Abstract

Er^(3+)-doped Na2O-WO3-TeO2 glass consistent with standard ion-exchange technology has been fabricated and characterized. The measured absorption and emission spectra of the glass were analyzed by the Judd-Ofelt and McCumber theories. The intensity parameters are ?2 = 7.01*10^(-20) cm2, ?4 = 1.80*10^(-20) cm2, ?6 = 1.03*10^(-20) cm2. The maximum emission cross-section is 0.91*10^(-20) cm2 at 1.533 ?m, and a broad 1.5-?m emission spectrum of 65-nm full width at half-maximum (FWHM) is demonstrated. Glass transition temperature, crystallization onset temperature, density, refractive index are also reported for reference in the design and modelling of the ion-exchange process.

© 2005 Chinese Optics Letters

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. R. V. Ramaswamy and R. Srivastava, J. Lightwave Technol. 6, 984 (1988).
  2. R. N. Ghosh, J. Shmulovich, C. F. Kane, M. R. X. de Barros, G. Nykolak, A. J. Bruce, and P. C. Becker, IEEE Photon. Technol. Lett. 8, 518 (1996).
  3. J. S. Hayden, D. S. Funk, D. L. Veasey, P. M. Peters, and N. A Sanford, Proc. SPIE 3847, 186 (1999).
  4. P. M. Peters, D. S. Funk, A. P. Peskin, D. L. Veasey, N. A. Sanford, S. N. Houde-Walter, and J. S. Hayden, Appl. Opt. 38, 6879 (1999).
  5. Y. Ding, S. Jiang, T. Luo, Y. Hu, and N. Peyhambarian, Proc. SPIE 4282, 23 (2001).
  6. P. Blixt, J. Nilsson, T. Carlnas, and B. Jaskorzynska, IEEE Photon. Technol. Lett. 3, 996 (1991).
  7. V. P. Gapontsev, S. M. Matitsin, A. A. Isineev, and V. B. Kravchenko, Opt. Laser Technol. 14, 189 (1982).
  8. J. H. Yang, S. X. Dai, L. L. Hu, Z. H. Jiang, and S. G. Li, Acta Opt. Sin. (in Chinese) 23, 210 (2003).
  9. B. R. Judd, Phys. Rev. 127, 750 (1962).
  10. G. S. Ofelt, J. Chem. Phys. 37, 511 (1962).
  11. S. Tanabe, J. Non-Cryst. Solids 259, 1 (1999).
  12. X. Zou and T. Izumitani, J. Non-Cryst. Solids 162, 68 (1993).
  13. W. J. Miniscalco and R. S. Quimby, Opt. Lett. 16, 258 (1991).
  14. B. Chen, S. Zhao, and L. Hu, Chin. Opt. Lett. 1, 699 (2003).

2003 (2)

J. H. Yang, S. X. Dai, L. L. Hu, Z. H. Jiang, and S. G. Li, Acta Opt. Sin. (in Chinese) 23, 210 (2003).

B. Chen, S. Zhao, and L. Hu, Chin. Opt. Lett. 1, 699 (2003).

2001 (1)

Y. Ding, S. Jiang, T. Luo, Y. Hu, and N. Peyhambarian, Proc. SPIE 4282, 23 (2001).

1999 (3)

J. S. Hayden, D. S. Funk, D. L. Veasey, P. M. Peters, and N. A Sanford, Proc. SPIE 3847, 186 (1999).

P. M. Peters, D. S. Funk, A. P. Peskin, D. L. Veasey, N. A. Sanford, S. N. Houde-Walter, and J. S. Hayden, Appl. Opt. 38, 6879 (1999).

S. Tanabe, J. Non-Cryst. Solids 259, 1 (1999).

1996 (1)

R. N. Ghosh, J. Shmulovich, C. F. Kane, M. R. X. de Barros, G. Nykolak, A. J. Bruce, and P. C. Becker, IEEE Photon. Technol. Lett. 8, 518 (1996).

1993 (1)

X. Zou and T. Izumitani, J. Non-Cryst. Solids 162, 68 (1993).

1991 (2)

W. J. Miniscalco and R. S. Quimby, Opt. Lett. 16, 258 (1991).

P. Blixt, J. Nilsson, T. Carlnas, and B. Jaskorzynska, IEEE Photon. Technol. Lett. 3, 996 (1991).

1988 (1)

R. V. Ramaswamy and R. Srivastava, J. Lightwave Technol. 6, 984 (1988).

1982 (1)

V. P. Gapontsev, S. M. Matitsin, A. A. Isineev, and V. B. Kravchenko, Opt. Laser Technol. 14, 189 (1982).

1962 (2)

B. R. Judd, Phys. Rev. 127, 750 (1962).

G. S. Ofelt, J. Chem. Phys. 37, 511 (1962).

Barros, M. R. X. de

R. N. Ghosh, J. Shmulovich, C. F. Kane, M. R. X. de Barros, G. Nykolak, A. J. Bruce, and P. C. Becker, IEEE Photon. Technol. Lett. 8, 518 (1996).

Becker, P. C.

R. N. Ghosh, J. Shmulovich, C. F. Kane, M. R. X. de Barros, G. Nykolak, A. J. Bruce, and P. C. Becker, IEEE Photon. Technol. Lett. 8, 518 (1996).

Blixt, P.

P. Blixt, J. Nilsson, T. Carlnas, and B. Jaskorzynska, IEEE Photon. Technol. Lett. 3, 996 (1991).

Bruce, A. J.

R. N. Ghosh, J. Shmulovich, C. F. Kane, M. R. X. de Barros, G. Nykolak, A. J. Bruce, and P. C. Becker, IEEE Photon. Technol. Lett. 8, 518 (1996).

Carlnas, T.

P. Blixt, J. Nilsson, T. Carlnas, and B. Jaskorzynska, IEEE Photon. Technol. Lett. 3, 996 (1991).

Chen, B.

Dai, S. X.

J. H. Yang, S. X. Dai, L. L. Hu, Z. H. Jiang, and S. G. Li, Acta Opt. Sin. (in Chinese) 23, 210 (2003).

Ding, Y.

Y. Ding, S. Jiang, T. Luo, Y. Hu, and N. Peyhambarian, Proc. SPIE 4282, 23 (2001).

Funk, D. S.

J. S. Hayden, D. S. Funk, D. L. Veasey, P. M. Peters, and N. A Sanford, Proc. SPIE 3847, 186 (1999).

P. M. Peters, D. S. Funk, A. P. Peskin, D. L. Veasey, N. A. Sanford, S. N. Houde-Walter, and J. S. Hayden, Appl. Opt. 38, 6879 (1999).

Gapontsev, V. P.

V. P. Gapontsev, S. M. Matitsin, A. A. Isineev, and V. B. Kravchenko, Opt. Laser Technol. 14, 189 (1982).

Ghosh, R. N.

R. N. Ghosh, J. Shmulovich, C. F. Kane, M. R. X. de Barros, G. Nykolak, A. J. Bruce, and P. C. Becker, IEEE Photon. Technol. Lett. 8, 518 (1996).

Hayden, J. S.

J. S. Hayden, D. S. Funk, D. L. Veasey, P. M. Peters, and N. A Sanford, Proc. SPIE 3847, 186 (1999).

P. M. Peters, D. S. Funk, A. P. Peskin, D. L. Veasey, N. A. Sanford, S. N. Houde-Walter, and J. S. Hayden, Appl. Opt. 38, 6879 (1999).

Houde-Walter, S. N.

Hu, L.

Hu, L. L.

J. H. Yang, S. X. Dai, L. L. Hu, Z. H. Jiang, and S. G. Li, Acta Opt. Sin. (in Chinese) 23, 210 (2003).

Hu, Y.

Y. Ding, S. Jiang, T. Luo, Y. Hu, and N. Peyhambarian, Proc. SPIE 4282, 23 (2001).

Isineev, A. A.

V. P. Gapontsev, S. M. Matitsin, A. A. Isineev, and V. B. Kravchenko, Opt. Laser Technol. 14, 189 (1982).

Izumitani, T.

X. Zou and T. Izumitani, J. Non-Cryst. Solids 162, 68 (1993).

Jaskorzynska, B.

P. Blixt, J. Nilsson, T. Carlnas, and B. Jaskorzynska, IEEE Photon. Technol. Lett. 3, 996 (1991).

Jiang, S.

Y. Ding, S. Jiang, T. Luo, Y. Hu, and N. Peyhambarian, Proc. SPIE 4282, 23 (2001).

Jiang, Z. H.

J. H. Yang, S. X. Dai, L. L. Hu, Z. H. Jiang, and S. G. Li, Acta Opt. Sin. (in Chinese) 23, 210 (2003).

Judd, B. R.

B. R. Judd, Phys. Rev. 127, 750 (1962).

Kane, C. F.

R. N. Ghosh, J. Shmulovich, C. F. Kane, M. R. X. de Barros, G. Nykolak, A. J. Bruce, and P. C. Becker, IEEE Photon. Technol. Lett. 8, 518 (1996).

Kravchenko, V. B.

V. P. Gapontsev, S. M. Matitsin, A. A. Isineev, and V. B. Kravchenko, Opt. Laser Technol. 14, 189 (1982).

Li, S. G.

J. H. Yang, S. X. Dai, L. L. Hu, Z. H. Jiang, and S. G. Li, Acta Opt. Sin. (in Chinese) 23, 210 (2003).

Luo, T.

Y. Ding, S. Jiang, T. Luo, Y. Hu, and N. Peyhambarian, Proc. SPIE 4282, 23 (2001).

Matitsin, S. M.

V. P. Gapontsev, S. M. Matitsin, A. A. Isineev, and V. B. Kravchenko, Opt. Laser Technol. 14, 189 (1982).

Miniscalco, W. J.

Nilsson, J.

P. Blixt, J. Nilsson, T. Carlnas, and B. Jaskorzynska, IEEE Photon. Technol. Lett. 3, 996 (1991).

Nykolak, G.

R. N. Ghosh, J. Shmulovich, C. F. Kane, M. R. X. de Barros, G. Nykolak, A. J. Bruce, and P. C. Becker, IEEE Photon. Technol. Lett. 8, 518 (1996).

Ofelt, G. S.

G. S. Ofelt, J. Chem. Phys. 37, 511 (1962).

Peskin, A. P.

Peters, P. M.

P. M. Peters, D. S. Funk, A. P. Peskin, D. L. Veasey, N. A. Sanford, S. N. Houde-Walter, and J. S. Hayden, Appl. Opt. 38, 6879 (1999).

J. S. Hayden, D. S. Funk, D. L. Veasey, P. M. Peters, and N. A Sanford, Proc. SPIE 3847, 186 (1999).

Peyhambarian, N.

Y. Ding, S. Jiang, T. Luo, Y. Hu, and N. Peyhambarian, Proc. SPIE 4282, 23 (2001).

Quimby, R. S.

Ramaswamy, R. V.

R. V. Ramaswamy and R. Srivastava, J. Lightwave Technol. 6, 984 (1988).

Sanford, N. A

J. S. Hayden, D. S. Funk, D. L. Veasey, P. M. Peters, and N. A Sanford, Proc. SPIE 3847, 186 (1999).

Sanford, N. A.

Shmulovich, J.

R. N. Ghosh, J. Shmulovich, C. F. Kane, M. R. X. de Barros, G. Nykolak, A. J. Bruce, and P. C. Becker, IEEE Photon. Technol. Lett. 8, 518 (1996).

Srivastava, R.

R. V. Ramaswamy and R. Srivastava, J. Lightwave Technol. 6, 984 (1988).

Tanabe, S.

S. Tanabe, J. Non-Cryst. Solids 259, 1 (1999).

Veasey, D. L.

J. S. Hayden, D. S. Funk, D. L. Veasey, P. M. Peters, and N. A Sanford, Proc. SPIE 3847, 186 (1999).

P. M. Peters, D. S. Funk, A. P. Peskin, D. L. Veasey, N. A. Sanford, S. N. Houde-Walter, and J. S. Hayden, Appl. Opt. 38, 6879 (1999).

Yang, J. H.

J. H. Yang, S. X. Dai, L. L. Hu, Z. H. Jiang, and S. G. Li, Acta Opt. Sin. (in Chinese) 23, 210 (2003).

Zhao, S.

Zou, X.

X. Zou and T. Izumitani, J. Non-Cryst. Solids 162, 68 (1993).

Acta Opt. Sin. (in Chinese) (1)

J. H. Yang, S. X. Dai, L. L. Hu, Z. H. Jiang, and S. G. Li, Acta Opt. Sin. (in Chinese) 23, 210 (2003).

Appl. Opt. (1)

Chin. Opt. Lett. (1)

IEEE Photon. Technol. Lett. (2)

R. N. Ghosh, J. Shmulovich, C. F. Kane, M. R. X. de Barros, G. Nykolak, A. J. Bruce, and P. C. Becker, IEEE Photon. Technol. Lett. 8, 518 (1996).

P. Blixt, J. Nilsson, T. Carlnas, and B. Jaskorzynska, IEEE Photon. Technol. Lett. 3, 996 (1991).

J. Chem. Phys. (1)

G. S. Ofelt, J. Chem. Phys. 37, 511 (1962).

J. Lightwave Technol. (1)

R. V. Ramaswamy and R. Srivastava, J. Lightwave Technol. 6, 984 (1988).

J. Non-Cryst. Solids (2)

S. Tanabe, J. Non-Cryst. Solids 259, 1 (1999).

X. Zou and T. Izumitani, J. Non-Cryst. Solids 162, 68 (1993).

Opt. Laser Technol. (1)

V. P. Gapontsev, S. M. Matitsin, A. A. Isineev, and V. B. Kravchenko, Opt. Laser Technol. 14, 189 (1982).

Opt. Lett. (1)

Phys. Rev. (1)

B. R. Judd, Phys. Rev. 127, 750 (1962).

Proc. SPIE (2)

J. S. Hayden, D. S. Funk, D. L. Veasey, P. M. Peters, and N. A Sanford, Proc. SPIE 3847, 186 (1999).

Y. Ding, S. Jiang, T. Luo, Y. Hu, and N. Peyhambarian, Proc. SPIE 4282, 23 (2001).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.