Abstract

We investigate InAs/GaAs quantum dot (QD) lasers grown by gas source molecular beam epitaxy with different growth temperatures for InAs dot layers. The same laser structures are grown, but the growth temperatures of InAs dot layers are set as 425 and 500 °C, respectively. Ridge waveguide laser diodes are fabricated, and the characteristics of the QD lasers are systematically studied. The laser diodes with QDs grown at 425 °C show better performance, such as threshold current density, output power, internal quantum efficiency, and characteristic temperature, than those with QDs grown at 500 °C. This finding is ascribed to the higher QD density and more uniform size distribution of QDs achieved at 425 °C.

© 2013 Chinese Optics Letters

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. V. I. Klimov, A. A. Mikhailovsky, S. Xu, A. Malko, J. A. Hollingsworth, C. A. Leatherdale, H. J. Eisler, and M. G. Bawendi, Science 290, 314 (2000).
  2. D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).
  3. S. Li, Q. Gong, X. Wang, L. Yue, O. Liu, and H. Wang, Chin. Opt. Lett. 10, 041406 (2012).
  4. M. Dezhkam and A. Zakery, Chin. Opt. Lett. 10, 121901 (2012).
  5. N. Kirstaedter, O. Schmidt, N. Ledentsov, D. Bimberg, V. M. Ustinov, A. Y. Egorov, A. E. Zhukov, M. V. Maximov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Appl. Phys. Lett. 69, 1226 (1996).
  6. D. L. Huffaker, G. Park, Z. Zou, O. B. Shchekin, and D. G. Deppe, Appl. Phys. Lett. 73, 2564 (1998).
  7. P. Bhattacharya, Z. Mi, J. Yang, D. Basu, and D. Saha, J. Cryst. Growth 311, 1625 (2009).
  8. S. G. Li, Q. Gong, Y. F. Lao, K. He, J. Li, Y. G. Zhang, S. L. Feng, and H. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 111109 (2008).
  9. Z. Mi, P. Bhattacharya, and S. Fathpour, Appl. Phys. Lett. 86, 153109 (2005).
  10. J. Yang, P. Bhattacharya, Z. Mi, G. Qin, and Z. Ma, Chin. Opt. Lett. 6, 727 (2008).
  11. Q. Han, Z. Niu, H. Ni, S. Zhang, X. Yang, Y. Du, C. Tong, H. Zhao, Y. Xu, H. Peng, and R. Wu, Chin. Opt. Lett. 4, 413 (2006).
  12. K. Nishi, M. Yamada, T. Anan, A. Gomyo, and S. Sugou, Appl. Phys. Lett. 73, 526 (1998).
  13. P. Caroff, C. Paranthoen, C. Platz, O. Dehaese, H. Folliot, N. Bertru, C. Labbe, R. Piron, E. Homeyer, A. Le Corre, and S. Loualiche, Appl. Phys. Lett. 87, 243107 (2005).
  14. P. B. Joyce, T. J. Krzyzewski, G. R. Bell, B. A. Joyce, and T. S. Jones, Phys. Rev. B 58, 15981 (1998).
  15. S. G. Li, Q. Gong, C. F. Cao, X. Z. Wang, L. Yue, Q. B. Liu, H. L. Wang, and Y. Wang, Infrared. Phys. Technol. 55, 205 (2012).
  16. I. L. Chen, W. C. Hsu, H. C. Kuo, H. C. Yu, C. P. Sung, C. M. Lu, C. H. Chiou, J. M. Wang, Y. H. Chang, T. D. Lee, and J. S. Wang, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 7485 (2005).

2012 (3)

S. Li, Q. Gong, X. Wang, L. Yue, O. Liu, and H. Wang, Chin. Opt. Lett. 10, 041406 (2012).

M. Dezhkam and A. Zakery, Chin. Opt. Lett. 10, 121901 (2012).

S. G. Li, Q. Gong, C. F. Cao, X. Z. Wang, L. Yue, Q. B. Liu, H. L. Wang, and Y. Wang, Infrared. Phys. Technol. 55, 205 (2012).

2009 (1)

P. Bhattacharya, Z. Mi, J. Yang, D. Basu, and D. Saha, J. Cryst. Growth 311, 1625 (2009).

2008 (2)

S. G. Li, Q. Gong, Y. F. Lao, K. He, J. Li, Y. G. Zhang, S. L. Feng, and H. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 111109 (2008).

J. Yang, P. Bhattacharya, Z. Mi, G. Qin, and Z. Ma, Chin. Opt. Lett. 6, 727 (2008).

2006 (1)

2005 (3)

Z. Mi, P. Bhattacharya, and S. Fathpour, Appl. Phys. Lett. 86, 153109 (2005).

I. L. Chen, W. C. Hsu, H. C. Kuo, H. C. Yu, C. P. Sung, C. M. Lu, C. H. Chiou, J. M. Wang, Y. H. Chang, T. D. Lee, and J. S. Wang, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 7485 (2005).

P. Caroff, C. Paranthoen, C. Platz, O. Dehaese, H. Folliot, N. Bertru, C. Labbe, R. Piron, E. Homeyer, A. Le Corre, and S. Loualiche, Appl. Phys. Lett. 87, 243107 (2005).

2000 (2)

V. I. Klimov, A. A. Mikhailovsky, S. Xu, A. Malko, J. A. Hollingsworth, C. A. Leatherdale, H. J. Eisler, and M. G. Bawendi, Science 290, 314 (2000).

D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).

1998 (3)

K. Nishi, M. Yamada, T. Anan, A. Gomyo, and S. Sugou, Appl. Phys. Lett. 73, 526 (1998).

P. B. Joyce, T. J. Krzyzewski, G. R. Bell, B. A. Joyce, and T. S. Jones, Phys. Rev. B 58, 15981 (1998).

D. L. Huffaker, G. Park, Z. Zou, O. B. Shchekin, and D. G. Deppe, Appl. Phys. Lett. 73, 2564 (1998).

1996 (1)

N. Kirstaedter, O. Schmidt, N. Ledentsov, D. Bimberg, V. M. Ustinov, A. Y. Egorov, A. E. Zhukov, M. V. Maximov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Appl. Phys. Lett. 69, 1226 (1996).

Alferov, Z. I.

D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).

N. Kirstaedter, O. Schmidt, N. Ledentsov, D. Bimberg, V. M. Ustinov, A. Y. Egorov, A. E. Zhukov, M. V. Maximov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Appl. Phys. Lett. 69, 1226 (1996).

Anan, T.

K. Nishi, M. Yamada, T. Anan, A. Gomyo, and S. Sugou, Appl. Phys. Lett. 73, 526 (1998).

Basu, D.

P. Bhattacharya, Z. Mi, J. Yang, D. Basu, and D. Saha, J. Cryst. Growth 311, 1625 (2009).

Bawendi, M. G.

V. I. Klimov, A. A. Mikhailovsky, S. Xu, A. Malko, J. A. Hollingsworth, C. A. Leatherdale, H. J. Eisler, and M. G. Bawendi, Science 290, 314 (2000).

Bell, G. R.

P. B. Joyce, T. J. Krzyzewski, G. R. Bell, B. A. Joyce, and T. S. Jones, Phys. Rev. B 58, 15981 (1998).

Bertru, N.

P. Caroff, C. Paranthoen, C. Platz, O. Dehaese, H. Folliot, N. Bertru, C. Labbe, R. Piron, E. Homeyer, A. Le Corre, and S. Loualiche, Appl. Phys. Lett. 87, 243107 (2005).

Bhattacharya, P.

P. Bhattacharya, Z. Mi, J. Yang, D. Basu, and D. Saha, J. Cryst. Growth 311, 1625 (2009).

J. Yang, P. Bhattacharya, Z. Mi, G. Qin, and Z. Ma, Chin. Opt. Lett. 6, 727 (2008).

Z. Mi, P. Bhattacharya, and S. Fathpour, Appl. Phys. Lett. 86, 153109 (2005).

Bimberg, D.

D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).

N. Kirstaedter, O. Schmidt, N. Ledentsov, D. Bimberg, V. M. Ustinov, A. Y. Egorov, A. E. Zhukov, M. V. Maximov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Appl. Phys. Lett. 69, 1226 (1996).

Cao, C. F.

S. G. Li, Q. Gong, C. F. Cao, X. Z. Wang, L. Yue, Q. B. Liu, H. L. Wang, and Y. Wang, Infrared. Phys. Technol. 55, 205 (2012).

Caroff, P.

P. Caroff, C. Paranthoen, C. Platz, O. Dehaese, H. Folliot, N. Bertru, C. Labbe, R. Piron, E. Homeyer, A. Le Corre, and S. Loualiche, Appl. Phys. Lett. 87, 243107 (2005).

Chang, Y. H.

I. L. Chen, W. C. Hsu, H. C. Kuo, H. C. Yu, C. P. Sung, C. M. Lu, C. H. Chiou, J. M. Wang, Y. H. Chang, T. D. Lee, and J. S. Wang, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 7485 (2005).

Chen, I. L.

I. L. Chen, W. C. Hsu, H. C. Kuo, H. C. Yu, C. P. Sung, C. M. Lu, C. H. Chiou, J. M. Wang, Y. H. Chang, T. D. Lee, and J. S. Wang, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 7485 (2005).

Chiou, C. H.

I. L. Chen, W. C. Hsu, H. C. Kuo, H. C. Yu, C. P. Sung, C. M. Lu, C. H. Chiou, J. M. Wang, Y. H. Chang, T. D. Lee, and J. S. Wang, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 7485 (2005).

Corre, A. Le

P. Caroff, C. Paranthoen, C. Platz, O. Dehaese, H. Folliot, N. Bertru, C. Labbe, R. Piron, E. Homeyer, A. Le Corre, and S. Loualiche, Appl. Phys. Lett. 87, 243107 (2005).

Dehaese, O.

P. Caroff, C. Paranthoen, C. Platz, O. Dehaese, H. Folliot, N. Bertru, C. Labbe, R. Piron, E. Homeyer, A. Le Corre, and S. Loualiche, Appl. Phys. Lett. 87, 243107 (2005).

Deppe, D. G.

D. L. Huffaker, G. Park, Z. Zou, O. B. Shchekin, and D. G. Deppe, Appl. Phys. Lett. 73, 2564 (1998).

Dezhkam, M.

Du, Y.

Egorov, A. Y.

N. Kirstaedter, O. Schmidt, N. Ledentsov, D. Bimberg, V. M. Ustinov, A. Y. Egorov, A. E. Zhukov, M. V. Maximov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Appl. Phys. Lett. 69, 1226 (1996).

Eisler, H. J.

V. I. Klimov, A. A. Mikhailovsky, S. Xu, A. Malko, J. A. Hollingsworth, C. A. Leatherdale, H. J. Eisler, and M. G. Bawendi, Science 290, 314 (2000).

Fathpour, S.

Z. Mi, P. Bhattacharya, and S. Fathpour, Appl. Phys. Lett. 86, 153109 (2005).

Feng, S. L.

S. G. Li, Q. Gong, Y. F. Lao, K. He, J. Li, Y. G. Zhang, S. L. Feng, and H. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 111109 (2008).

Folliot, H.

P. Caroff, C. Paranthoen, C. Platz, O. Dehaese, H. Folliot, N. Bertru, C. Labbe, R. Piron, E. Homeyer, A. Le Corre, and S. Loualiche, Appl. Phys. Lett. 87, 243107 (2005).

Gomyo, A.

K. Nishi, M. Yamada, T. Anan, A. Gomyo, and S. Sugou, Appl. Phys. Lett. 73, 526 (1998).

Gong, Q.

S. G. Li, Q. Gong, C. F. Cao, X. Z. Wang, L. Yue, Q. B. Liu, H. L. Wang, and Y. Wang, Infrared. Phys. Technol. 55, 205 (2012).

S. Li, Q. Gong, X. Wang, L. Yue, O. Liu, and H. Wang, Chin. Opt. Lett. 10, 041406 (2012).

S. G. Li, Q. Gong, Y. F. Lao, K. He, J. Li, Y. G. Zhang, S. L. Feng, and H. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 111109 (2008).

Grundmann, M.

D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).

Han, Q.

He, K.

S. G. Li, Q. Gong, Y. F. Lao, K. He, J. Li, Y. G. Zhang, S. L. Feng, and H. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 111109 (2008).

Heinrichsdorff, F.

D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).

Hollingsworth, J. A.

V. I. Klimov, A. A. Mikhailovsky, S. Xu, A. Malko, J. A. Hollingsworth, C. A. Leatherdale, H. J. Eisler, and M. G. Bawendi, Science 290, 314 (2000).

Homeyer, E.

P. Caroff, C. Paranthoen, C. Platz, O. Dehaese, H. Folliot, N. Bertru, C. Labbe, R. Piron, E. Homeyer, A. Le Corre, and S. Loualiche, Appl. Phys. Lett. 87, 243107 (2005).

Hsu, W. C.

I. L. Chen, W. C. Hsu, H. C. Kuo, H. C. Yu, C. P. Sung, C. M. Lu, C. H. Chiou, J. M. Wang, Y. H. Chang, T. D. Lee, and J. S. Wang, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 7485 (2005).

Huffaker, D. L.

D. L. Huffaker, G. Park, Z. Zou, O. B. Shchekin, and D. G. Deppe, Appl. Phys. Lett. 73, 2564 (1998).

Jones, T. S.

P. B. Joyce, T. J. Krzyzewski, G. R. Bell, B. A. Joyce, and T. S. Jones, Phys. Rev. B 58, 15981 (1998).

Joyce, B. A.

P. B. Joyce, T. J. Krzyzewski, G. R. Bell, B. A. Joyce, and T. S. Jones, Phys. Rev. B 58, 15981 (1998).

Joyce, P. B.

P. B. Joyce, T. J. Krzyzewski, G. R. Bell, B. A. Joyce, and T. S. Jones, Phys. Rev. B 58, 15981 (1998).

Kirstaedter, N.

N. Kirstaedter, O. Schmidt, N. Ledentsov, D. Bimberg, V. M. Ustinov, A. Y. Egorov, A. E. Zhukov, M. V. Maximov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Appl. Phys. Lett. 69, 1226 (1996).

Klimov, V. I.

V. I. Klimov, A. A. Mikhailovsky, S. Xu, A. Malko, J. A. Hollingsworth, C. A. Leatherdale, H. J. Eisler, and M. G. Bawendi, Science 290, 314 (2000).

Kopev, P. S.

D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).

N. Kirstaedter, O. Schmidt, N. Ledentsov, D. Bimberg, V. M. Ustinov, A. Y. Egorov, A. E. Zhukov, M. V. Maximov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Appl. Phys. Lett. 69, 1226 (1996).

Kovsh, A. R.

D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).

Krzyzewski, T. J.

P. B. Joyce, T. J. Krzyzewski, G. R. Bell, B. A. Joyce, and T. S. Jones, Phys. Rev. B 58, 15981 (1998).

Kuo, H. C.

I. L. Chen, W. C. Hsu, H. C. Kuo, H. C. Yu, C. P. Sung, C. M. Lu, C. H. Chiou, J. M. Wang, Y. H. Chang, T. D. Lee, and J. S. Wang, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 7485 (2005).

Labbe, C.

P. Caroff, C. Paranthoen, C. Platz, O. Dehaese, H. Folliot, N. Bertru, C. Labbe, R. Piron, E. Homeyer, A. Le Corre, and S. Loualiche, Appl. Phys. Lett. 87, 243107 (2005).

Lao, Y. F.

S. G. Li, Q. Gong, Y. F. Lao, K. He, J. Li, Y. G. Zhang, S. L. Feng, and H. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 111109 (2008).

Leatherdale, C. A.

V. I. Klimov, A. A. Mikhailovsky, S. Xu, A. Malko, J. A. Hollingsworth, C. A. Leatherdale, H. J. Eisler, and M. G. Bawendi, Science 290, 314 (2000).

Ledentsov, N.

N. Kirstaedter, O. Schmidt, N. Ledentsov, D. Bimberg, V. M. Ustinov, A. Y. Egorov, A. E. Zhukov, M. V. Maximov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Appl. Phys. Lett. 69, 1226 (1996).

Ledentsov, N. N.

D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).

Lee, T. D.

I. L. Chen, W. C. Hsu, H. C. Kuo, H. C. Yu, C. P. Sung, C. M. Lu, C. H. Chiou, J. M. Wang, Y. H. Chang, T. D. Lee, and J. S. Wang, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 7485 (2005).

Li, J.

S. G. Li, Q. Gong, Y. F. Lao, K. He, J. Li, Y. G. Zhang, S. L. Feng, and H. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 111109 (2008).

Li, S.

Li, S. G.

S. G. Li, Q. Gong, C. F. Cao, X. Z. Wang, L. Yue, Q. B. Liu, H. L. Wang, and Y. Wang, Infrared. Phys. Technol. 55, 205 (2012).

S. G. Li, Q. Gong, Y. F. Lao, K. He, J. Li, Y. G. Zhang, S. L. Feng, and H. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 111109 (2008).

Liu, O.

Liu, Q. B.

S. G. Li, Q. Gong, C. F. Cao, X. Z. Wang, L. Yue, Q. B. Liu, H. L. Wang, and Y. Wang, Infrared. Phys. Technol. 55, 205 (2012).

Loualiche, S.

P. Caroff, C. Paranthoen, C. Platz, O. Dehaese, H. Folliot, N. Bertru, C. Labbe, R. Piron, E. Homeyer, A. Le Corre, and S. Loualiche, Appl. Phys. Lett. 87, 243107 (2005).

Lu, C. M.

I. L. Chen, W. C. Hsu, H. C. Kuo, H. C. Yu, C. P. Sung, C. M. Lu, C. H. Chiou, J. M. Wang, Y. H. Chang, T. D. Lee, and J. S. Wang, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 7485 (2005).

Ma, Z.

Malko, A.

V. I. Klimov, A. A. Mikhailovsky, S. Xu, A. Malko, J. A. Hollingsworth, C. A. Leatherdale, H. J. Eisler, and M. G. Bawendi, Science 290, 314 (2000).

Maximov, M. V.

D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).

N. Kirstaedter, O. Schmidt, N. Ledentsov, D. Bimberg, V. M. Ustinov, A. Y. Egorov, A. E. Zhukov, M. V. Maximov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Appl. Phys. Lett. 69, 1226 (1996).

Mi, Z.

P. Bhattacharya, Z. Mi, J. Yang, D. Basu, and D. Saha, J. Cryst. Growth 311, 1625 (2009).

J. Yang, P. Bhattacharya, Z. Mi, G. Qin, and Z. Ma, Chin. Opt. Lett. 6, 727 (2008).

Z. Mi, P. Bhattacharya, and S. Fathpour, Appl. Phys. Lett. 86, 153109 (2005).

Mikhailovsky, A. A.

V. I. Klimov, A. A. Mikhailovsky, S. Xu, A. Malko, J. A. Hollingsworth, C. A. Leatherdale, H. J. Eisler, and M. G. Bawendi, Science 290, 314 (2000).

Ni, H.

Nishi, K.

K. Nishi, M. Yamada, T. Anan, A. Gomyo, and S. Sugou, Appl. Phys. Lett. 73, 526 (1998).

Niu, Z.

Paranthoen, C.

P. Caroff, C. Paranthoen, C. Platz, O. Dehaese, H. Folliot, N. Bertru, C. Labbe, R. Piron, E. Homeyer, A. Le Corre, and S. Loualiche, Appl. Phys. Lett. 87, 243107 (2005).

Park, G.

D. L. Huffaker, G. Park, Z. Zou, O. B. Shchekin, and D. G. Deppe, Appl. Phys. Lett. 73, 2564 (1998).

Peng, H.

Piron, R.

P. Caroff, C. Paranthoen, C. Platz, O. Dehaese, H. Folliot, N. Bertru, C. Labbe, R. Piron, E. Homeyer, A. Le Corre, and S. Loualiche, Appl. Phys. Lett. 87, 243107 (2005).

Platz, C.

P. Caroff, C. Paranthoen, C. Platz, O. Dehaese, H. Folliot, N. Bertru, C. Labbe, R. Piron, E. Homeyer, A. Le Corre, and S. Loualiche, Appl. Phys. Lett. 87, 243107 (2005).

Qin, G.

Saha, D.

P. Bhattacharya, Z. Mi, J. Yang, D. Basu, and D. Saha, J. Cryst. Growth 311, 1625 (2009).

Schmidt, O.

N. Kirstaedter, O. Schmidt, N. Ledentsov, D. Bimberg, V. M. Ustinov, A. Y. Egorov, A. E. Zhukov, M. V. Maximov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Appl. Phys. Lett. 69, 1226 (1996).

Shchekin, O. B.

D. L. Huffaker, G. Park, Z. Zou, O. B. Shchekin, and D. G. Deppe, Appl. Phys. Lett. 73, 2564 (1998).

Shernyakov, Y. M.

D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).

Sugou, S.

K. Nishi, M. Yamada, T. Anan, A. Gomyo, and S. Sugou, Appl. Phys. Lett. 73, 526 (1998).

Sung, C. P.

I. L. Chen, W. C. Hsu, H. C. Kuo, H. C. Yu, C. P. Sung, C. M. Lu, C. H. Chiou, J. M. Wang, Y. H. Chang, T. D. Lee, and J. S. Wang, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 7485 (2005).

Tong, C.

Tsatsulnikov, A. F.

D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).

Ustinov, V. M.

D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).

N. Kirstaedter, O. Schmidt, N. Ledentsov, D. Bimberg, V. M. Ustinov, A. Y. Egorov, A. E. Zhukov, M. V. Maximov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Appl. Phys. Lett. 69, 1226 (1996).

Volovik, B. V.

D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).

Wang, H.

Wang, H. L.

S. G. Li, Q. Gong, C. F. Cao, X. Z. Wang, L. Yue, Q. B. Liu, H. L. Wang, and Y. Wang, Infrared. Phys. Technol. 55, 205 (2012).

S. G. Li, Q. Gong, Y. F. Lao, K. He, J. Li, Y. G. Zhang, S. L. Feng, and H. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 111109 (2008).

Wang, J. M.

I. L. Chen, W. C. Hsu, H. C. Kuo, H. C. Yu, C. P. Sung, C. M. Lu, C. H. Chiou, J. M. Wang, Y. H. Chang, T. D. Lee, and J. S. Wang, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 7485 (2005).

Wang, J. S.

I. L. Chen, W. C. Hsu, H. C. Kuo, H. C. Yu, C. P. Sung, C. M. Lu, C. H. Chiou, J. M. Wang, Y. H. Chang, T. D. Lee, and J. S. Wang, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 7485 (2005).

Wang, X.

Wang, X. Z.

S. G. Li, Q. Gong, C. F. Cao, X. Z. Wang, L. Yue, Q. B. Liu, H. L. Wang, and Y. Wang, Infrared. Phys. Technol. 55, 205 (2012).

Wang, Y.

S. G. Li, Q. Gong, C. F. Cao, X. Z. Wang, L. Yue, Q. B. Liu, H. L. Wang, and Y. Wang, Infrared. Phys. Technol. 55, 205 (2012).

Wu, R.

Xu, S.

V. I. Klimov, A. A. Mikhailovsky, S. Xu, A. Malko, J. A. Hollingsworth, C. A. Leatherdale, H. J. Eisler, and M. G. Bawendi, Science 290, 314 (2000).

Xu, Y.

Yamada, M.

K. Nishi, M. Yamada, T. Anan, A. Gomyo, and S. Sugou, Appl. Phys. Lett. 73, 526 (1998).

Yang, J.

P. Bhattacharya, Z. Mi, J. Yang, D. Basu, and D. Saha, J. Cryst. Growth 311, 1625 (2009).

J. Yang, P. Bhattacharya, Z. Mi, G. Qin, and Z. Ma, Chin. Opt. Lett. 6, 727 (2008).

Yang, X.

Yu, H. C.

I. L. Chen, W. C. Hsu, H. C. Kuo, H. C. Yu, C. P. Sung, C. M. Lu, C. H. Chiou, J. M. Wang, Y. H. Chang, T. D. Lee, and J. S. Wang, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 7485 (2005).

Yue, L.

S. G. Li, Q. Gong, C. F. Cao, X. Z. Wang, L. Yue, Q. B. Liu, H. L. Wang, and Y. Wang, Infrared. Phys. Technol. 55, 205 (2012).

S. Li, Q. Gong, X. Wang, L. Yue, O. Liu, and H. Wang, Chin. Opt. Lett. 10, 041406 (2012).

Zakery, A.

Zhang, S.

Zhang, Y. G.

S. G. Li, Q. Gong, Y. F. Lao, K. He, J. Li, Y. G. Zhang, S. L. Feng, and H. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 111109 (2008).

Zhao, H.

Zhukov, A. E.

D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).

N. Kirstaedter, O. Schmidt, N. Ledentsov, D. Bimberg, V. M. Ustinov, A. Y. Egorov, A. E. Zhukov, M. V. Maximov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Appl. Phys. Lett. 69, 1226 (1996).

Zou, Z.

D. L. Huffaker, G. Park, Z. Zou, O. B. Shchekin, and D. G. Deppe, Appl. Phys. Lett. 73, 2564 (1998).

Appl. Phys. Lett. (6)

S. G. Li, Q. Gong, Y. F. Lao, K. He, J. Li, Y. G. Zhang, S. L. Feng, and H. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 93, 111109 (2008).

Z. Mi, P. Bhattacharya, and S. Fathpour, Appl. Phys. Lett. 86, 153109 (2005).

N. Kirstaedter, O. Schmidt, N. Ledentsov, D. Bimberg, V. M. Ustinov, A. Y. Egorov, A. E. Zhukov, M. V. Maximov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Appl. Phys. Lett. 69, 1226 (1996).

D. L. Huffaker, G. Park, Z. Zou, O. B. Shchekin, and D. G. Deppe, Appl. Phys. Lett. 73, 2564 (1998).

K. Nishi, M. Yamada, T. Anan, A. Gomyo, and S. Sugou, Appl. Phys. Lett. 73, 526 (1998).

P. Caroff, C. Paranthoen, C. Platz, O. Dehaese, H. Folliot, N. Bertru, C. Labbe, R. Piron, E. Homeyer, A. Le Corre, and S. Loualiche, Appl. Phys. Lett. 87, 243107 (2005).

Chin. Opt. Lett. (4)

Infrared. Phys. Technol. (1)

S. G. Li, Q. Gong, C. F. Cao, X. Z. Wang, L. Yue, Q. B. Liu, H. L. Wang, and Y. Wang, Infrared. Phys. Technol. 55, 205 (2012).

J. Cryst. Growth (1)

P. Bhattacharya, Z. Mi, J. Yang, D. Basu, and D. Saha, J. Cryst. Growth 311, 1625 (2009).

Jpn. J. Appl. Phys. (1)

I. L. Chen, W. C. Hsu, H. C. Kuo, H. C. Yu, C. P. Sung, C. M. Lu, C. H. Chiou, J. M. Wang, Y. H. Chang, T. D. Lee, and J. S. Wang, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 7485 (2005).

Phys. Rev. B (1)

P. B. Joyce, T. J. Krzyzewski, G. R. Bell, B. A. Joyce, and T. S. Jones, Phys. Rev. B 58, 15981 (1998).

Science (1)

V. I. Klimov, A. A. Mikhailovsky, S. Xu, A. Malko, J. A. Hollingsworth, C. A. Leatherdale, H. J. Eisler, and M. G. Bawendi, Science 290, 314 (2000).

Thin Solid Films (1)

D. Bimberg, M. Grundmann, F. Heinrichsdorff, N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, M. V. Maximov, Y. M. Shernyakov, B. V. Volovik, A. F. Tsatsulnikov, P. S. Kopev, and Z. I. Alferov, Thin Solid Films 367, 235 (2000).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.