Abstract

A compact static infrared broadband snapshot imaging spectrometer (IBSIS) is presented. It consists of a telescope, three prisms, a focusing lens, and a detector. The first prism disperses sharply in the near-infrared (NIR) range along the vertical direction, and it is relatively non-dispersive in the mid-wave infrared (MWIR) range. The second prism is substantially more dispersive in the MWIR range than in the NIR range along the horizontal direction. The beam deviation caused by the first and second prisms can be controlled by the third prism. The IBSIS yields a two-dimensional dispersion pattern (TDP). The formulas and numerical simulation of the TDP are presented. The methods of target location calculation and spectral signature extraction are described. The IBSIS can locate multiple targets using only one frame of data, which allows for real-time detection and measurement of the energetic targets.

© 2014 Chinese Optics Letters

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. A. F. H. Goetz, G. Vane, J. E. Solomon, and B. N. Rock, Science 228, 1147 (1985).
  2. H. R. Morris, C. C. Hoyt, and P. J. Treado, Appl. Spectrosc. 48, 857 (1994).
  3. M. V. R. K. Murty, J. Opt. Soc. Am. 50, 7 (1960).
  4. J. Connes and P. Connes, J. Opt. Soc. Am. 56, 896 (1966).
  5. G. Guelachvili, Appl. Opt. 16, 2097 (1977).
  6. L. Genzel and J. Kuhl, Appl. Opt. 17, 3304 (1978).
  7. W. H. Steel, Interferometry (Cambridge University Press, 1983).
  8. J. Kauppinen and V. M. Horneman, Appl. Opt. 30, 2575 (1991)
  9. J. K. Kauppinen, I. K. Salomaa, and J. O. Partanen, Appl. Opt. 34, 6081 (1995).
  10. G. Durry and G. Guelachvili, Appl. Opt. 34, 1971 (1995).
  11. C. M. Snively, S. Katzenberger, G. Oskarsdottir, and J. Lauterbach, Opt. Lett. 24, 1841 (1999).
  12. J. Kauppinen, J. Heinonen, and I. Kauppinen, Appl. Spectrosc. Rev. 39, 99 (2004).
  13. R. K. Y. Chan, P. K. Lim, X. Wang, and M. H. Chan, Opt. Lett. 31, 903 (2006).
  14. P. R. Griffiths and J. A. de Haseth, Fourier Transform Infrared Spectrometry (Wiley-Interscience, 2007).
  15. Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, Appl. Opt. 47, 2186 (2008).
  16. Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, Appl. Opt. 47, 2486 (2008).
  17. Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, J. Opt. A Pure Appl. Opt. 11, 015505 (2009).
  18. Q. Yang, B. Zhao, and R. Zhou, J. Mod. Opt. 56, 1283 (2009).
  19. T. A. Al-Saeed and D. A. Khalil, Appl. Opt. 48, 3979 (2009).
  20. D. Sanchez-de-la-Llave, S. Chavez-Cerda, M. Anguiano-Morales, D. Ramirez-Martinez, M. M. Mendez-Otero, and M. D. Iturbe-Castillo, Opt. Eng. 48, 085601 (2009).
  21. Q. Yang, Appl. Opt. 49, 4088 (2010).
  22. D. F. Murphy and D. A. Flavin, Meas. Sci. Technol. 21, 094031 (2010).
  23. V. Jovanov, E. Bunte, H. Stiebig, and D. Knipp, Opt. Lett. 36, 274 (2011).
  24. C. Meneses-Fabian and U. Rivera-Ortega, Opt. Lett. 36, 2417 (2011).
  25. C. Meneses-Fabian and U. Rivera-Ortega, Opt. Laser Eng. 50, 905 (2012).
  26. C. Zhang and Y. Li, Appl. Opt. 51, 6508 (2012).
  27. Q. Yang, B. Zhao, and D. Wen, Opt. Laser Technol. 44, 1256 (2012).
  28. G. Xia, B. Qu, P. Liu, and F. Yu, Chin. Opt. Lett. 10, 081201 (2012).
  29. J. Chen, Y. Zhu, B. Liu, W. Wei, N. Wang, and J. Zhang, Chin. Opt. Lett. 11, 053003 (2013).
  30. Y. Wang, Q. Wang, D. Li, H. Deng, and C. Luo, Chin. Opt. Lett. 11, 061101 (2013).
  31. B. Yu, W. Jia, C. Zhou, H. Cao, and W. Sun, Chin. Opt. Lett. 11, 080501 (2013).
  32. T. Wang, L. Xie, H. Huang, X. Li, R. Wang, G. Yang, Y. Du, and G. Huang, Chin. Opt. Lett. 11, 111102 (2013).
  33. R. Liu, Y. Qi, X. Zheng, M. Xia, and L. Xuan, Photon. Res. 1, 124 (2013).
  34. Q. Yang, B. Zhao, and X. Zeng, Chin. Opt. Lett. 11, 021202 (2013).
  35. M. R. Descour, C. E. Volin, E. L. Dereniak, K. J. Thome, A. B. Schumacher, D.W. Wilson, and P. D.Maker, Opt. Lett. 22, 1271 (1997).
  36. J. M. Mooney, Proc. SPIE 2480, 65 (1995).
  37. J. M. Mooney, V. E. Vickers, M. An, and A. K. Brodzik, J. Opt. Soc. Am. A. 14, 2951 (1997).
  38. J. E. Murguia, T. D. Reeves, J. M. Mooney, W. S. Ewing, F. D. Shepherd, and A. K. Brodzik, Proc. SPIE 4028, 457 (2000).
  39. M. M. Weeks, J. E. Murguia, J. M. Mooney, R. J. Nelson, and W. S. Ewing, Proc. SPIE 5580, 487 (2005).
  40. F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, D. S. Franco, J. E. Murguia, C. Wong, P. Dumont, F. Khaghani, G. Diaz, M. M. Weeks, and D. Leahy, Proc. SPIE 6660, 66600J (2007).
  41. F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, P. Dumont, M. M. Weeks, and S. DiSalvo, Proc. SPIE 7055, 705506 (2008)
  42. R. J. Nelson, J. M. Mooney, and W. S. Ewing, Proc. SPIE 6233, 62330M (2006).
  43. Q. Yang, X. Zeng, and B. Zhao, Chin. Opt. Lett. 11, 061202 (2013).
  44. Q. Yang, Opt. Eng. 52, 053003 (2013).

2013

2012

C. Meneses-Fabian and U. Rivera-Ortega, Opt. Laser Eng. 50, 905 (2012).

C. Zhang and Y. Li, Appl. Opt. 51, 6508 (2012).

Q. Yang, B. Zhao, and D. Wen, Opt. Laser Technol. 44, 1256 (2012).

G. Xia, B. Qu, P. Liu, and F. Yu, Chin. Opt. Lett. 10, 081201 (2012).

2011

2010

Q. Yang, Appl. Opt. 49, 4088 (2010).

D. F. Murphy and D. A. Flavin, Meas. Sci. Technol. 21, 094031 (2010).

2009

Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, J. Opt. A Pure Appl. Opt. 11, 015505 (2009).

Q. Yang, B. Zhao, and R. Zhou, J. Mod. Opt. 56, 1283 (2009).

T. A. Al-Saeed and D. A. Khalil, Appl. Opt. 48, 3979 (2009).

D. Sanchez-de-la-Llave, S. Chavez-Cerda, M. Anguiano-Morales, D. Ramirez-Martinez, M. M. Mendez-Otero, and M. D. Iturbe-Castillo, Opt. Eng. 48, 085601 (2009).

2008

Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, Appl. Opt. 47, 2186 (2008).

Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, Appl. Opt. 47, 2486 (2008).

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, P. Dumont, M. M. Weeks, and S. DiSalvo, Proc. SPIE 7055, 705506 (2008)

2007

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, D. S. Franco, J. E. Murguia, C. Wong, P. Dumont, F. Khaghani, G. Diaz, M. M. Weeks, and D. Leahy, Proc. SPIE 6660, 66600J (2007).

2006

R. J. Nelson, J. M. Mooney, and W. S. Ewing, Proc. SPIE 6233, 62330M (2006).

R. K. Y. Chan, P. K. Lim, X. Wang, and M. H. Chan, Opt. Lett. 31, 903 (2006).

2005

M. M. Weeks, J. E. Murguia, J. M. Mooney, R. J. Nelson, and W. S. Ewing, Proc. SPIE 5580, 487 (2005).

2004

J. Kauppinen, J. Heinonen, and I. Kauppinen, Appl. Spectrosc. Rev. 39, 99 (2004).

2000

J. E. Murguia, T. D. Reeves, J. M. Mooney, W. S. Ewing, F. D. Shepherd, and A. K. Brodzik, Proc. SPIE 4028, 457 (2000).

1999

1997

M. R. Descour, C. E. Volin, E. L. Dereniak, K. J. Thome, A. B. Schumacher, D.W. Wilson, and P. D.Maker, Opt. Lett. 22, 1271 (1997).

J. M. Mooney, V. E. Vickers, M. An, and A. K. Brodzik, J. Opt. Soc. Am. A. 14, 2951 (1997).

1995

1994

1991

1985

A. F. H. Goetz, G. Vane, J. E. Solomon, and B. N. Rock, Science 228, 1147 (1985).

1978

1977

1966

1960

Al-Saeed, T. A.

An, M.

J. M. Mooney, V. E. Vickers, M. An, and A. K. Brodzik, J. Opt. Soc. Am. A. 14, 2951 (1997).

Anguiano-Morales, M.

D. Sanchez-de-la-Llave, S. Chavez-Cerda, M. Anguiano-Morales, D. Ramirez-Martinez, M. M. Mendez-Otero, and M. D. Iturbe-Castillo, Opt. Eng. 48, 085601 (2009).

Brodzik, A. K.

J. E. Murguia, T. D. Reeves, J. M. Mooney, W. S. Ewing, F. D. Shepherd, and A. K. Brodzik, Proc. SPIE 4028, 457 (2000).

J. M. Mooney, V. E. Vickers, M. An, and A. K. Brodzik, J. Opt. Soc. Am. A. 14, 2951 (1997).

Bunte, E.

Cao, H.

Chan, M. H.

Chan, R. K. Y.

Chavez-Cerda, S.

D. Sanchez-de-la-Llave, S. Chavez-Cerda, M. Anguiano-Morales, D. Ramirez-Martinez, M. M. Mendez-Otero, and M. D. Iturbe-Castillo, Opt. Eng. 48, 085601 (2009).

Chen, J.

Connes, J.

Connes, P.

D.Maker, P.

Deng, H.

Dereniak, E. L.

Descour, M. R.

Diaz, G.

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, D. S. Franco, J. E. Murguia, C. Wong, P. Dumont, F. Khaghani, G. Diaz, M. M. Weeks, and D. Leahy, Proc. SPIE 6660, 66600J (2007).

DiSalvo, S.

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, P. Dumont, M. M. Weeks, and S. DiSalvo, Proc. SPIE 7055, 705506 (2008)

Du, Y.

Dumont, P.

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, P. Dumont, M. M. Weeks, and S. DiSalvo, Proc. SPIE 7055, 705506 (2008)

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, D. S. Franco, J. E. Murguia, C. Wong, P. Dumont, F. Khaghani, G. Diaz, M. M. Weeks, and D. Leahy, Proc. SPIE 6660, 66600J (2007).

Durry, G.

Ewing, W. S.

R. J. Nelson, J. M. Mooney, and W. S. Ewing, Proc. SPIE 6233, 62330M (2006).

M. M. Weeks, J. E. Murguia, J. M. Mooney, R. J. Nelson, and W. S. Ewing, Proc. SPIE 5580, 487 (2005).

J. E. Murguia, T. D. Reeves, J. M. Mooney, W. S. Ewing, F. D. Shepherd, and A. K. Brodzik, Proc. SPIE 4028, 457 (2000).

Flavin, D. A.

D. F. Murphy and D. A. Flavin, Meas. Sci. Technol. 21, 094031 (2010).

Franco, D. S.

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, D. S. Franco, J. E. Murguia, C. Wong, P. Dumont, F. Khaghani, G. Diaz, M. M. Weeks, and D. Leahy, Proc. SPIE 6660, 66600J (2007).

Genzel, L.

Goetz, A. F. H.

A. F. H. Goetz, G. Vane, J. E. Solomon, and B. N. Rock, Science 228, 1147 (1985).

Guelachvili, G.

Heinonen, J.

J. Kauppinen, J. Heinonen, and I. Kauppinen, Appl. Spectrosc. Rev. 39, 99 (2004).

Horneman, V. M.

Hoyt, C. C.

Huang, G.

Huang, H.

Iturbe-Castillo, M. D.

D. Sanchez-de-la-Llave, S. Chavez-Cerda, M. Anguiano-Morales, D. Ramirez-Martinez, M. M. Mendez-Otero, and M. D. Iturbe-Castillo, Opt. Eng. 48, 085601 (2009).

Jia, W.

Jovanov, V.

Katzenberger, S.

Kauppinen, I.

J. Kauppinen, J. Heinonen, and I. Kauppinen, Appl. Spectrosc. Rev. 39, 99 (2004).

Kauppinen, J.

J. Kauppinen, J. Heinonen, and I. Kauppinen, Appl. Spectrosc. Rev. 39, 99 (2004).

J. Kauppinen and V. M. Horneman, Appl. Opt. 30, 2575 (1991)

Kauppinen, J. K.

Khaghani, F.

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, D. S. Franco, J. E. Murguia, C. Wong, P. Dumont, F. Khaghani, G. Diaz, M. M. Weeks, and D. Leahy, Proc. SPIE 6660, 66600J (2007).

Khalil, D. A.

Knipp, D.

Kuhl, J.

Lauterbach, J.

Leahy, D.

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, D. S. Franco, J. E. Murguia, C. Wong, P. Dumont, F. Khaghani, G. Diaz, M. M. Weeks, and D. Leahy, Proc. SPIE 6660, 66600J (2007).

Li, D.

Li, X.

Li, Y.

Lim, P. K.

Liu, B.

Liu, P.

Liu, R.

Luo, C.

Mendez-Otero, M. M.

D. Sanchez-de-la-Llave, S. Chavez-Cerda, M. Anguiano-Morales, D. Ramirez-Martinez, M. M. Mendez-Otero, and M. D. Iturbe-Castillo, Opt. Eng. 48, 085601 (2009).

Meneses-Fabian, C.

C. Meneses-Fabian and U. Rivera-Ortega, Opt. Laser Eng. 50, 905 (2012).

C. Meneses-Fabian and U. Rivera-Ortega, Opt. Lett. 36, 2417 (2011).

Mooney, J. M.

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, P. Dumont, M. M. Weeks, and S. DiSalvo, Proc. SPIE 7055, 705506 (2008)

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, D. S. Franco, J. E. Murguia, C. Wong, P. Dumont, F. Khaghani, G. Diaz, M. M. Weeks, and D. Leahy, Proc. SPIE 6660, 66600J (2007).

R. J. Nelson, J. M. Mooney, and W. S. Ewing, Proc. SPIE 6233, 62330M (2006).

M. M. Weeks, J. E. Murguia, J. M. Mooney, R. J. Nelson, and W. S. Ewing, Proc. SPIE 5580, 487 (2005).

J. E. Murguia, T. D. Reeves, J. M. Mooney, W. S. Ewing, F. D. Shepherd, and A. K. Brodzik, Proc. SPIE 4028, 457 (2000).

J. M. Mooney, V. E. Vickers, M. An, and A. K. Brodzik, J. Opt. Soc. Am. A. 14, 2951 (1997).

J. M. Mooney, Proc. SPIE 2480, 65 (1995).

Morris, H. R.

Murguia, J. E.

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, D. S. Franco, J. E. Murguia, C. Wong, P. Dumont, F. Khaghani, G. Diaz, M. M. Weeks, and D. Leahy, Proc. SPIE 6660, 66600J (2007).

M. M. Weeks, J. E. Murguia, J. M. Mooney, R. J. Nelson, and W. S. Ewing, Proc. SPIE 5580, 487 (2005).

J. E. Murguia, T. D. Reeves, J. M. Mooney, W. S. Ewing, F. D. Shepherd, and A. K. Brodzik, Proc. SPIE 4028, 457 (2000).

Murphy, D. F.

D. F. Murphy and D. A. Flavin, Meas. Sci. Technol. 21, 094031 (2010).

Murty, M. V. R. K.

Nelson, R. J.

R. J. Nelson, J. M. Mooney, and W. S. Ewing, Proc. SPIE 6233, 62330M (2006).

M. M. Weeks, J. E. Murguia, J. M. Mooney, R. J. Nelson, and W. S. Ewing, Proc. SPIE 5580, 487 (2005).

Oskarsdottir, G.

Partanen, J. O.

Qi, Y.

Qu, B.

Ramirez-Martinez, D.

D. Sanchez-de-la-Llave, S. Chavez-Cerda, M. Anguiano-Morales, D. Ramirez-Martinez, M. M. Mendez-Otero, and M. D. Iturbe-Castillo, Opt. Eng. 48, 085601 (2009).

Reeves, T. D.

J. E. Murguia, T. D. Reeves, J. M. Mooney, W. S. Ewing, F. D. Shepherd, and A. K. Brodzik, Proc. SPIE 4028, 457 (2000).

Reeves, T. E.

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, P. Dumont, M. M. Weeks, and S. DiSalvo, Proc. SPIE 7055, 705506 (2008)

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, D. S. Franco, J. E. Murguia, C. Wong, P. Dumont, F. Khaghani, G. Diaz, M. M. Weeks, and D. Leahy, Proc. SPIE 6660, 66600J (2007).

Rivera-Ortega, U.

C. Meneses-Fabian and U. Rivera-Ortega, Opt. Laser Eng. 50, 905 (2012).

C. Meneses-Fabian and U. Rivera-Ortega, Opt. Lett. 36, 2417 (2011).

Rock, B. N.

A. F. H. Goetz, G. Vane, J. E. Solomon, and B. N. Rock, Science 228, 1147 (1985).

Salomaa, I. K.

Sanchez-de-la-Llave, D.

D. Sanchez-de-la-Llave, S. Chavez-Cerda, M. Anguiano-Morales, D. Ramirez-Martinez, M. M. Mendez-Otero, and M. D. Iturbe-Castillo, Opt. Eng. 48, 085601 (2009).

Schumacher, A. B.

Shepherd, F. D.

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, P. Dumont, M. M. Weeks, and S. DiSalvo, Proc. SPIE 7055, 705506 (2008)

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, D. S. Franco, J. E. Murguia, C. Wong, P. Dumont, F. Khaghani, G. Diaz, M. M. Weeks, and D. Leahy, Proc. SPIE 6660, 66600J (2007).

J. E. Murguia, T. D. Reeves, J. M. Mooney, W. S. Ewing, F. D. Shepherd, and A. K. Brodzik, Proc. SPIE 4028, 457 (2000).

Snively, C. M.

Solomon, J. E.

A. F. H. Goetz, G. Vane, J. E. Solomon, and B. N. Rock, Science 228, 1147 (1985).

Stiebig, H.

Sun, W.

Thome, K. J.

Treado, P. J.

Vane, G.

A. F. H. Goetz, G. Vane, J. E. Solomon, and B. N. Rock, Science 228, 1147 (1985).

Vickers, V. E.

J. M. Mooney, V. E. Vickers, M. An, and A. K. Brodzik, J. Opt. Soc. Am. A. 14, 2951 (1997).

Volin, C. E.

Wang, N.

Wang, Q.

Wang, R.

Wang, T.

Wang, X.

Wang, Y.

Weeks, M. M.

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, P. Dumont, M. M. Weeks, and S. DiSalvo, Proc. SPIE 7055, 705506 (2008)

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, D. S. Franco, J. E. Murguia, C. Wong, P. Dumont, F. Khaghani, G. Diaz, M. M. Weeks, and D. Leahy, Proc. SPIE 6660, 66600J (2007).

M. M. Weeks, J. E. Murguia, J. M. Mooney, R. J. Nelson, and W. S. Ewing, Proc. SPIE 5580, 487 (2005).

Wei, W.

Wen, D.

Q. Yang, B. Zhao, and D. Wen, Opt. Laser Technol. 44, 1256 (2012).

Wilson, D.W.

Wong, C.

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, D. S. Franco, J. E. Murguia, C. Wong, P. Dumont, F. Khaghani, G. Diaz, M. M. Weeks, and D. Leahy, Proc. SPIE 6660, 66600J (2007).

Xia, G.

Xia, M.

Xie, L.

Xuan, L.

Yang, G.

Yang, Q.

Q. Yang, B. Zhao, and X. Zeng, Chin. Opt. Lett. 11, 021202 (2013).

Q. Yang, X. Zeng, and B. Zhao, Chin. Opt. Lett. 11, 061202 (2013).

Q. Yang, Opt. Eng. 52, 053003 (2013).

Q. Yang, B. Zhao, and D. Wen, Opt. Laser Technol. 44, 1256 (2012).

Q. Yang, Appl. Opt. 49, 4088 (2010).

Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, J. Opt. A Pure Appl. Opt. 11, 015505 (2009).

Q. Yang, B. Zhao, and R. Zhou, J. Mod. Opt. 56, 1283 (2009).

Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, Appl. Opt. 47, 2486 (2008).

Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, Appl. Opt. 47, 2186 (2008).

Yu, B.

Yu, F.

Zeng, X.

Zhang, C.

Zhang, J.

Zhao, B.

Q. Yang, B. Zhao, and X. Zeng, Chin. Opt. Lett. 11, 021202 (2013).

Q. Yang, X. Zeng, and B. Zhao, Chin. Opt. Lett. 11, 061202 (2013).

Q. Yang, B. Zhao, and D. Wen, Opt. Laser Technol. 44, 1256 (2012).

Q. Yang, B. Zhao, and R. Zhou, J. Mod. Opt. 56, 1283 (2009).

Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, J. Opt. A Pure Appl. Opt. 11, 015505 (2009).

Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, Appl. Opt. 47, 2186 (2008).

Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, Appl. Opt. 47, 2486 (2008).

Zheng, X.

Zhou, C.

Zhou, R.

Q. Yang, B. Zhao, and R. Zhou, J. Mod. Opt. 56, 1283 (2009).

Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, J. Opt. A Pure Appl. Opt. 11, 015505 (2009).

Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, Appl. Opt. 47, 2186 (2008).

Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, Appl. Opt. 47, 2486 (2008).

Zhu, Y.

Appl. Opt.

Appl. Spectrosc.

Appl. Spectrosc. Rev.

J. Kauppinen, J. Heinonen, and I. Kauppinen, Appl. Spectrosc. Rev. 39, 99 (2004).

Chin. Opt. Lett.

J. Mod. Opt.

Q. Yang, B. Zhao, and R. Zhou, J. Mod. Opt. 56, 1283 (2009).

J. Opt. A Pure Appl. Opt.

Q. Yang, R. Zhou, and B. Zhao, J. Opt. A Pure Appl. Opt. 11, 015505 (2009).

J. Opt. Soc. Am.

J. Opt. Soc. Am. A.

J. M. Mooney, V. E. Vickers, M. An, and A. K. Brodzik, J. Opt. Soc. Am. A. 14, 2951 (1997).

Meas. Sci. Technol.

D. F. Murphy and D. A. Flavin, Meas. Sci. Technol. 21, 094031 (2010).

Opt. Eng.

D. Sanchez-de-la-Llave, S. Chavez-Cerda, M. Anguiano-Morales, D. Ramirez-Martinez, M. M. Mendez-Otero, and M. D. Iturbe-Castillo, Opt. Eng. 48, 085601 (2009).

Q. Yang, Opt. Eng. 52, 053003 (2013).

Opt. Laser Eng.

C. Meneses-Fabian and U. Rivera-Ortega, Opt. Laser Eng. 50, 905 (2012).

Opt. Laser Technol.

Q. Yang, B. Zhao, and D. Wen, Opt. Laser Technol. 44, 1256 (2012).

Opt. Lett.

Photon. Res.

Proc. SPIE

J. M. Mooney, Proc. SPIE 2480, 65 (1995).

J. E. Murguia, T. D. Reeves, J. M. Mooney, W. S. Ewing, F. D. Shepherd, and A. K. Brodzik, Proc. SPIE 4028, 457 (2000).

M. M. Weeks, J. E. Murguia, J. M. Mooney, R. J. Nelson, and W. S. Ewing, Proc. SPIE 5580, 487 (2005).

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, D. S. Franco, J. E. Murguia, C. Wong, P. Dumont, F. Khaghani, G. Diaz, M. M. Weeks, and D. Leahy, Proc. SPIE 6660, 66600J (2007).

F. D. Shepherd, J. M. Mooney, T. E. Reeves, P. Dumont, M. M. Weeks, and S. DiSalvo, Proc. SPIE 7055, 705506 (2008)

R. J. Nelson, J. M. Mooney, and W. S. Ewing, Proc. SPIE 6233, 62330M (2006).

Science

A. F. H. Goetz, G. Vane, J. E. Solomon, and B. N. Rock, Science 228, 1147 (1985).

Other

P. R. Griffiths and J. A. de Haseth, Fourier Transform Infrared Spectrometry (Wiley-Interscience, 2007).

W. H. Steel, Interferometry (Cambridge University Press, 1983).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.