Abstract

Conventional HfO<sub>2</sub>/SiO<sub>2</sub> and Al2O<sub>3</sub>/HfO<sub>2</sub>/SiO<sub>2</sub> double stack high reflective (HR) coatings at 532 nm are deposited by electron beam evaporation onto BK7 substrates. The laser-induced damage threshold (LIDT) of two kinds of HR coatings is tested, showing that the laser damage resistance of the double stack HR coatings (16 J/cm<sup>2</sup>) is better than that of the conventional HR coatings (12.8 J/cm<sup>2</sup>). Besides, the optical properties, surface conditions, and damage morphologies of each group samples are characterized. The results show that laser damage resistance of conventional HR coatings is determined by absorptive defect, while nodular defect is responsible for the LIDT of double stack HR coatings.

© 2014 Chinese Optics Letters

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).
  2. W. Rudolph, L. A. Emmert, C. Rodriguez, Z. Sun, X. Zhang, and Y. Xu, Proc. SPIE 8786, 878602 (2013).
  3. D. Ristau and H. Ehlers, Chin. Opt. Lett. 8, 140 (2010).
  4. H. F. Jiao, X. B. Cheng, Z. X. Shen, B. Ma, J. L. Zhang, T. Ding, P. F. He, and Z. S. Wang, Proc. SPIE 7842, 784205 (2010).
  5. S. Papernov, Chin. Opt. Lett. 11, 10703 (2013).
  6. Z. Yu, H. He, X. Li, H. Qi, and W. Liu, Chin. Opt. Lett. 11, 073101 (2013).
  7. T. Izawa, N. Yamamura, R. Uchimura, S. Kimura, and T. Yakuoh, Proc. SPIE 1848, 322 (1992).
  8. H. Yu, L. Q. Wu, C. F. Liu, J. D. Shao, and Z. X. Fan, Opt. Laser Tech. 44, 810 (2012).
  9. H. J. Qi, M. P. Zhu, M. Fang, S. Y. Shao, C. Y. Wei, K. Yi, and J. D. Shao, High Power Laser Sci. Eng. 1, 36 (2013).
  10. J. K. Yao, Z. X. Fan, H. B. He, and J. D. Shao, Optik 120, 509 (2009).
  11. C. Xu, J. Yao, J. Ma, Y. Jin, and J. Shao, Chin. Opt. Lett. 5, 727 (2007).
  12. L. Yan, C. Y. Wei, D. W. Li, K. Yi, and Z. X. Fan, Opt. Commun. 285, 2889 (2012).
  13. M. P. Zhu, K. Yi, D. W. Li, H. J. Qi , Y. A. Zhao, J. Liu, X. F. Liu, G. H. Hu, and J. D. Shao, Proc. SPIE 8885, 888508 (2013).
  14. International Organization of Standardization, "Lasers and laser-related equipment-Determination of laser-induced damage threshold of optical surfaces-Part 1: 1-on-1 test", ISO 11254-1 (2000).
  15. J. Y. Natoli, L. Gallais, H. Akhouayri, and C. Amra, Appl. Opt. 41, 3156 (2002).

2013

W. Rudolph, L. A. Emmert, C. Rodriguez, Z. Sun, X. Zhang, and Y. Xu, Proc. SPIE 8786, 878602 (2013).

S. Papernov, Chin. Opt. Lett. 11, 10703 (2013).

H. J. Qi, M. P. Zhu, M. Fang, S. Y. Shao, C. Y. Wei, K. Yi, and J. D. Shao, High Power Laser Sci. Eng. 1, 36 (2013).

M. P. Zhu, K. Yi, D. W. Li, H. J. Qi , Y. A. Zhao, J. Liu, X. F. Liu, G. H. Hu, and J. D. Shao, Proc. SPIE 8885, 888508 (2013).

Z. Yu, H. He, X. Li, H. Qi, and W. Liu, Chin. Opt. Lett. 11, 073101 (2013).

2012

L. Yan, C. Y. Wei, D. W. Li, K. Yi, and Z. X. Fan, Opt. Commun. 285, 2889 (2012).

H. Yu, L. Q. Wu, C. F. Liu, J. D. Shao, and Z. X. Fan, Opt. Laser Tech. 44, 810 (2012).

2010

D. Ristau and H. Ehlers, Chin. Opt. Lett. 8, 140 (2010).

H. F. Jiao, X. B. Cheng, Z. X. Shen, B. Ma, J. L. Zhang, T. Ding, P. F. He, and Z. S. Wang, Proc. SPIE 7842, 784205 (2010).

2009

J. K. Yao, Z. X. Fan, H. B. He, and J. D. Shao, Optik 120, 509 (2009).

2007

2006

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

2002

1992

T. Izawa, N. Yamamura, R. Uchimura, S. Kimura, and T. Yakuoh, Proc. SPIE 1848, 322 (1992).

Akhouayri, H.

Amra, C.

Cheng, X. B.

H. F. Jiao, X. B. Cheng, Z. X. Shen, B. Ma, J. L. Zhang, T. Ding, P. F. He, and Z. S. Wang, Proc. SPIE 7842, 784205 (2010).

Ding, T.

H. F. Jiao, X. B. Cheng, Z. X. Shen, B. Ma, J. L. Zhang, T. Ding, P. F. He, and Z. S. Wang, Proc. SPIE 7842, 784205 (2010).

Ehlers, H.

D. Ristau and H. Ehlers, Chin. Opt. Lett. 8, 140 (2010).

Emmert, L. A.

W. Rudolph, L. A. Emmert, C. Rodriguez, Z. Sun, X. Zhang, and Y. Xu, Proc. SPIE 8786, 878602 (2013).

Fan, Z. X.

L. Yan, C. Y. Wei, D. W. Li, K. Yi, and Z. X. Fan, Opt. Commun. 285, 2889 (2012).

H. Yu, L. Q. Wu, C. F. Liu, J. D. Shao, and Z. X. Fan, Opt. Laser Tech. 44, 810 (2012).

J. K. Yao, Z. X. Fan, H. B. He, and J. D. Shao, Optik 120, 509 (2009).

Fang, M.

H. J. Qi, M. P. Zhu, M. Fang, S. Y. Shao, C. Y. Wei, K. Yi, and J. D. Shao, High Power Laser Sci. Eng. 1, 36 (2013).

Gallais, L.

He, H.

He, H. B.

J. K. Yao, Z. X. Fan, H. B. He, and J. D. Shao, Optik 120, 509 (2009).

He, P. F.

H. F. Jiao, X. B. Cheng, Z. X. Shen, B. Ma, J. L. Zhang, T. Ding, P. F. He, and Z. S. Wang, Proc. SPIE 7842, 784205 (2010).

Hu, G. H.

M. P. Zhu, K. Yi, D. W. Li, H. J. Qi , Y. A. Zhao, J. Liu, X. F. Liu, G. H. Hu, and J. D. Shao, Proc. SPIE 8885, 888508 (2013).

Izawa, T.

T. Izawa, N. Yamamura, R. Uchimura, S. Kimura, and T. Yakuoh, Proc. SPIE 1848, 322 (1992).

Jiang, Y. H.

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

Jiao, H. F.

H. F. Jiao, X. B. Cheng, Z. X. Shen, B. Ma, J. L. Zhang, T. Ding, P. F. He, and Z. S. Wang, Proc. SPIE 7842, 784205 (2010).

Jin, Y.

Kimura, S.

T. Izawa, N. Yamamura, R. Uchimura, S. Kimura, and T. Yakuoh, Proc. SPIE 1848, 322 (1992).

Leng, Y. X.

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

Li, D. W.

M. P. Zhu, K. Yi, D. W. Li, H. J. Qi , Y. A. Zhao, J. Liu, X. F. Liu, G. H. Hu, and J. D. Shao, Proc. SPIE 8885, 888508 (2013).

L. Yan, C. Y. Wei, D. W. Li, K. Yi, and Z. X. Fan, Opt. Commun. 285, 2889 (2012).

Li, R. X.

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

Li, X.

Liang, X. Y.

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

Lin, L. H.

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

Lin, Z. Q.

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

Liu, C. F.

H. Yu, L. Q. Wu, C. F. Liu, J. D. Shao, and Z. X. Fan, Opt. Laser Tech. 44, 810 (2012).

Liu, J.

M. P. Zhu, K. Yi, D. W. Li, H. J. Qi , Y. A. Zhao, J. Liu, X. F. Liu, G. H. Hu, and J. D. Shao, Proc. SPIE 8885, 888508 (2013).

Liu, W.

Liu, X. F.

M. P. Zhu, K. Yi, D. W. Li, H. J. Qi , Y. A. Zhao, J. Liu, X. F. Liu, G. H. Hu, and J. D. Shao, Proc. SPIE 8885, 888508 (2013).

Lu, H. H.

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

Ma, B.

H. F. Jiao, X. B. Cheng, Z. X. Shen, B. Ma, J. L. Zhang, T. Ding, P. F. He, and Z. S. Wang, Proc. SPIE 7842, 784205 (2010).

Ma, J.

Natoli, J. Y.

Papernov, S.

S. Papernov, Chin. Opt. Lett. 11, 10703 (2013).

Peng, H. L.

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

Qi, H.

Qi, H. J.

M. P. Zhu, K. Yi, D. W. Li, H. J. Qi , Y. A. Zhao, J. Liu, X. F. Liu, G. H. Hu, and J. D. Shao, Proc. SPIE 8885, 888508 (2013).

H. J. Qi, M. P. Zhu, M. Fang, S. Y. Shao, C. Y. Wei, K. Yi, and J. D. Shao, High Power Laser Sci. Eng. 1, 36 (2013).

Ristau, D.

D. Ristau and H. Ehlers, Chin. Opt. Lett. 8, 140 (2010).

Rodriguez, C.

W. Rudolph, L. A. Emmert, C. Rodriguez, Z. Sun, X. Zhang, and Y. Xu, Proc. SPIE 8786, 878602 (2013).

Rudolph, W.

W. Rudolph, L. A. Emmert, C. Rodriguez, Z. Sun, X. Zhang, and Y. Xu, Proc. SPIE 8786, 878602 (2013).

Shao, J.

Shao, J. D.

H. J. Qi, M. P. Zhu, M. Fang, S. Y. Shao, C. Y. Wei, K. Yi, and J. D. Shao, High Power Laser Sci. Eng. 1, 36 (2013).

M. P. Zhu, K. Yi, D. W. Li, H. J. Qi , Y. A. Zhao, J. Liu, X. F. Liu, G. H. Hu, and J. D. Shao, Proc. SPIE 8885, 888508 (2013).

H. Yu, L. Q. Wu, C. F. Liu, J. D. Shao, and Z. X. Fan, Opt. Laser Tech. 44, 810 (2012).

J. K. Yao, Z. X. Fan, H. B. He, and J. D. Shao, Optik 120, 509 (2009).

Shao, S. Y.

H. J. Qi, M. P. Zhu, M. Fang, S. Y. Shao, C. Y. Wei, K. Yi, and J. D. Shao, High Power Laser Sci. Eng. 1, 36 (2013).

Shen, Z. X.

H. F. Jiao, X. B. Cheng, Z. X. Shen, B. Ma, J. L. Zhang, T. Ding, P. F. He, and Z. S. Wang, Proc. SPIE 7842, 784205 (2010).

Shuai, B.

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

Sun, Z.

W. Rudolph, L. A. Emmert, C. Rodriguez, Z. Sun, X. Zhang, and Y. Xu, Proc. SPIE 8786, 878602 (2013).

Uchimura, R.

T. Izawa, N. Yamamura, R. Uchimura, S. Kimura, and T. Yakuoh, Proc. SPIE 1848, 322 (1992).

Wang, C.

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

Wang, W. Y.

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

Wang, Z. S.

H. F. Jiao, X. B. Cheng, Z. X. Shen, B. Ma, J. L. Zhang, T. Ding, P. F. He, and Z. S. Wang, Proc. SPIE 7842, 784205 (2010).

Wei, C. Y.

H. J. Qi, M. P. Zhu, M. Fang, S. Y. Shao, C. Y. Wei, K. Yi, and J. D. Shao, High Power Laser Sci. Eng. 1, 36 (2013).

L. Yan, C. Y. Wei, D. W. Li, K. Yi, and Z. X. Fan, Opt. Commun. 285, 2889 (2012).

Wu, L. Q.

H. Yu, L. Q. Wu, C. F. Liu, J. D. Shao, and Z. X. Fan, Opt. Laser Tech. 44, 810 (2012).

Xu, C.

Xu, Y.

W. Rudolph, L. A. Emmert, C. Rodriguez, Z. Sun, X. Zhang, and Y. Xu, Proc. SPIE 8786, 878602 (2013).

Yakuoh, T.

T. Izawa, N. Yamamura, R. Uchimura, S. Kimura, and T. Yakuoh, Proc. SPIE 1848, 322 (1992).

Yamamura, N.

T. Izawa, N. Yamamura, R. Uchimura, S. Kimura, and T. Yakuoh, Proc. SPIE 1848, 322 (1992).

Yan, L.

L. Yan, C. Y. Wei, D. W. Li, K. Yi, and Z. X. Fan, Opt. Commun. 285, 2889 (2012).

Yao, J.

Yao, J. K.

J. K. Yao, Z. X. Fan, H. B. He, and J. D. Shao, Optik 120, 509 (2009).

Yi, K.

H. J. Qi, M. P. Zhu, M. Fang, S. Y. Shao, C. Y. Wei, K. Yi, and J. D. Shao, High Power Laser Sci. Eng. 1, 36 (2013).

M. P. Zhu, K. Yi, D. W. Li, H. J. Qi , Y. A. Zhao, J. Liu, X. F. Liu, G. H. Hu, and J. D. Shao, Proc. SPIE 8885, 888508 (2013).

L. Yan, C. Y. Wei, D. W. Li, K. Yi, and Z. X. Fan, Opt. Commun. 285, 2889 (2012).

Yu, H.

H. Yu, L. Q. Wu, C. F. Liu, J. D. Shao, and Z. X. Fan, Opt. Laser Tech. 44, 810 (2012).

Yu, Z.

Zhang, J. L.

H. F. Jiao, X. B. Cheng, Z. X. Shen, B. Ma, J. L. Zhang, T. Ding, P. F. He, and Z. S. Wang, Proc. SPIE 7842, 784205 (2010).

Zhang, W. Q.

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

Zhang, X.

W. Rudolph, L. A. Emmert, C. Rodriguez, Z. Sun, X. Zhang, and Y. Xu, Proc. SPIE 8786, 878602 (2013).

Zhao, B. Z.

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

Zhao, Y. A.

M. P. Zhu, K. Yi, D. W. Li, H. J. Qi , Y. A. Zhao, J. Liu, X. F. Liu, G. H. Hu, and J. D. Shao, Proc. SPIE 8885, 888508 (2013).

Zhu, M. P.

M. P. Zhu, K. Yi, D. W. Li, H. J. Qi , Y. A. Zhao, J. Liu, X. F. Liu, G. H. Hu, and J. D. Shao, Proc. SPIE 8885, 888508 (2013).

H. J. Qi, M. P. Zhu, M. Fang, S. Y. Shao, C. Y. Wei, K. Yi, and J. D. Shao, High Power Laser Sci. Eng. 1, 36 (2013).

Appl. Opt.

Chin. Opt. Lett.

C. Xu, J. Yao, J. Ma, Y. Jin, and J. Shao, Chin. Opt. Lett. 5, 727 (2007).

Z. Yu, H. He, X. Li, H. Qi, and W. Liu, Chin. Opt. Lett. 11, 073101 (2013).

D. Ristau and H. Ehlers, Chin. Opt. Lett. 8, 140 (2010).

S. Papernov, Chin. Opt. Lett. 11, 10703 (2013).

High Power Laser Sci. Eng.

H. J. Qi, M. P. Zhu, M. Fang, S. Y. Shao, C. Y. Wei, K. Yi, and J. D. Shao, High Power Laser Sci. Eng. 1, 36 (2013).

Opt. Commun.

L. Yan, C. Y. Wei, D. W. Li, K. Yi, and Z. X. Fan, Opt. Commun. 285, 2889 (2012).

Opt. Laser Eng.

X. Y. Liang, Y. X. Leng, L. H. Lin, L. H. Lin, H. H. Lu, W. Y. Wang, Y. H. Jiang, B. Shuai, H. L. Peng, B. Z. Zhao, C. Wang, W. Q. Zhang, R. X. Li, and Z. Q. Lin, Opt. Laser Eng. 44, 130 (2006).

Opt. Laser Tech.

H. Yu, L. Q. Wu, C. F. Liu, J. D. Shao, and Z. X. Fan, Opt. Laser Tech. 44, 810 (2012).

Optik

J. K. Yao, Z. X. Fan, H. B. He, and J. D. Shao, Optik 120, 509 (2009).

Proc. SPIE

T. Izawa, N. Yamamura, R. Uchimura, S. Kimura, and T. Yakuoh, Proc. SPIE 1848, 322 (1992).

W. Rudolph, L. A. Emmert, C. Rodriguez, Z. Sun, X. Zhang, and Y. Xu, Proc. SPIE 8786, 878602 (2013).

H. F. Jiao, X. B. Cheng, Z. X. Shen, B. Ma, J. L. Zhang, T. Ding, P. F. He, and Z. S. Wang, Proc. SPIE 7842, 784205 (2010).

M. P. Zhu, K. Yi, D. W. Li, H. J. Qi , Y. A. Zhao, J. Liu, X. F. Liu, G. H. Hu, and J. D. Shao, Proc. SPIE 8885, 888508 (2013).

Other

International Organization of Standardization, "Lasers and laser-related equipment-Determination of laser-induced damage threshold of optical surfaces-Part 1: 1-on-1 test", ISO 11254-1 (2000).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.