Abstract

A new sub-aperture overlapping area fusion algorithm based on wavelet transformation is proposed to retain high-frequency components as much as the measurements in the sub-aperture overlapping areas. The principles of sub-aperture stitching are briefly introduced, and the fusion algorithm based on wavelet transformation is demonstrated. The results of the experiment indicate that the new algorithm improves the retention of high-frequency measurement components.

© 2013 Chinese Optics Letters

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. J. M. Hill, Appl. Opt. 49, D115 (2010).
  2. C. Guan and Z. Wang, Appl. Opt. 31, 205 (1992).
  3. C. J. Kim, Appl. Opt. 21, 4521 (1982).
  4. M. Otsubo, K. Okada, and J. Tsujiuchi, Opt. Eng. 33, 608 (1994).
  5. M. Sj¨odahl and B. F. Oreb, Opt. Eng. 41, 403 (2002).
  6. U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).
  7. Q. Miao, C. Shi, P. Xu, M. Yang, and Y. Shi, Chin. Opt. Lett. 9, 041001 (2011).
  8. Y. Yuan, J. Zhang, B. Chang, H. Xu, and Y. Han, Chin. Opt. Lett. 9, 011101 (2011).
  9. S. Gao, W. Jin, and L. Wang, Chin. Opt. Lett. 10, 081101 (2012).
  10. H. Wang, Z. Jing, and J. Li, Chin. Opt. Lett. 1, 523 (2003).
  11. Z. Li, Z. Jing, and S. Sun, Chin. Opt. Lett. 2, 578 (2004).
  12. G. Qu, D. Zhang, and P. Yan, Opt. Express 9, 184 (2001).
  13. R. Aguilar-Ponce, J. L. Tecpanecatl-Xihuitl, A. Kumar, and M. Bayoumi, IEEE International Symposium on Circuits and Systems 2658 (2007).
  14. G. Pajares and J. M.l de la Cruz, Pattern Recognition 37, 1855 (2004).

2012

2011

2010

2004

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

G. Pajares and J. M.l de la Cruz, Pattern Recognition 37, 1855 (2004).

Z. Li, Z. Jing, and S. Sun, Chin. Opt. Lett. 2, 578 (2004).

2003

2002

M. Sj¨odahl and B. F. Oreb, Opt. Eng. 41, 403 (2002).

2001

1994

M. Otsubo, K. Okada, and J. Tsujiuchi, Opt. Eng. 33, 608 (1994).

1992

1982

Burkart, S.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Bustaus, C.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Chang, B.

Cruz, J. M.l de la

G. Pajares and J. M.l de la Cruz, Pattern Recognition 37, 1855 (2004).

Dinger, U.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Eisert, F.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Fellner, B.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Gao, S.

Guan, C.

Han, Y.

Hill, J. M.

Hocky, O.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Hoefer, H.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Jin, W.

Jing, Z.

Kim, C. J.

Kuerz, P.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Li, J.

Li, Z.

Mayer, M.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Miao, Q.

Muenster, C.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Okada, K.

M. Otsubo, K. Okada, and J. Tsujiuchi, Opt. Eng. 33, 608 (1994).

Oreb, B. F.

M. Sj¨odahl and B. F. Oreb, Opt. Eng. 41, 403 (2002).

Otsubo, M.

M. Otsubo, K. Okada, and J. Tsujiuchi, Opt. Eng. 33, 608 (1994).

Pajares, G.

G. Pajares and J. M.l de la Cruz, Pattern Recognition 37, 1855 (2004).

Qu, G.

Riedelsheimer, K.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Rupp, M.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Schulte, S.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Seitz, G.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Shi, C.

Shi, Y.

Sj¨odahl, M.

M. Sj¨odahl and B. F. Oreb, Opt. Eng. 41, 403 (2002).

Stacklies, S.

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Sun, S.

Tsujiuchi, J.

M. Otsubo, K. Okada, and J. Tsujiuchi, Opt. Eng. 33, 608 (1994).

Wang, H.

Wang, L.

Wang, Z.

Xu, H.

Xu, P.

Yan, P.

Yang, M.

Yuan, Y.

Zhang, D.

Zhang, J.

Appl. Opt.

Chin. Opt. Lett.

Opt. Eng.

M. Otsubo, K. Okada, and J. Tsujiuchi, Opt. Eng. 33, 608 (1994).

M. Sj¨odahl and B. F. Oreb, Opt. Eng. 41, 403 (2002).

Opt. Express

Pattern Recognition

G. Pajares and J. M.l de la Cruz, Pattern Recognition 37, 1855 (2004).

Proc. SPIE

U. Dinger, G. Seitz, S. Schulte, F. Eisert, C. Muenster, S. Burkart, S. Stacklies, C. Bustaus, H. Hoefer, M. Mayer, B. Fellner, O. Hocky, M. Rupp, K. Riedelsheimer, and P. Kuerz, Proc. SPIE 5193, 18 (2004).

Other

R. Aguilar-Ponce, J. L. Tecpanecatl-Xihuitl, A. Kumar, and M. Bayoumi, IEEE International Symposium on Circuits and Systems 2658 (2007).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.