Abstract

A new sub-aperture overlapping area fusion algorithm based on wavelet transformation is proposed to retain high-frequency components as much as the measurements in the sub-aperture overlapping areas. The principles of sub-aperture stitching are briefly introduced, and the fusion algorithm based on wavelet transformation is demonstrated. The results of the experiment indicate that the new algorithm improves the retention of high-frequency measurement components.

© 2013 Chinese Optics Letters

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. J. M. Hill, Appl. Opt. 49, D115 (2010).
  2. C. Guan and Z. Wang, Appl. Opt. 31, 205 (1992).
  3. C. J. Kim, Appl. Opt. 21, 4521 (1982).
  4. M. Otsubo, K. Okada, and J. Tsujiuchi, Opt. Eng. 33, 608 (1994).
  5. M. Sj¨odahl and B. F. Oreb, Opt. Eng. 41, 403 (2002).
  6. U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).
  7. Q. Miao, C. Shi, P. Xu, M. Yang, and Y. Shi, Chin. Opt. Lett. 9, 041001 (2011).
  8. Y. Yuan, J. Zhang, B. Chang, H. Xu, and Y. Han, Chin. Opt. Lett. 9, 011101 (2011).
  9. S. Gao, W. Jin, and L. Wang, Chin. Opt. Lett. 10, 081101 (2012).
  10. H. Wang, Z. Jing, and J. Li, Chin. Opt. Lett. 1, 523 (2003).
  11. Z. Li, Z. Jing, and S. Sun, Chin. Opt. Lett. 2, 578 (2004).
  12. G. Qu, D. Zhang, and P. Yan, Opt. Express 9, 184 (2001).
  13. R. Aguilar-Ponce, J. L. Tecpanecatl-Xihuitl, A. Kumar, and M. Bayoumi, IEEE International Symposium on Circuits and Systems 2658 (2007).
  14. G. Pajares and J. M.l de la Cruz, Pattern Recognition 37, 1855 (2004).

2012 (1)

2011 (2)

2010 (1)

2004 (3)

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

G. Pajares and J. M.l de la Cruz, Pattern Recognition 37, 1855 (2004).

Z. Li, Z. Jing, and S. Sun, Chin. Opt. Lett. 2, 578 (2004).

2003 (1)

2002 (1)

M. Sj¨odahl and B. F. Oreb, Opt. Eng. 41, 403 (2002).

2001 (1)

1994 (1)

M. Otsubo, K. Okada, and J. Tsujiuchi, Opt. Eng. 33, 608 (1994).

1992 (1)

1982 (1)

Burkart, S.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Bustaus, C.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Chang, B.

Cruz, J. M.l de la

G. Pajares and J. M.l de la Cruz, Pattern Recognition 37, 1855 (2004).

Dinger, U.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Eisert, F.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Fellner, B.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Gao, S.

Guan, C.

Han, Y.

Hill, J. M.

Hocky, O.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Hoefer, H.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Jin, W.

Jing, Z.

Kim, C. J.

Kuerz, P.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Li, J.

Li, Z.

Mayer, M.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Miao, Q.

Muenster, C.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Okada, K.

M. Otsubo, K. Okada, and J. Tsujiuchi, Opt. Eng. 33, 608 (1994).

Oreb, B. F.

M. Sj¨odahl and B. F. Oreb, Opt. Eng. 41, 403 (2002).

Otsubo, M.

M. Otsubo, K. Okada, and J. Tsujiuchi, Opt. Eng. 33, 608 (1994).

Pajares, G.

G. Pajares and J. M.l de la Cruz, Pattern Recognition 37, 1855 (2004).

Qu, G.

Riedelsheimer, K.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Rupp, M.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Schulte, S.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Seitz, G.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Shi, C.

Shi, Y.

Sj¨odahl, M.

M. Sj¨odahl and B. F. Oreb, Opt. Eng. 41, 403 (2002).

Stacklies, S.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Sun, S.

Tsujiuchi, J.

M. Otsubo, K. Okada, and J. Tsujiuchi, Opt. Eng. 33, 608 (1994).

Wang, H.

Wang, L.

Wang, Z.

Xu, H.

Xu, P.

Yan, P.

Yang, M.

Yuan, Y.

Zhang, D.

Zhang, J.

Appl. Opt. (3)

Chin. Opt. Lett. (5)

Opt. Eng. (2)

M. Otsubo, K. Okada, and J. Tsujiuchi, Opt. Eng. 33, 608 (1994).

M. Sj¨odahl and B. F. Oreb, Opt. Eng. 41, 403 (2002).

Opt. Express (1)

Pattern Recognition (1)

G. Pajares and J. M.l de la Cruz, Pattern Recognition 37, 1855 (2004).

Proc. SPIE (1)

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Other (1)

R. Aguilar-Ponce, J. L. Tecpanecatl-Xihuitl, A. Kumar, and M. Bayoumi, IEEE International Symposium on Circuits and Systems 2658 (2007).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.