Abstract

We have fabricated a light emitting diode using a p-type conducting polyaniline layer deposited on a n-type porous silicon (PS) layer. The contact formed between a p-type conducting polyaniline layer and a n-type PS wafer has rectified behaviour demonstrated clearly by the I-V curves. The series resistance Rs in the p-type conducting polyaniline/n-PS diode is reduced greatly and has a lower onset voltage compared with ITO/n-PS diode. The PS has an orange photoluminescence (PL) band after coating with polyaniline. Visible electroluminescence (EL) has been obtained from this junction when a forward bias is applied. The emission band is very broad extending from 600 - 803 nm with a peak at 690 nm.

© 2005 Chinese Optics Letters

PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. L. T. Canham, Appl. Phys. Lett. 57, 1046 (1990).
  2. L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).
  3. H. Shinoda, T. Nakajima, K. Ueno, and N. Koshida, Nature 400, 853 (1999).
  4. R. C. Egeberg, E. Veje, A. Ferreira da Silva, I. Pepe, and A. Alves, J. Porous Matter 7, 173 (2000).
  5. A. Ferreira da Silva, R. R. Rosa, L. S. Roman, E. Veje, and I. Pepe, Solid State Commun. 113, 703 (2000).
  6. L. T. Canham, C. L. Reeves, A. Leni, M. R. Houlton, J. P. Newey, A. J. Simons, and T. I. Cox, Thin Solid Films 304, 297 (1997).
  7. L. Buckberry and S. C. Bayliss, Materials World 7, 213 (1999).
  8. M. Jayachandran, M. Paramasivam, K. R. Murali, D. C. Trivedi, and M. Raghavan, Mater. Phys. Mech. 41, 43 (2001).
  9. A. Bsiesy, Y. F. Nicolau, A. Ermolieff, F. Muller, and F. Gaspard, Thin Solid Films 255, 43 (1995).
  10. H. J. Li, J. C. Peng, S. Qu, Y. Yan, X. M. Xue, and C. J. Zhao, Chin. Phys. Lett. 19, 1013 (2002).
  11. C. Faivre and D. Bellet, J. Appl. Cryst. 32, 1134 (1999).

2002 (1)

H. J. Li, J. C. Peng, S. Qu, Y. Yan, X. M. Xue, and C. J. Zhao, Chin. Phys. Lett. 19, 1013 (2002).

2001 (1)

M. Jayachandran, M. Paramasivam, K. R. Murali, D. C. Trivedi, and M. Raghavan, Mater. Phys. Mech. 41, 43 (2001).

2000 (2)

R. C. Egeberg, E. Veje, A. Ferreira da Silva, I. Pepe, and A. Alves, J. Porous Matter 7, 173 (2000).

A. Ferreira da Silva, R. R. Rosa, L. S. Roman, E. Veje, and I. Pepe, Solid State Commun. 113, 703 (2000).

1999 (4)

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

H. Shinoda, T. Nakajima, K. Ueno, and N. Koshida, Nature 400, 853 (1999).

L. Buckberry and S. C. Bayliss, Materials World 7, 213 (1999).

C. Faivre and D. Bellet, J. Appl. Cryst. 32, 1134 (1999).

1997 (1)

L. T. Canham, C. L. Reeves, A. Leni, M. R. Houlton, J. P. Newey, A. J. Simons, and T. I. Cox, Thin Solid Films 304, 297 (1997).

1995 (1)

A. Bsiesy, Y. F. Nicolau, A. Ermolieff, F. Muller, and F. Gaspard, Thin Solid Films 255, 43 (1995).

1990 (1)

L. T. Canham, Appl. Phys. Lett. 57, 1046 (1990).

Allegrini, M.

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

Alves, A.

R. C. Egeberg, E. Veje, A. Ferreira da Silva, I. Pepe, and A. Alves, J. Porous Matter 7, 173 (2000).

Bayliss, S. C.

L. Buckberry and S. C. Bayliss, Materials World 7, 213 (1999).

Bellet, D.

C. Faivre and D. Bellet, J. Appl. Cryst. 32, 1134 (1999).

Bellutti, P.

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

Bisi, O.

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

Bsiesy, A.

A. Bsiesy, Y. F. Nicolau, A. Ermolieff, F. Muller, and F. Gaspard, Thin Solid Films 255, 43 (1995).

Buckberry, L.

L. Buckberry and S. C. Bayliss, Materials World 7, 213 (1999).

Canham, L. T.

L. T. Canham, C. L. Reeves, A. Leni, M. R. Houlton, J. P. Newey, A. J. Simons, and T. I. Cox, Thin Solid Films 304, 297 (1997).

L. T. Canham, Appl. Phys. Lett. 57, 1046 (1990).

Carmo, M. C.

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

Chierchia, R.

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

Costa, L. C.

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

Cox, T. I.

L. T. Canham, C. L. Reeves, A. Leni, M. R. Houlton, J. P. Newey, A. J. Simons, and T. I. Cox, Thin Solid Films 304, 297 (1997).

Egeberg, R. C.

R. C. Egeberg, E. Veje, A. Ferreira da Silva, I. Pepe, and A. Alves, J. Porous Matter 7, 173 (2000).

Ermolieff, A.

A. Bsiesy, Y. F. Nicolau, A. Ermolieff, F. Muller, and F. Gaspard, Thin Solid Films 255, 43 (1995).

Faivre, C.

C. Faivre and D. Bellet, J. Appl. Cryst. 32, 1134 (1999).

Fuso, F.

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

Gaspard, F.

A. Bsiesy, Y. F. Nicolau, A. Ermolieff, F. Muller, and F. Gaspard, Thin Solid Films 255, 43 (1995).

Houlton, M. R.

L. T. Canham, C. L. Reeves, A. Leni, M. R. Houlton, J. P. Newey, A. J. Simons, and T. I. Cox, Thin Solid Films 304, 297 (1997).

Jayachandran, M.

M. Jayachandran, M. Paramasivam, K. R. Murali, D. C. Trivedi, and M. Raghavan, Mater. Phys. Mech. 41, 43 (2001).

Koshida, N.

H. Shinoda, T. Nakajima, K. Ueno, and N. Koshida, Nature 400, 853 (1999).

Labardi, M.

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

Leni, A.

L. T. Canham, C. L. Reeves, A. Leni, M. R. Houlton, J. P. Newey, A. J. Simons, and T. I. Cox, Thin Solid Films 304, 297 (1997).

Li, H. J.

H. J. Li, J. C. Peng, S. Qu, Y. Yan, X. M. Xue, and C. J. Zhao, Chin. Phys. Lett. 19, 1013 (2002).

Lui, A.

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

Muller, F.

A. Bsiesy, Y. F. Nicolau, A. Ermolieff, F. Muller, and F. Gaspard, Thin Solid Films 255, 43 (1995).

Murali, K. R.

M. Jayachandran, M. Paramasivam, K. R. Murali, D. C. Trivedi, and M. Raghavan, Mater. Phys. Mech. 41, 43 (2001).

Nakajima, T.

H. Shinoda, T. Nakajima, K. Ueno, and N. Koshida, Nature 400, 853 (1999).

Newey, J. P.

L. T. Canham, C. L. Reeves, A. Leni, M. R. Houlton, J. P. Newey, A. J. Simons, and T. I. Cox, Thin Solid Films 304, 297 (1997).

Nicolau, Y. F.

A. Bsiesy, Y. F. Nicolau, A. Ermolieff, F. Muller, and F. Gaspard, Thin Solid Films 255, 43 (1995).

Paramasivam, M.

M. Jayachandran, M. Paramasivam, K. R. Murali, D. C. Trivedi, and M. Raghavan, Mater. Phys. Mech. 41, 43 (2001).

Pardi, L.

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

Pavesi, L.

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

Peng, J. C.

H. J. Li, J. C. Peng, S. Qu, Y. Yan, X. M. Xue, and C. J. Zhao, Chin. Phys. Lett. 19, 1013 (2002).

Pepe, I.

R. C. Egeberg, E. Veje, A. Ferreira da Silva, I. Pepe, and A. Alves, J. Porous Matter 7, 173 (2000).

A. Ferreira da Silva, R. R. Rosa, L. S. Roman, E. Veje, and I. Pepe, Solid State Commun. 113, 703 (2000).

Qu, S.

H. J. Li, J. C. Peng, S. Qu, Y. Yan, X. M. Xue, and C. J. Zhao, Chin. Phys. Lett. 19, 1013 (2002).

Raghavan, M.

M. Jayachandran, M. Paramasivam, K. R. Murali, D. C. Trivedi, and M. Raghavan, Mater. Phys. Mech. 41, 43 (2001).

Reeves, C. L.

L. T. Canham, C. L. Reeves, A. Leni, M. R. Houlton, J. P. Newey, A. J. Simons, and T. I. Cox, Thin Solid Films 304, 297 (1997).

Roman, L. S.

A. Ferreira da Silva, R. R. Rosa, L. S. Roman, E. Veje, and I. Pepe, Solid State Commun. 113, 703 (2000).

Rosa, R. R.

A. Ferreira da Silva, R. R. Rosa, L. S. Roman, E. Veje, and I. Pepe, Solid State Commun. 113, 703 (2000).

Sbrana, F.

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

Shinoda, H.

H. Shinoda, T. Nakajima, K. Ueno, and N. Koshida, Nature 400, 853 (1999).

Silva, A. Ferreira da

A. Ferreira da Silva, R. R. Rosa, L. S. Roman, E. Veje, and I. Pepe, Solid State Commun. 113, 703 (2000).

R. C. Egeberg, E. Veje, A. Ferreira da Silva, I. Pepe, and A. Alves, J. Porous Matter 7, 173 (2000).

Simons, A. J.

L. T. Canham, C. L. Reeves, A. Leni, M. R. Houlton, J. P. Newey, A. J. Simons, and T. I. Cox, Thin Solid Films 304, 297 (1997).

Trivedi, D. C.

M. Jayachandran, M. Paramasivam, K. R. Murali, D. C. Trivedi, and M. Raghavan, Mater. Phys. Mech. 41, 43 (2001).

Trusso, S.

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

Ueno, K.

H. Shinoda, T. Nakajima, K. Ueno, and N. Koshida, Nature 400, 853 (1999).

Vasi, C.

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

Veje, E.

R. C. Egeberg, E. Veje, A. Ferreira da Silva, I. Pepe, and A. Alves, J. Porous Matter 7, 173 (2000).

A. Ferreira da Silva, R. R. Rosa, L. S. Roman, E. Veje, and I. Pepe, Solid State Commun. 113, 703 (2000).

Ventura, P. J.

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

Xue, X. M.

H. J. Li, J. C. Peng, S. Qu, Y. Yan, X. M. Xue, and C. J. Zhao, Chin. Phys. Lett. 19, 1013 (2002).

Yan, Y.

H. J. Li, J. C. Peng, S. Qu, Y. Yan, X. M. Xue, and C. J. Zhao, Chin. Phys. Lett. 19, 1013 (2002).

Zhao, C. J.

H. J. Li, J. C. Peng, S. Qu, Y. Yan, X. M. Xue, and C. J. Zhao, Chin. Phys. Lett. 19, 1013 (2002).

Appl. Phys. Lett. (1)

L. T. Canham, Appl. Phys. Lett. 57, 1046 (1990).

Chin. Phys. Lett. (1)

H. J. Li, J. C. Peng, S. Qu, Y. Yan, X. M. Xue, and C. J. Zhao, Chin. Phys. Lett. 19, 1013 (2002).

J. Appl. Cryst. (1)

C. Faivre and D. Bellet, J. Appl. Cryst. 32, 1134 (1999).

J. Appl. Phys. (1)

L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

J. Porous Matter (1)

R. C. Egeberg, E. Veje, A. Ferreira da Silva, I. Pepe, and A. Alves, J. Porous Matter 7, 173 (2000).

Mater. Phys. Mech. (1)

M. Jayachandran, M. Paramasivam, K. R. Murali, D. C. Trivedi, and M. Raghavan, Mater. Phys. Mech. 41, 43 (2001).

Materials World (1)

L. Buckberry and S. C. Bayliss, Materials World 7, 213 (1999).

Nature (1)

H. Shinoda, T. Nakajima, K. Ueno, and N. Koshida, Nature 400, 853 (1999).

Solid State Commun. (1)

A. Ferreira da Silva, R. R. Rosa, L. S. Roman, E. Veje, and I. Pepe, Solid State Commun. 113, 703 (2000).

Thin Solid Films (2)

L. T. Canham, C. L. Reeves, A. Leni, M. R. Houlton, J. P. Newey, A. J. Simons, and T. I. Cox, Thin Solid Films 304, 297 (1997).

A. Bsiesy, Y. F. Nicolau, A. Ermolieff, F. Muller, and F. Gaspard, Thin Solid Films 255, 43 (1995).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.