709 (2007).
  7. D. R. Turner, "Etch procedure for optical fibers" US Patent 4,469,554 (April 5, 1983).
  8. E. Betzig and J. K. Trautman, Science 257, 189 (1992).
  9. S. Jiang, H. Ohsawa, K. Yamada, T. Pangaribuan, M. Ohtsu, K. Imai, and A. Ikai, Jpn. J. Appl. Phys. 31, 2282 (1992).
  10. Y. D. Suh and R. Zenobi, Adv. Mater. 12, 1139 (2000).
  11. E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).
  12. W. Deng, T. Ohgi, H. Nejo, and D. Fujita, Appl. Phys. A 72, 595 (2001).
  13. W. Deng, T. Ohgi, H. Nejo, and D. Fujita, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 3364 (2001).
  14. P. Lambelet, A. Sayah, M. Pfeffer, G. Philipona, and F. Marquis-Weible, Appl. Opt. 37, 7289 (1998).
  15. R. Stockle, C. Fokas, V. Deckert, R. Zenobi, B. Sick, B. Hecht, and U. P. Wild, Appl. Phys. Lett. 75, 160 (1999).
  16. P. Hoffmann, B. Dutoit, and R.-P. Salathé, Ultramicroscopy 61, 165 (1995).
  17. H. N. Aiyer, T. Kawazoe, J. Lim, Y. Echigo, and M. Ohtsu, Nanotechnol. 12, 368 (2001).
  18. C. Li, L. Xu, and N. Gu, Chin. Opt. Lett. 5, 594 (2007).
  19. Y. Saito, S. Mononobe, M. Ohtsu, and H. Honma, Opt. Rev. 13, 225 (2006).
  20. S. Mononobe and M. Ohtsu, Jpn. J. Appl. Phys. 46, 6258 (2007).
  21. R. U. Maheswari, S. Mononobe, and M. Ohtsu, J. Lightwave Technol. 13, 2308 (1995).
  22. S. Mononobe and M. Ohtsu, IEEE Photon. Technol. Lett. 10, 99 (1998).
  23. S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).
  24. T. Kobayashi, J. Ishibashi, S. Mononobe, M. Ohtsu, and H. Honma, J. Electrochem. Soc. 147, 1046 (2000).

2009

2007

2006

Y. Saito, S. Mononobe, M. Ohtsu, and H. Honma, Opt. Rev. 13, 225 (2006).

2004

T. Matsumoto, T. Shimano, H. Saga, H. Sukeda, and M. Kiguchi, J. Appl. Phys. 95, 3901 (2004).

2003

W. X. Sun and Z. X. Shen, J. Raman Spectrosc. 34, 668 (2003).

2001

W. Deng, T. Ohgi, H. Nejo, and D. Fujita, Appl. Phys. A 72, 595 (2001).

W. Deng, T. Ohgi, H. Nejo, and D. Fujita, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 3364 (2001).

H. N. Aiyer, T. Kawazoe, J. Lim, Y. Echigo, and M. Ohtsu, Nanotechnol. 12, 368 (2001).

2000

Y. D. Suh and R. Zenobi, Adv. Mater. 12, 1139 (2000).

L. Aigouy, F. X. Andréani, A. C. Boccara, J. C. Rivoal, J. A. Porto, R. Carminati, J.-J. Greffet, and R. Mégy, Appl. Phys. Lett. 76, 397 (2000).

T. Kobayashi, J. Ishibashi, S. Mononobe, M. Ohtsu, and H. Honma, J. Electrochem. Soc. 147, 1046 (2000).

1999

R. Stockle, C. Fokas, V. Deckert, R. Zenobi, B. Sick, B. Hecht, and U. P. Wild, Appl. Phys. Lett. 75, 160 (1999).

X. Liu, J. Wang, and D. Li, Chinese J. Lasers (in Chinese) 26, 793 (1999).

1998

S. Mononobe and M. Ohtsu, IEEE Photon. Technol. Lett. 10, 99 (1998).

S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).

P. Lambelet, A. Sayah, M. Pfeffer, G. Philipona, and F. Marquis-Weible, Appl. Opt. 37, 7289 (1998).

1995

R. U. Maheswari, S. Mononobe, and M. Ohtsu, J. Lightwave Technol. 13, 2308 (1995).

P. Hoffmann, B. Dutoit, and R.-P. Salathé, Ultramicroscopy 61, 165 (1995).

1992

E. Betzig and J. K. Trautman, Science 257, 189 (1992).

S. Jiang, H. Ohsawa, K. Yamada, T. Pangaribuan, M. Ohtsu, K. Imai, and A. Ikai, Jpn. J. Appl. Phys. 31, 2282 (1992).

1991

E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).

Aigouy, L.

L. Aigouy, F. X. Andréani, A. C. Boccara, J. C. Rivoal, J. A. Porto, R. Carminati, J.-J. Greffet, and R. Mégy, Appl. Phys. Lett. 76, 397 (2000).

Aiyer, H. N.

H. N. Aiyer, T. Kawazoe, J. Lim, Y. Echigo, and M. Ohtsu, Nanotechnol. 12, 368 (2001).

Andréani, F. X.

L. Aigouy, F. X. Andréani, A. C. Boccara, J. C. Rivoal, J. A. Porto, R. Carminati, J.-J. Greffet, and R. Mégy, Appl. Phys. Lett. 76, 397 (2000).

Betzig, E.

E. Betzig and J. K. Trautman, Science 257, 189 (1992).

E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).

Boccara, A. C.

L. Aigouy, F. X. Andréani, A. C. Boccara, J. C. Rivoal, J. A. Porto, R. Carminati, J.-J. Greffet, and R. Mégy, Appl. Phys. Lett. 76, 397 (2000).

Carminati, R.

L. Aigouy, F. X. Andréani, A. C. Boccara, J. C. Rivoal, J. A. Porto, R. Carminati, J.-J. Greffet, and R. Mégy, Appl. Phys. Lett. 76, 397 (2000).

Chen, W.

Deckert, V.

R. Stockle, C. Fokas, V. Deckert, R. Zenobi, B. Sick, B. Hecht, and U. P. Wild, Appl. Phys. Lett. 75, 160 (1999).

Deng, W.

W. Deng, T. Ohgi, H. Nejo, and D. Fujita, Appl. Phys. A 72, 595 (2001).

W. Deng, T. Ohgi, H. Nejo, and D. Fujita, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 3364 (2001).

Dutoit, B.

P. Hoffmann, B. Dutoit, and R.-P. Salathé, Ultramicroscopy 61, 165 (1995).

Echigo, Y.

H. N. Aiyer, T. Kawazoe, J. Lim, Y. Echigo, and M. Ohtsu, Nanotechnol. 12, 368 (2001).

Fokas, C.

R. Stockle, C. Fokas, V. Deckert, R. Zenobi, B. Sick, B. Hecht, and U. P. Wild, Appl. Phys. Lett. 75, 160 (1999).

Fujita, D.

W. Deng, T. Ohgi, H. Nejo, and D. Fujita, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 3364 (2001).

W. Deng, T. Ohgi, H. Nejo, and D. Fujita, Appl. Phys. A 72, 595 (2001).

Greffet, J.-J.

L. Aigouy, F. X. Andréani, A. C. Boccara, J. C. Rivoal, J. A. Porto, R. Carminati, J.-J. Greffet, and R. Mégy, Appl. Phys. Lett. 76, 397 (2000).

Gu, N.

Harris, T. D.

E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).

Hecht, B.

R. Stockle, C. Fokas, V. Deckert, R. Zenobi, B. Sick, B. Hecht, and U. P. Wild, Appl. Phys. Lett. 75, 160 (1999).

Hoffmann, P.

P. Hoffmann, B. Dutoit, and R.-P. Salathé, Ultramicroscopy 61, 165 (1995).

Hong, X.

Honma, H.

Y. Saito, S. Mononobe, M. Ohtsu, and H. Honma, Opt. Rev. 13, 225 (2006).

T. Kobayashi, J. Ishibashi, S. Mononobe, M. Ohtsu, and H. Honma, J. Electrochem. Soc. 147, 1046 (2000).

Ikai, A.

S. Jiang, H. Ohsawa, K. Yamada, T. Pangaribuan, M. Ohtsu, K. Imai, and A. Ikai, Jpn. J. Appl. Phys. 31, 2282 (1992).

Imai, K.

S. Jiang, H. Ohsawa, K. Yamada, T. Pangaribuan, M. Ohtsu, K. Imai, and A. Ikai, Jpn. J. Appl. Phys. 31, 2282 (1992).

Ishibashi, J.

T. Kobayashi, J. Ishibashi, S. Mononobe, M. Ohtsu, and H. Honma, J. Electrochem. Soc. 147, 1046 (2000).

Jiang, S.

S. Jiang, H. Ohsawa, K. Yamada, T. Pangaribuan, M. Ohtsu, K. Imai, and A. Ikai, Jpn. J. Appl. Phys. 31, 2282 (1992).

Kawazoe, T.

H. N. Aiyer, T. Kawazoe, J. Lim, Y. Echigo, and M. Ohtsu, Nanotechnol. 12, 368 (2001).

Kiguchi, M.

T. Matsumoto, T. Shimano, H. Saga, H. Sukeda, and M. Kiguchi, J. Appl. Phys. 95, 3901 (2004).

Kobayashi, T.

T. Kobayashi, J. Ishibashi, S. Mononobe, M. Ohtsu, and H. Honma, J. Electrochem. Soc. 147, 1046 (2000).

Koshihara, S.

S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).

Kostelak, R. L.

E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).

Lambelet, P.

Li, C.

Li, D.

X. Liu, J. Wang, and D. Li, Chinese J. Lasers (in Chinese) 26, 793 (1999).

Li, X.

Lim, J.

H. N. Aiyer, T. Kawazoe, J. Lim, Y. Echigo, and M. Ohtsu, Nanotechnol. 12, 368 (2001).

Liu, X.

X. Liu, J. Wang, and D. Li, Chinese J. Lasers (in Chinese) 26, 793 (1999).

Maheswari, R. U.

R. U. Maheswari, S. Mononobe, and M. Ohtsu, J. Lightwave Technol. 13, 2308 (1995).

Marquis-Weible, F.

Matsumoto, T.

T. Matsumoto, T. Shimano, H. Saga, H. Sukeda, and M. Kiguchi, J. Appl. Phys. 95, 3901 (2004).

Mégy, R.

L. Aigouy, F. X. Andréani, A. C. Boccara, J. C. Rivoal, J. A. Porto, R. Carminati, J.-J. Greffet, and R. Mégy, Appl. Phys. Lett. 76, 397 (2000).

Mononobe, S.

S. Mononobe and M. Ohtsu, Jpn. J. Appl. Phys. 46, 6258 (2007).

Y. Saito, S. Mononobe, M. Ohtsu, and H. Honma, Opt. Rev. 13, 225 (2006).

T. Kobayashi, J. Ishibashi, S. Mononobe, M. Ohtsu, and H. Honma, J. Electrochem. Soc. 147, 1046 (2000).

S. Mononobe and M. Ohtsu, IEEE Photon. Technol. Lett. 10, 99 (1998).

S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).

R. U. Maheswari, S. Mononobe, and M. Ohtsu, J. Lightwave Technol. 13, 2308 (1995).

Nejo, H.

W. Deng, T. Ohgi, H. Nejo, and D. Fujita, Appl. Phys. A 72, 595 (2001).

W. Deng, T. Ohgi, H. Nejo, and D. Fujita, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 3364 (2001).

Ohgi, T.

W. Deng, T. Ohgi, H. Nejo, and D. Fujita, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 3364 (2001).

W. Deng, T. Ohgi, H. Nejo, and D. Fujita, Appl. Phys. A 72, 595 (2001).

Ohsawa, H.

S. Jiang, H. Ohsawa, K. Yamada, T. Pangaribuan, M. Ohtsu, K. Imai, and A. Ikai, Jpn. J. Appl. Phys. 31, 2282 (1992).

Ohtsu, M.

S. Mononobe and M. Ohtsu, Jpn. J. Appl. Phys. 46, 6258 (2007).

Y. Saito, S. Mononobe, M. Ohtsu, and H. Honma, Opt. Rev. 13, 225 (2006).

H. N. Aiyer, T. Kawazoe, J. Lim, Y. Echigo, and M. Ohtsu, Nanotechnol. 12, 368 (2001).

T. Kobayashi, J. Ishibashi, S. Mononobe, M. Ohtsu, and H. Honma, J. Electrochem. Soc. 147, 1046 (2000).

S. Mononobe and M. Ohtsu, IEEE Photon. Technol. Lett. 10, 99 (1998).

S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).

R. U. Maheswari, S. Mononobe, and M. Ohtsu, J. Lightwave Technol. 13, 2308 (1995).

S. Jiang, H. Ohsawa, K. Yamada, T. Pangaribuan, M. Ohtsu, K. Imai, and A. Ikai, Jpn. J. Appl. Phys. 31, 2282 (1992).

Pangaribuan, T.

S. Jiang, H. Ohsawa, K. Yamada, T. Pangaribuan, M. Ohtsu, K. Imai, and A. Ikai, Jpn. J. Appl. Phys. 31, 2282 (1992).

Pfeffer, M.

Philipona, G.

Porto, J. A.

L. Aigouy, F. X. Andréani, A. C. Boccara, J. C. Rivoal, J. A. Porto, R. Carminati, J.-J. Greffet, and R. Mégy, Appl. Phys. Lett. 76, 397 (2000).

Rivoal, J. C.

L. Aigouy, F. X. Andréani, A. C. Boccara, J. C. Rivoal, J. A. Porto, R. Carminati, J.-J. Greffet, and R. Mégy, Appl. Phys. Lett. 76, 397 (2000).

Saga, H.

T. Matsumoto, T. Shimano, H. Saga, H. Sukeda, and M. Kiguchi, J. Appl. Phys. 95, 3901 (2004).

Saiki, T.

S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).

Saito, Y.

Y. Saito, S. Mononobe, M. Ohtsu, and H. Honma, Opt. Rev. 13, 225 (2006).

Salathé, R.-P.

P. Hoffmann, B. Dutoit, and R.-P. Salathé, Ultramicroscopy 61, 165 (1995).

Sayah, A.

Shen, Z. X.

W. X. Sun and Z. X. Shen, J. Raman Spectrosc. 34, 668 (2003).

Shimano, T.

T. Matsumoto, T. Shimano, H. Saga, H. Sukeda, and M. Kiguchi, J. Appl. Phys. 95, 3901 (2004).

Sick, B.

R. Stockle, C. Fokas, V. Deckert, R. Zenobi, B. Sick, B. Hecht, and U. P. Wild, Appl. Phys. Lett. 75, 160 (1999).

Stockle, R.

R. Stockle, C. Fokas, V. Deckert, R. Zenobi, B. Sick, B. Hecht, and U. P. Wild, Appl. Phys. Lett. 75, 160 (1999).

Suh, Y. D.

Y. D. Suh and R. Zenobi, Adv. Mater. 12, 1139 (2000).

Sukeda, H.

T. Matsumoto, T. Shimano, H. Saga, H. Sukeda, and M. Kiguchi, J. Appl. Phys. 95, 3901 (2004).

Sun, W. X.

W. X. Sun and Z. X. Shen, J. Raman Spectrosc. 34, 668 (2003).

Suzuki, T.

S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).

Tang, X.

Trautman, J. K.

E. Betzig and J. K. Trautman, Science 257, 189 (1992).

E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).

Wang, J.

X. Liu, J. Wang, and D. Li, Chinese J. Lasers (in Chinese) 26, 793 (1999).

Weiner, J. S.

E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).

Wild, U. P.

R. Stockle, C. Fokas, V. Deckert, R. Zenobi, B. Sick, B. Hecht, and U. P. Wild, Appl. Phys. Lett. 75, 160 (1999).

Xu, L.

Xu, W.

Yamada, K.

S. Jiang, H. Ohsawa, K. Yamada, T. Pangaribuan, M. Ohtsu, K. Imai, and A. Ikai, Jpn. J. Appl. Phys. 31, 2282 (1992).

Zenobi, R.

Y. D. Suh and R. Zenobi, Adv. Mater. 12, 1139 (2000).

R. Stockle, C. Fokas, V. Deckert, R. Zenobi, B. Sick, B. Hecht, and U. P. Wild, Appl. Phys. Lett. 75, 160 (1999).

Zhan, Q.

Zhao, C.

Adv. Mater.

Y. D. Suh and R. Zenobi, Adv. Mater. 12, 1139 (2000).

Appl. Opt.

Appl. Phys. A

W. Deng, T. Ohgi, H. Nejo, and D. Fujita, Appl. Phys. A 72, 595 (2001).

Appl. Phys. Lett.

L. Aigouy, F. X. Andréani, A. C. Boccara, J. C. Rivoal, J. A. Porto, R. Carminati, J.-J. Greffet, and R. Mégy, Appl. Phys. Lett. 76, 397 (2000).

R. Stockle, C. Fokas, V. Deckert, R. Zenobi, B. Sick, B. Hecht, and U. P. Wild, Appl. Phys. Lett. 75, 160 (1999).

Chin. Opt. Lett.

Chinese J. Lasers (in Chinese)

X. Liu, J. Wang, and D. Li, Chinese J. Lasers (in Chinese) 26, 793 (1999).

IEEE Photon. Technol. Lett.

S. Mononobe and M. Ohtsu, IEEE Photon. Technol. Lett. 10, 99 (1998).

J. Appl. Phys.

T. Matsumoto, T. Shimano, H. Saga, H. Sukeda, and M. Kiguchi, J. Appl. Phys. 95, 3901 (2004).

J. Electrochem. Soc.

T. Kobayashi, J. Ishibashi, S. Mononobe, M. Ohtsu, and H. Honma, J. Electrochem. Soc. 147, 1046 (2000).

J. Lightwave Technol.

R. U. Maheswari, S. Mononobe, and M. Ohtsu, J. Lightwave Technol. 13, 2308 (1995).

J. Raman Spectrosc.

W. X. Sun and Z. X. Shen, J. Raman Spectrosc. 34, 668 (2003).

Jpn. J. Appl. Phys.

W. Deng, T. Ohgi, H. Nejo, and D. Fujita, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 3364 (2001).

S. Jiang, H. Ohsawa, K. Yamada, T. Pangaribuan, M. Ohtsu, K. Imai, and A. Ikai, Jpn. J. Appl. Phys. 31, 2282 (1992).

S. Mononobe and M. Ohtsu, Jpn. J. Appl. Phys. 46, 6258 (2007).

Nanotechnol.

H. N. Aiyer, T. Kawazoe, J. Lim, Y. Echigo, and M. Ohtsu, Nanotechnol. 12, 368 (2001).

Opt. Commun.

S. Mononobe, T. Saiki, T. Suzuki, S. Koshihara, and M. Ohtsu, Opt. Commun. 146, 45 (1998).

Opt. Rev.

Y. Saito, S. Mononobe, M. Ohtsu, and H. Honma, Opt. Rev. 13, 225 (2006).

Science

E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).

E. Betzig and J. K. Trautman, Science 257, 189 (1992).

Ultramicroscopy

P. Hoffmann, B. Dutoit, and R.-P. Salathé, Ultramicroscopy 61, 165 (1995).

Other

D. R. Turner, "Etch procedure for optical fibers" US Patent 4,469,554 (April 5, 1983).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.