Abstract

A method for local magneto-optical Kerr effect imaging based on a home-made scanning near-field optical microscope working in reflection mode is presented. Shear force detection is carried out by using a symmetric piezoelectric bimorph sensor, which provides an easy way not only for probe-surface distance control but also for imaging. Polarization-preserving fiber probes used as a local optical detector are fabricated with a heating-pulling technique and the probes' polarization properties are measured. Shear force topographic and near-field magneto-optical images of magneto-optical disk taken with the proposed method are shown.

© 2010 Chinese Optics Letters

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, IEEE Trans. Nanotechnology 4, 229 (2005).
  2. J. Zweck, T. Zimmermann, and T. Schuhrke, Ultramicroscopy 67, 153 (1997).
  3. H. P. Oepen and J. Kirschner, Phys. Rev. Lett. 62, 819 (1989).
  4. A. Thiaville, L. Belliard, D. Majer, E. Zeldov, and J. Miltat, J. Appl. Phys. 82, 3182 (1997).
  5. A. Hubert and R. Sch�afer, Magnetic Domains (Springer-Verlag, Berlin, 1998).
  6. D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984).
  7. B. Hecht, B. Sick, U. P. Wild, V. Deckert, R. Zenobi, O. J. F. Martin, and D. W. Pohl, J. Chem. Phys. 112, 7761(2000).
  8. J. Kim and K. Song, Micros. of Nonostructures 38, 409 (2007).
  9. L. Huang, Z. Wang, Z. Li, and W. Deng, Chin. Opt. Lett. 7, 472 (2009)
  10. E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C. H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).
  11. G. Meyer, T. Crecelius, A. Bauer, I. Mauch, and G. Kaindl, Appl. Phys. Lett. 83, 1394 (2003).
  12. C. Durkan, I. V. Shvets, and J. C. Lodder, Appl. Phys. Lett. 70, 1323 (1997).
  13. S. Takahashi, W. Dickson, R. Pollard, and A. Zayats, Ultramicroscopy 100, 443 (2004).
  14. W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, J. Microsc. 209, 194 (2003).
  15. G. Zoriniants, D. Englund, O. Kurnosikov, C. F. J. Flipse, E. Riedo, H. Brune, W. J. M. de Jonge, and B. Koopmans, in Proceedings of 12th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques 204 (2003).
  16. K. Karrai and R. D. Grober, Appl. Phys. Lett. 66, 1842 (1995).
  17. G. Y. Shang, C. Wang, J. Wu, C. L. Bai, and F. H. Lei, Rev. Sci. Instrum. 72, 2344 (2001).
  18. H. J. Hug, A. Moser, T. Jung, O. Fritz, A. Wadas, I. Parashikov, and H.-J. Guntherodt, Rev. Sci. Instrum. 64, 2920 (1993).
  19. G. Meyer, T. Crecelius, G. Kaindl, and A. Bauer, J. Magn. Magn. Mater. 240, 76 (2002).
  20. M. Ohtsu, Progress in Nano-Electro-Optics IV (Springer-Verlag, Berlin, 2005).

2009 (1)

2007 (1)

J. Kim and K. Song, Micros. of Nonostructures 38, 409 (2007).

2005 (1)

W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, IEEE Trans. Nanotechnology 4, 229 (2005).

2004 (1)

S. Takahashi, W. Dickson, R. Pollard, and A. Zayats, Ultramicroscopy 100, 443 (2004).

2003 (2)

W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, J. Microsc. 209, 194 (2003).

G. Meyer, T. Crecelius, A. Bauer, I. Mauch, and G. Kaindl, Appl. Phys. Lett. 83, 1394 (2003).

2002 (1)

G. Meyer, T. Crecelius, G. Kaindl, and A. Bauer, J. Magn. Magn. Mater. 240, 76 (2002).

2001 (1)

G. Y. Shang, C. Wang, J. Wu, C. L. Bai, and F. H. Lei, Rev. Sci. Instrum. 72, 2344 (2001).

2000 (1)

B. Hecht, B. Sick, U. P. Wild, V. Deckert, R. Zenobi, O. J. F. Martin, and D. W. Pohl, J. Chem. Phys. 112, 7761(2000).

1997 (3)

J. Zweck, T. Zimmermann, and T. Schuhrke, Ultramicroscopy 67, 153 (1997).

A. Thiaville, L. Belliard, D. Majer, E. Zeldov, and J. Miltat, J. Appl. Phys. 82, 3182 (1997).

C. Durkan, I. V. Shvets, and J. C. Lodder, Appl. Phys. Lett. 70, 1323 (1997).

1995 (1)

K. Karrai and R. D. Grober, Appl. Phys. Lett. 66, 1842 (1995).

1993 (1)

H. J. Hug, A. Moser, T. Jung, O. Fritz, A. Wadas, I. Parashikov, and H.-J. Guntherodt, Rev. Sci. Instrum. 64, 2920 (1993).

1992 (1)

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C. H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).

1989 (1)

H. P. Oepen and J. Kirschner, Phys. Rev. Lett. 62, 819 (1989).

1984 (1)

D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984).

Atkinson, R.

W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, IEEE Trans. Nanotechnology 4, 229 (2005).

W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, J. Microsc. 209, 194 (2003).

Bai, C. L.

G. Y. Shang, C. Wang, J. Wu, C. L. Bai, and F. H. Lei, Rev. Sci. Instrum. 72, 2344 (2001).

Bauer, A.

G. Meyer, T. Crecelius, A. Bauer, I. Mauch, and G. Kaindl, Appl. Phys. Lett. 83, 1394 (2003).

G. Meyer, T. Crecelius, G. Kaindl, and A. Bauer, J. Magn. Magn. Mater. 240, 76 (2002).

Belliard, L.

A. Thiaville, L. Belliard, D. Majer, E. Zeldov, and J. Miltat, J. Appl. Phys. 82, 3182 (1997).

Betzig, E.

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C. H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).

Chang, C. H.

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C. H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).

Crecelius, T.

G. Meyer, T. Crecelius, A. Bauer, I. Mauch, and G. Kaindl, Appl. Phys. Lett. 83, 1394 (2003).

G. Meyer, T. Crecelius, G. Kaindl, and A. Bauer, J. Magn. Magn. Mater. 240, 76 (2002).

Deckert, V.

B. Hecht, B. Sick, U. P. Wild, V. Deckert, R. Zenobi, O. J. F. Martin, and D. W. Pohl, J. Chem. Phys. 112, 7761(2000).

Deng, W.

Denk, W.

D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984).

Dickson, W.

W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, IEEE Trans. Nanotechnology 4, 229 (2005).

S. Takahashi, W. Dickson, R. Pollard, and A. Zayats, Ultramicroscopy 100, 443 (2004).

W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, J. Microsc. 209, 194 (2003).

Durkan, C.

C. Durkan, I. V. Shvets, and J. C. Lodder, Appl. Phys. Lett. 70, 1323 (1997).

Finn, P. L.

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C. H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).

Fritz, O.

H. J. Hug, A. Moser, T. Jung, O. Fritz, A. Wadas, I. Parashikov, and H.-J. Guntherodt, Rev. Sci. Instrum. 64, 2920 (1993).

Grober, R. D.

K. Karrai and R. D. Grober, Appl. Phys. Lett. 66, 1842 (1995).

Guntherodt, H.-J.

H. J. Hug, A. Moser, T. Jung, O. Fritz, A. Wadas, I. Parashikov, and H.-J. Guntherodt, Rev. Sci. Instrum. 64, 2920 (1993).

Gyorgy, E. M.

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C. H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).

Hecht, B.

B. Hecht, B. Sick, U. P. Wild, V. Deckert, R. Zenobi, O. J. F. Martin, and D. W. Pohl, J. Chem. Phys. 112, 7761(2000).

Huang, L.

Hug, H. J.

H. J. Hug, A. Moser, T. Jung, O. Fritz, A. Wadas, I. Parashikov, and H.-J. Guntherodt, Rev. Sci. Instrum. 64, 2920 (1993).

Jung, T.

H. J. Hug, A. Moser, T. Jung, O. Fritz, A. Wadas, I. Parashikov, and H.-J. Guntherodt, Rev. Sci. Instrum. 64, 2920 (1993).

Kaindl, G.

G. Meyer, T. Crecelius, A. Bauer, I. Mauch, and G. Kaindl, Appl. Phys. Lett. 83, 1394 (2003).

G. Meyer, T. Crecelius, G. Kaindl, and A. Bauer, J. Magn. Magn. Mater. 240, 76 (2002).

Karrai, K.

K. Karrai and R. D. Grober, Appl. Phys. Lett. 66, 1842 (1995).

Kim, J.

J. Kim and K. Song, Micros. of Nonostructures 38, 409 (2007).

Kirschner, J.

H. P. Oepen and J. Kirschner, Phys. Rev. Lett. 62, 819 (1989).

Kryder, M. H.

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C. H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).

Lanz, M.

D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984).

Lei, F. H.

G. Y. Shang, C. Wang, J. Wu, C. L. Bai, and F. H. Lei, Rev. Sci. Instrum. 72, 2344 (2001).

Li, Z.

Lodder, J. C.

C. Durkan, I. V. Shvets, and J. C. Lodder, Appl. Phys. Lett. 70, 1323 (1997).

Majer, D.

A. Thiaville, L. Belliard, D. Majer, E. Zeldov, and J. Miltat, J. Appl. Phys. 82, 3182 (1997).

Martin, O. J. F.

B. Hecht, B. Sick, U. P. Wild, V. Deckert, R. Zenobi, O. J. F. Martin, and D. W. Pohl, J. Chem. Phys. 112, 7761(2000).

Mauch, I.

G. Meyer, T. Crecelius, A. Bauer, I. Mauch, and G. Kaindl, Appl. Phys. Lett. 83, 1394 (2003).

Meyer, G.

G. Meyer, T. Crecelius, A. Bauer, I. Mauch, and G. Kaindl, Appl. Phys. Lett. 83, 1394 (2003).

G. Meyer, T. Crecelius, G. Kaindl, and A. Bauer, J. Magn. Magn. Mater. 240, 76 (2002).

Miltat, J.

A. Thiaville, L. Belliard, D. Majer, E. Zeldov, and J. Miltat, J. Appl. Phys. 82, 3182 (1997).

Moser, A.

H. J. Hug, A. Moser, T. Jung, O. Fritz, A. Wadas, I. Parashikov, and H.-J. Guntherodt, Rev. Sci. Instrum. 64, 2920 (1993).

Oepen, H. P.

H. P. Oepen and J. Kirschner, Phys. Rev. Lett. 62, 819 (1989).

Parashikov, I.

H. J. Hug, A. Moser, T. Jung, O. Fritz, A. Wadas, I. Parashikov, and H.-J. Guntherodt, Rev. Sci. Instrum. 64, 2920 (1993).

Pohl, D. W.

B. Hecht, B. Sick, U. P. Wild, V. Deckert, R. Zenobi, O. J. F. Martin, and D. W. Pohl, J. Chem. Phys. 112, 7761(2000).

D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984).

Pollard, R.

W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, IEEE Trans. Nanotechnology 4, 229 (2005).

S. Takahashi, W. Dickson, R. Pollard, and A. Zayats, Ultramicroscopy 100, 443 (2004).

W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, J. Microsc. 209, 194 (2003).

Schuhrke, T.

J. Zweck, T. Zimmermann, and T. Schuhrke, Ultramicroscopy 67, 153 (1997).

Shang, G. Y.

G. Y. Shang, C. Wang, J. Wu, C. L. Bai, and F. H. Lei, Rev. Sci. Instrum. 72, 2344 (2001).

Shvets, I. V.

C. Durkan, I. V. Shvets, and J. C. Lodder, Appl. Phys. Lett. 70, 1323 (1997).

Sick, B.

B. Hecht, B. Sick, U. P. Wild, V. Deckert, R. Zenobi, O. J. F. Martin, and D. W. Pohl, J. Chem. Phys. 112, 7761(2000).

Song, K.

J. Kim and K. Song, Micros. of Nonostructures 38, 409 (2007).

Takahashi, S.

W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, IEEE Trans. Nanotechnology 4, 229 (2005).

S. Takahashi, W. Dickson, R. Pollard, and A. Zayats, Ultramicroscopy 100, 443 (2004).

W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, J. Microsc. 209, 194 (2003).

Thiaville, A.

A. Thiaville, L. Belliard, D. Majer, E. Zeldov, and J. Miltat, J. Appl. Phys. 82, 3182 (1997).

Trautman, J. K.

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C. H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).

Wadas, A.

H. J. Hug, A. Moser, T. Jung, O. Fritz, A. Wadas, I. Parashikov, and H.-J. Guntherodt, Rev. Sci. Instrum. 64, 2920 (1993).

Wang, C.

G. Y. Shang, C. Wang, J. Wu, C. L. Bai, and F. H. Lei, Rev. Sci. Instrum. 72, 2344 (2001).

Wang, Z.

Wild, U. P.

B. Hecht, B. Sick, U. P. Wild, V. Deckert, R. Zenobi, O. J. F. Martin, and D. W. Pohl, J. Chem. Phys. 112, 7761(2000).

Wolfe, R.

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C. H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).

Wu, J.

G. Y. Shang, C. Wang, J. Wu, C. L. Bai, and F. H. Lei, Rev. Sci. Instrum. 72, 2344 (2001).

Zayats, A.

S. Takahashi, W. Dickson, R. Pollard, and A. Zayats, Ultramicroscopy 100, 443 (2004).

Zayats, A. V.

W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, IEEE Trans. Nanotechnology 4, 229 (2005).

W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, J. Microsc. 209, 194 (2003).

Zeldov, E.

A. Thiaville, L. Belliard, D. Majer, E. Zeldov, and J. Miltat, J. Appl. Phys. 82, 3182 (1997).

Zenobi, R.

B. Hecht, B. Sick, U. P. Wild, V. Deckert, R. Zenobi, O. J. F. Martin, and D. W. Pohl, J. Chem. Phys. 112, 7761(2000).

Zimmermann, T.

J. Zweck, T. Zimmermann, and T. Schuhrke, Ultramicroscopy 67, 153 (1997).

Zweck, J.

J. Zweck, T. Zimmermann, and T. Schuhrke, Ultramicroscopy 67, 153 (1997).

Appl. Phys. Lett. (5)

D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984).

E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, and C. H. Chang, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).

G. Meyer, T. Crecelius, A. Bauer, I. Mauch, and G. Kaindl, Appl. Phys. Lett. 83, 1394 (2003).

C. Durkan, I. V. Shvets, and J. C. Lodder, Appl. Phys. Lett. 70, 1323 (1997).

K. Karrai and R. D. Grober, Appl. Phys. Lett. 66, 1842 (1995).

Chin. Opt. Lett. (1)

IEEE Trans. Nanotechnology (1)

W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, IEEE Trans. Nanotechnology 4, 229 (2005).

J. Appl. Phys. (1)

A. Thiaville, L. Belliard, D. Majer, E. Zeldov, and J. Miltat, J. Appl. Phys. 82, 3182 (1997).

J. Chem. Phys. (1)

B. Hecht, B. Sick, U. P. Wild, V. Deckert, R. Zenobi, O. J. F. Martin, and D. W. Pohl, J. Chem. Phys. 112, 7761(2000).

J. Magn. Magn. Mater. (1)

G. Meyer, T. Crecelius, G. Kaindl, and A. Bauer, J. Magn. Magn. Mater. 240, 76 (2002).

J. Microsc. (1)

W. Dickson, S. Takahashi, R. Pollard, R. Atkinson, and A. V. Zayats, J. Microsc. 209, 194 (2003).

Micros. of Nonostructures (1)

J. Kim and K. Song, Micros. of Nonostructures 38, 409 (2007).

Phys. Rev. Lett. (1)

H. P. Oepen and J. Kirschner, Phys. Rev. Lett. 62, 819 (1989).

Rev. Sci. Instrum. (2)

G. Y. Shang, C. Wang, J. Wu, C. L. Bai, and F. H. Lei, Rev. Sci. Instrum. 72, 2344 (2001).

H. J. Hug, A. Moser, T. Jung, O. Fritz, A. Wadas, I. Parashikov, and H.-J. Guntherodt, Rev. Sci. Instrum. 64, 2920 (1993).

Ultramicroscopy (2)

S. Takahashi, W. Dickson, R. Pollard, and A. Zayats, Ultramicroscopy 100, 443 (2004).

J. Zweck, T. Zimmermann, and T. Schuhrke, Ultramicroscopy 67, 153 (1997).

Other (3)

A. Hubert and R. Sch�afer, Magnetic Domains (Springer-Verlag, Berlin, 1998).

G. Zoriniants, D. Englund, O. Kurnosikov, C. F. J. Flipse, E. Riedo, H. Brune, W. J. M. de Jonge, and B. Koopmans, in Proceedings of 12th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques 204 (2003).

M. Ohtsu, Progress in Nano-Electro-Optics IV (Springer-Verlag, Berlin, 2005).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.